JPH0522868Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0522868Y2 JPH0522868Y2 JP1986087408U JP8740886U JPH0522868Y2 JP H0522868 Y2 JPH0522868 Y2 JP H0522868Y2 JP 1986087408 U JP1986087408 U JP 1986087408U JP 8740886 U JP8740886 U JP 8740886U JP H0522868 Y2 JPH0522868 Y2 JP H0522868Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- environmental test
- air supply
- constant temperature
- temperature air
- tank
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は、温度、湿度等の環境を変えながら半
導体等の電子部品の通電試験を行なうための装置
の関するものである。
導体等の電子部品の通電試験を行なうための装置
の関するものである。
従来技術
従来のライン型環境試験装置としては、第2図
に示すように断熱材で覆われた環境試験装置1内
にベルトコンベア等の搬送手段2と、試験装置3
などが配置されたものにおいて、該環境試験室1
に対してダクト4を介して恒温空気供給装置5か
ら恒温空気を導入し、排出用のダクト6を介して
恒温空気供給装置5に戻して循環させる方式の装
置が知られている。恒温空気供給装置5は恒温空
気の排出口7、吸入口8及び外気導入口9とを有
し、装置内には除湿乾燥器10、空気循環用フア
ン11、冷凍サイクルの蒸発器12、ヒーター1
3等が装着されている。
に示すように断熱材で覆われた環境試験装置1内
にベルトコンベア等の搬送手段2と、試験装置3
などが配置されたものにおいて、該環境試験室1
に対してダクト4を介して恒温空気供給装置5か
ら恒温空気を導入し、排出用のダクト6を介して
恒温空気供給装置5に戻して循環させる方式の装
置が知られている。恒温空気供給装置5は恒温空
気の排出口7、吸入口8及び外気導入口9とを有
し、装置内には除湿乾燥器10、空気循環用フア
ン11、冷凍サイクルの蒸発器12、ヒーター1
3等が装着されている。
以上の構成において、環境試験室1内には、恒
温空気供給装置5からダクト4を介して恒温空気
が供給され、再び恒温空気はダクト6から吸引さ
れて空気供給装置5に戻る。
温空気供給装置5からダクト4を介して恒温空気
が供給され、再び恒温空気はダクト6から吸引さ
れて空気供給装置5に戻る。
考案が解決しようとする問題点
しかしながら、かかる従来の環境試験装置の場
合は、恒温空気をダクトを介して恒温空気供給装
置から導入するように構成されているので、ダク
ト周辺において熱損失があると共に、ダクトの径
により空気の循環風量が決まつてしまうといつた
不都合があつた。さらに環境試験室と恒温空気供
給装置とを別々に製作しダクトで接続する方式な
ので設置スペースが大きくなるといつた不都合が
あつた。
合は、恒温空気をダクトを介して恒温空気供給装
置から導入するように構成されているので、ダク
ト周辺において熱損失があると共に、ダクトの径
により空気の循環風量が決まつてしまうといつた
不都合があつた。さらに環境試験室と恒温空気供
給装置とを別々に製作しダクトで接続する方式な
ので設置スペースが大きくなるといつた不都合が
あつた。
そこで、本考案はかかる従来技術の欠点に鑑み
設置説明が狭くて済み、かつ熱損失の少ない環境
試験装置を提供することを目的とする。
設置説明が狭くて済み、かつ熱損失の少ない環境
試験装置を提供することを目的とする。
問題を解決するための手段
すなわち本考案は、断熱材で覆われた環境試験
室と、該環境試験室内に設置された試験装置を搬
送するためのベルトコンベア等の搬送手段と、試
験装置の通電試験を行なうための試験装置とから
なるライン型環境試験装置において、前記環境試
験室内を仕切板を介して環境試験槽と恒温空気供
給槽とに吸入口及び排出口により各槽間を通電さ
せつつ区画し、恒温空気供給槽内を排出口付近に
設置されたブロワーと、吸入口付近に装着された
冷凍サイクルの蒸発器と、蒸発器とブロワーの中
間の位置に装着された加熱装置とで構成したライ
ン型環境試験装置により本目的を達成する。
室と、該環境試験室内に設置された試験装置を搬
送するためのベルトコンベア等の搬送手段と、試
験装置の通電試験を行なうための試験装置とから
なるライン型環境試験装置において、前記環境試
験室内を仕切板を介して環境試験槽と恒温空気供
給槽とに吸入口及び排出口により各槽間を通電さ
せつつ区画し、恒温空気供給槽内を排出口付近に
設置されたブロワーと、吸入口付近に装着された
冷凍サイクルの蒸発器と、蒸発器とブロワーの中
間の位置に装着された加熱装置とで構成したライ
ン型環境試験装置により本目的を達成する。
作 用
本考案にかかる環境試験装置では、吸入口から
吸引された空気は冷凍サイクルの蒸発器で冷やさ
れる。冷やされた空気は、加熱装置で所定の温度
に加熱され、排出口付近に設けたブロワーから環
境試験槽内に吹き出され、ベルトコンベアの上に
載置された電子部品等を所定の温度に保つ。環境
試験槽内の空気は、仕切板に設けた吸入口から吸
引され再び冷却され、恒温空気供給槽、環境試験
槽と循環する。
吸引された空気は冷凍サイクルの蒸発器で冷やさ
れる。冷やされた空気は、加熱装置で所定の温度
に加熱され、排出口付近に設けたブロワーから環
境試験槽内に吹き出され、ベルトコンベアの上に
載置された電子部品等を所定の温度に保つ。環境
試験槽内の空気は、仕切板に設けた吸入口から吸
引され再び冷却され、恒温空気供給槽、環境試験
槽と循環する。
実施例
以下に本考案を図面に示された一実施例に従つ
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第1図において、20aは断熱材21で覆われ
たライン型の環境試験装置の環境試験室であり、
環境試験室20内は仕切板22を介して環境試験
槽23と恒温空気供給槽24とに仕切られてい
る。環境試験槽23内は電子部品等を搬送するベ
ルトコンベアの搬送装置25が敷設されている。
環境試験槽23と恒温空気供給槽24とを仕切つ
ている仕切板22には中央部の搬送装置25の側
部に吸入口26、搬送装置25の出入口部にあた
る環境試験槽23の両端部には排出口27a,2
7bがあけられており、両槽は連通している。恒
温空気供給槽24内は、排出口27a,27b付
近にブロワー28a,28bが装着されており、
また吸入口26付近には圧縮機29、凝縮器3
0、キヤピラリーチユーブ31と循環接続された
蒸発器32が装着されている。蒸発器32の出口
付近には、空気を所定の温度まで加熱するための
ヒーター33a,33bが装着されている。そし
て、恒温空気供給槽24は、環境試験槽23内の
空気圧を陽圧にするための圧縮空気供給装置34
と接続されている。尚、35は、恒温空気供給槽
24内の空気の流れを導くための案内板である。
また20bは異なる温度環境を作る環境試験室で
あり、内部の構造は前述のものと同じである。3
7は通電試験を行なうための試験装置である。
たライン型の環境試験装置の環境試験室であり、
環境試験室20内は仕切板22を介して環境試験
槽23と恒温空気供給槽24とに仕切られてい
る。環境試験槽23内は電子部品等を搬送するベ
ルトコンベアの搬送装置25が敷設されている。
環境試験槽23と恒温空気供給槽24とを仕切つ
ている仕切板22には中央部の搬送装置25の側
部に吸入口26、搬送装置25の出入口部にあた
る環境試験槽23の両端部には排出口27a,2
7bがあけられており、両槽は連通している。恒
温空気供給槽24内は、排出口27a,27b付
近にブロワー28a,28bが装着されており、
また吸入口26付近には圧縮機29、凝縮器3
0、キヤピラリーチユーブ31と循環接続された
蒸発器32が装着されている。蒸発器32の出口
付近には、空気を所定の温度まで加熱するための
ヒーター33a,33bが装着されている。そし
て、恒温空気供給槽24は、環境試験槽23内の
空気圧を陽圧にするための圧縮空気供給装置34
と接続されている。尚、35は、恒温空気供給槽
24内の空気の流れを導くための案内板である。
また20bは異なる温度環境を作る環境試験室で
あり、内部の構造は前述のものと同じである。3
7は通電試験を行なうための試験装置である。
以上述べた構成において、本考案にかかる装置
では、環境試験槽23内を搬送装置であるベルト
コンベア25に載置された電子部品等36が移動
する。その際環境試験槽23内には恒温空気供給
槽24内に装着されたブロワー28a,28bか
ら所定の温度の恒温空気が供給される。供給され
た恒温空気は、電子部品36等の所定の温度とな
るように加熱又は冷却する。加熱又は冷却された
空気は、仕切板22の中央に設けた吸入口26か
ら吸引され、冷凍サイクルの蒸発器32で冷却さ
れ、ヒーター33a,33bで所定の温度に加熱
される。加熱された空気は、案内板35に沿つて
流れ、排出口27a,27b付近に装着されたブ
ロワー28a,28bによつて排出口から排出さ
れる。ただ単に空気を循環するだけでは環境試験
槽23内が常圧の状態にあり、搬送装置の出入口
から空気が入り込むおそれがあるので、本実施例
では、恒温空気供給槽24を圧縮空気供給装置3
4と接続して、乾燥空気を導入し環境試験槽23
内を陽圧に保つている。
では、環境試験槽23内を搬送装置であるベルト
コンベア25に載置された電子部品等36が移動
する。その際環境試験槽23内には恒温空気供給
槽24内に装着されたブロワー28a,28bか
ら所定の温度の恒温空気が供給される。供給され
た恒温空気は、電子部品36等の所定の温度とな
るように加熱又は冷却する。加熱又は冷却された
空気は、仕切板22の中央に設けた吸入口26か
ら吸引され、冷凍サイクルの蒸発器32で冷却さ
れ、ヒーター33a,33bで所定の温度に加熱
される。加熱された空気は、案内板35に沿つて
流れ、排出口27a,27b付近に装着されたブ
ロワー28a,28bによつて排出口から排出さ
れる。ただ単に空気を循環するだけでは環境試験
槽23内が常圧の状態にあり、搬送装置の出入口
から空気が入り込むおそれがあるので、本実施例
では、恒温空気供給槽24を圧縮空気供給装置3
4と接続して、乾燥空気を導入し環境試験槽23
内を陽圧に保つている。
尚本実施例では、環境試験槽23と恒温空気供
給槽24を仕切板22に穴をあけた吸入口26、
排出口27a,27bを介して連通させるように
構成しているが、これに限定されるものではなく
第3図に示すように、第1図において恒温空気供
給槽24内に設けた案内板35と同一の位置にの
み空気を導くための仕切板22を設置し、環境試
験槽の両端部を排出口27a,27bとし、中央
部を吸入口26としたような構成であつても差し
支えない。
給槽24を仕切板22に穴をあけた吸入口26、
排出口27a,27bを介して連通させるように
構成しているが、これに限定されるものではなく
第3図に示すように、第1図において恒温空気供
給槽24内に設けた案内板35と同一の位置にの
み空気を導くための仕切板22を設置し、環境試
験槽の両端部を排出口27a,27bとし、中央
部を吸入口26としたような構成であつても差し
支えない。
以上述べたように本考案にかかる実施例では、
恒温空気供給装置自体が、断熱材で覆われた環境
試験装置内に装着されているので、エネルギーロ
スが少ない。また恒温空気供給槽内は案内板で空
気を導くように構成しているのでダクトは必要な
い。
恒温空気供給装置自体が、断熱材で覆われた環境
試験装置内に装着されているので、エネルギーロ
スが少ない。また恒温空気供給槽内は案内板で空
気を導くように構成しているのでダクトは必要な
い。
効 果
本考案にかかるかかる装置では、ダクトを介し
て恒温空気を環境試験装置内に導いた従来の装置
と異なり、恒温空気供給装置を断熱材で覆われた
環境試験装置内に装着するように構成したので、
ダクトによる熱損失がなくなり、エネルギー効率
が良い。
て恒温空気を環境試験装置内に導いた従来の装置
と異なり、恒温空気供給装置を断熱材で覆われた
環境試験装置内に装着するように構成したので、
ダクトによる熱損失がなくなり、エネルギー効率
が良い。
ダクトを介せずに空気を送風するように構成し
ているので従来の環境試験装置に比較して風量の
制限がなくなり、空気の循環率がきわめてよくな
る。さらに、外気を導入せずに圧縮空気除湿装置
等から乾燥空気を導入するように構成した場合に
は、低温状態から常温状態に戻す時に環境試験装
置内での結露がない。
ているので従来の環境試験装置に比較して風量の
制限がなくなり、空気の循環率がきわめてよくな
る。さらに、外気を導入せずに圧縮空気除湿装置
等から乾燥空気を導入するように構成した場合に
は、低温状態から常温状態に戻す時に環境試験装
置内での結露がない。
全体としてのエネルギー効率が上昇するので、
従来の装置に比較して、電力消費量が減少し、経
済的な装置を提供することができる。また従来の
環境試験装置が、環境試験槽と恒温空気供給装置
とを別個に設けていたが一体化したので、設置ス
ペースが小さくてよい。
従来の装置に比較して、電力消費量が減少し、経
済的な装置を提供することができる。また従来の
環境試験装置が、環境試験槽と恒温空気供給装置
とを別個に設けていたが一体化したので、設置ス
ペースが小さくてよい。
第1図は本考案にかかる一実施例を示す装置の
平面断面図、第2図は従来技術を示す装置の平面
断面図、第3図は本考案にかかる他の実施例を示
す装置の平面断面図である。 1……断熱材、2……搬送装置、3……環境試
験槽、4,6……ダクト、5……恒温空気供給装
置、7……排出口、8……吸入口、9……外気導
入口、10……除湿乾燥機、11……空気循環用
フアン、12……冷凍サイクルの蒸発器、13…
…ヒーター、20……環境試験室、21……断熱
材、22……仕切板、23……環境試験槽、24
……恒温空気供給槽、25……搬送装置、26…
…吸入口、27a,27b……排出口、28a,
28b……ブロワー、29……圧縮機、30……
凝縮器、31……キヤピラリーチユーブ、32…
…蒸発器、33a,33b……ヒーター、34…
…圧縮空気供給装置。
平面断面図、第2図は従来技術を示す装置の平面
断面図、第3図は本考案にかかる他の実施例を示
す装置の平面断面図である。 1……断熱材、2……搬送装置、3……環境試
験槽、4,6……ダクト、5……恒温空気供給装
置、7……排出口、8……吸入口、9……外気導
入口、10……除湿乾燥機、11……空気循環用
フアン、12……冷凍サイクルの蒸発器、13…
…ヒーター、20……環境試験室、21……断熱
材、22……仕切板、23……環境試験槽、24
……恒温空気供給槽、25……搬送装置、26…
…吸入口、27a,27b……排出口、28a,
28b……ブロワー、29……圧縮機、30……
凝縮器、31……キヤピラリーチユーブ、32…
…蒸発器、33a,33b……ヒーター、34…
…圧縮空気供給装置。
Claims (1)
- 断熱材で覆われた環境試験室と、該環境試験室
内に設置された電子部品等を搬送するためのベル
トコンベア等の搬送手段と、電子部品の通電試験
を行うための試験装置とからなるライン型環境試
験装置において、前記環境試験室内が仕切板を介
して環境試験槽と恒温空気供給槽とに2つに区画
され、前記恒温空気供給槽が環境試験槽の搬送手
段の出入口付近に設けた2つの排出口と仕切板の
中央に設けた吸入口とで環境試験槽と連通してお
り、前記排出口付近にブロワーを吸入口付近に冷
凍サイクルの蒸発器を装着すると共に該蒸発器と
ブロワーとを連通する恒温空気供給槽内に2つの
ヒーターを設置し、さらに前記恒温空気供給槽を
圧縮空気供給装置と接続したことを特徴とするラ
イン型環境試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986087408U JPH0522868Y2 (ja) | 1986-06-09 | 1986-06-09 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986087408U JPH0522868Y2 (ja) | 1986-06-09 | 1986-06-09 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62199682U JPS62199682U (ja) | 1987-12-19 |
| JPH0522868Y2 true JPH0522868Y2 (ja) | 1993-06-11 |
Family
ID=30944590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986087408U Expired - Lifetime JPH0522868Y2 (ja) | 1986-06-09 | 1986-06-09 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0522868Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58196025A (ja) * | 1982-05-12 | 1983-11-15 | Hitachi Ltd | 半導体等のエ−ジング装置 |
| JPS59147278A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-23 | Tsubakimoto Chain Co | 電子部品の負荷試験装置 |
| JPS59167642A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-21 | Orion Mach Co Ltd | 除湿機構付恒温環境装置 |
-
1986
- 1986-06-09 JP JP1986087408U patent/JPH0522868Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62199682U (ja) | 1987-12-19 |
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