JPH05230618A - 薄膜パターン形成用のマスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法 - Google Patents

薄膜パターン形成用のマスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法

Info

Publication number
JPH05230618A
JPH05230618A JP7327292A JP7327292A JPH05230618A JP H05230618 A JPH05230618 A JP H05230618A JP 7327292 A JP7327292 A JP 7327292A JP 7327292 A JP7327292 A JP 7327292A JP H05230618 A JPH05230618 A JP H05230618A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
thin film
insulating film
pattern
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7327292A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Anada
隆啓 穴田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Original Assignee
Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyowa Electronic Instruments Co Ltd filed Critical Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Priority to JP7327292A priority Critical patent/JPH05230618A/ja
Publication of JPH05230618A publication Critical patent/JPH05230618A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板側に確実に密着するマスクを用い蝕刻液
や堆積物が基板側とマスクとの間に侵入するのを防止
し、低コストで、微細な薄膜パターンの形成を実現す
る。 【構成】 磁性体の基板3上に絶縁膜4を形成する。こ
の絶縁膜4の上に着磁された所定のパターンを有するマ
スク1を載置し、基板3とマスク1との間に作用する磁
力によりマスク1を絶縁膜4上に密着させる。この状態
で蒸着あるいはスパッタリング等により例えばNi−C
rなどの合金をマスク1上および絶縁膜4上に堆積させ
る。その後、マスク1を絶縁膜4上から剥離すると、絶
縁膜4に堆積膜7のみが残り、これが薄膜抵抗パターン
となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜パターン形成用の
マスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、薄膜上に所定の薄膜パターンを形
成する場合には、基板上に薄膜を真空蒸着あるいはスパ
ッタリングなどにより形成した後、この薄膜上にホトレ
ジストを塗布する。
【0003】次いで、写真蝕刻法(いわゆるフォトエッ
チング方法)を用いて薄膜上にホトレジストをパターン
化し、このパターン化されたホトレジストをマスクにし
て真空蒸着などにより、薄膜上にNi−Crなどの薄膜
パターンを形成する。
【0004】次いで、この薄膜パターンの形成後、ホト
レジストを洗い落して除去することにより、薄膜上に薄
膜パターンを形成するようにしている。
【0005】しかしながら、このような従来の薄膜パタ
ーン形成方法では、薄膜形成工程、写真工程、蝕刻工
程、レジスト除去工程などの多くの工程が必要であり、
時間と労力が必要となり、ひいてはコストダウンを阻害
する要因となっていた。
【0006】そこで、上記工程数を削減する方法とし
て、基板上に所望のパターンを形成したマスクを載置
し、このマスクを介して、真空蒸着やスパッタリングに
より、直接基板上に薄膜パターンを形成する方法が採ら
れている。
【0007】また、別の方法として、基板上に薄膜を一
旦形成しておき、その上に前記のようにマスクを載置し
蝕刻を行い、パターンを形成する方法が採られており、
この場合は写真工程は不要となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
のパターン形成方法においては、マスクと基板を密着さ
せることが必須の条件である。その理由は、基板あるい
は絶縁膜とマスクとの間に隙間があると、堆積物や蝕刻
液がこの隙間に侵入することになり、正確な薄膜パター
ンを形成することが困難となるからである。
【0009】このため、マスクを押え板により押えるこ
とにより、マスクと基板との間の隙間をなくする方法も
実施されているが、この押え板を使用すると、薄膜パタ
ーン形成のための蒸着の邪魔になるという新たな問題が
生じる。
【0010】特に、近時、薄膜パターンは、微細化する
傾向にあり、このため、正確な薄膜パターンを形成する
必要があるが、上記マスクを載置させる方法では、マス
クと基板間の隙間をなくするように密着させることが困
難であり、正確な薄膜パターンを形成することができな
かった。
【0011】本発明は、上述のような事情に鑑みてなさ
れたもので、その第1の目的とするところは、薄膜パタ
ーン形成側に確実に密着でき、蝕刻液や堆積物が薄膜パ
ターン形成側とマスクとの間に侵入することを防止で
き、正確なパターン形成を可能とすることができる薄膜
パターン形成用のマスクを提供することにある。
【0012】また、本発明の第2の目的とするところ
は、基板の材質に拘りなくマスクを確実に薄膜パターン
形成側に吸着することが可能で、製造工程を削減でき、
且つ薄膜パターンが微細化しても正確な薄膜パターンを
形成することができる薄膜パターン形成方法を提供する
ことにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1の薄膜パターン
形成用のマスクは、上記第1の目的を達成するために、
磁性材よりなる薄板を着磁し且つ所定のパターンを形成
してなることを特徴としたものである。
【0014】請求項2の薄膜パターン形成方法は、上記
第2の目的を達成するため、磁性体の基板上に絶縁膜を
形成する工程と、上記絶縁膜上に磁性材よりなる薄板を
着磁し且つ所定のパターンを形成してなるマスクを載置
して上記絶縁膜上に薄膜パターンを形成する工程とより
なることを特徴とするものである。
【0015】請求項3の薄膜パターン形成方法は、上記
第2の目的を達成するため、非磁性体の基板上に磁性材
の薄膜を形成する工程と、上記磁性材の薄膜上に絶縁膜
を形成する工程と、上記絶縁膜上に磁性材よりなる薄板
を着磁し且つ所定のパターンを形成してなるマスクを載
置して上記絶縁膜上に薄膜パターンを形成する工程とよ
りなることを特徴としたものである。
【0016】請求項4の薄膜パターン形成方法は、上記
第2の目的を達成するため、着磁された磁性体よりなる
基板上に絶縁膜を形成する工程と、上記絶縁膜上に磁性
材よりなる薄板で形成され所定のパターンを有するマス
クを載置して上記絶縁膜上に薄膜パターンを形成する工
程とよりなることを特徴としたものである。
【0017】
【作用】上記のように構成された薄膜形成用のマスク
は、磁性材よりなる薄膜を着磁してなるものであるから
磁性材の基板または磁性材の薄膜上に載置することによ
り、基板または薄膜側に吸着され、この基板または薄膜
とマスクとの間に隙間を生じさせなくなり、従って、蝕
刻液や堆積物の侵入を防止することになり、正確な薄膜
パターンの形成を可能とする。
【0018】また、磁性体の基板上に絶縁膜を介して磁
性材よりなる薄板を着磁してなるマスクを載置するか
ら、マスクが基板に吸着され、マスクと絶縁膜との間に
隙間がなくなり、且つ絶縁膜上に薄膜パターンが正確に
形成されるとともに、マスクと基板間および薄膜パター
ンが導電性を有する場合でも、薄膜パターンと基板間の
絶縁を確保する。
【0019】さらにまた、基板が非磁性体の場合には、
マスクが直接基板に吸着されないこととなるが、基板上
に磁性材の薄膜を形成した後に絶縁膜を形成し、この絶
縁膜上にマスクを載置することにより、マスクが絶縁膜
を介して磁性材の薄膜に吸着され、マスクと絶縁膜との
間の隙間をなくするとともに、絶縁膜上に薄膜パターン
が正確に形成され、且つマスクと磁性材の薄膜との間お
よび薄膜パターンが導電性を有する場合でも、薄膜パタ
ーンと磁性材の薄膜との間の絶縁性を確保することがで
きる。
【0020】さらに、基板が磁性材よりなり、且つ着磁
されている場合にあっては、マスクは、着磁することな
く、磁性材を用いるというだけで、基板上の絶縁膜を介
して、基板に確実に吸着され、マスクと絶縁膜との間に
隙間ができなくなり、マスクを介して絶縁膜上に薄膜パ
ターンを正確に形成できることになる。
【0021】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面に基づいて具
体的に説明する。
【0022】図1は、本発明の薄膜パターン形成用のマ
スクの平面図である。図1に示すマスクは、薄膜パター
ンとして、ひずみゲージを絶縁膜上に形成する場合に好
適なマスクの例を示したものである。
【0023】この図1における1は、マスクであり、ス
テンレスなどの磁性材よりなる薄板に形成され、その厚
さ方向に予め着磁されている。この着磁は、パターン形
成前に予め着磁してもよく、あるいはパターン形成後に
着磁してもよい。
【0024】また、この着磁を行う場合には、10数A
の大電流を瞬間通電(ミリセコンドのオーダで通電)す
ることにより行う。
【0025】この着磁に際し、マスク1の厚さ方向に着
磁しているのは、マスク1が図1では図示されていない
が、基板側に良好に吸着されるようにするためである。
ただし、磁化の方向は、これに限定されるものではな
い。
【0026】このマスク1には、例えば、図1に示すよ
うに、蛇行状に打ち抜かれてパターン2が形成されてい
る。このパターン2の形状は、ひずみゲージの蒸着パタ
ーンの形成に適合するために形成したものであるが、パ
ターン2の形状は、薄膜パターンを形成するために任意
の形状でよいことは云うまでもない。
【0027】この図1の実施例におけるパターン2の形
状では、両端にゲージタブを形成するのに好都合なよう
に、各端部2a,2bは、パターン2の中央部分より幅
寸法を大きく設定してある。
【0028】次に、以上のように形成されたマスク1を
用いて、薄膜パターンを形成する本発明の薄膜パターン
形成方法について説明する。図2は、その一実施例を説
明するための工程断面図である。この図2において、図
1と同一部分には同一符号を付して述ベる。
【0029】まず、図2に示すように、磁性体、例え
ば、ステンレスやNiなどの材料で形成された基板3上
に、例えば真空蒸着あるいはCVD(Chemical
Vapor Deposition)法によりSi0
などの絶縁膜4を約1μm程度の厚さに形成する。
【0030】次に、図1で示したマスク1を絶縁膜4上
に載置する。このマスク1は、上述のように磁性材で形
成され、かつ着磁されているので、基板3を吸着する。
これにより、絶縁膜4とマスク1との間に隙間を生じさ
せずにマスク1を基板3側、すなわち、絶縁膜4上に載
置することができる。
【0031】次いで、堆積物5、例えば、Ni−Cr合
金よりなる抵抗体を真空蒸着、あるいはスパッタリング
などの方法でマスク1上およびマスクパターン2を通し
て絶縁膜4上に堆積させることにより、堆積膜6および
7が形成する。
【0032】次いで、図3に示すように、マスク1を絶
縁膜4上から取り去ると、マスク1上に堆積していた堆
積膜6がマスク1とともに除去され、マスク1のパター
ン2を通して絶縁膜4上に堆積された堆積膜7のみが絶
縁膜4上にパターン2の形状通りに残り、薄膜パターン
7aが形成される。
【0033】この薄膜パターン7aは、上述のようにN
i−Cr合金を使用すれば、抵抗値を有するひずみゲー
ジとして使用することができる。しかも、薄膜パターン
7aは、絶縁膜4上に形成されているから、薄膜パター
ン7aと基板3は、電気的に完全に絶縁されることにな
る。
【0034】このように、図2の実施例によれば、磁性
体の基板3上に、絶縁膜4を介して磁性体で形成され且
つ着磁されて所定のパターン2を有するマスク1を載置
して薄膜パターン7aを形成するようにしたので、マス
ク1を絶縁膜4上に隙間を生じることなく、密着状態で
載置することができ、従ってマスク1と絶縁膜4との間
に堆積物が侵入することがなくなり、絶縁膜4上に正確
な形状の薄膜パターン7aを形成することができる。
【0035】また、薄膜パターン7aは、導電性を有す
るが絶縁膜4により、基板3との間は、確実に絶縁され
ることになる。
【0036】加えて、蝕刻法を用いない場合は、単に、
マスク1を除去するのみで薄膜パターン7aを絶縁膜4
上に形成できるから、工程数も少なくなり、コストダウ
ンにもつながることになる。
【0037】なお、この発明の薄膜パターン形成方法
は、上記図2の実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲内で種々の変形実施が可能であ
る。
【0038】例えば、上記実施例では、基板として磁性
体を使用した場合について例示したが、基板は非磁性体
でもよい。
【0039】次に、本発明の薄膜パターン形成方法の第
2の実施例として、基板に非磁性体を使用した場合につ
いて図4により説明する。図4は、この第2の実施例を
説明するための断面図であり、図2および図3と同一の
部分には、同一符号を付してその構成を述ベる。
【0040】この図4において、非磁性体で形成された
基板8上に、磁性体を真空蒸着などにより蒸着して、磁
性膜9を所定の膜厚で形成する。
【0041】次いで、図2の場合と同様にして、絶縁膜
4を形成した後、図1で示したマスク1を絶縁膜4上に
載置する。
【0042】このとき、マスク1は、着磁されているの
で、絶縁膜4を介してマスク1と絶縁膜4間に隙間を生
じることなく磁性膜9を吸着する。従って、基板8が非
磁性材で形成されていても、基板8側にマスク1を吸着
することができる。
【0043】次いで、マスク1上にスパッタリングなど
により堆積物を堆積させることによりマスク1上および
パターン2を通して絶縁膜4に堆積膜6および7が形成
される。
【0044】次いで、マスク1を除去すると、マスク1
上の堆積膜6がマスク1とともに除去され、パターン2
を通して絶縁膜4上に堆積された堆積膜7のみが薄膜パ
ターンとして絶縁膜4上に形成され、上記図2と同様に
正確な形状の薄膜パターンが形成されることになる。
【0045】上述した2つの実施例では、マスク1を介
して蒸着またはスパッタリングなどの成膜手段により直
接薄膜パターンを形成するようにしているが、図5の実
施例のように、抵抗膜を一様に形成した後、マスク1を
介して蝕刻を行って抵抗薄膜パターンを形成することも
できる。
【0046】すなわち、図5に示すように、非磁性体の
基板8上に図4の場合と同様にして、磁性膜9、絶縁膜
4を順次形成した後、この絶縁膜4上にNi−Cr合金
などからなる抵抗膜10を蒸着などにより形成し、この
抵抗膜10上に上記マスク1を載置し、蝕刻により所定
の抵抗薄膜パターンを形成してもよい。
【0047】この場合も、もちろん、マスク1は、抵抗
膜10、絶縁膜4を通して磁性膜9に吸着され、マスク
1と抵抗膜10間に隙間を生じることがない。
【0048】さらに、基板自体を磁性体で形成するとと
もに着磁させこの基板上に図2で述べたのと同様にし
て、絶縁膜を形成し、この絶縁膜上に磁性材よりなり、
且つ所定のパターンを有するマスクを載置して、堆積物
をマスクのパターンを通して絶縁膜上に堆積させ、ある
いは、絶縁膜上に一定の膜厚の抵抗膜を形成し、この上
にマスクを載置し、蝕刻により抵抗パターンを形成する
ようにしてもよい。
【0049】すなわち、図2における基板3を磁化さ
せ、マスク1を磁性体とすればよい。
【0050】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1の発明に
よれば、磁性材よりなる薄板を着磁し且つ所定のパター
ンを形成するように構成したので、薄膜パターン形成側
に確実に密着でき、蝕刻液や堆積物が薄膜パターン形成
側とマスクとの接触面との間に侵入するのを効果的に防
止することができ、正確なパターン形成を行い得る薄膜
パターン形成用のマスクを提供することができる。
【0051】また、請求項2の発明によれば、磁性体で
形成した基板上に絶縁膜を形成し、この絶縁膜上に磁性
材の薄板を着磁して所定のパターンを有するマスクを載
置した状態で堆積物を堆積させることにより絶縁膜上に
薄膜パターンを形成するようにしたので、マスクを確実
に薄膜パターン形成側に吸着でき、微細なパターン形状
の薄膜パターンをも正確にしかも安価に形成することが
できる薄膜パターン形成方法を提供することができる。
【0052】請求項3の発明によれば、非磁性体の基板
上に磁性膜および絶縁膜を順次形成し、この絶縁膜上に
磁性材よりなる薄板を着磁し且つ所定のパターンを形成
してなるマスクを載置して堆積物を堆積させて絶縁膜上
に薄膜パターンを形成するようにしたので、基板が非磁
性体で形成されたものであっても、マスクを確実に薄膜
パターン形成側に吸着させることができ、従って、微細
なパターン形状の薄膜パターンを正確に形成することが
できる薄膜パターン形成方法を提供することができる。
【0053】請求項4の発明によれば、着磁された磁性
体よりなる基板上に絶縁膜を形成し、この絶縁膜上に磁
性材よりなる薄板で形成され所定のパターンを有するマ
スクを載置して堆積物を堆積させて薄膜パターンを形成
するようにしたので、基板のみ着磁するだけで、マスク
を確実に薄膜パターン形成側に吸着させることができ、
正確且つ簡単な工程で薄膜パターンを低コストで形成し
得る薄膜パターン形成方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る薄膜パターン形成用マスクの一実
施例を示す平面図である。
【図2】本発明に係る薄膜パターン形成方法の一実施例
を説明するための工程断面図である。
【図3】図2に示す実施例により形成された薄膜パター
ンの断面構造を示す断面図である。
【図4】本発明に係る薄膜パターン形成方法の第2の実
施例を説明するための断面図である。
【図5】本発明に係る薄膜パターン形成方法の第3の実
施例を説明するための断面図である。
【符号の説明】
1 マスク 2 パターン 2a,2b 端部 3 基板 4 絶縁膜 5 堆積物 6,7 堆積膜 7a 薄膜パターン 8 基板 9 磁性膜 10 抵抗素子膜

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁性材よりなる薄板を着磁し且つ所定の
    パターンを形成してなる薄膜パターン形成用のマスク。
  2. 【請求項2】 磁性体の基板上に絶縁膜を形成する工程
    と、上記絶縁膜上に磁性材よりなる薄板を着磁し且つ所
    定のパターンを形成してなるマスクを載置して上記絶縁
    膜上に薄膜パターンを形成する工程とよりなる薄膜パタ
    ーン形成方法。
  3. 【請求項3】 非磁性体の基板上に磁性材の薄膜を形成
    する工程と、上記磁性材の薄膜上に絶縁膜を形成する工
    程と、上記絶縁膜上に磁性材よりなる薄板を着磁し且つ
    所定のパターンを形成してなるマスクを載置して上記絶
    縁膜上に薄膜パターンを形成する工程とよりなる薄膜パ
    ターン形成方法。
  4. 【請求項4】 着磁された磁性体よりなる基板上に絶縁
    膜を形成する工程と、上記絶縁膜上に磁性材よりなる薄
    板で形成され所定のパターンを有するマスクを載置して
    上記絶縁膜上に薄膜パターンを形成する工程とよりなる
    薄膜パターン形成方法。
JP7327292A 1992-02-25 1992-02-25 薄膜パターン形成用のマスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法 Pending JPH05230618A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7327292A JPH05230618A (ja) 1992-02-25 1992-02-25 薄膜パターン形成用のマスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7327292A JPH05230618A (ja) 1992-02-25 1992-02-25 薄膜パターン形成用のマスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05230618A true JPH05230618A (ja) 1993-09-07

Family

ID=13513361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7327292A Pending JPH05230618A (ja) 1992-02-25 1992-02-25 薄膜パターン形成用のマスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05230618A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101146978B1 (ko) * 2005-05-14 2012-05-23 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계 발광소자용 기판 및 이를 이용한 유기전계발광소자의 제조방법
JP2018040777A (ja) * 2016-09-09 2018-03-15 株式会社NejiLaw センサ構造のパターニング方法
WO2018047833A1 (ja) * 2016-09-09 2018-03-15 株式会社NejiLaw センサ構造、センサ構造付部材、センサ構造のパターニング方法
JPWO2017130440A1 (ja) * 2016-01-26 2018-10-25 鴻海精密工業股▲ふん▼有限公司 蒸着マスク、その製造方法及びその蒸着マスクを使った有機発光ダイオードの製造方法
JP2021051091A (ja) * 2020-12-24 2021-04-01 株式会社NejiLaw センサ構造のパターニング方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101146978B1 (ko) * 2005-05-14 2012-05-23 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계 발광소자용 기판 및 이를 이용한 유기전계발광소자의 제조방법
JPWO2017130440A1 (ja) * 2016-01-26 2018-10-25 鴻海精密工業股▲ふん▼有限公司 蒸着マスク、その製造方法及びその蒸着マスクを使った有機発光ダイオードの製造方法
US10615344B2 (en) 2016-01-26 2020-04-07 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Vapor deposition mask, method of manufacturing the same and method of manufacturing organic light emitting diode using the vapor deposition mask
JP2018040777A (ja) * 2016-09-09 2018-03-15 株式会社NejiLaw センサ構造のパターニング方法
WO2018047833A1 (ja) * 2016-09-09 2018-03-15 株式会社NejiLaw センサ構造、センサ構造付部材、センサ構造のパターニング方法
CN109923370A (zh) * 2016-09-09 2019-06-21 株式会社NejiLaw 传感器结构、具有传感器结构之构件及传感器结构之图案化方法
JP2021051091A (ja) * 2020-12-24 2021-04-01 株式会社NejiLaw センサ構造のパターニング方法
JP2022119964A (ja) * 2020-12-24 2022-08-17 株式会社NejiLaw センサ構造のパターニング方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5399372A (en) Method of patterning magnetic members
KR910015967A (ko) 희생 마스크층을 이용하여 자체 정렬되는 자극단부를 가지는 박막 자기 트랜스듀서 및 그 제조방법.
JPH08241883A (ja) 薄膜抵抗のエッチング方法
JPH0964609A (ja) 薄膜積層電極及びその製造方法
US6850057B2 (en) Barber pole structure for magnetoresistive sensors and method of forming same
US4464459A (en) Method of forming a pattern of metal elements
JPH05230618A (ja) 薄膜パターン形成用のマスクおよびそのマスクを用いた薄膜パターン形成方法
JPH03105712A (ja) 薄膜層にオーディオ、ビデオ及びコンピュータ用磁気ヘッドのポール・ピース及びギャップを形成する方法
JPS5812315A (ja) 薄膜コイルの製造方法
US4462881A (en) Method of forming a multilayer thin film
JP2001021428A (ja) 圧力センサにおける歪み検出用素子の製造方法
JPS62229513A (ja) 薄膜磁気ヘツドの製造方法
KR100203612B1 (ko) 자기 저항 효과형 헤드 및 그 제작 방법
KR0153970B1 (ko) 박막 자기 헤드 제작 방법
JPH0320809B2 (ja)
JPH0917679A (ja) 積層型コイルの製作方法
JPH023926A (ja) 配線の形成方法
JPH04129016A (ja) 薄膜磁気ヘッド
JPH0234966A (ja) アモルファス半導体薄膜上の金属電極のパターニング法
JPH11340543A (ja) 半導体磁気抵抗素子の製造方法
JPH10209524A (ja) 半導体薄膜磁気抵抗素子とその製造方法
JPH03219682A (ja) 磁気抵抗素子
JPH0765319A (ja) 薄膜形成方法とそれを用いた薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPH0653922B2 (ja) 金属膜のパタ−ン化方法
JPH0567026U (ja) 基板の貫通電極