JPH05232192A - シェルフ実装パッケージの試験方法と試験用接続器 - Google Patents
シェルフ実装パッケージの試験方法と試験用接続器Info
- Publication number
- JPH05232192A JPH05232192A JP4031157A JP3115792A JPH05232192A JP H05232192 A JPH05232192 A JP H05232192A JP 4031157 A JP4031157 A JP 4031157A JP 3115792 A JP3115792 A JP 3115792A JP H05232192 A JPH05232192 A JP H05232192A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connector
- test
- package
- shelf
- backboard
- Prior art date
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- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 架筐体のシェルフに前面から回路構成したパ
ッケージを並設し、後面のバックボードのコネクタにプ
ラグインして回路接続させる回路装置において、パッケ
ージをオープン状態にて活性試験を行うシェルフ実装パ
ッケージの試験方法と試験用接続器に関し、回路の高周
波化高速度化に対応でき且つ共用化が図れる試験法と接
続器を提供することを目的とする。 【構成】 シェルフ１後面のバックボード２のコネクタ
３を貫通型の両面嵌合型のコネクタとし、コネクタ３の
裏面側から嵌合接続するコネクタＡ31と、パッケージ５
のコネクタ33に嵌合接続するコネクタＢ32とを、背面合
わせに両端に設け、端子同志を最短にて接続する手段を
備えた試験用接続器６を用い、バックボード２の所定位
置のコネクタ３に、裏面側から試験用接続器６を嵌合固
定させ、これにパッケージ５をプラグイン接続して活性
試験可能とするように構成する。
ッケージを並設し、後面のバックボードのコネクタにプ
ラグインして回路接続させる回路装置において、パッケ
ージをオープン状態にて活性試験を行うシェルフ実装パ
ッケージの試験方法と試験用接続器に関し、回路の高周
波化高速度化に対応でき且つ共用化が図れる試験法と接
続器を提供することを目的とする。 【構成】 シェルフ１後面のバックボード２のコネクタ
３を貫通型の両面嵌合型のコネクタとし、コネクタ３の
裏面側から嵌合接続するコネクタＡ31と、パッケージ５
のコネクタ33に嵌合接続するコネクタＢ32とを、背面合
わせに両端に設け、端子同志を最短にて接続する手段を
備えた試験用接続器６を用い、バックボード２の所定位
置のコネクタ３に、裏面側から試験用接続器６を嵌合固
定させ、これにパッケージ５をプラグイン接続して活性
試験可能とするように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、架筐体に搭載したシェ
ルフに前面から回路構成したパッケージを並設収納し、
後面のバックボードに配設したコネクタにプラグインし
て回路接続させる回路装置において、前記パッケージを
オープン状態にて活性試験を行うシェルフ実装パッケー
ジの試験方法と試験用接続器に関する一般の電子回路装
置の実装構造は、保守取扱単位の回路パッケージを架筐
体に搭載したシェルフにプラグイン実装させる構造がと
られている。
ルフに前面から回路構成したパッケージを並設収納し、
後面のバックボードに配設したコネクタにプラグインし
て回路接続させる回路装置において、前記パッケージを
オープン状態にて活性試験を行うシェルフ実装パッケー
ジの試験方法と試験用接続器に関する一般の電子回路装
置の実装構造は、保守取扱単位の回路パッケージを架筐
体に搭載したシェルフにプラグイン実装させる構造がと
られている。
【０００２】この回路パッケージは、単体での試験調整
を行う他に、プラグイン実装したシェルフ或いはその上
の架筐体装置においても試験調整を行う場合があり、一
般にはパッケージの前面の調整部にて行うが、稀にはパ
ッケージ内部を調整することもある。
を行う他に、プラグイン実装したシェルフ或いはその上
の架筐体装置においても試験調整を行う場合があり、一
般にはパッケージの前面の調整部にて行うが、稀にはパ
ッケージ内部を調整することもある。
【０００３】勿論、保守点検時には内部も点検調整が行
えるような配慮が必要である。
えるような配慮が必要である。
【０００４】
【従来の技術】図４に従来の一例の電子装置を示し、
(a) はシェルフ実装斜視図、(b) は試験用接続器の使用
状態である。
(a) はシェルフ実装斜視図、(b) は試験用接続器の使用
状態である。
【０００５】従来の一例の電子装置は図４の(a) に示す
如く、架筐体９の両側部に固定してシェルフ19が上下方
向に搭載され、このシェルフ19に回路構成したパッケー
ジ５が前から挿入されて並設され、プラグイン接続して
相互に接続が行われる。
如く、架筐体９の両側部に固定してシェルフ19が上下方
向に搭載され、このシェルフ19に回路構成したパッケー
ジ５が前から挿入されて並設され、プラグイン接続して
相互に接続が行われる。
【０００６】シェルフ19は前面開放の箱形で、上下板に
はパッケージ５を並設するためのガイドレール68が上下
に対向して所定ピッチに平行に設けられ、後面は所定位
置にコネクタ39を配設したプリント配線板から成るバッ
クボード29で覆われている。
はパッケージ５を並設するためのガイドレール68が上下
に対向して所定ピッチに平行に設けられ、後面は所定位
置にコネクタ39を配設したプリント配線板から成るバッ
クボード29で覆われている。
【０００７】パッケージ５はプリント配線板を基板と
し、これに部品を実装して回路を構成しており、外部と
の接続は後部のコネクタ33を介して行う。パッケージ５
をシェルフ19の所定位置のガイドレール68に挿入し押入
れれば、バックボード29の対応位置のコネクタ39にコネ
クタ33がプラグイン接続して実装される。同一シェルフ
19に実装した全数のパッケージ５はバックボード29のプ
リント配線により相互接続される。更に、外部との接続
は、バックボード29や各パッケージ５の前面に設けた接
続端子にて行われる。
し、これに部品を実装して回路を構成しており、外部と
の接続は後部のコネクタ33を介して行う。パッケージ５
をシェルフ19の所定位置のガイドレール68に挿入し押入
れれば、バックボード29の対応位置のコネクタ39にコネ
クタ33がプラグイン接続して実装される。同一シェルフ
19に実装した全数のパッケージ５はバックボード29のプ
リント配線により相互接続される。更に、外部との接続
は、バックボード29や各パッケージ５の前面に設けた接
続端子にて行われる。
【０００８】従ってパッケージ５は、シェルフ19に並設
実装した状態では、その前面部とシェルフ19の後面のコ
ネクタ39の端子からしか触診できないので、内部まで活
性状態にて点検できるように試験用接続器が用意してあ
る。
実装した状態では、その前面部とシェルフ19の後面のコ
ネクタ39の端子からしか触診できないので、内部まで活
性状態にて点検できるように試験用接続器が用意してあ
る。
【０００９】この試験用接続器69は、図４の(b) に示す
如く、被点検パッケージ５のシェルフ実装位置に装着さ
れ、コネクタ39とプラグイン接続も行われ、プリント配
線79により前部まで延長され、前端部に設けたコネクタ
39と同一嵌合条件のコネクタ38に配線してあり、更に、
シェルフ19の前部から出た部分の上下には短いガイドレ
ール68が取付けてあり、これに被点検パッケージ５を挿
入し押入れれば、前部のコネクタ38にプラグイン接続し
て装着される。
如く、被点検パッケージ５のシェルフ実装位置に装着さ
れ、コネクタ39とプラグイン接続も行われ、プリント配
線79により前部まで延長され、前端部に設けたコネクタ
39と同一嵌合条件のコネクタ38に配線してあり、更に、
シェルフ19の前部から出た部分の上下には短いガイドレ
ール68が取付けてあり、これに被点検パッケージ５を挿
入し押入れれば、前部のコネクタ38にプラグイン接続し
て装着される。
【００１０】これにより、被点検パッケージ５は、シェ
ルフ19の前面より飛び出たオープン状態となり、且つ接
続が行われた活性状態となり完全な保守点検が行える。
ルフ19の前面より飛び出たオープン状態となり、且つ接
続が行われた活性状態となり完全な保守点検が行える。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、 パッケージ５の点検活性状態は、コネクタ39から試
験用接続器69のプリント配線79を介して、シェルフ19の
略奥行寸法分（約20cm）が延長配線される。 従って、パッケージ５の構成回路が高周波化や高速
度化になるに従い、この延長配線部分での伝送損失が大
きくなって来て、正規実装状態と点検状態とで、動作特
性に差異を生じてしまい、点検不可能となる恐れがあ
る。 又、試験用接続器69は、構造的に同じであっても、
プラグイン接続するコネクタ33,39 の種類及びその個
数、取付け位置により別物となり、装置に実装するパッ
ケージ５に合わせて多種類を用意しなければならない。 等の問題点があった。
験用接続器69のプリント配線79を介して、シェルフ19の
略奥行寸法分（約20cm）が延長配線される。 従って、パッケージ５の構成回路が高周波化や高速
度化になるに従い、この延長配線部分での伝送損失が大
きくなって来て、正規実装状態と点検状態とで、動作特
性に差異を生じてしまい、点検不可能となる恐れがあ
る。 又、試験用接続器69は、構造的に同じであっても、
プラグイン接続するコネクタ33,39 の種類及びその個
数、取付け位置により別物となり、装置に実装するパッ
ケージ５に合わせて多種類を用意しなければならない。 等の問題点があった。
【００１２】本発明は、かかる問題点に鑑みて、構成回
路の高周波化、高速度化に対応でき、且つ、共用化が図
れる試験用接続器を提供することを目的とする。
路の高周波化、高速度化に対応でき、且つ、共用化が図
れる試験用接続器を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記目的は、図１〜図３
に示す如く、架筐体に搭載したシェルフ１に前面から回
路構成したパッケージ５を挿入して並設収納し、後面の
バックボード２に配設したコネクタ３にプラグインして
回路接続させる回路装置において、前記パッケージ５を
オープン状態にて活性試験を行う試験方法であって、シ
ェルフ１後面のバックボード２のコネクタ３を貫通型の
両面嵌合型のコネクタとし、裏面側からコネクタ３に嵌
合接続するコネクタＡ31と、プラグイン接続するパッケ
ージ５のコネクタ33に嵌合接続するコネクタＢ32とを、
背面合わせに両端に設け、端子同志を最短にて接続する
手段を備えた試験用接続器６を用い、バックボード２の
被試験用のパッケージ５位置のコネクタ３に、裏面側か
ら前記試験用接続器６を嵌合固定させ、試験用接続器６
にパッケージ５をプラグイン接続して、シェルフ１即ち
架筐体の裏面側にオープン状態にて最短に接続して試験
可能とする、本発明のシェルフ実装パッケージの試験方
法により達成される。 [1] 試験用接続器６は、シェルフ１後面のバックボード
２を貫通するプレスフィットピン４から成る両面嵌合型
のコネクタ３の種類毎に、裏面側から嵌合接続するコネ
クタＡ31と、正面側からプラグイン接続するパッケージ
５のコネクタ33に嵌合接続するコネクタＢ32と、該コネ
クタＡ31とコネクタＢ32とを背面合わせに両端に設け、
その端子35,36 同志を、前記コネクタ３の背面からの接
続を正面側からの接続に戻すために、左右を反転させて
最短にて配線接続するプリント配線板７と、バックボー
ド２又はそのコネクタ３に容易に着脱できる固定手段
と、から成る本発明のシェルフ実装パッケージの試験用
接続器６により適えられる。 [2] 又、上記のコネクタＡ31，Ｂ32及びプリント配線板
７に代わり、コネクタＡ81，Ｂ82を、夫々プリント配線
板Ａ71，Ｂ72に貫通せずに植設したプレスフィットピン
41,42と、コネクタハウジングＡ83，Ｂ84にて構成し、
プレスフィットピン41,42 を同心に配設し、プリント配
線板Ａ71，Ｂ72を背面合わせに一体に接着し、内層部に
てその端子同志を左右を反転させてビアホール配線77を
行い最短にて接続させたコネクタ部８と、バックボード
２又はそのコネクタ３に容易に着脱できる固定手段と、
から成る本発明のシェルフ実装パッケージの試験用接続
器66によっても達成される。
に示す如く、架筐体に搭載したシェルフ１に前面から回
路構成したパッケージ５を挿入して並設収納し、後面の
バックボード２に配設したコネクタ３にプラグインして
回路接続させる回路装置において、前記パッケージ５を
オープン状態にて活性試験を行う試験方法であって、シ
ェルフ１後面のバックボード２のコネクタ３を貫通型の
両面嵌合型のコネクタとし、裏面側からコネクタ３に嵌
合接続するコネクタＡ31と、プラグイン接続するパッケ
ージ５のコネクタ33に嵌合接続するコネクタＢ32とを、
背面合わせに両端に設け、端子同志を最短にて接続する
手段を備えた試験用接続器６を用い、バックボード２の
被試験用のパッケージ５位置のコネクタ３に、裏面側か
ら前記試験用接続器６を嵌合固定させ、試験用接続器６
にパッケージ５をプラグイン接続して、シェルフ１即ち
架筐体の裏面側にオープン状態にて最短に接続して試験
可能とする、本発明のシェルフ実装パッケージの試験方
法により達成される。 [1] 試験用接続器６は、シェルフ１後面のバックボード
２を貫通するプレスフィットピン４から成る両面嵌合型
のコネクタ３の種類毎に、裏面側から嵌合接続するコネ
クタＡ31と、正面側からプラグイン接続するパッケージ
５のコネクタ33に嵌合接続するコネクタＢ32と、該コネ
クタＡ31とコネクタＢ32とを背面合わせに両端に設け、
その端子35,36 同志を、前記コネクタ３の背面からの接
続を正面側からの接続に戻すために、左右を反転させて
最短にて配線接続するプリント配線板７と、バックボー
ド２又はそのコネクタ３に容易に着脱できる固定手段
と、から成る本発明のシェルフ実装パッケージの試験用
接続器６により適えられる。 [2] 又、上記のコネクタＡ31，Ｂ32及びプリント配線板
７に代わり、コネクタＡ81，Ｂ82を、夫々プリント配線
板Ａ71，Ｂ72に貫通せずに植設したプレスフィットピン
41,42と、コネクタハウジングＡ83，Ｂ84にて構成し、
プレスフィットピン41,42 を同心に配設し、プリント配
線板Ａ71，Ｂ72を背面合わせに一体に接着し、内層部に
てその端子同志を左右を反転させてビアホール配線77を
行い最短にて接続させたコネクタ部８と、バックボード
２又はそのコネクタ３に容易に着脱できる固定手段と、
から成る本発明のシェルフ実装パッケージの試験用接続
器66によっても達成される。
【００１４】
【作用】即ち、図１のように、バックボード２のコネク
タ３は両面形成型であるので、後面側に試験用接続器6,
66を介して試験用パッケージ５を接続固定させることに
より、シェルフ１の後方即ち架筐体の後方に飛び出たオ
ープン状態にて接続が成され、そのパッケージ５を自由
に点検することができる。
タ３は両面形成型であるので、後面側に試験用接続器6,
66を介して試験用パッケージ５を接続固定させることに
より、シェルフ１の後方即ち架筐体の後方に飛び出たオ
ープン状態にて接続が成され、そのパッケージ５を自由
に点検することができる。
【００１５】又図２のように、試験用接続器６は、プリ
ント配線79にてコネクタＡ31とコネクタＢ32との端子3
5,36 間を接続するが、これは引出すための延長配線で
はなく、背面合わせの接続であり、しかもコネクタ３に
後面側からプラグイン接続したので、これを正面側から
の接続状態に戻すために、左右端子を反転させて接続す
るだけであり、最短長で行うことができる。
ント配線79にてコネクタＡ31とコネクタＢ32との端子3
5,36 間を接続するが、これは引出すための延長配線で
はなく、背面合わせの接続であり、しかもコネクタ３に
後面側からプラグイン接続したので、これを正面側から
の接続状態に戻すために、左右端子を反転させて接続す
るだけであり、最短長で行うことができる。
【００１６】更に図３のように、接続配線の短縮を図る
ために、プリント配線板Ａ71にプレスフィットピン41を
貫通させないように植設し、周りをコネクタハウジング
Ａ83を設けてコネクタＡ81を構成させ、又、同様にプリ
ント配線板Ｂ72にプレスフィットピン42を植設し、コネ
クタハウジングＢ84を設けてコネクタＢ82を構成させ
る。
ために、プリント配線板Ａ71にプレスフィットピン41を
貫通させないように植設し、周りをコネクタハウジング
Ａ83を設けてコネクタＡ81を構成させ、又、同様にプリ
ント配線板Ｂ72にプレスフィットピン42を植設し、コネ
クタハウジングＢ84を設けてコネクタＢ82を構成させ
る。
【００１７】この際、何れかのプリント配線板Ａ81，Ｂ
82にて左右端子を反対にビアホール配線77を行っておけ
ば、背面合わせに接着した時に正しく配線接続される。
この場合は、接続配線長はプレスフィットピン41の左右
端の間隔寸法に略等しく極限となる。
82にて左右端子を反対にビアホール配線77を行っておけ
ば、背面合わせに接着した時に正しく配線接続される。
この場合は、接続配線長はプレスフィットピン41の左右
端の間隔寸法に略等しく極限となる。
【００１８】尚、この試験用接続器6,66は、何れもパッ
ケージ５に設けたコネクタ33（又はバックボード１に配
設したコネクタ３）の種類毎に分割して備えるので、パ
ッケージ５でのコネクタ33の使用個数、配設位置等に関
係無く共通に使用することができ、共用化が図れ、種類
を減ずることができる。
ケージ５に設けたコネクタ33（又はバックボード１に配
設したコネクタ３）の種類毎に分割して備えるので、パ
ッケージ５でのコネクタ33の使用個数、配設位置等に関
係無く共通に使用することができ、共用化が図れ、種類
を減ずることができる。
【００１９】かくして、本発明により、構成回路の高周
波化、高速度化に対応でき、且つ、共用化が図れる試験
用接続器を提供することが可能となる。
波化、高速度化に対応でき、且つ、共用化が図れる試験
用接続器を提供することが可能となる。
【００２０】
【実施例】以下図面に示す実施例によって本発明を具体
的に説明する。全図を通し同一符号は同一対象物を示
す。図２は本発明の一実施例の試験用接続器、図３は本
発明の他の実施例の試験用接続器を示す。
的に説明する。全図を通し同一符号は同一対象物を示
す。図２は本発明の一実施例の試験用接続器、図３は本
発明の他の実施例の試験用接続器を示す。
【００２１】本実施例は、何れも同一の架筐体に搭載し
たシェルフに実装するパッケージについて試作した試験
用接続器である。一実施例は、図２の側断面図に示す如
くで、電子装置は、図示省略の架筐体に搭載した前面開
放のシェルフ１に、前面から回路構成したパッケージ５
を挿入して並設収納し、シェルフ１後面のプリント配線
板からなるバックボード２に配設した、プレスフィット
ピン４を貫通させて両面形成型のコネクタ３に、プラグ
インして回路接続させる構造となっている。
たシェルフに実装するパッケージについて試作した試験
用接続器である。一実施例は、図２の側断面図に示す如
くで、電子装置は、図示省略の架筐体に搭載した前面開
放のシェルフ１に、前面から回路構成したパッケージ５
を挿入して並設収納し、シェルフ１後面のプリント配線
板からなるバックボード２に配設した、プレスフィット
ピン４を貫通させて両面形成型のコネクタ３に、プラグ
インして回路接続させる構造となっている。
【００２２】このコネクタ３の種類毎に試験用接続器６
は設けられる。試験用接続器６は、コネクタ３の裏面側
から嵌合接続するコネクタＡ31と、パッケージ５のコネ
クタ33に嵌合接続するコネクタＢ32と、両端にコネクタ
Ａ31とコネクタＢ32とを取付け、最短にて接続するプリ
ント配線板７と、バックボード２に設けた補強金具25に
容易に着脱できる固定保持金具65とから構成される。
は設けられる。試験用接続器６は、コネクタ３の裏面側
から嵌合接続するコネクタＡ31と、パッケージ５のコネ
クタ33に嵌合接続するコネクタＢ32と、両端にコネクタ
Ａ31とコネクタＢ32とを取付け、最短にて接続するプリ
ント配線板７と、バックボード２に設けた補強金具25に
容易に着脱できる固定保持金具65とから構成される。
【００２３】コネクタＡ31とコネクタＢ32は、何れもプ
リント配線板取付型コネクタを用いており、プリント配
線板７の両端に背面合わせに取付け、その端子35,36 同
志を、コネクタ３の背面からの接続を正面側からの接続
状態に変換するために、左右を反転させて最短にて配線
接続している。
リント配線板取付型コネクタを用いており、プリント配
線板７の両端に背面合わせに取付け、その端子35,36 同
志を、コネクタ３の背面からの接続を正面側からの接続
状態に変換するために、左右を反転させて最短にて配線
接続している。
【００２４】固定保持金具65は、コネクタＡ31の側の上
下縁部に嵌合方向に先部を突き出し対向して設けてあ
る。シェルフ１のバックボード２の裏面には、コネクタ
３へのパッケージ５のプラグイン時の挿入力又は抜去力
により生じる、バックボード２の反りを抑えるために、
棒状の補助金具25がコネクタ３の近傍に固着してある。
下縁部に嵌合方向に先部を突き出し対向して設けてあ
る。シェルフ１のバックボード２の裏面には、コネクタ
３へのパッケージ５のプラグイン時の挿入力又は抜去力
により生じる、バックボード２の反りを抑えるために、
棒状の補助金具25がコネクタ３の近傍に固着してある。
【００２５】試験用接続器６は、コネクタＡ31をバック
ボード２の後面からコネクタ３にプラグイン接続させる
と、固定保持金具65の先部の爪が補助金具25に自動的に
掛着して、抜けなく嵌合接続状態に固定されるので、他
端のコネクタＢ32にパッケージ５のコネクタ33を嵌合接
続させる。
ボード２の後面からコネクタ３にプラグイン接続させる
と、固定保持金具65の先部の爪が補助金具25に自動的に
掛着して、抜けなく嵌合接続状態に固定されるので、他
端のコネクタＢ32にパッケージ５のコネクタ33を嵌合接
続させる。
【００２６】この状態では、パッケージ５はシェルフ１
の後面から後方に突き出たオープン状態となり、且つプ
ラグイン接続がなされ、活性状態にて試験が行える。シ
ェルフ１に正規実装に比べ配線長は、端子35,36 の長さ
計約30mmと嵌合長１個分約15mmと配線長約８mm（端子配
列２列の場合で、更に１列増毎に2.5 mm増す）の合計53
mmの延長となるが、前述従来例と比べれば配線長が 200
→８mmと1/25にもなり、合計でも約1/5 に短縮された。
の後面から後方に突き出たオープン状態となり、且つプ
ラグイン接続がなされ、活性状態にて試験が行える。シ
ェルフ１に正規実装に比べ配線長は、端子35,36 の長さ
計約30mmと嵌合長１個分約15mmと配線長約８mm（端子配
列２列の場合で、更に１列増毎に2.5 mm増す）の合計53
mmの延長となるが、前述従来例と比べれば配線長が 200
→８mmと1/25にもなり、合計でも約1/5 に短縮された。
【００２７】試験用接続器６の取外しは、パッケージ５
を抜去してから、固定保持金具65の先部の爪の掛着を外
すように、先部を上下から中側に押し外しながら試験用
接続器６を引っ張って、コネクタＡ31の嵌合を解除させ
て行える。
を抜去してから、固定保持金具65の先部の爪の掛着を外
すように、先部を上下から中側に押し外しながら試験用
接続器６を引っ張って、コネクタＡ31の嵌合を解除させ
て行える。
【００２８】又、他の実施例の試験用接続器66は、図３
の側断面図に示す如くで、上記一実施例との相違する処
のみを説明すれば、上記のコネクタＡ31，Ｂ32及びプリ
ント配線板７に代わり、コネクタＡ81，Ｂ82を、夫々ガ
ラスエポキシ基材の1.6 mm厚多層のプリント配線板Ａ7
1，Ｂ72に、貫通せずに植設したプレスフィットピン41,
42 と、嵌合ガイドするナイロン成型のコネクタハウジ
ングＡ83，Ｂ84にて構成し、プレスフィットピン41,42
を同心に配設し、プリント配線板Ａ71，Ｂ72を背面合わ
せに一体に接着し、内層部にてその端子同志を左右を反
転させてビアホール配線77を行い最短にて接続させてコ
ネクタ部８としたものである。
の側断面図に示す如くで、上記一実施例との相違する処
のみを説明すれば、上記のコネクタＡ31，Ｂ32及びプリ
ント配線板７に代わり、コネクタＡ81，Ｂ82を、夫々ガ
ラスエポキシ基材の1.6 mm厚多層のプリント配線板Ａ7
1，Ｂ72に、貫通せずに植設したプレスフィットピン41,
42 と、嵌合ガイドするナイロン成型のコネクタハウジ
ングＡ83，Ｂ84にて構成し、プレスフィットピン41,42
を同心に配設し、プリント配線板Ａ71，Ｂ72を背面合わ
せに一体に接着し、内層部にてその端子同志を左右を反
転させてビアホール配線77を行い最短にて接続させてコ
ネクタ部８としたものである。
【００２９】このコネクタ部８に固定保持金具65が突き
出て設けられ、コネクタＡ81をシェルフ１のコネクタ３
に後面側から嵌合接続させれば、固定保持金具65が補助
金具25に掛着して固定され、他端のコネクタＢ82にパッ
ケージ５のコネクタ33をプラグイン接続させて、オープ
ン状態にて活性試験ができる。
出て設けられ、コネクタＡ81をシェルフ１のコネクタ３
に後面側から嵌合接続させれば、固定保持金具65が補助
金具25に掛着して固定され、他端のコネクタＢ82にパッ
ケージ５のコネクタ33をプラグイン接続させて、オープ
ン状態にて活性試験ができる。
【００３０】この場合の配線長は、嵌合長１個分約15mm
とビアホール配線77長約４mm（端子配列２列の場合で、
更に、１列増毎に2.5 mm増す）の合計19mmの延長となる
が、前述従来例と比べれば合計長が 245→19mmとなり約
1/13に短縮され、上記一実施例と比べても約1/3 に短縮
される。
とビアホール配線77長約４mm（端子配列２列の場合で、
更に、１列増毎に2.5 mm増す）の合計19mmの延長となる
が、前述従来例と比べれば合計長が 245→19mmとなり約
1/13に短縮され、上記一実施例と比べても約1/3 に短縮
される。
【００３１】上記各実施例は一例を示したものであり、
各部の形状、寸法、材料は上記のものに限定するもので
はない。
各部の形状、寸法、材料は上記のものに限定するもので
はない。
【００３２】
【発明の効果】以上の如く、本発明の試験用接続器によ
り、従来と試験条件は変わらずにしかも配線延長を 1/5
〜1/13に短縮することが出来、構成回路の高周波化、高
速度化に対応でき、更に、パッケージ５のコネクタ33の
種類とその配置状態毎に用意する必要は無く、コネクタ
３の嵌合種類毎に備えるのみで足り、共用化が図れるも
のであり、その実用的効果は極めて大きいものがある。
り、従来と試験条件は変わらずにしかも配線延長を 1/5
〜1/13に短縮することが出来、構成回路の高周波化、高
速度化に対応でき、更に、パッケージ５のコネクタ33の
種類とその配置状態毎に用意する必要は無く、コネクタ
３の嵌合種類毎に備えるのみで足り、共用化が図れるも
のであり、その実用的効果は極めて大きいものがある。
【図１】 本発明の試験方法説明図
【図２】 本発明の一実施例の試験用接続器
【図３】 本発明の他の実施例の試験用接続器
【図４】 従来の一例の電子装置 (a) シェルフ実装斜視図 (b) 試験用接続器の使用状
態
態
1,19 シェルフ 2,29 バックボード 3,
33,38,39 コネクタ 4,41,42 プレスフィットピン ５
パッケージ 6,66,69 試験用接続器 7,79 プリント配線板 ８
コネクタ部 ９ 架筐体 25 補助金具 3
1,81 コネクタＡ 32,82 コネクタＢ 35,36 端子 65
固定保持金具 68 ガイドレール 71 プリント配線板Ａ 72
プリント配線板Ｂ 77 ビアホール配線 83コネクタハウジングＡ 84
コネクタハウジングＢ
33,38,39 コネクタ 4,41,42 プレスフィットピン ５
パッケージ 6,66,69 試験用接続器 7,79 プリント配線板 ８
コネクタ部 ９ 架筐体 25 補助金具 3
1,81 コネクタＡ 32,82 コネクタＢ 35,36 端子 65
固定保持金具 68 ガイドレール 71 プリント配線板Ａ 72
プリント配線板Ｂ 77 ビアホール配線 83コネクタハウジングＡ 84
コネクタハウジングＢ
Claims (3)
- 【請求項１】 架筐体に搭載したシェルフに前面から回
路構成したパッケージを挿入して並設収納し、後面のバ
ックボードに配設したコネクタにプラグインして回路接
続させる回路装置において、前記パッケージをオープン
状態にて活性試験を行う試験方法であって、 シェルフ(1) 後面のバックボード(2) のコネクタ(3) を
貫通型の両面嵌合型のコネクタとし、 該コネクタ(3) の裏面側から嵌合接続するコネクタＡ(3
1)と、プラグイン接続するパッケージ(5) のコネクタ(3
3)に嵌合接続するコネクタＢ(32)とを、背面合わせに両
端に設け、端子同志を最短にて接続する手段を備えた試
験用接続器(6)を用い、 該バックボード(2) の被試験用のパッケージ(5) 位置の
該コネクタ(3) に、裏面側から前記試験用接続器(6) を
嵌合固定させ、該試験用接続器(6) に該パッケージ(5)
をプラグイン接続して、該シェルフ(1) 即ち架筐体の裏
面側にオープン状態にて最短に接続して試験可能とする
ことを特徴とするシェルフ実装パッケージの試験方法。 - 【請求項２】 架筐体の一面に搭載したシェルフ(1)
に、回路構成したパッケージ(5) を前面から挿入して該
シェルフ(1) に並設収納し、後面のバックボード(2) に
配設したコネクタ(3) にプラグインして回路接続させる
回路装置において、前記パッケージ(5) をオープン状態
にて活性試験を行う試験用接続器(6) であって、 シェルフ(1) 後面のバックボード(2) を貫通するプレス
フィットピン(4) から成る両面形成のコネクタ(3) の種
類毎に、裏面側から嵌合接続するコネクタＡ(31)と、 正面側からプラグイン接続するパッケージ(5) のコネク
タ(33)に嵌合接続するコネクタＢ(32)と、 該コネクタＡ(31)とコネクタＢ(32)とを背面合わせに両
端に設け、その端子(35,36) 同志を、前記コネクタ(3)
の背面からの接続を正面側からの接続に戻すために、左
右を反転させて最短にて配線接続するプリント配線板
(7) と、 該バックボード(2) 又はそのコネクタ(3) に容易に着脱
できる固定手段と、から成ることを特徴とするシェルフ
実装パッケージの試験用接続器。 - 【請求項３】 請求項２記載のコネクタＡ，Ｂ(31,32)
及びプリント配線板(7) に代わり、 コネクタＡ，Ｂ(81,82) を、夫々プリント配線板Ａ，Ｂ
(71,72) に貫通せずに植設したプレスフィットピン(41,
42) と、コネクタハウジングＡ，Ｂ(83,84) にて構成
し、 該プレスフィットピン(41,42) を同心に配設し、該プリ
ント配線板Ａ，Ｂ(71,72) を背面合わせに一体に接着
し、内層部にてその端子同志を左右を反転させてビアホ
ール配線(77)を行い最短にて接続させたコネクタ部(8)
と、 該バックボード(2) 又はそのコネクタ(3) に容易に着脱
できる固定手段と、から成ることを特徴とするシェルフ
実装パッケージの試験用接続器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4031157A JPH05232192A (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | シェルフ実装パッケージの試験方法と試験用接続器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4031157A JPH05232192A (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | シェルフ実装パッケージの試験方法と試験用接続器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05232192A true JPH05232192A (ja) | 1993-09-07 |
Family
ID=12323612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4031157A Pending JPH05232192A (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | シェルフ実装パッケージの試験方法と試験用接続器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05232192A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007158127A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Ricoh Co Ltd | 基板実装装置、および画像形成装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61118978A (ja) * | 1984-11-15 | 1986-06-06 | 第一電子工業株式会社 | 電気コネクタ |
| JPS6352269B2 (ja) * | 1981-11-16 | 1988-10-18 | Nippon Yakin Kogyo Kk | |
| JPH0257077B2 (ja) * | 1982-08-16 | 1990-12-03 | Stauffer Chemical Co |
-
1992
- 1992-02-19 JP JP4031157A patent/JPH05232192A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6352269B2 (ja) * | 1981-11-16 | 1988-10-18 | Nippon Yakin Kogyo Kk | |
| JPH0257077B2 (ja) * | 1982-08-16 | 1990-12-03 | Stauffer Chemical Co | |
| JPS61118978A (ja) * | 1984-11-15 | 1986-06-06 | 第一電子工業株式会社 | 電気コネクタ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007158127A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Ricoh Co Ltd | 基板実装装置、および画像形成装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970624 |