JPH05235132A - Icのリード曲がり検査装置 - Google Patents

Icのリード曲がり検査装置

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JPH05235132A
JPH05235132A JP4039701A JP3970192A JPH05235132A JP H05235132 A JPH05235132 A JP H05235132A JP 4039701 A JP4039701 A JP 4039701A JP 3970192 A JP3970192 A JP 3970192A JP H05235132 A JPH05235132 A JP H05235132A
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image
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plane
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JP4039701A
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Toshio Kamigaki
敏雄 神垣
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Kobe Steel Ltd
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Kobe Steel Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 リードを含む平面内のリード曲がりととも
に、リードを含む平面に対して垂直な方向のリード曲が
りをも確実に検出する。 【構成】 IC41の斜め上方に、ICパッケージ41pの
一辺に配列されたリード41aに斜め上方から照明光を照
射する照明用光源装置1を配置する。リード41aの延長
線上に反射鏡3を水平面及び垂直面に対して傾斜させて
配置する。照明光を受けたリードの端面からの光が反射
鏡によって反射されて二次元CCDカメラ2へ導かれる
ので、IC41の上方に配置されたCCDカメラ2によ
り、リード41aの平面像と、リードを含む平面に対して
垂直な方向のリード曲がりの検出が容易な、リード41a
の端面像とを一度に撮像できる。画像処理装置4は、C
CDカメラ2によって得られる画像に基づいてリードの
曲がりの有無を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、プリント基板への精
密な接合が必要なフラットタイプICにおけるリードの
曲がりを検出する、ICのリード曲がり検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】微小なリードピッチでもって多数のリー
ドが配列されてなるフラットタイプ(フラットパック
形)ICのリードの曲がりを検出するようにしたICの
リード曲がり検査装置の一例としては、従来、その構成
説明図の図9に示すようにものが知られている。
【0003】図9に示すように、このリード曲がり検査
装置は、検査対象であるIC51のICパッケージ51pの
一辺に一列に配列されたリード51aを含む平面Aを挟ん
で対向した配置された、撮像装置としての二次元CCD
カメラ52および照明用光源装置53と、二次元CCDカメ
ラ52により得られる画像に基づいてリード51aの曲がり
の有無を判定する画像処理装置54より構成されている。
なお、リードは、ICパッケージ51pの相対向する二
辺、あるいは四辺にそれぞれ一列に配列されるものであ
る。
【0004】上記リード曲がり検査装置においては、照
明用光源装置53からの照明光の一部が検査すべきリード
51aにより遮られることにより、リード51aの平面像と
しての影像(シルエット像)が二次元CCDカメラ52に
より撮像されて、図10に示すようなリード51aの画像が
得られる。この二次元CCDカメラ52により得られる画
像を、画像処理装置54において、予め入力されている良
品の標準パターンと比較することにより、リード51aの
曲がりの有無を判定するようにしている。
【0005】この場合、図10のBに示すように、リード
51aを含む平面内のリード曲がりは、標準パターンにお
けるリードピッチとの比較によりその有無が判定され
る。また、リード51aを含む平面Aに対して垂直な方向
のリード曲がり(リードの浮き)は、図10のCに示すよ
うに、標準パターンにおけるリード長手方向寸法との比
較によりその有無が判定されるようになされている。な
お、図示しないIC回転装置によりIC51を180度回
転させて位置決めすることにより、相対向する他の辺に
配列されたリード51bについてのリード曲がり有無を検
査するようにしている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来におけるICのリード曲がり検査装置では、検査すべ
きリードの平面の像に基づいてリードの曲がりを検出す
るようにしたものであるから、リードを含む平面に対し
て垂直な方向のリード曲がり(リードの浮き)をそのリ
ードの曲がりの程度によっては検出し難いという欠点が
ある。また、ICパッケージの一辺に配列されたリード
の曲がりについてしか一度に検出できず、1台の撮像装
置を用いて他の辺に配列されたリードの曲がりを所要の
測定分解能を確保した状態で検出するには、検査対象の
ICを水平面内で何回も回転させることが必要となり、
検査に時間がかかるという欠点がある。
【0007】そこで、この発明の目的は、リードを含む
平面内のリード曲がりとともに、リードを含む平面に対
して垂直な方向のリード曲がりをも確実に検出できる、
ICのリード曲がり検査装置を提供すること、また、1
台の撮像装置によりICパッケージの複数の辺に配列さ
れたリードの像を高い測定分解能を確保した状態で一度
に撮像でき、検査時間を短縮できる、ICのリード曲が
り検査装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1の発明によるICのリード曲がり検査装
置は、ICパッケージの所定の一辺に配列されたリード
に斜め上方から照明光を照射する照明用光源装置と、前
記リードの延長線上に水平面及び垂直面に対して傾斜さ
せて配置され、照明光を受けたリード端面からの光を上
方へ反射させる反射鏡と、ICパッケージの上方に配置
され、前記リードの、平面像及び前記反射鏡の反射作用
による端面像を一度に撮像する撮像装置と、前記撮像装
置によって得られる画像に基づいて前記リードの曲がり
の有無を判定する画像処理装置と、を備えたことを特徴
とするものである。
【0009】請求項2の発明によるICのリード曲がり
検査装置は、ICパッケージの相隣合う二辺に配列され
た各リードに斜め上方から照明光を照射する照明用光源
装置と、前記相隣合う二辺の一方の辺に配列されたリー
ドの平面像を平面視で90度回転させる像回転用光学系
と、ICパッケージの上方に配置され、前記相隣合う二
辺の他方の辺に配列されたリードの平面像と前記相隣合
う二辺の一方の辺に配列されたリードの前記像回転用光
学系によって平面視で90度回転された平面像とを一度に
撮像する撮像装置と、前記撮像装置によって得られる画
像に基づいて前記相隣合う二辺に配列された各リードの
曲がりの有無を判定する画像処理装置と、を備えたこと
を特徴とするものである。
【0010】また、請求項3の発明によるICのリード
曲がり検査装置は、ICパッケージの四辺に配列された
各リードに斜め上方から照明光を照射する照明用光源装
置と、ICパッケージの一方の相対向する二辺に配列さ
れたリードの延長線上に、その相対向する二辺を挟ん
で、水平面及び垂直面に対して傾斜させて配置され、照
明光を受けたリード端面からの光を上方へ反射させる第
1及び第2の反射鏡と、ICパッケージの他方の相対向
する二辺に配列されたリードの延長線上に、その相対向
する二辺を挟んで、水平面及び垂直面に対して傾斜させ
て配置され、照明光を受けたリード端面からの光を上方
へ反射させる第3及び第4の反射鏡と、前記第1及び第
2の反射鏡それぞれの上方に配置される像回転用光学系
であって、前記一方の相対向する二辺に配列されたリー
ドの、平面像と前記第1及び第2の反射鏡の反射作用に
よる端面像とを平面視で90度回転させる像回転用光学系
と、ICパッケージの上方に配置され、前記他方の相対
向する二辺に配列されたリードの、平面像と前記第3及
び第4の反射鏡の反射作用による端面像、並びに前記一
方の相対向する二辺に配列されたリードの、前記像回転
用光学系によって平面視で90度回転された平面像及び端
面像を、一度に撮像する撮像装置と、前記撮像装置によ
って得られる画像に基づいてICパッケージの四辺に配
列された各リードの曲がりの有無を判定する画像処理装
置と、を備えたことを特徴とするものである。
【0011】
【作用】請求項1に係るリード曲がり検査装置において
は、ICパッケージの所定の一辺に配列され照明光を受
けたリードの端面からの光が反射鏡によって反射されて
撮像装置へ導かれる。したがって、撮像装置により、前
記リードの、平面像と前記反射鏡の反射作用による端面
像とが一度に撮像される。これにより、リードの平面像
と、リードを含む平面に対して垂直な方向のリード曲が
り(リードの浮き)の検出が容易なリード端面像とを一
度に撮像できる。
【0012】請求項2に係るリード曲がり検査装置にお
いては、ICパッケージの相隣合う二辺の一方の辺に配
列されたリードの平面像が、像回転用光学系によって平
面視で90度回転されて撮像装置へ導かれる。したがっ
て、撮像装置により、相隣合う二辺の他方の辺に配列さ
れたリードの平面像と、前記相隣合う二辺の一方の辺に
配列されたリードの平面視で90度回転された平面像と
が、画面上において例えば上下に平行に並べられ余分な
ICパッケージ部分が排除された状態で一度に撮像され
る。これにより、1台の撮像装置により、ICパッケー
ジの直角をなす相隣合う二辺に配列された各リードの平
面像を、高い測定分解能を確保した状態で一度に撮像で
きる。
【0013】請求項3に係るリード曲がり検査装置にお
いては、ICパッケージの他方の相対向する二辺に配列
され照明光を受けたリードの端面からの光が、第3の反
射鏡と第4の反射鏡によってそれぞれ反射されて撮像装
置へ導かれる。また、第1の反射鏡の上方に配置された
像回転用光学系により、ICパッケージの一方の相対向
する二辺における一辺に配列されたリードの、平面像と
前記第1の反射鏡の反射作用による端面像とが、平面視
で90度回転されて撮像装置へ導かれる。さらに、第2の
反射鏡の上方に配置された像回転用光学系により、IC
パッケージの前記一方の相対向する二辺における他の辺
に配列されたリードの、平面像と前記第2の反射鏡の反
射作用による端面像とが、平面視で90度回転されて撮像
装置へ導かれる。
【0014】したがって、撮像装置により、前記他方の
相対向する二辺に配列されたリードの平面像及び端面
像、並びに前記一方の相対向する二辺に配列されたリー
ドの、前記像回転用光学系によって平面視で90度回転さ
れた平面像及び端面像が、画面上において例えば上下に
平行に並べられ余分なICパッケージ部分が排除された
状態で一度に撮像される。これにより、1台の撮像装置
により、ICパッケージの四辺に配列された各リードの
平面像及び端面像を、高い測定分解能を確保した状態で
一度に撮像できる。
【0015】
【実施例】以下、実施例に基づいてこの発明を説明す
る。図1は請求項1の発明の一実施例によるICのリー
ド曲がり検査装置の構成説明図である。
【0016】図1において、41は検査対象であるフラッ
トタイプのICで、そのICパッケージ41pの相対向す
る二辺にリード41a,41bが一列にそれぞれ配列された
ものである。ICパッケージ41p(IC41)の斜め上方
には、ICパッケージ41pの一辺に配列されたリード41
aに斜め上方から照明光を照射する照明用光源装置1が
配置されている。また、ICパッケージ41pの上方に
は、リード41aについての後述する像を撮像するための
撮像装置としての二次元CCDカメラ2が配置されてい
る。リード41aの延長線上には水平面及び垂直面の双方
に対して45度傾斜させて反射鏡3が配置されている。こ
の反射鏡3は、照明光を受けたリード41aの端面からの
光を上方へ反射させて二次元CCDカメラ2へ導くため
のものである。4は二次元CCDカメラ2によって得ら
れる画像に基づいてリード41aの曲がりの有無を判定す
る画像処理装置である。
【0017】上記のように構成されるICのリード曲が
り検査装置においては、検査すべきリード41aの上面及
び端面に照明光が照射され、照明光を受けたリード41a
の端面からの光は、反射鏡3によって反射され二次元C
CDカメラ2へ導かれる。したがって、二次元CCDカ
メラ2により、図2における上側に示すように、リード
41aの平面像と、図2における下側に示すように、反射
鏡3の反射作用によるリード41aの端面像とが一度に撮
像される。なお、図2中、MEは反射鏡3の周縁部を表す
ものである。
【0018】そして、画像処理装置4は、二次元CCD
カメラ2により得られる画像(画像情報)を、この実施
例では予め入力されている良品の標準パターンと比較す
ることにより、リード41aの曲がりの有無を判定する。
この場合、リード41aの平面像に基づいて標準パターン
におけるリードピッチとの比較により、リード41aを含
む平面内のリード曲がりの有無を判定できる。また、リ
ード41aを含む平面に対して垂直な方向への曲がりが生
じたリードの端面像は、リード41aの端面画像を示す図
3のDに示すように、その位置が標準パターンにおける
それに比べて図における上下方向に位置ずれする。この
ことを利用して、リード41aを含む平面に対して垂直な
方向のリード曲がりの有無を確実に判定できる。
【0019】このようにして、リード41aを含む平面内
のリード曲がりとともに、リード41aを含む平面に対し
て垂直な方向のリード曲がりをも確実に検出することが
できる。なお、この実施例では、図示しないIC回転装
置によりIC41を水平に180度回転させて位置決めする
ことにより、相対向する他の辺に配列されたリード41b
についてのリード曲がり有無を検査するようにしてい
る。
【0020】図4は請求項2の発明の一実施例によるI
Cのリード曲がり検査装置の構成説明図である。図4に
おいて、42は検査対象であるフラットタイプのICであ
る。このIC42は、同図に示すように、そのICパッケ
ージ42pの一方の相対向する二辺にリード42a,42bが
一列にそれぞれ配列され、他方の相対向する二辺にリー
ド42c,42d(図示省略)が一列にそれぞれ配列された
ものである。ICパッケージ42pの相隣合う二辺の一方
の辺に配列されたリード42a側の斜め上方には、相隣合
う二辺に配列された各リード42a,42cに斜め上方から
照明光を照射する照明用光源装置11が配置されている。
また、ICパッケージ42p(IC42)の上方には、二つ
リード42a,42cについての後述する像を一度に撮像す
るための撮像装置としての二次元CCDカメラ12が配置
されている。
【0021】さらに、リード42aと二次元CCDカメラ
12の間には、像を90度回転させるための像回転用光学系
としてのドーブ(Dove)プリズム15が配置されている。
14は二次元CCDカメラ12によって得られる画像に基づ
いて相隣合う二辺に配列されたリード42a,42cの曲が
りの有無を判定するための画像処理装置である。
【0022】上記のように構成されるICのリード曲が
り検査装置においては、ICパッケージ42pの相隣合う
二辺の一方の辺に配列されたリード42aの平面像は、ド
ーブプリズム15によって平面視で90度回転されて二次元
CCDカメラ12へ導かれる。したがって、1台の二次元
CCDカメラ12により、図5に示すように、相隣合う二
辺に配列されたリード42a,42cの平面像が、画面上に
おいて上下に平行に並べられ余分なICパッケージ部分
が排除された状態で一度に撮像される。なお、図5中、
DEはドーブプリズム15の周縁部を表すものである。
【0023】そして、画像処理装置14は、二次元CCD
カメラ12により得られる画像を、この実施例では予め入
力されている良品の標準パターンにおけるリードピッチ
との比較により、リード42a,42cについての平面内の
リード曲がりの有無を判定する。また、標準パターンに
おけるリード長手方向寸法との比較により、リード42
a,42cの平面に対して垂直な方向へのリード曲がり有
無を判定する。
【0024】このようにして、1台の二次元CCDカメ
ラ12により、ICパッケージ42pの直角をなす相隣合う
二辺に配列された各リード42a,42cの平面像を、高い
測定分解能を確保した状態で一度に撮像できるので、検
査時間を短縮することが可能となる。なお、この実施例
では、図示しないIC回転装置によりIC42を水平に18
0 回転させて位置決めすることにより、他の相隣合う二
辺に配列された各リード42b,42d(図示省略)につい
てのリード曲がり有無を検査するようにしている。
【0025】図6は請求項3の発明の一実施例によるI
Cのリード曲がり検査装置の構成説明図、図7は図6に
おけるリードの延長線上に配置される反射鏡の位置関係
を説明するための図である。図6及び図7において、43
は検査対象であるフラットタイプのICである。このI
C43は、図に示すように、そのICパッケージ43pの一
方の相対向する二辺にリード43a,43bが一列にそれぞ
れ配列され、他方の相対向する二辺にリード43c,43d
が一列にそれぞれ配列されたものである。この実施例で
は、ICパッケージ43pの四辺に配列されたリード43a
〜43dに斜め上方からそれぞれ照明光を照射する照明用
光源装置21a〜21dが配置されている。また、ICパッ
ケージ43p(IC43)の上方には、四つリード43a〜43
dについての後述する像を一度に撮像するための撮像装
置としての二次元CCDカメラ22が配置されている。24
は二次元CCDカメラ22によって得られる画像に基づい
て四つリード43a〜43dの曲がりの有無を判定する画像
処理装置である。
【0026】ICパッケージ43pの一方の相対向する二
辺に配列されたリード43a,43bの延長線上に、この相
対向する二辺を挟んで、照明光を受けたリード端面から
の光を上方へ反射させる、第1の反射鏡23aと第2の反
射鏡23bとがそれぞれ配置されている。同様にして、他
方の相対向する二辺に配列されたリード43c,43dの延
長線上に、この相対向する二辺を挟んで、照明光を受け
たリード端面からの光を上方へ反射させる、第3の反射
鏡23cと第4の反射鏡23dとがそれぞれ配置されてい
る。これらの反射鏡23a〜23dは、水平面及び垂直面の
双方に対して45度傾斜させて配置されている。
【0027】さらに、上記第1の反射鏡23a及びリード
43aの双方を臨むその上方には、像を90度回転させるた
めの像回転用光学系としての第1のドーブプリズム25a
が配置され、第2の反射鏡23b及びリード43bの双方を
臨むその上方には、同様に、像を90度回転させるための
像回転用光学系としての第2のドーブプリズム25bが配
置されている。また、上記第1のドーブプリズム25aと
二次元CCDカメラ22の間には、反射鏡26a,27aが第
1のドーブプリズム25aからの像(光)を二次元CCD
カメラ22へ導くべく配置されている。同様に、上記第2
のドーブプリズム25bと二次元CCDカメラ22の間に
は、反射鏡26b,27bが第2のドーブプリズム25bから
の像(光)を二次元CCDカメラ22へ導くべく配置され
ている。
【0028】上記のように構成されるICのリード曲が
り検査装置においては、ICパッケージ43pの他方の相
対向する二辺に配列され照明光を受けたリード43c,43
dの端面からの光が、第3の反射鏡23cと第4の反射鏡
23dによってそれぞれ反射されて二次元CCDカメラ22
へ導かれる。一方、ICパッケージ43pの一方の相対向
する二辺に配列されたリード43a,43bについては、第
1のドーブプリズム25aにより、リード43aの、平面像
と第1の反射鏡23aの反射作用による端面像とが平面視
で90度回転されて、反射鏡26a,27aを介して、二次元
CCDカメラ22へ導かれる。また、第2のドーブプリズ
ム25bにより、リード43bの、平面像と第2の反射鏡23
bの反射作用による端面像とが平面視で90度回転され
て、反射鏡26b,27bを介して、二次元CCDカメラ22
へ導かれる。
【0029】したがって、1台の二次元CCDカメラ22
により、図8に示すように、ICパッケージ43pの他方
の相対向する二辺に配列されたリード43c,43dの平面
像及び端面像、並びに一方の相対向する二辺に配列され
たリード43a,43bの、ドーブプリズム25a,25bによ
って平面視で90度回転された平面像及び端面像が、画面
上において上下に平行に並べられ余分なICパッケージ
部分が排除された状態で一度に撮像される。そして、画
像処理装置24は、二次元CCDカメラ22により得られる
上記の画像(画像情報)を、この実施例では予め入力さ
れている良品の標準パターンと比較することにより、四
つリード43a〜43dについての平面内のリード曲がり及
び平面に対して垂直な方向へのリード曲がりの有無を、
先に述べた図1に示す装置の場合と同様にして、判定す
る。
【0030】このようにして、1台の二次元CCDカメ
ラ22により、ICパッケージ43pの四辺に配列された各
リード43a〜43dの平面像及び端面像を高い測定分解能
を確保した状態で一度に撮像でき、リードを含む平面内
のリード曲がりとともに、リードを含む平面に対して垂
直な方向のリード曲がりをも確実に検出し得るととも
に、検査時間をより短縮することが可能となる。
【0031】なお、像回転用光学系としては、上記図
4、図6に示す実施例による装置ではドーブプリズムで
構成したが、これに限らず、入力端面と出力端面を90度
回転させてなる光ファイバ、あるいは反射鏡を組み合わ
せたもの、等を用いるようにしてもよい。
【0032】
【発明の効果】請求項1の発明によるICのリード曲が
り検査装置によると、ICパッケージの所定の一辺に配
列され照明光を受けたリードの端面からの光を反射鏡に
よって反射させて撮像装置へ導くように構成したもので
あるから、撮像装置により、前記リードの、平面像及び
前記反射鏡の反射作用による端面像とを一度に撮像でき
る。これにより、リードを含む平面内のリード曲がりと
ともに、リードの端面像に基づいてリードを含む平面に
対して垂直な方向のリード曲がり(リードの浮き)をも
確実に検出することができる。
【0033】請求項2の発明によるICのリード曲がり
検査装置によると、ICパッケージの相隣合う二辺の一
方の辺に配列されたリードの平面像を像回転用光学系に
よって平面視で90度回転させて撮像装置へ導くように構
成したものであるから、撮像装置により、相隣合う二辺
の他方の辺に配列されたリードの平面像と、前記相隣合
う二辺の一方の辺に配列されたリードの平面視で90度回
転された平面像とを、余分なICパッケージ部分が排除
された状態で一度に撮像できる。これにより、1台の撮
像装置により、ICパッケージの直角をなす相隣合う二
辺に配列された各リードの平面像を、高い測定分解能を
確保した状態で一度に撮像でき、検査時間を短縮するこ
とができる。
【0034】請求項3の発明によるICのリード曲がり
検査装置は、ICパッケージの他方の相対向する二辺に
配列され照明光を受けたリードの端面からの光が、第3
の反射鏡と第4の反射鏡によってそれぞれ反射されて撮
像装置へ導かれるように構成されている。さらに、第1
の反射鏡の上方に配置された像回転用光学系により、I
Cパッケージの一方の相対向する二辺における一辺に配
列されたリードの、平面像と前記第1の反射鏡の反射作
用による端面像とが、平面視で90度回転されて撮像装置
へ導かれるとともに、第2の反射鏡の上方に配置された
像回転用光学系により、ICパッケージの前記一方の相
対向する二辺における他の辺に配列されたリードの、平
面像と前記第2の反射鏡の反射作用による端面像とが、
平面視で90度回転されて撮像装置へ導かれるように構成
されている。
【0035】したがって、撮像装置により、ICパッケ
ージの他方の相対向する二辺に配列されたリードの平面
像及び端面像、並びにICパッケージの一方の相対向す
る二辺に配列されたリードの、前記像回転用光学系によ
って平面視で90度回転された平面像及び端面像を、余分
なICパッケージ部分が排除された状態で一度に撮像で
きる。これにより、1台の撮像装置により、ICパッケ
ージの四辺に配列された各リードの平面像及び端面像を
高い測定分解能を確保した状態で一度に撮像でき、リー
ドを含む平面内のリード曲がりとともに、リードを含む
平面に対して垂直な方向のリード曲がりをも確実に検出
できるとともに、検査時間をより短縮することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項1の発明の一実施例によるICのリード
曲がり検査装置の構成説明図である。
【図2】図1に示す二次元CCDカメラによって得られ
るリードの画像を示す図である。
【図3】リードの端面画像を示す図である。
【図4】請求項2の発明の一実施例によるICのリード
曲がり検査装置の構成説明図である。
【図5】図4に示す二次元CCDカメラによって得られ
るリードの画像を示す図である。
【図6】請求項3の発明の一実施例によるICのリード
曲がり検査装置の構成説明図である。
【図7】図6におけるリードの延長線上に配置される反
射鏡の位置関係を説明するための図である。
【図8】図6に示す二次元CCDカメラによって得られ
るリードの画像を示す図である。
【図9】従来におけるICのリード曲がり検査装置の構
成説明図である。
【図10】図9に示す二次元CCDカメラによって得ら
れるリードの画像を示す図である。
【符号の説明】
1,11,21a〜21d…照明用光源装置 2,12,22…二
次元CCDカメラ 3…反射鏡 23a…第1の反射鏡
23b…第2の反射鏡 23c…第3の反射鏡 23d…第4
の反射鏡 26a,27a,26b,27b…反射鏡 4,14,
24…画像処理装置 15…ドーブプリズム 25a…第1の
ドーブプリズム 25b…第2のドーブプリズム 41,4
2,43…IC 41p,42p,43p…ICパッケージ 41
a,41b…IC41のリード 42a,42b,42c,(42
d)…IC42のリード 43a〜43d…IC43のリード

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICパッケージの所定の一辺に配列され
    たリードに斜め上方から照明光を照射する照明用光源装
    置と、 前記リードの延長線上に水平面及び垂直面に対して傾斜
    させて配置され、照明光を受けたリード端面からの光を
    上方へ反射させる反射鏡と、 ICパッケージの上方に配置され、前記リードの、平面
    像及び前記反射鏡の反射作用による端面像を一度に撮像
    する撮像装置と、 前記撮像装置によって得られる画像に基づいて前記リー
    ドの曲がりの有無を判定する画像処理装置と、 を備えたことを特徴とするICのリード曲がり検査装
    置。
  2. 【請求項2】 ICパッケージの相隣合う二辺に配列さ
    れた各リードに斜め上方から照明光を照射する照明用光
    源装置と、 前記相隣合う二辺の一方の辺に配列されたリードの平面
    像を平面視で90度回転させる像回転用光学系と、 ICパッケージの上方に配置され、前記相隣合う二辺の
    他方の辺に配列されたリードの平面像と前記相隣合う二
    辺の一方の辺に配列されたリードの前記像回転用光学系
    によって平面視で90度回転された平面像とを一度に撮像
    する撮像装置と、 前記撮像装置によって得られる画像に基づいて前記相隣
    合う二辺に配列された各リードの曲がりの有無を判定す
    る画像処理装置と、 を備えたことを特徴とするICのリード曲がり検査装
    置。
  3. 【請求項3】 ICパッケージの四辺に配列された各リ
    ードに斜め上方から照明光を照射する照明用光源装置
    と、 ICパッケージの一方の相対向する二辺に配列されたリ
    ードの延長線上に、その相対向する二辺を挟んで、水平
    面及び垂直面に対して傾斜させて配置され、照明光を受
    けたリード端面からの光を上方へ反射させる第1及び第
    2の反射鏡と、 ICパッケージの他方の相対向する二辺に配列されたリ
    ードの延長線上に、その相対向する二辺を挟んで、水平
    面及び垂直面に対して傾斜させて配置され、照明光を受
    けたリード端面からの光を上方へ反射させる第3及び第
    4の反射鏡と、 前記第1及び第2の反射鏡それぞれの上方に配置される
    像回転用光学系であって、前記一方の相対向する二辺に
    配列されたリードの、平面像と前記第1及び第2の反射
    鏡の反射作用による端面像とを平面視で90度回転させる
    像回転用光学系と、 ICパッケージの上方に配置され、前記他方の相対向す
    る二辺に配列されたリードの、平面像と前記第3及び第
    4の反射鏡の反射作用による端面像、並びに前記一方の
    相対向する二辺に配列されたリードの、前記像回転用光
    学系によって平面視で90度回転された平面像及び端面像
    を、一度に撮像する撮像装置と、 前記撮像装置によって得られる画像に基づいてICパッ
    ケージの四辺に配列された各リードの曲がりの有無を判
    定する画像処理装置と、 を備えたことを特徴とするICのリード曲がり検査装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100880546B1 (ko) * 2008-03-27 2009-01-30 비스(주) 비전 검사장치
CN114950991A (zh) * 2020-11-30 2022-08-30 深圳市华力宇电子科技有限公司 检测机构及相应的ic芯片检测装置

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CN114950990B (zh) * 2020-11-30 2023-12-29 深圳市华力宇电子科技有限公司 Ic芯片检测装置
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