JPH05235196A - 焼成配線基板の製造方法 - Google Patents

焼成配線基板の製造方法

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JPH05235196A
JPH05235196A JP7261292A JP7261292A JPH05235196A JP H05235196 A JPH05235196 A JP H05235196A JP 7261292 A JP7261292 A JP 7261292A JP 7261292 A JP7261292 A JP 7261292A JP H05235196 A JPH05235196 A JP H05235196A
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JP
Japan
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substrate
wiring board
fired
manufacturing
protrusion
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Withdrawn
Application number
JP7261292A
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English (en)
Inventor
Masayoshi Iida
眞義 飯田
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 焼成配線基板を損傷することなく、所定の形
状及び厚みの微小突起を容易に、かつ安価に形成する。 【構成】 基板1の所定の位置に孔部4を形成し、孔部
4内に焼成収縮率が基板1より小さいペースト5を充填
した後、焼成して、基板1の表面に微小突起7を形成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、セラミックなどで形成
され、フリップチップICなどを実装するための微小突
起を有する焼成配線基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばフリップチップICなどを配線基
板上に実装するとき、ICの電極と基板上の配線パター
ンとを接続するために、配線パターン上に微小突起を設
けている。この微小突起を形成する従来の方法として
は、スクリーン印刷による印刷法、メッキ法、エッチン
グ法などがあった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、スクリ
ーン印刷法では、突起の形状や厚みをμmの単位で制御
することは困難である。また、メッキ法及びエッチング
法は、突起の形状や厚みをμmの単位で制御することは
容易であるが、必要な位置にのみ突起の形成するために
は、レジスト塗布、露光現像、レジスト剥離などの複雑
な工程をとらなければならない。また、この工程中にお
いて基板を酸やアルカリなどの溶液中に浸漬しなければ
ならず、基板が損傷する恐れがある。しかも数10μm
という比較的高い突起を形成するためには時間がかかる
などの問題があった。そして、突起形成は基板の焼成な
どの工程とは別工程で行なわなければならず、コスト高
になるという問題もあった。
【0004】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
もので、基板を損傷することなく、所定の形状及び厚み
の微小突起を容易に、かつ安価に形成することのできる
焼成配線基板の製造方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の焼成配
線基板の製造方法は、表面に微小突起7が形成された焼
成配線基板1の製造方法において、基板1の所定の位置
に小径の孔部4を形成する第1の工程と、孔部4内に焼
成収縮率が基板1より小さい材料5を充填する第2の工
程と、孔部4内に材料5が充填された基板1を焼成し、
基板1の表面に微小突起7を形成する第3の工程とから
なることを特徴とする。
【0006】請求項2に記載の焼成配線基板の製造方法
は、材料5は導電性を有することを特徴とする。
【0007】請求項3に記載の焼成配線基板の製造方法
は、材料5は絶縁性を有することを特徴とする。
【0008】
【作用】請求項1に記載の焼成配線基板の製造方法にお
いては、基板1に孔部4を形成する工程と、孔部4に材
料5を充填する工程と、基板1を焼成する工程とで微小
突起7を形成することができる。すなわち、通常の基板
1の製造上の工程に材料充填の工程を付加するだけでよ
いので、コストを低減することができる。また突起7の
形状と厚みは、基板1と充填する材料5との焼成収縮率
の差によって決定されるため、μm単位の制御が可能と
なる。しかも、酸、アルカリ溶液中に浸漬する工程がな
いので、基板1の材料の選択の自由度が増す。
【0009】請求項2に記載の焼成配線基板の製造方法
においては、孔部4に充填する材料5が導電性を有する
ので、フリップチップIC実装時などのバンプとして使
用できる。
【0010】請求項3に記載の焼成配線基板の製造方法
においては、孔部4に充填する材料5が絶縁性を有する
ので、フリップチップIC実装時にIC11と基板1と
の間の距離を一定に保つ突起21として使用できる。ま
たは実装部品32の位置決め用ボス31としても使用で
きる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の焼成配線基板の製造方法の一
実施例を図面を参照して説明する。図1に本発明の一実
施例による製造工程を示す。基板1はアルミナ90%、
ガラス10%などからなるセラミック焼成基板であり、
片面にバックフィルム2が接着されている。セラミック
焼成基板1の焼成前の生基板は、グリーンシートと呼ば
れている。図1(a)に示す第1の工程において、グリ
ーンシート1の所定の位置にパンチ3により直径が約
0.1mmの小径の孔部4を形成する。孔部4は貫通孔で
あっても、めくら孔であってもよいが、図では貫通孔の
場合を示す。
【0012】次に図1(b)に示す第2の工程で、孔部
4にバックフィルム2側から充填材料としての導電性ペ
ースト5をスキージ6を用いて充填する。ペースト5は
例えば銀、銅、パナジウムなどの金属粉末をペースト状
にしたものであり、その焼成収縮率はグリーンシート1
のそれよりも小さい。次に図1(c)に示す第3の工程
で、グリーンシート1からバックフィルム2を剥離し、
多数枚のグリーンシート1を積層加圧してラミネートす
る。この状態でグリーンシート1を焼成すると、ペース
ト5とグリーンシート1との焼成収縮率の差により、図
1(d)に示すようにペースト5は焼成基板1の表面か
ら突出し、縮小突起7が形成される。
【0013】微小突起7の突起高さTは下記の式(1)
により算出される。 T=H・((1−αm)3 −(1−αb)3 /(1−αb)2 ………(1) ここでHはグリーンシート1の厚み、αbはグリーンシ
ート1の焼成収縮率、αmはペースト5の焼成収縮率で
ある。
【0014】従ってH=0.2mm、αb=20%、αm
=10%とすると、 T=0.068mm となり、68μmの高さの微小突起7が形成できること
となる。
【0015】図2に、突起7を介してフリップチップI
C11及びチップ抵抗12を実装した状態を示す。図2
において、符号13、14はそれぞれ基板1上に形成さ
れた配線パターン及び印刷抵抗である。
【0016】本実施例によれば、グリーンシート多層基
板においては層間接続のために通常小孔を形成するの
で、この小孔形成の工程において同時に孔部4を形成す
ることができる。従って、孔部4にペースト5を充填す
る工程を設けるだけで微小突起7を形成することがで
き、コストを低減することができる。また突起7の形状
と厚みは、グリーンシート1とペースト5との焼成収縮
率の差によって決定されるため、材料選定と孔部4の形
状によってμm単位の制御が可能となる。さらに突起7
を形成するために酸やアルカリの溶液中に浸漬すること
がないため、グリーンシート1の材料の選択が自由とな
る。
【0017】上記実施例では、孔部4に充填する材料が
導電性ペースト5である場合について説明したが、この
材料はエポキシ樹脂、ポリイミド、ペースト状ガラスな
どの絶縁性を有する材料であってもよい。このような絶
縁性材料で突起を形成した場合は、例えば図3に示すよ
うに、基板1上に半田バンプ21を介して実装されたフ
リップチップIC11と基板1との間の距離を一定に保
つための突起22として使用することができる。そして
突起22によりこの距離が小さくなることを防ぎ、実装
の信頼性を向上することができる。
【0018】また絶縁性材料で突起を形成した場合、図
4に示すように突起31を基板1上に実装されたコネク
タなどの電子部品32の位置決め用ボスとして使用する
ことができる。この場合、突起31は基板1と一体に形
成されているため、高い位置決め精度を得ることができ
る。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように請求項1に記載の焼
成配線基板の製造方法によれば、基板の所定の位置に孔
部を形成し、孔部内に焼成収縮率が基板より小さい材料
を充填して焼成し、微小突起を形成するようにしたの
で、基板を損傷することなく、所定の形状及び厚みの微
小突起を容易に、かつ安価に形成することができる。
【0020】また請求項2に記載の焼成配線基板の製造
方法によれば、孔部に充填する材料を導電性を有する材
料としたので、微小突起をフリップチップICなどの電
子部品の実装時の半田バンプとして使用することができ
る。
【0021】また請求項3に記載の焼成配線基板の製造
方法によれば、孔部に充填する材料を絶縁性を有する材
料としたので、微小突起を電子部品実装時の位置決めに
使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の焼成配線基板の製造方法の一実施例を
示す工程図である。
【図2】本実施例により形成された導電性突起を使用し
た電子部品の実装例を示す説明図である。
【図3】本実施例により形成された絶縁性突起を使用し
た電子部品の実装例を示す説明図である。
【図4】図3の他の実装例を示す説明図である。
【符号の説明】
1 グリーンシート(基板) 4 孔部 5 ペースト(充填材料) 7 微小突起

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面に微小突起が形成された焼成配線基
    板の製造方法において、 前記基板の所定の位置に小径の孔部を形成する第1の工
    程と、 前記孔部内に焼成収縮率が前記基板より小さい材料を充
    填する第2の工程と、 前記孔部内に前記材料が充填された前記基板を焼成し、
    前記基板表面に微小突起を形成する第3の工程とからな
    ることを特徴とする焼成配線基板の製造方法。
  2. 【請求項2】 材料は導電性を有することを特徴とする
    請求項1記載の焼成配線基板の製造方法。
  3. 【請求項3】 材料は絶縁性を有することを特徴とする
    請求項1記載の焼成配線基板の製造方法。
JP7261292A 1992-02-21 1992-02-21 焼成配線基板の製造方法 Withdrawn JPH05235196A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH118335A (ja) * 1997-02-17 1999-01-12 Anam Ind Co Inc 回路基板及びその製造方法とこれを用いた半導体パッケージの製造方法
KR100573999B1 (ko) * 2001-03-23 2006-04-25 가부시끼가이샤 후지꾸라 다층 배선판, 다층 배선판용 기재 및 그 제조 방법

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Effective date: 19990518