JPH05258307A - 光ディスク検査装置 - Google Patents
光ディスク検査装置Info
- Publication number
- JPH05258307A JPH05258307A JP5209292A JP5209292A JPH05258307A JP H05258307 A JPH05258307 A JP H05258307A JP 5209292 A JP5209292 A JP 5209292A JP 5209292 A JP5209292 A JP 5209292A JP H05258307 A JPH05258307 A JP H05258307A
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- JP
- Japan
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- circuit
- optical disk
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- amplifier
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 24
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 20
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ライト時の反射率異常を検出する。
【構成】光ディスク１の記録面情報を読み出す光ヘッド
２と、ディスクをクランプし回転させるスピンドルモー
タ３と、スピンドルモータ３の回転位置を発生するエン
コーダ回路４と、光ヘッド２出力をライト時に減衰させ
るアッテネータ１１と、増幅するアンプ５とアンプ５出
力からから光ディスク１にレーザ光を照射し光ディスク
１検査トラック上にサーボをかけるサーボ回路６と、光
ディスク１のトラック制御を行うトラック制御回路９
と、アンプ５出力から欠陥を検出するための信号を発生
させる基準レベル発生回路７と、基準レベル発生回路７
出力とアンプ５出力を比較する比較回路８と、トラック
制御回路９から構成される。
２と、ディスクをクランプし回転させるスピンドルモー
タ３と、スピンドルモータ３の回転位置を発生するエン
コーダ回路４と、光ヘッド２出力をライト時に減衰させ
るアッテネータ１１と、増幅するアンプ５とアンプ５出
力からから光ディスク１にレーザ光を照射し光ディスク
１検査トラック上にサーボをかけるサーボ回路６と、光
ディスク１のトラック制御を行うトラック制御回路９
と、アンプ５出力から欠陥を検出するための信号を発生
させる基準レベル発生回路７と、基準レベル発生回路７
出力とアンプ５出力を比較する比較回路８と、トラック
制御回路９から構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク検査装置、特
に、光ディスク記録面にレーザを照射し、反射光の強さ
に比例した出力信号を用い光ディスク媒体の欠陥検査を
行う光ディスク検査装置に関する。
に、光ディスク記録面にレーザを照射し、反射光の強さ
に比例した出力信号を用い光ディスク媒体の欠陥検査を
行う光ディスク検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光ディスク検査装置は例えば実公
昭63-149459 に示される光ディスク検査装置がある。
昭63-149459 に示される光ディスク検査装置がある。
【０００３】従来の光ディスク検査装置は、スピンドル
と測定ヘッドとアンプ、サーボ回路、基準レベル発生回
路、比較回路、エンコーダ回路、トラック制御回路とを
含んで構成される。
と測定ヘッドとアンプ、サーボ回路、基準レベル発生回
路、比較回路、エンコーダ回路、トラック制御回路とを
含んで構成される。
【０００４】次に従来の光ディスク検査装置について図
面を参照して説明する。図２は従来の光ディスク検査装
置の一例を示すブロック図である。光ディスク１の記録
面情報を読み出す光ヘッド２とディスクをクランプし回
転させるスピンドルモータ３とスピンドルモータ３の回
転位置を発生するエンコーダ回路４と光ヘッド２出力を
増幅するアンプ５とアンプ５出力からから光ディスク１
にレーザ光を照射し光ディスク１検査トラック上にサー
ボをかけるサーボ回路６と光ディスク１のトラック制御
を行うトラック制御回路９とアンプ５出力から欠陥を検
出するための信号を発生させる基準レベル発生回路７と
基準レベル発生回路７出力とアンプ５出力を比較する比
較回路８と比較回路８出力及びエンンコーダ回路４出
力、トラック制御回路９出力から欠陥位置と欠陥長さを
記録する欠陥保持回路から構成される。
面を参照して説明する。図２は従来の光ディスク検査装
置の一例を示すブロック図である。光ディスク１の記録
面情報を読み出す光ヘッド２とディスクをクランプし回
転させるスピンドルモータ３とスピンドルモータ３の回
転位置を発生するエンコーダ回路４と光ヘッド２出力を
増幅するアンプ５とアンプ５出力からから光ディスク１
にレーザ光を照射し光ディスク１検査トラック上にサー
ボをかけるサーボ回路６と光ディスク１のトラック制御
を行うトラック制御回路９とアンプ５出力から欠陥を検
出するための信号を発生させる基準レベル発生回路７と
基準レベル発生回路７出力とアンプ５出力を比較する比
較回路８と比較回路８出力及びエンンコーダ回路４出
力、トラック制御回路９出力から欠陥位置と欠陥長さを
記録する欠陥保持回路から構成される。
【０００５】ここで欠陥保持回路１０は比較回路８で欠
陥が検出されるとその時のトラック番号をトラック制御
回路９から、トラック上のセクタ位置をエンコーダ回路
４から読み込み、比較回路８が欠陥未検出状態になった
位置をエンコーダ４出力から読み取り欠陥長さとする。
陥が検出されるとその時のトラック番号をトラック制御
回路９から、トラック上のセクタ位置をエンコーダ回路
４から読み込み、比較回路８が欠陥未検出状態になった
位置をエンコーダ４出力から読み取り欠陥長さとする。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光ディ
スク検査装置は検査トラックを再生時しか検査すること
ができず、ライト時の反射率変化の欠陥を検出できない
とゆう欠点があった。
スク検査装置は検査トラックを再生時しか検査すること
ができず、ライト時の反射率変化の欠陥を検出できない
とゆう欠点があった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク検査
装置は、(A) 光ディスクをクランプし回転させるスピン
ドル、(B) 前記光ディスクにレーザ光を照射し反射光を
光電変換する光ヘッド、(C) 前記光ディスクにデータ書
き込み時に光ヘッド出力を減衰するアッテネータ、(D)
前記アッテネータ出力を増幅するアンプ、(E) 前記アン
プ出力からヘッドからのレーザ光を前記光ディスク検査
トラック上にサーボをかけるサーボ回路、(F) 検査トラ
ックの制御を行うトラック制御回路、(G) 前記アンプ出
力から欠陥を検出するための信号を発生させる基準レベ
ル発生回路、(H) 前記基準レベル発生回路出力と前記ア
ンプ出力電圧レベルを比較する比較回路、(I) 前記スピ
ンドルの回転位置を検出するエンコーダ回路、とを含ん
で構成される。
装置は、(A) 光ディスクをクランプし回転させるスピン
ドル、(B) 前記光ディスクにレーザ光を照射し反射光を
光電変換する光ヘッド、(C) 前記光ディスクにデータ書
き込み時に光ヘッド出力を減衰するアッテネータ、(D)
前記アッテネータ出力を増幅するアンプ、(E) 前記アン
プ出力からヘッドからのレーザ光を前記光ディスク検査
トラック上にサーボをかけるサーボ回路、(F) 検査トラ
ックの制御を行うトラック制御回路、(G) 前記アンプ出
力から欠陥を検出するための信号を発生させる基準レベ
ル発生回路、(H) 前記基準レベル発生回路出力と前記ア
ンプ出力電圧レベルを比較する比較回路、(I) 前記スピ
ンドルの回転位置を検出するエンコーダ回路、とを含ん
で構成される。
【０００８】
【実施例】次に、本発明のについて，図面を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
【０００９】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図１に示す光ディスク検査装置は、スピンドル
３と、測定ヘッド２と、アッテネータ１１と、アンプ５
と、サーボ回路６と、基準レベル発生回路７と、比較回
路８と、エンコーダ回路４と、トラック制御回路９とを
含んで構成される。
である。図１に示す光ディスク検査装置は、スピンドル
３と、測定ヘッド２と、アッテネータ１１と、アンプ５
と、サーボ回路６と、基準レベル発生回路７と、比較回
路８と、エンコーダ回路４と、トラック制御回路９とを
含んで構成される。
【００１０】光ディスク１の記録面情報を読み出す光ヘ
ッド２とディスクをクランプし回転させるスピンドルモ
ータ３とスピンドルモータ３の回転位置を発生するエン
コーダ回路４と光ヘッド２出力をライト時に減衰させる
アッテネータ１１、増幅するアンプ５とアンプ５出力か
らから光ディスク１にレーザ光を照射し光ディスク１検
査トラック上にサーボをかけるサーボ回路６と光ディス
ク１のトラック制御を行うトラック制御回路９とアンプ
５出力から欠陥を検出するための信号を発生させる基準
レベル発生回路７と基準レベル発生回路７出力とアンプ
５出力を比較する比較回路８と比較回路８出力及びトラ
ック制御回路９、から構成される。
ッド２とディスクをクランプし回転させるスピンドルモ
ータ３とスピンドルモータ３の回転位置を発生するエン
コーダ回路４と光ヘッド２出力をライト時に減衰させる
アッテネータ１１、増幅するアンプ５とアンプ５出力か
らから光ディスク１にレーザ光を照射し光ディスク１検
査トラック上にサーボをかけるサーボ回路６と光ディス
ク１のトラック制御を行うトラック制御回路９とアンプ
５出力から欠陥を検出するための信号を発生させる基準
レベル発生回路７と基準レベル発生回路７出力とアンプ
５出力を比較する比較回路８と比較回路８出力及びトラ
ック制御回路９、から構成される。
【００１１】ここでアッテネータ１１は光ディスク１に
データを書き込む際光ヘッド２出力を減衰しアンプ５出
力が飽和するのを防ぐことにより書き込み時のデータを
再生することを可能とする。以降は再生時と同様に比較
回路８で欠陥が検出されるとその時のトラック番号をト
ラック制御回路９から、トラック上のセクタ位置をエン
コーダ回路４から読み込み、比較回路８が欠陥未検出状
態になった位置をエンコーダ４出力から読み取り欠陥長
さとし、欠陥保持回路１０に記録する。
データを書き込む際光ヘッド２出力を減衰しアンプ５出
力が飽和するのを防ぐことにより書き込み時のデータを
再生することを可能とする。以降は再生時と同様に比較
回路８で欠陥が検出されるとその時のトラック番号をト
ラック制御回路９から、トラック上のセクタ位置をエン
コーダ回路４から読み込み、比較回路８が欠陥未検出状
態になった位置をエンコーダ４出力から読み取り欠陥長
さとし、欠陥保持回路１０に記録する。
【００１２】
【発明の効果】本発明の光ディスク検査装置は再生信号
を増幅するアンプの前に外部から機能のＯＮ／ＯＦＦ可
能なアッテネータを付けることによりライト時の欠陥を
測定することができるという効果がある。
を増幅するアンプの前に外部から機能のＯＮ／ＯＦＦ可
能なアッテネータを付けることによりライト時の欠陥を
測定することができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】従来の一例を示すブロック図である。
１ 光ディスク ２ ヘッド ３ スピンドル ４ エンコーダ ５ アンプ ６ サーボ回路 ７ 基準レベル発生回路 ８ 比較回路 ９ トラック制御回路 １０ 欠陥保持回路 １１ アッテネータ
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスク記録面にレーザを照射し、反射
光の強さに比例した出力信号を用い光ディスク媒体の欠
陥検査を行う光ディスク検査装置において、(A) 光ディ
スクをクランプし回転させるスピンドル、(B) 前記光デ
ィスクにレーザ光を照射し反射光を光電変換する光ヘッ
ド、(C) 前記光ディスクにデータ書き込み時に光ヘッド
出力を減衰するアッテネータ、(D) 前記アッテネータ出
力を増幅するアンプ、(E) 前記アンプ出力からヘッドか
らのレーザ光を前記光ディスク検査トラック上にサーボ
をかけるサーボ回路、(F) 検査トラックの制御を行うト
ラック制御回路、(G) 前記アンプ出力から欠陥を検出す
るための信号を発生させる基準レベル発生回路、(H) 前
記基準レベル発生回路出力と前記アンプ出力電圧レベル
を比較する比較回路、(I) 前記スピンドルの回転位置を
検出するエンコーダ回路、とを含むことを特徴とする光
ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5209292A JPH05258307A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 光ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5209292A JPH05258307A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 光ディスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05258307A true JPH05258307A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=12905197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5209292A Pending JPH05258307A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 光ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05258307A (ja) |
-
1992
- 1992-03-11 JP JP5209292A patent/JPH05258307A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980224 |