JPH03260961A - 磁気ディスク検査装置 - Google Patents

磁気ディスク検査装置

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JPH03260961A
JPH03260961A JP6136490A JP6136490A JPH03260961A JP H03260961 A JPH03260961 A JP H03260961A JP 6136490 A JP6136490 A JP 6136490A JP 6136490 A JP6136490 A JP 6136490A JP H03260961 A JPH03260961 A JP H03260961A
Authority
JP
Japan
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signal
circuit
magnetic disk
output
window
Prior art date
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Pending
Application number
JP6136490A
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English (en)
Inventor
Toshiki Shimamura
嶋村 俊樹
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁気ディスク検査装置、特に、磁気特性の内ビ
ットシフト検査に適用しうる磁気ディスク検査装置に関
する。
〔従来の技術〕
従来の磁気ディスク検査装置は、磁気ヘッドと、再生・
書き込みアンプと、ライト信号発生回路と、二値化回路
と、PLO回路と、ウィンド発生回路と、ウィンド比較
回路と、欠陥RAMにより構成される。
次に従来の磁気ディスク検査装置について図面を参照し
て詳細に説明する。
第2図は従来の磁気ディスク検査装置の一例を示すブロ
ック図である。
第2図に示す磁気ディスク検査装置は、磁気ディスクへ
の書き込み再生を行う磁気ヘット1と、磁気へラド1へ
書き込み信号を送出し、再生信号を増幅するR/Wアン
プ2と、R/Wアンプ2へ書き込み信号を送出するライ
ト信号発生回路3R/Wアンプ2出力を二値化する二値
化回路4二値化回路4出力から再生クロックを発生する
PLO回路5.PL○回路5出力から検査ウィンドを発
生するウィンド発生回路6と、ウィンド発生回路6出力
の二値化回路4出力を比較するウィンド比較回路7.ウ
ィンド比較回路7て検出した欠陥を記録する欠陥RAM
8より構成される。
第3図は欠陥検出の一例を示す波形図である。
二値化回路4出力をウィンド発生回路6出力と比較し、
ウィンド発生回路6出力に二値化回1%4出力が入らな
かった場合欠陥となる。
磁気ヘッド1出力をR/Wアンプ2で増幅し、二値化回
路4で二値化しPLO回路5により再生クロックを発生
し前記再生クロックからウィンド発生回路6により検査
ウィンドを発生し、ウィンド比較回FI!47により二
値化回路4出力によりP I−○回路5出力をサンプリ
ングし欠陥を検出し、検出された欠陥情報を欠陥RAM
8に記録する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の磁気ディスク検査装置は、再生信号を基
準に欠陥を検出しているため、媒体欠陥によるエキスト
ラビットエラー、ミッシングビットエラーを検出できな
いという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の磁気ディスク検査装置は、磁気ディスク書き込
み、再生を行い、前記磁気ディスクの書き込み、再生マ
ージン欠陥を検査する磁気ディスク欠陥検査装置におい
て、 (A)磁気ディスクにデータの書き込み再生を行う再生
・書き込みアンプ、 (B)前記再生・書込みアンプの再生出力を二値化する
二値化回路、 (C)前記二値化回路出力から再生クロックを生成する
PLO回路、 (D)前記再生クロックから書き込み・再生マージンを
検査するためのウィンドを発生ずるウィンド発生回路、 (E)前記ウィンド発生回路出力と前記二値化回路出力
を比較するウィンド比較回路、 (F〉前記再生・書込みアンプに書込信号を送り、又再
生時にパターン比較用信号を発生するライトパターン発
生回路、 (G)前記ウィンド比較回路と前記ライトパターン発生
回路出力を比較するパターン比較回路、(H)前記パタ
ーン比較回路によって検出された欠陥を記録する欠陥R
AM、 とを含んで構成される。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示す磁気ディスク検査装置は、ライトパターン
発生回路11から出力した信号aを再生Wき込みアンプ
2により電流用11V、< L、磁気ヘッド1を用い磁
気ディスク13へ書き込む。
次に前記とように書き込んだデータを磁気ヘッド1によ
りピックアップし再生・書き込みアンプ2により電圧増
幅し、二値化回路4により二値化した信号dを得る。
二値化信号dをPLO回路5を通し基準クロックeを再
生しウィンド生成回路6により基準クロックeより検査
ウィンド信号fを得る。
ウィンド比較回路7では二値化回路出力dとウィンド生
成回路6出力fを二値化出力d信号がウィンド信号fの
範囲内にあるかを比較し、ウィンドf内に二値化回路出
力fが入っている場合、正常再生信号gを出力する。
次にパターン比較回路12により正常再生信号gと、ラ
イトパターン発生回路11出力のライトパターンCを比
較し、一致しなかった場合、欠陥としてエラーRAM8
に記録する。
〔発明の効果〕
本発明の磁気ディスク検査装置は、記録パターンと再生
パターンを比較することにより、磁気ディスクのミッシ
ングビットエラー、エクストラビットエラー、ビットシ
フトの検出をすることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
従来の一例を示すブロック図、第3図は欠陥例を示す波
形図である。 1・・・磁気ヘッド、2・・・再生・書き込みアンプ、
3・・・ライト信号発生回路、4・・・二値化回路、5
・・・PLO回路、6・・・ウィンド生成回路、7・・
・ウィンド比較回路、8・・・エラーRAM、11・・
・ライトパターン発生回路、12・・・パターン比較回
路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 磁気ディスク書き込み、再生を行い、前記磁気ディスク
    の書き込み、再生マージン欠陥を検査する磁気ディスク
    欠陥検査装置において、 (A)磁気ディスクにデータの書き込み再生を行う再生
    ・書き込みアンプ、 (B)前記再生・書込みアンプの再生出力を二値化する
    二値化回路、 (C)前記二値化回路出力から再生クロックを生成する
    PLO回路、 (D)前記再生クロックから書き込み・再生マージンを
    検査するためのウインドを発生するウインド発生回路、 (E)前記ウインド発生回路出力と前記二値化回路出力
    を比較するウインド比較回路、 (F)前記再生・書込みアンプに書込信号を送り、又再
    生時にパターン比較用信号を発生するライトパターン発
    生回路、 (G)前記ウインド比較回路と前記ライトパターン発生
    回路出力を比較するパターン比較回路、(H)前記パタ
    ーン比較回路によって検出された欠陥を記録する欠陥R
    AM、 とを含むことを特徴とする磁気ディスク検査装置。
JP6136490A 1990-03-12 1990-03-12 磁気ディスク検査装置 Pending JPH03260961A (ja)

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