JPH05258380A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JPH05258380A JPH05258380A JP5582592A JP5582592A JPH05258380A JP H05258380 A JPH05258380 A JP H05258380A JP 5582592 A JP5582592 A JP 5582592A JP 5582592 A JP5582592 A JP 5582592A JP H05258380 A JPH05258380 A JP H05258380A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】情報信号と誤差信号を独立して検出し、構成部
品数を低減し、誤差信号の変動分を一定に保ち、短時間
で安定性能を発揮できる調整で量産性を向上させる。 【構成】光学ヘッドの検出手段を、凸レンズ6と、入射
光を透過光と反射光の2光束に分離して透過光が略円柱
状面21bを透過するビームスプリッタ20Aと、ビー
ムスプリッタ20Aの反射光が入射して偏光膜面21c
で透過光と反射光に分離してビームスプリッタ20Aの
透過光と同方向に出射する偏光ビームスプリッタ20B
とで構成される検出素子21と、多分割光検出器22
と、演算回路とで構成し、凸レンズ6と検出素子21と
は所定の一定距離に保持されて入射光束の光軸方向に移
動可能とし、検出素子21の略円柱状面21bの透過光
を基準にして多分割光検出器22を位置調整する調整手
段を設ける。
品数を低減し、誤差信号の変動分を一定に保ち、短時間
で安定性能を発揮できる調整で量産性を向上させる。 【構成】光学ヘッドの検出手段を、凸レンズ6と、入射
光を透過光と反射光の2光束に分離して透過光が略円柱
状面21bを透過するビームスプリッタ20Aと、ビー
ムスプリッタ20Aの反射光が入射して偏光膜面21c
で透過光と反射光に分離してビームスプリッタ20Aの
透過光と同方向に出射する偏光ビームスプリッタ20B
とで構成される検出素子21と、多分割光検出器22
と、演算回路とで構成し、凸レンズ6と検出素子21と
は所定の一定距離に保持されて入射光束の光軸方向に移
動可能とし、検出素子21の略円柱状面21bの透過光
を基準にして多分割光検出器22を位置調整する調整手
段を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学的に情報を記録再
生する装置である光ディスクメモリーの光学ヘッドに関
するものである。
生する装置である光ディスクメモリーの光学ヘッドに関
するものである。
【0002】
【従来の技術】現代は情報化時代と言われており、その
中核をなす高密度大容量メモリーの技術開発が盛んに行
われている。メモリーに要求される能力としては、前述
の高密度、大容量に加え、高信頼性、高速アクセス、書
換え機能などが挙げられ、それらを満足するものとし
て、光磁気ディスクなどの光ディスクメモリーが最も注
目されているが、本発明はその光磁気ディスクメモリー
における光学ヘッドに関するものである。
中核をなす高密度大容量メモリーの技術開発が盛んに行
われている。メモリーに要求される能力としては、前述
の高密度、大容量に加え、高信頼性、高速アクセス、書
換え機能などが挙げられ、それらを満足するものとし
て、光磁気ディスクなどの光ディスクメモリーが最も注
目されているが、本発明はその光磁気ディスクメモリー
における光学ヘッドに関するものである。
【0003】従来、光磁気ディスク用光学ヘッドに関す
る技術としては、数多くの報告がなされている。以下、
図面を参照しながら、従来の光磁気ディスク用の光学ヘ
ッドについて説明を行う。
る技術としては、数多くの報告がなされている。以下、
図面を参照しながら、従来の光磁気ディスク用の光学ヘ
ッドについて説明を行う。
【0004】図5は従来の光学ヘッドの概略的な構成図
およびその動作原理を説明する図である。図5に示すよ
うに、従来の光学ヘッドは、半導体レーザ1と、コリメ
ートレンズ2と、ビームスプリッタ3と、対物レンズ4
と、1/2波長板5と、凸レンズ6と、偏光ビームスプ
リッタ7と、2分割光検出器8と、凸シリンドリカルレ
ンズ9と、4分割光検出器10とから構成されている。
なお、11はディスク、12および13は光スポットの
焦点である。
およびその動作原理を説明する図である。図5に示すよ
うに、従来の光学ヘッドは、半導体レーザ1と、コリメ
ートレンズ2と、ビームスプリッタ3と、対物レンズ4
と、1/2波長板5と、凸レンズ6と、偏光ビームスプ
リッタ7と、2分割光検出器8と、凸シリンドリカルレ
ンズ9と、4分割光検出器10とから構成されている。
なお、11はディスク、12および13は光スポットの
焦点である。
【0005】以上のように構成された従来例について以
下その動作について説明を行う。半導体レーザ1より発
せられた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換
され、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置
(図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディ
スク11上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集
光される。ディスク11からの反射光は、逆の経路をた
どり、ビームスプリッタ3により反射分離されて、1/
2波長板5に入射する。半導体レーザ1は、紙面に平行
な偏光方向となるよう設置されており、1/2波長板5
は、その反射光の偏光方向をほぼ45度回転させるよう
に設定してある。1/2波長板5を透過した反射光は凸
レンズ6により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ
7により互いに直交する2つの偏光成分に分離され、一
方は透過して2分割光検出器8に入射し、他方は反射さ
れて、凸シリンドリカルレンズ9を経て4分割光検出器
10に入射する。2分割光検出器8で発生した電気信号
を減算することにより、いわゆるプッシュ法によりトラ
ッキング誤差信号を検出する。
下その動作について説明を行う。半導体レーザ1より発
せられた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換
され、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置
(図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディ
スク11上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集
光される。ディスク11からの反射光は、逆の経路をた
どり、ビームスプリッタ3により反射分離されて、1/
2波長板5に入射する。半導体レーザ1は、紙面に平行
な偏光方向となるよう設置されており、1/2波長板5
は、その反射光の偏光方向をほぼ45度回転させるよう
に設定してある。1/2波長板5を透過した反射光は凸
レンズ6により収れん光となり、偏光ビームスプリッタ
7により互いに直交する2つの偏光成分に分離され、一
方は透過して2分割光検出器8に入射し、他方は反射さ
れて、凸シリンドリカルレンズ9を経て4分割光検出器
10に入射する。2分割光検出器8で発生した電気信号
を減算することにより、いわゆるプッシュ法によりトラ
ッキング誤差信号を検出する。
【0006】偏光ビームスプリッタ7により反射された
光はフォーカス誤差信号検出手段である凸シリンドリカ
ルレンズ9により、非点収差を発生する。紙面内では、
実線の光路となり、焦点12に収れんし、紙面に垂直な
面内では、破線で示した光路となり、焦点13に収れん
する。
光はフォーカス誤差信号検出手段である凸シリンドリカ
ルレンズ9により、非点収差を発生する。紙面内では、
実線の光路となり、焦点12に収れんし、紙面に垂直な
面内では、破線で示した光路となり、焦点13に収れん
する。
【0007】4分割光検出器10は受光面が焦点12と
焦点13との略中間に位置しており、4つの受光領域で
発生した電気信号の対角同士の和をとり、それらを減算
することにより、いわゆる非点収差法によりフォーカス
誤差信号の検出を行う。
焦点13との略中間に位置しており、4つの受光領域で
発生した電気信号の対角同士の和をとり、それらを減算
することにより、いわゆる非点収差法によりフォーカス
誤差信号の検出を行う。
【0008】また、4分割光検出器10の受光量の総和
をとり、2分割光検出器8の受光量の総和をとり、それ
らの差をとることにより、差動検出法による光磁気ディ
スク情報信号の検出が可能である。さらに、それらの和
をすべてとることにより、振幅変調ディスク情報信号や
プレピット信号の検出が可能である。
をとり、2分割光検出器8の受光量の総和をとり、それ
らの差をとることにより、差動検出法による光磁気ディ
スク情報信号の検出が可能である。さらに、それらの和
をすべてとることにより、振幅変調ディスク情報信号や
プレピット信号の検出が可能である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成は、偏光ビームスプリッタ7を用いていわゆる
差動検出法による光磁気ディスク情報信号の検出を実現
しており、機能としては十分であるが、構成部品数が多
いので、光学系の小型化および低価格化を達成すること
が困難であるという問題を有していた。
来の構成は、偏光ビームスプリッタ7を用いていわゆる
差動検出法による光磁気ディスク情報信号の検出を実現
しており、機能としては十分であるが、構成部品数が多
いので、光学系の小型化および低価格化を達成すること
が困難であるという問題を有していた。
【0010】しかも、情報信号と誤差信号の検出を兼ね
た差動検出法を用いているため、高CN比が要求される
種類の光ディスクメモリーには適していないし、光検出
器から電気信号を検出するアンプに、サーボ帯域と情報
帯域を共にカバーするDC(0Hz)から数10MHz
までの周波数特性が要求されるという欠点を有してい
た。
た差動検出法を用いているため、高CN比が要求される
種類の光ディスクメモリーには適していないし、光検出
器から電気信号を検出するアンプに、サーボ帯域と情報
帯域を共にカバーするDC(0Hz)から数10MHz
までの周波数特性が要求されるという欠点を有してい
た。
【0011】さらに4分割光検出器10の信号により、
非点収差法によりフォーカス誤差信号の検出を行うが、
非点収差量を決定する凸レンズ6と凸シリンドリカルレ
ンズ9とが、互いに独立であるため、信号の変動分を一
定に保つことができない。
非点収差法によりフォーカス誤差信号の検出を行うが、
非点収差量を決定する凸レンズ6と凸シリンドリカルレ
ンズ9とが、互いに独立であるため、信号の変動分を一
定に保つことができない。
【0012】また、2分割光検出器8と4分割光検出器
10とが独立であるため、量産性の高い調整を行うこと
が困難であった。本発明は上記従来の問題を解決するも
ので、構成面からは構成部品数を低減して低価格化を実
現でき、しかも情報信号と誤差信号の検出を独立して行
って高CN比を実現でき、さらに短時間で安定した性能
を発揮するための調整を可能として量産性を向上できる
光学ヘッドを提供することを目的とするものである。
10とが独立であるため、量産性の高い調整を行うこと
が困難であった。本発明は上記従来の問題を解決するも
ので、構成面からは構成部品数を低減して低価格化を実
現でき、しかも情報信号と誤差信号の検出を独立して行
って高CN比を実現でき、さらに短時間で安定した性能
を発揮するための調整を可能として量産性を向上できる
光学ヘッドを提供することを目的とするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本発明の光学ヘッドは、半導体レーザと、前記半導
体レーザからの光を情報記録媒体上に集光させる集光手
段と、前記情報記録媒体からの反射光を分離する光束分
離手段と、前記情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、
トラッキング誤差信号および情報信号を検出する検出手
段とを備えた光学ヘッドであって、前記検出手段は、前
記光束分離手段で分離された光束中に置かれ、偏光面を
45度回転させる1/2波長板と、前記1/2波長板を
透過した光束を収れんさせる凸レンズと、前記凸レンズ
による収れん光束中に配置されて、入射光を透過光と反
射光の2光束に分離し、かつ前記透過光が2次曲面から
なる略円柱状面を透過するビームスプリッタ、および前
記ビームスプリッタの反射光が入射し、入射光を偏光膜
で透過光と反射光の2光束に分離して前記ビームスプリ
ッタの透過光と同方向に出射する偏光ビームスプリッタ
で構成される検出素子と、前記検出素子からの光束を受
光する多分割光検出器と、前記多分割光検出器で発生し
た電気信号を演算する演算回路とから構成され、前記凸
レンズと前記検出素子は所定の一定距離に保持されて入
射光束の光軸方向に移動可能である構成を有している。
に、本発明の光学ヘッドは、半導体レーザと、前記半導
体レーザからの光を情報記録媒体上に集光させる集光手
段と、前記情報記録媒体からの反射光を分離する光束分
離手段と、前記情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、
トラッキング誤差信号および情報信号を検出する検出手
段とを備えた光学ヘッドであって、前記検出手段は、前
記光束分離手段で分離された光束中に置かれ、偏光面を
45度回転させる1/2波長板と、前記1/2波長板を
透過した光束を収れんさせる凸レンズと、前記凸レンズ
による収れん光束中に配置されて、入射光を透過光と反
射光の2光束に分離し、かつ前記透過光が2次曲面から
なる略円柱状面を透過するビームスプリッタ、および前
記ビームスプリッタの反射光が入射し、入射光を偏光膜
で透過光と反射光の2光束に分離して前記ビームスプリ
ッタの透過光と同方向に出射する偏光ビームスプリッタ
で構成される検出素子と、前記検出素子からの光束を受
光する多分割光検出器と、前記多分割光検出器で発生し
た電気信号を演算する演算回路とから構成され、前記凸
レンズと前記検出素子は所定の一定距離に保持されて入
射光束の光軸方向に移動可能である構成を有している。
【0014】また、1/2波長板を用いる代わりに、検
出素子および多分割光検出器とを検出素子に入射する光
束の光軸を中心として、光束の偏光面に対し45度回転
して設置してもよい。
出素子および多分割光検出器とを検出素子に入射する光
束の光軸を中心として、光束の偏光面に対し45度回転
して設置してもよい。
【0015】また凸レンズと検出素子とが一体の光学素
子であってもよい。さらに検出素子を構成するビームス
プリッタで分離され、2次曲面からなる略円柱状面を透
過した出射光が、多分割光検出器における受光領域の所
定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内で多分
割光検出器を位置調整する調整手段を設けた構成を有し
ている。
子であってもよい。さらに検出素子を構成するビームス
プリッタで分離され、2次曲面からなる略円柱状面を透
過した出射光が、多分割光検出器における受光領域の所
定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内で多分
割光検出器を位置調整する調整手段を設けた構成を有し
ている。
【0016】
【作用】上記構成によって、構成部品数の低減により低
価格化を実現した上で、光検出器の複数の受光領域で受
光した光量を電気信号に変換し、その複数の電気信号を
演算することにより、光磁気ディスク情報信号、プレピ
ット信号、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号
の検出が可能である。しかも、情報信号と誤差信号の検
出を独立して行うため、高CN比が要求される光ディス
クメモリーにも適した光学ヘッドを実現できる。また凸
レンズと検出素子は所定の一定距離に保持されて入射光
束の光軸方向に移動可能である構成を有することによ
り、誤差信号の変動分を一定に保って、短時間で安定し
た性能を発揮できる調整が可能となり量産性を向上させ
ることができる。
価格化を実現した上で、光検出器の複数の受光領域で受
光した光量を電気信号に変換し、その複数の電気信号を
演算することにより、光磁気ディスク情報信号、プレピ
ット信号、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号
の検出が可能である。しかも、情報信号と誤差信号の検
出を独立して行うため、高CN比が要求される光ディス
クメモリーにも適した光学ヘッドを実現できる。また凸
レンズと検出素子は所定の一定距離に保持されて入射光
束の光軸方向に移動可能である構成を有することによ
り、誤差信号の変動分を一定に保って、短時間で安定し
た性能を発揮できる調整が可能となり量産性を向上させ
ることができる。
【0017】さらに検出素子を構成するビームスプリッ
タの透過光で2次曲面からなる略円柱状面を透過した出
射光が、受光領域の所定位置に入射するように多分割光
検出器を位置調整する調整手段を設けることにより、多
分割光検出器の調整に関しても短時間で安定した性能を
発揮できる調整が可能となり、一層の量産性の向上を達
成できる。
タの透過光で2次曲面からなる略円柱状面を透過した出
射光が、受光領域の所定位置に入射するように多分割光
検出器を位置調整する調整手段を設けることにより、多
分割光検出器の調整に関しても短時間で安定した性能を
発揮できる調整が可能となり、一層の量産性の向上を達
成できる。
【0018】
(実施例1)以下、本発明の一実施例について、図面を
参照しながら説明する。なお、従来のものと同機能のも
のには同符号を付す。
参照しながら説明する。なお、従来のものと同機能のも
のには同符号を付す。
【0019】図1に示すように、光学ヘッドは、半導体
レーザ1と、コリメートレンズ2と、光束分離手段であ
るビームスプリッタ3と、対物レンズ4と、1/2波長
板5と、凸レンズ6と、ビームスプリッタ20Aと偏光
ビームスプリッタ20Bとからなる検出素子21と、光
検出器22と、加算器23と、3つの減算器24A,2
4B,24Cと、凸レンズ6と検出素子21とを所定の
一定距離Lに保ち、光軸方向W1に移動可能な保持部材
25とから構成されている。
レーザ1と、コリメートレンズ2と、光束分離手段であ
るビームスプリッタ3と、対物レンズ4と、1/2波長
板5と、凸レンズ6と、ビームスプリッタ20Aと偏光
ビームスプリッタ20Bとからなる検出素子21と、光
検出器22と、加算器23と、3つの減算器24A,2
4B,24Cと、凸レンズ6と検出素子21とを所定の
一定距離Lに保ち、光軸方向W1に移動可能な保持部材
25とから構成されている。
【0020】なお、11は情報記録媒体であるディス
ク、21aは検出素子21を構成するビームスプリッタ
20Aの接合面、21bは検出素子21を構成するビー
ムスプリッタ20Aの2次曲面からなる略円柱状面、2
1cは検出素子21を構成する偏光ビームスプリッタ2
0Bの偏光膜面、26〜29は第1〜第4の焦点、30
〜32は光検出器22上に形成される第1〜第3の光ス
ポット、33a〜33d、34、35は光検出器22の
受光領域である。
ク、21aは検出素子21を構成するビームスプリッタ
20Aの接合面、21bは検出素子21を構成するビー
ムスプリッタ20Aの2次曲面からなる略円柱状面、2
1cは検出素子21を構成する偏光ビームスプリッタ2
0Bの偏光膜面、26〜29は第1〜第4の焦点、30
〜32は光検出器22上に形成される第1〜第3の光ス
ポット、33a〜33d、34、35は光検出器22の
受光領域である。
【0021】以上のように構成された光学ヘッドについ
て、以下その動作を説明する。半導体レーザ1より発せ
られた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換さ
れ、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置
(図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディ
スク11上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集
光される。ディスク11からの反射光は、逆の経路をた
どり、光束分離手段であるビームスプリッタ3により反
射分離されて、1/2波長板5に入射する。半導体レー
ザ1は、紙面に平行な偏光方向となるよう設置されてお
り、1/2波長板5は、その反射光の偏光方向をほぼ4
5度回転させるように設定されている。
て、以下その動作を説明する。半導体レーザ1より発せ
られた光は、コリメートレンズ2により平行光に変換さ
れ、ビームスプリッタ3を経て、対物レンズ駆動装置
(図示せず)に組み込まれた対物レンズ4により、ディ
スク11上に直径1ミクロン程度の光スポットとして集
光される。ディスク11からの反射光は、逆の経路をた
どり、光束分離手段であるビームスプリッタ3により反
射分離されて、1/2波長板5に入射する。半導体レー
ザ1は、紙面に平行な偏光方向となるよう設置されてお
り、1/2波長板5は、その反射光の偏光方向をほぼ4
5度回転させるように設定されている。
【0022】1/2波長板5を透過した反射光は凸レン
ズ6により収れん光となり、検出素子21へ入射する。
検出素子21は、入射光を検出素子21を構成するビー
ムスプリッタ20Aの接合面21aで透過光と反射光と
の2光束に分離し、かつ第1の面21aの透過光が2次
曲面からなる略円柱状面21bを透過する構成となって
おり、従来例で示した従来のシリンドリカルレンズの機
能を合わせ持っている。本実施例においては、紙面に平
行な面内で向きW4に存在するディスク11の記録トラ
ックの像に対して、略45度の方向にレンズ効果を有す
るように設けられている。
ズ6により収れん光となり、検出素子21へ入射する。
検出素子21は、入射光を検出素子21を構成するビー
ムスプリッタ20Aの接合面21aで透過光と反射光と
の2光束に分離し、かつ第1の面21aの透過光が2次
曲面からなる略円柱状面21bを透過する構成となって
おり、従来例で示した従来のシリンドリカルレンズの機
能を合わせ持っている。本実施例においては、紙面に平
行な面内で向きW4に存在するディスク11の記録トラ
ックの像に対して、略45度の方向にレンズ効果を有す
るように設けられている。
【0023】検出素子21を構成するビームスプリッタ
20Aの接合面21aへ入射した光束のうち、接合面の
透過光束は、さらに2次曲面からなる略円柱状面21b
を透過するが、この略円柱状面21bはW4の向きに存
在するディスク11の記録トラックの像に対して、略4
5度の方向にレンズ効果を有するように設けられている
ため、レンズ効果を有する面内の光束は略円柱状面21
bのレンズ効果により収れんの度合が強められ、第1の
焦点26に収れんする。またレンズ効果を有する面と直
行する面内の光束に対しては、略円柱状面21bは平面
であるため、透過後の光束は、破線で示した光路を経て
第2の焦点27へと収れんする。すなわち、検出素子2
1を構成するビームスプリッタ20Aの接合面21aと
2次曲面からなる略円柱状面面21bとを経たビームス
プリッタ20Aの透過光は非点収差を発生する。
20Aの接合面21aへ入射した光束のうち、接合面の
透過光束は、さらに2次曲面からなる略円柱状面21b
を透過するが、この略円柱状面21bはW4の向きに存
在するディスク11の記録トラックの像に対して、略4
5度の方向にレンズ効果を有するように設けられている
ため、レンズ効果を有する面内の光束は略円柱状面21
bのレンズ効果により収れんの度合が強められ、第1の
焦点26に収れんする。またレンズ効果を有する面と直
行する面内の光束に対しては、略円柱状面21bは平面
であるため、透過後の光束は、破線で示した光路を経て
第2の焦点27へと収れんする。すなわち、検出素子2
1を構成するビームスプリッタ20Aの接合面21aと
2次曲面からなる略円柱状面面21bとを経たビームス
プリッタ20Aの透過光は非点収差を発生する。
【0024】一方、検出素子21を構成するビームスプ
リッタ20Aの接合面21aへ入射した光束のうち、接
合面21aの反射光束は、検出素子21を構成する偏光
ビームスプリッタ20Bの偏光膜面21cに入射する。
偏光ビームスプリッタ20Bの偏光膜面21cへ入射し
た光束のうち、S偏光(紙面に垂直な偏光成分)は偏光
膜面21cで反射され、ビームスプリッタ20Aの接合
面21aの透過光と同方向に出射して、第3の焦点28
に収れんする。また、P偏光(紙面に平行な偏光成分)
は偏光膜面21cを透過後、ビームスプリッタ20Aの
接合面21aの透過光と同方向に出射して、第4の焦点
29に収れんする。すなわち、検出素子21からの3つ
の出射光束は、全て同方向に出射することになる。
リッタ20Aの接合面21aへ入射した光束のうち、接
合面21aの反射光束は、検出素子21を構成する偏光
ビームスプリッタ20Bの偏光膜面21cに入射する。
偏光ビームスプリッタ20Bの偏光膜面21cへ入射し
た光束のうち、S偏光(紙面に垂直な偏光成分)は偏光
膜面21cで反射され、ビームスプリッタ20Aの接合
面21aの透過光と同方向に出射して、第3の焦点28
に収れんする。また、P偏光(紙面に平行な偏光成分)
は偏光膜面21cを透過後、ビームスプリッタ20Aの
接合面21aの透過光と同方向に出射して、第4の焦点
29に収れんする。すなわち、検出素子21からの3つ
の出射光束は、全て同方向に出射することになる。
【0025】光検出器22は受光面が第1の焦点26と
第2の焦点27との略中間に位置し、その受光面上では
略円形の第1〜第3の光スポット30,31,32が形
成される。光検出器22の受光面上には、受光領域33
a,33b,33c,33dで形成されて第1の光スポ
ット30を受光するための略十字状の分割線を有する4
分割受光領域33と、第2の光スポット31,第3の光
スポット32を各々独立して受光する2つの受光領域3
4,35が存在する。
第2の焦点27との略中間に位置し、その受光面上では
略円形の第1〜第3の光スポット30,31,32が形
成される。光検出器22の受光面上には、受光領域33
a,33b,33c,33dで形成されて第1の光スポ
ット30を受光するための略十字状の分割線を有する4
分割受光領域33と、第2の光スポット31,第3の光
スポット32を各々独立して受光する2つの受光領域3
4,35が存在する。
【0026】第1の光スポット30が入射する光検出器
22の4分割受光領域33のうち、受光領域33aと受
光領域33bとの電気的に結線された信号と、受光領域
33cと受光領域33dとの電気的に結線された信号と
を減算器24Bで減算することにより、いわゆるプッシ
ュプル法によりトラッキング誤差信号を検出する。
22の4分割受光領域33のうち、受光領域33aと受
光領域33bとの電気的に結線された信号と、受光領域
33cと受光領域33dとの電気的に結線された信号と
を減算器24Bで減算することにより、いわゆるプッシ
ュプル法によりトラッキング誤差信号を検出する。
【0027】さらに4分割受光領域33のうち、受光領
域33aと受光領域33dとの電気的に結線された信号
と、受光領域33bと受光領域33cとの電気的に結線
された信号とを減算器24Aで減算すること、すなわち
4つの受光領域の対角同士を結線して和をとり、それら
の差を減算器24Aでとることにより、いわゆる非点収
差法によってフォーカス誤差信号を検出する。
域33aと受光領域33dとの電気的に結線された信号
と、受光領域33bと受光領域33cとの電気的に結線
された信号とを減算器24Aで減算すること、すなわち
4つの受光領域の対角同士を結線して和をとり、それら
の差を減算器24Aでとることにより、いわゆる非点収
差法によってフォーカス誤差信号を検出する。
【0028】また、S偏光である第2の光スポット31
が入射する光検出器22の受光領域34で発生する電気
信号と、P偏光である第3の光スポット32が入射する
光検出器22の受光領域35で発生する電気信号との差
を減算器24Cでとることにより、ディスク11の情報
信号の検出が可能となる。
が入射する光検出器22の受光領域34で発生する電気
信号と、P偏光である第3の光スポット32が入射する
光検出器22の受光領域35で発生する電気信号との差
を減算器24Cでとることにより、ディスク11の情報
信号の検出が可能となる。
【0029】さらに、受光領域34で発生する電気信号
と、受光領域35で発生する電気信号とを、加算器23
で和をとることにより、振幅変調ディスクの情報信号や
プレピット信号の検出が可能である。
と、受光領域35で発生する電気信号とを、加算器23
で和をとることにより、振幅変調ディスクの情報信号や
プレピット信号の検出が可能である。
【0030】すなわち、光検出器22の受光領域33か
らの電気信号によって、フォーカスおよびトラッキング
の誤差信号の検出が実現でき、この誤差信号とは独立し
て光検出器22の受光領域34、35からの電気信号に
よって、光磁気ディスクおよび振幅変調ディスクの情報
信号やプレピット信号の検出が実現できる。
らの電気信号によって、フォーカスおよびトラッキング
の誤差信号の検出が実現でき、この誤差信号とは独立し
て光検出器22の受光領域34、35からの電気信号に
よって、光磁気ディスクおよび振幅変調ディスクの情報
信号やプレピット信号の検出が実現できる。
【0031】ここで、保持部材25は、凸レンズ6と検
出素子21とを所定の一定距離Lに保ち、光軸方向W1
に移動可能としているため、凸レンズ6と検出素子21
の2次曲面からなる略円柱状の第2の面21bとで発生
するフォーカス誤差信号用の非点収差量を常に一定に保
って調整することができる。
出素子21とを所定の一定距離Lに保ち、光軸方向W1
に移動可能としているため、凸レンズ6と検出素子21
の2次曲面からなる略円柱状の第2の面21bとで発生
するフォーカス誤差信号用の非点収差量を常に一定に保
って調整することができる。
【0032】図2の(a)、(b)および(c)は本実
施例におけるフォーカス誤差信号検出の動作を説明する
ための要部拡大図である。図2の(a)は図1において
ディスク11が対物レンズ4の焦点位置にある場合を示
している。このとき、光検出器22上の第1の光スポッ
ト30は略円形状となり減算器24Aの出力として得ら
れるフォーカス誤差信号は零となる。さらにこのように
対物レンズ4がディスク11に対して、合焦点の位置に
あるときには受光領域33aと受光領域33bとの電気
的に結線された信号と、受光領域33cと受光領域33
dとの電気的に結線された信号とを減算器24Bで減算
することにより、いわゆるプッシュプル法によりトラッ
キング誤差信号を検出することができる。
施例におけるフォーカス誤差信号検出の動作を説明する
ための要部拡大図である。図2の(a)は図1において
ディスク11が対物レンズ4の焦点位置にある場合を示
している。このとき、光検出器22上の第1の光スポッ
ト30は略円形状となり減算器24Aの出力として得ら
れるフォーカス誤差信号は零となる。さらにこのように
対物レンズ4がディスク11に対して、合焦点の位置に
あるときには受光領域33aと受光領域33bとの電気
的に結線された信号と、受光領域33cと受光領域33
dとの電気的に結線された信号とを減算器24Bで減算
することにより、いわゆるプッシュプル法によりトラッ
キング誤差信号を検出することができる。
【0033】図2の(b)は図1においてディスク11
が対物レンズ4に接近した場合である。この場合、凸レ
ンズ6へ入射する光束は発散光となるため、第1〜第4
の焦点26〜29は検出素子21から遠ざかる向きに変
位する。したがって光検出器22上の第1の光スポット
30は図2の(b)に示すように楕円形となり、この場
合正のフォーカス誤差信号が得られる。図2の(c)は
図2の(b)と反対に、図1におけるディスク11が対
物レンズ4から遠ざかる向きに変位した場合である。こ
の場合は図2の(b)の場合とは逆に、負のフォーカス
誤差信号を得ることができる。
が対物レンズ4に接近した場合である。この場合、凸レ
ンズ6へ入射する光束は発散光となるため、第1〜第4
の焦点26〜29は検出素子21から遠ざかる向きに変
位する。したがって光検出器22上の第1の光スポット
30は図2の(b)に示すように楕円形となり、この場
合正のフォーカス誤差信号が得られる。図2の(c)は
図2の(b)と反対に、図1におけるディスク11が対
物レンズ4から遠ざかる向きに変位した場合である。こ
の場合は図2の(b)の場合とは逆に、負のフォーカス
誤差信号を得ることができる。
【0034】以上のように本実施例によれば、ディスク
11からの反射光の偏光面を45度回転させる1/2波
長板5と、1/2波長板5を透過した光束を収れんさせ
る凸レンズ6と、凸レンズ6による収れん光束中に配置
され、接合面21aで入射光を透過光と反射光との2光
束に分離し、かつ透過光が2次曲面からなる略円柱状面
21bを透過するビームスプリッタ20A、およびビー
ムスプリッタ20Aの反射光が入射し、入射光を偏光膜
面21cで透過光と反射光との2光束に分離してビーム
スプリッタ20Aの透過光と同方向に出射する偏光ビー
ムスプリッタ20Bとで構成される検出素子21と、検
出素子21からの光束を受光する多分割光検出器22と
を用いることにより、非常に簡単な構成で、フォーカス
誤差信号、トラッキング誤差信号の検出が実現でき、こ
の誤差信号とは独立して光磁気ディスクおよび振幅変調
ディスクの情報信号やプレピット信号の検出が実現でき
る。しかも情報信号と誤差信号の検出を独立して行うた
め、高CN比が実現でき、誤差信号用の減算器24A,
24Bの周波数特性はDCから数10kHzまでのいわ
ゆるサーボ帯域のみで良く、情報信号用の加算器23,
減算器24Cの周波数特性は数100kHzから数MH
zのいわゆる情報帯域のみで良い。さらに保持部材25
を設けて、凸レンズ6と検出素子21とを所定の一定距
離Lに保ち、光軸方向W1に移動可能とすることによ
り、凸レンズ6と検出素子21の2次曲面からなる略円
柱状面21bとで発生するフォーカス誤差信号用の非点
収差量を常に一定に保って調整することができる。
11からの反射光の偏光面を45度回転させる1/2波
長板5と、1/2波長板5を透過した光束を収れんさせ
る凸レンズ6と、凸レンズ6による収れん光束中に配置
され、接合面21aで入射光を透過光と反射光との2光
束に分離し、かつ透過光が2次曲面からなる略円柱状面
21bを透過するビームスプリッタ20A、およびビー
ムスプリッタ20Aの反射光が入射し、入射光を偏光膜
面21cで透過光と反射光との2光束に分離してビーム
スプリッタ20Aの透過光と同方向に出射する偏光ビー
ムスプリッタ20Bとで構成される検出素子21と、検
出素子21からの光束を受光する多分割光検出器22と
を用いることにより、非常に簡単な構成で、フォーカス
誤差信号、トラッキング誤差信号の検出が実現でき、こ
の誤差信号とは独立して光磁気ディスクおよび振幅変調
ディスクの情報信号やプレピット信号の検出が実現でき
る。しかも情報信号と誤差信号の検出を独立して行うた
め、高CN比が実現でき、誤差信号用の減算器24A,
24Bの周波数特性はDCから数10kHzまでのいわ
ゆるサーボ帯域のみで良く、情報信号用の加算器23,
減算器24Cの周波数特性は数100kHzから数MH
zのいわゆる情報帯域のみで良い。さらに保持部材25
を設けて、凸レンズ6と検出素子21とを所定の一定距
離Lに保ち、光軸方向W1に移動可能とすることによ
り、凸レンズ6と検出素子21の2次曲面からなる略円
柱状面21bとで発生するフォーカス誤差信号用の非点
収差量を常に一定に保って調整することができる。
【0035】すなわち、これらの構成によって、構成部
品数の低減により低価格化を実現した上で、情報信号と
誤差信号の検出を独立して行うため高CN比を実現でき
るとともに、サーボ帯域と情報帯域との独立した周波数
特性をもつアンプで光学ヘッドを構成できる。かつ誤差
信号の変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を
発揮できる調整が可能となり量産性を向上させることが
できる。
品数の低減により低価格化を実現した上で、情報信号と
誤差信号の検出を独立して行うため高CN比を実現でき
るとともに、サーボ帯域と情報帯域との独立した周波数
特性をもつアンプで光学ヘッドを構成できる。かつ誤差
信号の変動分を一定に保って、短時間で安定した性能を
発揮できる調整が可能となり量産性を向上させることが
できる。
【0036】なお、本実施例においては検出素子を構成
するビームスプリッタの略円柱状面21bは光学的に凸
形状の円柱状透過面としたが、これは凹形状の円柱状透
過面でも同様の効果を得ることができる。
するビームスプリッタの略円柱状面21bは光学的に凸
形状の円柱状透過面としたが、これは凹形状の円柱状透
過面でも同様の効果を得ることができる。
【0037】また本実施例のように、1/2波長板5を
用いて、検出素子21へ入射する偏光面を回転させる構
成が一般的であるが、これは必ずしも必要ではなく、そ
の場合は検出素子21および光検出器22の全体を光軸
を中心に方向W3に45度回転させて設置すれば同様の
効果をさらに少ない部品点数で得ることが可能である。
用いて、検出素子21へ入射する偏光面を回転させる構
成が一般的であるが、これは必ずしも必要ではなく、そ
の場合は検出素子21および光検出器22の全体を光軸
を中心に方向W3に45度回転させて設置すれば同様の
効果をさらに少ない部品点数で得ることが可能である。
【0038】図3は複合化した検出素子を示した図であ
る。図3において、41は検出素子、41dは凸レンズ
面であり、他の符号はすべて図1の構成要素と同一であ
る。検出素子41は図1における凸レンズ6と検出素子
21とを一体化した検出素子であるため、図1に比べて
さらに少ない部品点数で同様の効果を得ることができ
る。
る。図3において、41は検出素子、41dは凸レンズ
面であり、他の符号はすべて図1の構成要素と同一であ
る。検出素子41は図1における凸レンズ6と検出素子
21とを一体化した検出素子であるため、図1に比べて
さらに少ない部品点数で同様の効果を得ることができ
る。
【0039】(実施例2)以下、本発明の第2の実施例
について図面を参照しながら説明する。図4は本発明の
第2の実施例による光検出器の調整経過を示した図であ
り、他の構成は基本的に図1の構成と同様である。
について図面を参照しながら説明する。図4は本発明の
第2の実施例による光検出器の調整経過を示した図であ
り、他の構成は基本的に図1の構成と同様である。
【0040】図4において、22は光検出器、30〜3
2は光検出器22上に形成される第1〜第3の光スポッ
トであり、光検出器22の受光面上には、受光領域33
a,33b,33c,33dで形成されて第1の光スポ
ット30を受光するための略十字状の分割線を有する4
分割受光領域33と、第2の光スポット31,第3の光
スポット32を各々独立して受光する2つの受光領域3
4,35とが存在する。
2は光検出器22上に形成される第1〜第3の光スポッ
トであり、光検出器22の受光面上には、受光領域33
a,33b,33c,33dで形成されて第1の光スポ
ット30を受光するための略十字状の分割線を有する4
分割受光領域33と、第2の光スポット31,第3の光
スポット32を各々独立して受光する2つの受光領域3
4,35とが存在する。
【0041】以上のように構成された光学ヘッドについ
て、以下にその動作を説明する。図1におけるディスク
11からの反射光は凸レンズ6により収れん光となり、
検出素子21へ入射する。検出素子21に入射した光束
の動作については図1と全く同一であり、ここでは説明
を省略する。
て、以下にその動作を説明する。図1におけるディスク
11からの反射光は凸レンズ6により収れん光となり、
検出素子21へ入射する。検出素子21に入射した光束
の動作については図1と全く同一であり、ここでは説明
を省略する。
【0042】ここで、図4は図1の光検出器22のW2
方向から見た矢視図であり、光検出器22の調整経過を
示している。すなわち図4の(a)は、光検出器22を
調整する前の状態を示す図であり、第1〜第3の光スポ
ット30〜32と、光検出器22の受光面上の4分割受
光領域33,受光領域34,35との位置関係を示して
いる。この状態では第1の光スポット30を用いた非点
収差法による安定したフォーカス誤差信号およびプッシ
ュプル法による安定したトラッキング誤差信号を得るこ
とができない。
方向から見た矢視図であり、光検出器22の調整経過を
示している。すなわち図4の(a)は、光検出器22を
調整する前の状態を示す図であり、第1〜第3の光スポ
ット30〜32と、光検出器22の受光面上の4分割受
光領域33,受光領域34,35との位置関係を示して
いる。この状態では第1の光スポット30を用いた非点
収差法による安定したフォーカス誤差信号およびプッシ
ュプル法による安定したトラッキング誤差信号を得るこ
とができない。
【0043】図4の(b)は、光検出器22を調整する
時の状態を示す図である。検出素子21からの3つの出
射光の内、2次曲面からなる略円柱状面21bを経た出
射光による第1の光スポット30が、光検出器22にお
ける4分割受光領域33の所定位置に入射する位置に、
出射光に垂直な平面内で光検出器22の位置調整を行
う。ここで図示のように、4分割受光領域33の所定位
置とは、第1の光スポット30の中心に、4分割受光領
域33の2本の分割線の交点が一致する位置である。本
発明の第2の実施例による光検出器22の調整はこの状
態で完了する。すなわち、この状態で第1の光スポット
30を用いた非点収差法による安定したフォーカス誤差
信号およびプッシュプル法による安定したトラッキング
誤差信号を得ることができる。
時の状態を示す図である。検出素子21からの3つの出
射光の内、2次曲面からなる略円柱状面21bを経た出
射光による第1の光スポット30が、光検出器22にお
ける4分割受光領域33の所定位置に入射する位置に、
出射光に垂直な平面内で光検出器22の位置調整を行
う。ここで図示のように、4分割受光領域33の所定位
置とは、第1の光スポット30の中心に、4分割受光領
域33の2本の分割線の交点が一致する位置である。本
発明の第2の実施例による光検出器22の調整はこの状
態で完了する。すなわち、この状態で第1の光スポット
30を用いた非点収差法による安定したフォーカス誤差
信号およびプッシュプル法による安定したトラッキング
誤差信号を得ることができる。
【0044】ただしこの状態では、素子精度、取り付け
精度などによって、第1の光スポット30と、残りの第
2,第3の光スポット31,32との位置関係が設計の
位置関係にない場合がある。しかしながら、第2,第3
の光スポット31,32を各々独立して受光する2つの
受光領域34,35は、各々単独の受光領域であるた
め、光スポットが対応する受光領域内に存在さえすれば
所定の電気信号を得ることができ、第1の光スポット3
0による誤差信号とは独立して、安定した光磁気ディス
クおよび振幅変調ディスクの情報信号やプレピット信号
の検出が実現できる。
精度などによって、第1の光スポット30と、残りの第
2,第3の光スポット31,32との位置関係が設計の
位置関係にない場合がある。しかしながら、第2,第3
の光スポット31,32を各々独立して受光する2つの
受光領域34,35は、各々単独の受光領域であるた
め、光スポットが対応する受光領域内に存在さえすれば
所定の電気信号を得ることができ、第1の光スポット3
0による誤差信号とは独立して、安定した光磁気ディス
クおよび振幅変調ディスクの情報信号やプレピット信号
の検出が実現できる。
【0045】以上のように本実施例によれば、図1,図
2で述べたように、構成部品数の低減により低価格化を
実現した上で、情報信号と誤差信号の検出を独立して行
うために高CN比を実現できるとともに、サーボ帯域と
情報帯域との独立した周波数特性をもつアンプで光学ヘ
ッドを構成できる。かつ誤差信号の変動分を一定に保っ
て、短時間で安定した性能を発揮できる調整が可能とな
り、量産性を向上させることができるいう効果に加え、
光検出器22の調整に関しても短時間で安定した性能を
発揮できる調整が可能となり、一層の量産性の向上を実
現できる。
2で述べたように、構成部品数の低減により低価格化を
実現した上で、情報信号と誤差信号の検出を独立して行
うために高CN比を実現できるとともに、サーボ帯域と
情報帯域との独立した周波数特性をもつアンプで光学ヘ
ッドを構成できる。かつ誤差信号の変動分を一定に保っ
て、短時間で安定した性能を発揮できる調整が可能とな
り、量産性を向上させることができるいう効果に加え、
光検出器22の調整に関しても短時間で安定した性能を
発揮できる調整が可能となり、一層の量産性の向上を実
現できる。
【0046】なお本実施例では、光検出器22の調整手
段に関しては言及していないが、図4の(a)および
(b)の段階を経る調整であれば、特に限定されるもの
ではない。
段に関しては言及していないが、図4の(a)および
(b)の段階を経る調整であれば、特に限定されるもの
ではない。
【0047】
【発明の効果】以上のように本発明は、半導体レーザ
と、前記半導体レーザからの光を情報記録媒体上に集光
させる集光手段と、前記情報記録媒体からの反射光を分
離する光束分離手段と、前記情報記録媒体上のフォーカ
ス誤差信号、トラッキング誤差信号および情報信号を検
出する検出手段とを備えた光学ヘッドであって、前記検
出手段は、前記光束分離手段で分離された光束中に置か
れ、偏光面を45度回転させる1/2波長板と、前記1
/2波長板を透過した光束を収れんさせる凸レンズと、
前記凸レンズによる収れん光束中に配置されて、入射光
を透過光と反射光の2光束に分離し、かつ前記透過光が
2次曲面からなる略円柱状面を透過するビームスプリッ
タ、および前記ビームスプリッタの反射光が入射し、入
射光を偏光膜で透過光と反射光の2光束に分離して前記
ビームスプリッタの透過光と同方向に出射する偏光ビー
ムスプリッタで構成される検出素子と、前記検出素子か
らの光束を受光する多分割光検出器と、前記多分割光検
出器で発生した電気信号を演算する演算回路とから構成
され、前記凸レンズと前記検出素子は所定の一定距離に
保持されて入射光束の光軸方向に移動可能である構成で
ある。
と、前記半導体レーザからの光を情報記録媒体上に集光
させる集光手段と、前記情報記録媒体からの反射光を分
離する光束分離手段と、前記情報記録媒体上のフォーカ
ス誤差信号、トラッキング誤差信号および情報信号を検
出する検出手段とを備えた光学ヘッドであって、前記検
出手段は、前記光束分離手段で分離された光束中に置か
れ、偏光面を45度回転させる1/2波長板と、前記1
/2波長板を透過した光束を収れんさせる凸レンズと、
前記凸レンズによる収れん光束中に配置されて、入射光
を透過光と反射光の2光束に分離し、かつ前記透過光が
2次曲面からなる略円柱状面を透過するビームスプリッ
タ、および前記ビームスプリッタの反射光が入射し、入
射光を偏光膜で透過光と反射光の2光束に分離して前記
ビームスプリッタの透過光と同方向に出射する偏光ビー
ムスプリッタで構成される検出素子と、前記検出素子か
らの光束を受光する多分割光検出器と、前記多分割光検
出器で発生した電気信号を演算する演算回路とから構成
され、前記凸レンズと前記検出素子は所定の一定距離に
保持されて入射光束の光軸方向に移動可能である構成で
ある。
【0048】また、1/2波長板を用いる代わりに、検
出素子および多分割光検出器とを検出素子に入射する光
束の光軸を中心として、光束の偏光面に対し45度回転
して設置してもよい。
出素子および多分割光検出器とを検出素子に入射する光
束の光軸を中心として、光束の偏光面に対し45度回転
して設置してもよい。
【0049】また凸レンズと検出素子とが一体の光学素
子であってもよい。さらに検出素子を構成するビームス
プリッタで分離され、2次曲面からなる略円柱状面を透
過した出射光が、多分割光検出器における受光領域の所
定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内で多分
割光検出器を位置調整する調整手段を設けた構成であ
る。
子であってもよい。さらに検出素子を構成するビームス
プリッタで分離され、2次曲面からなる略円柱状面を透
過した出射光が、多分割光検出器における受光領域の所
定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内で多分
割光検出器を位置調整する調整手段を設けた構成であ
る。
【0050】これらの構成により、構成部品数の低減に
より低価格化を実現した上で、光検出器の複数の受光領
域で受光した光量を電気信号に変換し、その複数の電気
信号を演算することにより、光磁気ディスク情報信号、
プレピット信号、フォーカス誤差信号、トラッキング誤
差信号の検出を可能とし、しかも情報信号と誤差信号の
検出を独立して行うために高CN比を実現できるととも
に、サーボ帯域と情報帯域との独立した周波数特性をも
つアンプで光学ヘッドを構成できる。
より低価格化を実現した上で、光検出器の複数の受光領
域で受光した光量を電気信号に変換し、その複数の電気
信号を演算することにより、光磁気ディスク情報信号、
プレピット信号、フォーカス誤差信号、トラッキング誤
差信号の検出を可能とし、しかも情報信号と誤差信号の
検出を独立して行うために高CN比を実現できるととも
に、サーボ帯域と情報帯域との独立した周波数特性をも
つアンプで光学ヘッドを構成できる。
【0051】また、凸レンズと検出素子は所定の一定距
離に保持されて入射光束の光軸方向に移動可能であるた
め、誤差信号の変動分を一定に保って、短時間で安定し
た性能を発揮できる調整が可能となり、量産性を向上さ
せることができる。さらに検出素子を構成するビームス
プリッタで分離され、2次曲面からなる略円柱状面を透
過した出射光が、多分割光検出器における受光領域の所
定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内で多分
割光検出器を位置調整する調整手段を設けることによ
り、多分割光検出器の調整に関しても短時間で安定した
性能を発揮できる調整が可能となり、一層の量産性の向
上を実現できる。
離に保持されて入射光束の光軸方向に移動可能であるた
め、誤差信号の変動分を一定に保って、短時間で安定し
た性能を発揮できる調整が可能となり、量産性を向上さ
せることができる。さらに検出素子を構成するビームス
プリッタで分離され、2次曲面からなる略円柱状面を透
過した出射光が、多分割光検出器における受光領域の所
定位置に入射する位置に、出射光に垂直な平面内で多分
割光検出器を位置調整する調整手段を設けることによ
り、多分割光検出器の調整に関しても短時間で安定した
性能を発揮できる調整が可能となり、一層の量産性の向
上を実現できる。
【図1】本発明の第1の実施例における光学ヘッドの概
略構成を示す図である。
略構成を示す図である。
【図2】同光学ヘッドにおけるフォーカス誤差信号検出
の動作説明ための要部拡大図であり、(a)はディスク
が対物レンズの焦点位置にある場合、(b)はディスク
が対物レンズに接近した場合、(c)はディスクが対物
レンズから遠ざかる向きに変位した場合を示す。
の動作説明ための要部拡大図であり、(a)はディスク
が対物レンズの焦点位置にある場合、(b)はディスク
が対物レンズに接近した場合、(c)はディスクが対物
レンズから遠ざかる向きに変位した場合を示す。
【図3】第1の実施例の光学ヘッドにおいて複合化した
検出素子の構成を示す図である。
検出素子の構成を示す図である。
【図4】本発明の第2の実施例における光検出器の調整
経過を示した図で、(a)は光検出器を調整する前の状
態を示す図、(b)は光検出器を調整する時の状態を示
す図である。
経過を示した図で、(a)は光検出器を調整する前の状
態を示す図、(b)は光検出器を調整する時の状態を示
す図である。
【図5】従来の光学ヘッドの概略構成を示す図である。
1 半導体レーザ 2 コリメートレンズ 3 ビームスプリッタ 4 対物レンズ 5 1/2波長板 6 凸レンズ 11 ディスク 20A ビームスプリッタ 20B 偏光ビームスプリッタ 21,41 検出素子 21a 接合面 21b 略円柱状面 21c 偏光膜面 22 光検出器 23 加算器 24A〜24C 減算器 25 保持部材 26〜29 焦点 30〜32 光スポット 33〜35,33a〜33d 受光領域
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体レーザと、前記半導体レーザから
の光を情報記録媒体上に集光させる集光手段と、前記情
報記録媒体からの反射光を分離する光束分離手段と、前
記情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、トラッキング
誤差信号および情報信号を検出する検出手段とを備えた
光学ヘッドであって、前記検出手段は、前記光束分離手
段で分離された光束中に置かれ、偏光面を45度回転さ
せる1/2波長板と、前記1/2波長板を透過した光束
を収れんさせる凸レンズと、前記凸レンズによる収れん
光束中に配置されて、入射光を透過光と反射光の2光束
に分離し、かつ前記透過光が2次曲面からなる略円柱状
面を透過するビームスプリッタ、および前記ビームスプ
リッタの反射光が入射し、入射光を偏光膜で透過光と反
射光の2光束に分離して前記ビームスプリッタの透過光
と同方向に出射する偏光ビームスプリッタで構成される
検出素子と、前記検出素子からの光束を受光する多分割
光検出器と、前記多分割光検出器で発生した電気信号を
演算する演算回路とから構成され、前記凸レンズと前記
検出素子は所定の一定距離に保持されて入射光束の光軸
方向に移動可能である光学ヘッド。 - 【請求項2】 半導体レーザと、前記半導体レーザから
の光を情報記録媒体上に集光させる集光手段と、前記情
報記録媒体からの反射光を分離する光束分離手段と、前
記情報記録媒体上のフォーカス誤差信号、トラッキング
誤差信号および情報信号を検出する検出手段とを備えた
光学ヘッドであって、前記検出手段は、前記光束分離手
段で分離された光束を収れんさせる凸レンズと、前記凸
レンズによる収れん光束中に配置されて、入射光を透過
光と反射光の2光束に分離し、かつ前記透過光が2次曲
面からなる略円柱状面を透過するビームスプリッタ、お
よび前記ビームスプリッタの反射光が入射し、入射光を
偏光膜で透過光と反射光の2光束に分離して前記ビーム
スプリッタの透過光と同方向に出射する偏光ビームスプ
リッタで構成される検出素子と、前記検出素子からの光
束を受光する多分割光検出器と、前記多分割光検出器で
発生した電気信号を演算する演算回路とから構成され、
前記検出素子は前記多分割光検出器と共に、前記検出素
子へ入射する光束の光軸を中心として前記光束の偏光面
に対し45度回転して設けられ、前記凸レンズと前記検
出素子とは所定の一定距離に保持されて入射光束の光軸
方向に移動可能である光学ヘッド。 - 【請求項3】 凸レンズと検出素子とが一体の光学素子
である請求項1もしくは請求項2記載の光学ヘッド。 - 【請求項4】 検出素子を構成するビームスプリッタで
分離されて2次曲面からなる略円柱状面を透過した出射
光が、多分割光検出器における受光領域の所定位置に入
射する位置に、前記出射光に垂直な平面内で前記多分割
光検出器を位置調整する調整手段を設けた請求項1、請
求項2もしくは請求項3記載の光学ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5582592A JPH05258380A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5582592A JPH05258380A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 光学ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05258380A true JPH05258380A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=13009742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5582592A Pending JPH05258380A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05258380A (ja) |
-
1992
- 1992-03-16 JP JP5582592A patent/JPH05258380A/ja active Pending
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