JPH0656673B2 - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
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- JPH0656673B2 JPH0656673B2 JP3905185A JP3905185A JPH0656673B2 JP H0656673 B2 JPH0656673 B2 JP H0656673B2 JP 3905185 A JP3905185 A JP 3905185A JP 3905185 A JP3905185 A JP 3905185A JP H0656673 B2 JPH0656673 B2 JP H0656673B2
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- JP
- Japan
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- light
- signal
- optical
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Description
【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、磁気的に情報が記録された記録媒体から、磁
気光学効果を利用して情報を読み出し光ピツクアツプに
関する。
気光学効果を利用して情報を読み出し光ピツクアツプに
関する。
〔従来技術〕 近年、光学的に情報が記録、再生され、しかも書き換え
が可能な所謂光磁気記録媒体や、このような媒体から情
報を再生する光ピツクアツプの研究、開発が盛んに行な
われている。上記光磁気記録媒体からの信号再生は、通
常カー効果やフアラデイー効果と呼ばれる磁気光学効果
を利用して行なわれる。即ち、媒体に照射された光は、
記録情報に従って偏光面が回転されて反射或いは透過さ
れるが、その回転成分を偏光板等の素子で強度変調に変
換して信号検出を行なうものである。また、この偏光面
の回転角は大略１゜前後で、その為、偏光素子を通して
得られる信号成分は微小であり、信号検出の為の光ピツ
クアツプには幾つかの工夫がなされている。
が可能な所謂光磁気記録媒体や、このような媒体から情
報を再生する光ピツクアツプの研究、開発が盛んに行な
われている。上記光磁気記録媒体からの信号再生は、通
常カー効果やフアラデイー効果と呼ばれる磁気光学効果
を利用して行なわれる。即ち、媒体に照射された光は、
記録情報に従って偏光面が回転されて反射或いは透過さ
れるが、その回転成分を偏光板等の素子で強度変調に変
換して信号検出を行なうものである。また、この偏光面
の回転角は大略１゜前後で、その為、偏光素子を通して
得られる信号成分は微小であり、信号検出の為の光ピツ
クアツプには幾つかの工夫がなされている。
第１０図は、従来の光ピツクアツプの構成例を示す概略
図である。図において、半導体レーザ（以下ＬＤと記
す）１から発せられた光束は、コリメータレンズ２で平
行光束に変換される。平行光束は、その後ビーム・スプ
リツター３を通過し対物レンズ４により、記録媒体５上
に大略φ１μｍの微小スポツトに集光される。記録媒体
５から反射された光束は、カー効果及びフアラデイー効
果により偏光面変調を受け、再び対物レンズ４を通過
し、ビームスプリツター３により入射光束と分離され
る。分離された光束は、第２のビーム・スプリツタ６に
より一部反射され、レンズ系７を通り光センサ８に入射
する。レンズ系７は周知の方式、例えば非点収差系、ナ
イフエツジ系、フーコープリズム系で構成されており、
記録媒体５と対物レンズ４との間隔の情報即ちオートフ
オーカス（以下ＡＦと記す）誤差信号が光センサーより
得られる。又、これも周知のプツシエ・プル法等で情報
トラツクとのズレ、即ち、オートトラツキング（以下Ａ
Ｔと記す）誤差信号が得られる。これらの誤差信号を図
示していない対物レンズの駆動系（アクチユエータ）に
フイード・バツクして、正確な焦点位置で正確なトラツ
クトレースを行ない信号の録再を行なう。
図である。図において、半導体レーザ（以下ＬＤと記
す）１から発せられた光束は、コリメータレンズ２で平
行光束に変換される。平行光束は、その後ビーム・スプ
リツター３を通過し対物レンズ４により、記録媒体５上
に大略φ１μｍの微小スポツトに集光される。記録媒体
５から反射された光束は、カー効果及びフアラデイー効
果により偏光面変調を受け、再び対物レンズ４を通過
し、ビームスプリツター３により入射光束と分離され
る。分離された光束は、第２のビーム・スプリツタ６に
より一部反射され、レンズ系７を通り光センサ８に入射
する。レンズ系７は周知の方式、例えば非点収差系、ナ
イフエツジ系、フーコープリズム系で構成されており、
記録媒体５と対物レンズ４との間隔の情報即ちオートフ
オーカス（以下ＡＦと記す）誤差信号が光センサーより
得られる。又、これも周知のプツシエ・プル法等で情報
トラツクとのズレ、即ち、オートトラツキング（以下Ａ
Ｔと記す）誤差信号が得られる。これらの誤差信号を図
示していない対物レンズの駆動系（アクチユエータ）に
フイード・バツクして、正確な焦点位置で正確なトラツ
クトレースを行ない信号の録再を行なう。
第２のビーム・スプリツター６を通過する残りの光束は
１／２波長板９を通り、偏光ビーム・スプリツター１０
にて２方向に分割される。１／２波長板の光学的結晶軸
を入射光束の偏光軸に対し22.5゜傾むけて配置すると、
偏光ビームスプリツター１０により２分割される光量は
等しく、且つ偏光板をそれぞれの光束に４５゜、−４５
゜の透過軸を持たせて配置したものと等価になる。２分
割された光束はそれぞれセンサー集光レンズ１１，１２
にて信号検出用センサー１３，１４に集光する。そし
て、信号検出用センサー１３，１４からの電気信号を差
分する（差動検出）事により、記録媒体上の情報の検出
が行なえる。
１／２波長板９を通り、偏光ビーム・スプリツター１０
にて２方向に分割される。１／２波長板の光学的結晶軸
を入射光束の偏光軸に対し22.5゜傾むけて配置すると、
偏光ビームスプリツター１０により２分割される光量は
等しく、且つ偏光板をそれぞれの光束に４５゜、−４５
゜の透過軸を持たせて配置したものと等価になる。２分
割された光束はそれぞれセンサー集光レンズ１１，１２
にて信号検出用センサー１３，１４に集光する。そし
て、信号検出用センサー１３，１４からの電気信号を差
分する（差動検出）事により、記録媒体上の情報の検出
が行なえる。
この差動検出法の利点を以下に説明する。第１１図
（Ａ），（Ｂ）は夫々１／２波長板９と偏光ビームスプ
リツター１０により分割され、センサー１４，１３に到
達する信号振幅成分を示す。縦軸を入射光束の偏光方向
とすると記録媒体５より反射された光束は、光磁気パタ
ーンの磁区の向き（上向き又は下向き）により、その偏
光面がθＫ又は−θＫ回転する。１／２波長板９と偏光
ビームスプリツター１０の組合せは、透過軸が４５゜傾
けて偏光板を配置した系と等価であるから、仮想の透過
軸（４５゜傾いた破線の軸）への投影成分の差Ｓ１と
Ｓ′１が信号振幅成分となる。θＫと−θＫは、光磁気
パターンによって時間的に変化する為、信号強度変化は
第１２図（Ａ），（Ｂ）に示すように分割された光束
で、それぞれ位相が１８０゜ずれる。これらの光信号を
センサー１３，１４で受光する。光磁気信号は、以上の
如く位相が反射するが、通常ノイズ成分（記録媒体から
のノイズ、ＬＤ光のゆらぎノイズ）がこれらの信号に乗
り、このノイズ成分は同相となる。
（Ａ），（Ｂ）は夫々１／２波長板９と偏光ビームスプ
リツター１０により分割され、センサー１４，１３に到
達する信号振幅成分を示す。縦軸を入射光束の偏光方向
とすると記録媒体５より反射された光束は、光磁気パタ
ーンの磁区の向き（上向き又は下向き）により、その偏
光面がθＫ又は−θＫ回転する。１／２波長板９と偏光
ビームスプリツター１０の組合せは、透過軸が４５゜傾
けて偏光板を配置した系と等価であるから、仮想の透過
軸（４５゜傾いた破線の軸）への投影成分の差Ｓ１と
Ｓ′１が信号振幅成分となる。θＫと−θＫは、光磁気
パターンによって時間的に変化する為、信号強度変化は
第１２図（Ａ），（Ｂ）に示すように分割された光束
で、それぞれ位相が１８０゜ずれる。これらの光信号を
センサー１３，１４で受光する。光磁気信号は、以上の
如く位相が反射するが、通常ノイズ成分（記録媒体から
のノイズ、ＬＤ光のゆらぎノイズ）がこれらの信号に乗
り、このノイズ成分は同相となる。
従って、センサー１３，１４から得られる信号の差動を
とると信号成分は強め合い、ノイズ成分は減少する。光
学系の配置が正確に行なわれていれば、それぞれのセン
サーから得られる信号成分Ｓ1 2とＳ′1 2は等しく、又ノ
イズ振幅も等しいので、信号は２倍となりノイズは零と
なる。このように、第１０図に示したような差動検出法
はＳ／Ｎの良い信号が検出出来る利点がある。
とると信号成分は強め合い、ノイズ成分は減少する。光
学系の配置が正確に行なわれていれば、それぞれのセン
サーから得られる信号成分Ｓ1 2とＳ′1 2は等しく、又ノ
イズ振幅も等しいので、信号は２倍となりノイズは零と
なる。このように、第１０図に示したような差動検出法
はＳ／Ｎの良い信号が検出出来る利点がある。
しかしながら、上述したような従来の光ピツクアツプは
部品が多く、小型化、低コスト化を図る上で不利であ
る。また、複数の光検出器等を正確に位置決めさせねば
ならず、調整も煩雑であった。
部品が多く、小型化、低コスト化を図る上で不利であ
る。また、複数の光検出器等を正確に位置決めさせねば
ならず、調整も煩雑であった。
本発明の目的は、上述の従来例の欠点を解消し、コンパ
クトに構成出来、また光学調整も簡単な光ピツクアツプ
を提供することにある。
クトに構成出来、また光学調整も簡単な光ピツクアツプ
を提供することにある。
本発明の上記目的は、受光面が複数の部分に分割された
単一の光検出器と、磁気的に情報が記録された記録媒体
からの光束を分割し、分割された光束を前記光検出器の
各々異なる部分に導く手段と、前記分割された一方の光
束の偏光方向９０゜回転する手段と、前記偏光方法の回
転された光束と他方の光束とを各々強度変調された光束
に変換する検光子と、前記光検出器の各部分の出力から
情報信号を差動検出する手段とから光ピツクアツプを構
成することによって達成される。
単一の光検出器と、磁気的に情報が記録された記録媒体
からの光束を分割し、分割された光束を前記光検出器の
各々異なる部分に導く手段と、前記分割された一方の光
束の偏光方向９０゜回転する手段と、前記偏光方法の回
転された光束と他方の光束とを各々強度変調された光束
に変換する検光子と、前記光検出器の各部分の出力から
情報信号を差動検出する手段とから光ピツクアツプを構
成することによって達成される。
第１図に本発明の光ピツクアツプの構成例を示す、ＬＤ
１５より発せられた光束は、コリメーターレンズ１６に
て平行光束となり、第１のビームスプリツター１７で反
射され、対物レンズ１８により記録媒体１９上に微小ス
ポツトに集光する。記録媒体１９からの反射光束は再び
対物レンズ１８を通り、第１のビームスプリツター１７
を通過し、第２ビーム・スプリツター２０に入射し、２
光束に分離される。第２のビーム・スプリツター２０に
て反射された第１の分割光２１は、偏光板の如き偏光素
子２２を通り、集束レンズ２５にて光センサー２４に向
って集光する。又、偏光素子２２は、集束レンズ２５と
光センサー２４の間に配置しても同じ効果が得られる。
他方、第２のビームスプリツター２０を通過した第２の
分割光２６は、ビームスプリツター２０の底面の反射部
２７で反射され１／２波長板２３、偏光素子２２を通過
し、集束レンズ２５で光センサー２４にむかい集光され
る。
１５より発せられた光束は、コリメーターレンズ１６に
て平行光束となり、第１のビームスプリツター１７で反
射され、対物レンズ１８により記録媒体１９上に微小ス
ポツトに集光する。記録媒体１９からの反射光束は再び
対物レンズ１８を通り、第１のビームスプリツター１７
を通過し、第２ビーム・スプリツター２０に入射し、２
光束に分離される。第２のビーム・スプリツター２０に
て反射された第１の分割光２１は、偏光板の如き偏光素
子２２を通り、集束レンズ２５にて光センサー２４に向
って集光する。又、偏光素子２２は、集束レンズ２５と
光センサー２４の間に配置しても同じ効果が得られる。
他方、第２のビームスプリツター２０を通過した第２の
分割光２６は、ビームスプリツター２０の底面の反射部
２７で反射され１／２波長板２３、偏光素子２２を通過
し、集束レンズ２５で光センサー２４にむかい集光され
る。
光センサー２４は分割光束２１，２６が集束レンズ２５
にて集光される焦点面より離れた位置に配置される。光
センサー２４は例えば第２図（Ａ）に示すように、その
受光面に１２分割の受光部を持っている。
にて集光される焦点面より離れた位置に配置される。光
センサー２４は例えば第２図（Ａ）に示すように、その
受光面に１２分割の受光部を持っている。
以下第１図の構成でＡＦ，ＡＴ誤差信号の検出と情報信
号の差動検出が行なえる原理を説明する。
号の差動検出が行なえる原理を説明する。
第３図は、ＡＦ信号の検出原理を示すものである。第１
図におけるＡＦ検出に必要な構成のみを第３図に示し
た。記録媒体１９が対物レンズ１８の焦点面に位置する
場合、光線は実線で示す如く進み、集束レンズ２５の焦
点Ｆに集束する。又、記録媒体１９が対物レンズ１８の
焦点面から遠ざかった場合、破線で示す如く光線は集束
レンズ２５の光軸の手前に集束する。図示していない
が、記録媒体が対物レンズ１８の焦点面より近づいた場
合、光束は集束レンズ２５の光軸を越えて集束する。従
って光センサー２４をＦ点からずらして配置した場合、
光センサー２４面上では分割されたそれぞれの光束の分
布が記録媒体の位置によりセンサー面上で小さくなった
り大きくなったりする。
図におけるＡＦ検出に必要な構成のみを第３図に示し
た。記録媒体１９が対物レンズ１８の焦点面に位置する
場合、光線は実線で示す如く進み、集束レンズ２５の焦
点Ｆに集束する。又、記録媒体１９が対物レンズ１８の
焦点面から遠ざかった場合、破線で示す如く光線は集束
レンズ２５の光軸の手前に集束する。図示していない
が、記録媒体が対物レンズ１８の焦点面より近づいた場
合、光束は集束レンズ２５の光軸を越えて集束する。従
って光センサー２４をＦ点からずらして配置した場合、
光センサー２４面上では分割されたそれぞれの光束の分
布が記録媒体の位置によりセンサー面上で小さくなった
り大きくなったりする。
光センサー２４の受光部が第２図（Ａ）の如き１２分割
に構成されている場合につき先ず説明する。対物レンズ
１８と記録媒体１９が合焦の関係にある時の光センサー
部の光束の部分を図中の斜線部で示す。今、各受光部か
らの出力をそれぞれIA,IB,IC,ID,IE,IF,IG,IH,II,IJ,
IK,ILとするＡＦ誤差信号IAFは IAF＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ＋ＩＧ＋ＩＨ＋ＩＫ＋ＩＬ）−（ＩＣ＋ＩＤ＋
ＩＩ＋ＩＪ） で得られる。
に構成されている場合につき先ず説明する。対物レンズ
１８と記録媒体１９が合焦の関係にある時の光センサー
部の光束の部分を図中の斜線部で示す。今、各受光部か
らの出力をそれぞれIA,IB,IC,ID,IE,IF,IG,IH,II,IJ,
IK,ILとするＡＦ誤差信号IAFは IAF＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ＋ＩＧ＋ＩＨ＋ＩＫ＋ＩＬ）−（ＩＣ＋ＩＤ＋
ＩＩ＋ＩＪ） で得られる。
又、第２図（Ｂ）に示す如く同心状の受光部に分割され
た光センサーの場合はそれぞぞれの出力をIA,IB,IC,ID,
IE,IF,IG,IHとする、ＡＦ誤差信号IAFは IAF＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ）−（ＩＣ＋ＩＤ＋ＩＧ＋ＩＨ） で得られる。
た光センサーの場合はそれぞぞれの出力をIA,IB,IC,ID,
IE,IF,IG,IHとする、ＡＦ誤差信号IAFは IAF＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ）−（ＩＣ＋ＩＤ＋ＩＧ＋ＩＨ） で得られる。
なお片側の光束に関してのみの演算によってもＡＦ誤差
信号は得られる。第２図（Ａ）の例で云えば、 IAF＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ）−（ＩＣ＋ＩＤ） でも得られる。
信号は得られる。第２図（Ａ）の例で云えば、 IAF＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＥ＋ＩＦ）−（ＩＣ＋ＩＤ） でも得られる。
次にＡＴ信号の検出原理を説明する。
記録媒体１９の記録媒体面近傍は、通常大略１／８波長
の深さの溝が設けられており、この溝をガイドとして信
号の録再を行なう。この溝から反射される光束が再び対
物レンズ１８を通って形成するフアーフイールドパター
ンは衆知の如く、光スポツトと溝との位置関係で変る。
第４図にその様子を示す。第４図上部の図は溝と光スポ
ツトとの位置関係、下部の図はフアーフイールドパター
ンの強度分布を示す。
の深さの溝が設けられており、この溝をガイドとして信
号の録再を行なう。この溝から反射される光束が再び対
物レンズ１８を通って形成するフアーフイールドパター
ンは衆知の如く、光スポツトと溝との位置関係で変る。
第４図にその様子を示す。第４図上部の図は溝と光スポ
ツトとの位置関係、下部の図はフアーフイールドパター
ンの強度分布を示す。
従って、第２図（Ａ）の分割センサーの場合Ｔ−Ｔ′の
方向を溝の走る方向（信号トラツク方向）に合わせると
ＡＴ誤差信号IATは、 IAT＝（ＩＡ＋ＩＣ＋ＩＥ＋ＩＧ＋ＩＩ＋ＩＫ）− （ＩＢ＋ＩＤ＋ＩＦ＋ＩＨ＋ＩＪ＋ＩＬ） で得られる。
方向を溝の走る方向（信号トラツク方向）に合わせると
ＡＴ誤差信号IATは、 IAT＝（ＩＡ＋ＩＣ＋ＩＥ＋ＩＧ＋ＩＩ＋ＩＫ）− （ＩＢ＋ＩＤ＋ＩＦ＋ＩＨ＋ＩＪ＋ＩＬ） で得られる。
又、第２図（Ｂ）の分割センサーの場合、 IAT＝（ＩＡ＋ＩＣ＋ＩＥ＋ＩＧ）−（ＩＢ＋ＩＤ＋ＩＦ＋ＩＨ） で得られる。
ＡＴ信号においても１方のビームのみ受光する受光部の
出力の演算でも誤差信号を得ることが出来る。
出力の演算でも誤差信号を得ることが出来る。
次に光磁気により情報信号が差動で得られる理由を示
す。
す。
第５図において、記録媒体１９へ入射する 光束の偏光面の方向をＸとし、それと垂直方向をＹとす
る。
る。
記録媒体１９からの反射光は、第５図（Ａ）の如く磁気
−光学効果によりその偏光面が僅な角度θＫだけ傾いて
いる。この傾きは、磁区の上，下向きで時計方向あるい
は反時計方向（θＫ又は−θＫ）であり、その量は大略
１゜程度である。第１図におけるビームスプリツター２
０により反射された光束２１は、偏光素子を通過する。
偏光素子２２の透過軸を、Ｘ方向から大略４５゜傾けて
おくと、偏光面の傾き方向により第５図において、 Ｓ1 2＝｛cos(45゜-θK)｝２ −｛cos(45゜+θK｝２ の信号強度成分が得られる。
−光学効果によりその偏光面が僅な角度θＫだけ傾いて
いる。この傾きは、磁区の上，下向きで時計方向あるい
は反時計方向（θＫ又は−θＫ）であり、その量は大略
１゜程度である。第１図におけるビームスプリツター２
０により反射された光束２１は、偏光素子を通過する。
偏光素子２２の透過軸を、Ｘ方向から大略４５゜傾けて
おくと、偏光面の傾き方向により第５図において、 Ｓ1 2＝｛cos(45゜-θK)｝２ −｛cos(45゜+θK｝２ の信号強度成分が得られる。
又、第２の分割光２６は偏光素子２２を通過する前に、
１／２波長板２３を通過するので、光束２６の偏光方向
の状態は第５図（Ｂ）の如く、光束２１と比べ９０゜回
転している。
１／２波長板２３を通過するので、光束２６の偏光方向
の状態は第５図（Ｂ）の如く、光束２１と比べ９０゜回
転している。
従って、偏光素子２２を通過すると、 Ｓ′1 2＝｛cos(45゜-θK)｝２−｛cos(45゜+θK)｝２ の強度信号成分が生じる。
Ｓ1 2とＳ′1 2は便宜上、信号Ｐ−Ｐ成分のみを示したも
のであるが、第５図（Ａ），（Ｂ）からも理解出来るよ
うにθＫの回転の場合、光束２１は最大、光束２６は最
小の信号振巾となる。
のであるが、第５図（Ａ），（Ｂ）からも理解出来るよ
うにθＫの回転の場合、光束２１は最大、光束２６は最
小の信号振巾となる。
即ち、光磁気信号により偏光面の回転を第１図の様な構
成で検出すると、光束２１と光束２６から得られる強度
変調は位相反転している事になる。従って、情報信号Ｉ
Ｓは 第２図（Ａ）の場合、 ＩＳ＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＣ＋ＩＤ＋ＩＥ＋ＩＦ）− （ＩＧ＋ＩＨ＋ＩＩ＋ＩＪ＋ＩＫ＋ＩＬ） 又、第２図（Ｂ）の場合、 ＩＳ＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＣ＋ＩＤ）−（ＩＥ＋ＩＦ＋ＩＧ＋ＩＨ） で得られ、情報信号が差動検出される。
成で検出すると、光束２１と光束２６から得られる強度
変調は位相反転している事になる。従って、情報信号Ｉ
Ｓは 第２図（Ａ）の場合、 ＩＳ＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＣ＋ＩＤ＋ＩＥ＋ＩＦ）− （ＩＧ＋ＩＨ＋ＩＩ＋ＩＪ＋ＩＫ＋ＩＬ） 又、第２図（Ｂ）の場合、 ＩＳ＝（ＩＡ＋ＩＢ＋ＩＣ＋ＩＤ）−（ＩＥ＋ＩＦ＋ＩＧ＋ＩＨ） で得られ、情報信号が差動検出される。
第１０図に示す従来構成と第１図に示す本発明の構成か
ら明らかな様に本発明においては、光センサーが３個か
ら１個、集束レンズ３個から１個、ビームスプリツター
が３個から２個と大幅な部品減少が図られており、小型
化、低コスト化に有利な構成である。
ら明らかな様に本発明においては、光センサーが３個か
ら１個、集束レンズ３個から１個、ビームスプリツター
が３個から２個と大幅な部品減少が図られており、小型
化、低コスト化に有利な構成である。
更に、第１図における各光学素子を１体化する事によ
り、組立て時の光学調整が容易となり、且つ使用時の軸
ズレも防げ信頼性の高い光ピツクアツプを実現出来る。
例えば、第６図はビームスプリツター１７，２０、１／
２波長板２３、偏光素子２２を接着等で１体化した例を
示したものである。又、第７図は１／２波長板をビーム
スプリツター２０の反射面の直後に配置した例で、第６
図と異なり、同一サイズの平行四辺形ブロツク３１，３
２を使用出来素子加工が簡略化される。
り、組立て時の光学調整が容易となり、且つ使用時の軸
ズレも防げ信頼性の高い光ピツクアツプを実現出来る。
例えば、第６図はビームスプリツター１７，２０、１／
２波長板２３、偏光素子２２を接着等で１体化した例を
示したものである。又、第７図は１／２波長板をビーム
スプリツター２０の反射面の直後に配置した例で、第６
図と異なり、同一サイズの平行四辺形ブロツク３１，３
２を使用出来素子加工が簡略化される。
又、第８図に示す如く、１／２波長板２３の代りに第２
の光束２６の反射面２３′に誘電膜、金属膜等をい設け
る事により偏光面を回転させる事も可能である。第９図
は１回の反射で偏光面を９０゜回転させる事が困難な場
合、多数回の反射で所望の回転角を得る例を示したもの
である。
の光束２６の反射面２３′に誘電膜、金属膜等をい設け
る事により偏光面を回転させる事も可能である。第９図
は１回の反射で偏光面を９０゜回転させる事が困難な場
合、多数回の反射で所望の回転角を得る例を示したもの
である。
又、ＡＦ，ＡＴ誤差信号、情報信号を検出する為、それ
ぞれの受光部から得られる信号を演算する必要がある
が、光センサー内に受光部の他、演算用の差動ＡＭＰを
内蔵すると外乱ノイズの飛び込みに強い信号検出が可能
である。
ぞれの受光部から得られる信号を演算する必要がある
が、光センサー内に受光部の他、演算用の差動ＡＭＰを
内蔵すると外乱ノイズの飛び込みに強い信号検出が可能
である。
以上説明したように、本発明は記録媒体からの光束を分
割し、受光面が分割された単一の光検出器で差動検出す
るようにしたので、 １． 光ピックアップがコンパクトに構成できる。
割し、受光面が分割された単一の光検出器で差動検出す
るようにしたので、 １． 光ピックアップがコンパクトに構成できる。
２． 差動検出により信号検出のＳ／Ｎ比を向上させ
る。
る。
３． 部品数を減らし、低コスト化できる。
４． 部品の一体化により、更に高信頼性のピツクアツ
プが実現出来る。
プが実現出来る。
５． 光検出器が一つなので、検出器間の特性のバラツ
キに対する配慮か少なくてすみ、位置調整などの簡単で
ある。
キに対する配慮か少なくてすみ、位置調整などの簡単で
ある。
６． 光検出器と同一チツプ上に各信号の演算回路を作
成することによって外乱ノイズに強い信号検出が可能で
ある。
成することによって外乱ノイズに強い信号検出が可能で
ある。
等の効果が得られる。
第１図は本発明の光ピツクアツプの構成例を示す概略
図、第２図は本発明に用いる光検出器の受光面を示す
図、第３図は本発明におけるＡＦ信号の検出原理を説明
する図、第４図は本発明におけるＡＴ信号の検出原理を
説明する図、第５図は本発明における情報信号の検出原
理を説明する図、第６図、第７図、第８図及び第９図は
夫々第１図の光ピツクアツプの変形例を示す概略図、第
１０図は従来の光ピツクアツプの構成例を示す概略図、
第１１図及び第１２図は夫々差動検出の原理を説明する
図である。 １５……半導体レーザー １６……コリメーターレンズ １７，２０……ビームスプリツター １８……対物レンズ １９……記録媒体 ２２，２２′……偏光素子 ２３……１／２波長板 ２４……光センサー ２５……集束レンズ ２７……反射部。
図、第２図は本発明に用いる光検出器の受光面を示す
図、第３図は本発明におけるＡＦ信号の検出原理を説明
する図、第４図は本発明におけるＡＴ信号の検出原理を
説明する図、第５図は本発明における情報信号の検出原
理を説明する図、第６図、第７図、第８図及び第９図は
夫々第１図の光ピツクアツプの変形例を示す概略図、第
１０図は従来の光ピツクアツプの構成例を示す概略図、
第１１図及び第１２図は夫々差動検出の原理を説明する
図である。 １５……半導体レーザー １６……コリメーターレンズ １７，２０……ビームスプリツター １８……対物レンズ １９……記録媒体 ２２，２２′……偏光素子 ２３……１／２波長板 ２４……光センサー ２５……集束レンズ ２７……反射部。
Claims (1)
- 【請求項１】受光面が複数の部分に分割された単一の光
検出器と、磁気的に情報が記録された記録媒体からの光
束を分割し、分割された光束を前記光検出器の各々異な
る部分に導く手段と、前記分割された一方の光束の偏光
方向９０゜回転する手段と、前記偏光方向の回転された
光束と他方の光束とを各々強度変調された光束に変換す
る検光子と前記光検出器の各部分の出力から情報信号を
差動検出する手段とから成る光ピツクアツプ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3905185A JPH0656673B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光ピツクアツプ |
| US08/195,882 US5416755A (en) | 1985-02-28 | 1994-02-04 | Optical pickup using split beams impinging on different photo-detector areas |
| US08/195,881 US5661701A (en) | 1985-02-28 | 1994-02-04 | Optical pickup using split beams impinging on different photodetector areas |
| US08/275,328 US5488598A (en) | 1985-02-28 | 1994-07-14 | Optical pickup using split beams impinging on different photodetector areas |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3905185A JPH0656673B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光ピツクアツプ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61198457A JPS61198457A (ja) | 1986-09-02 |
| JPH0656673B2 true JPH0656673B2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=12542326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3905185A Expired - Fee Related JPH0656673B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-02-28 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0656673B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61258339A (ja) * | 1985-05-13 | 1986-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| JP2674745B2 (ja) * | 1987-02-06 | 1997-11-12 | 日本電気株式会社 | 光磁気再生方法 |
| JP3618769B2 (ja) * | 1992-12-01 | 2005-02-09 | キヤノン株式会社 | 光学式情報記録再生装置 |
| JP2751899B2 (ja) * | 1995-12-15 | 1998-05-18 | ソニー株式会社 | 光学ピックアップ装置 |
-
1985
- 1985-02-28 JP JP3905185A patent/JPH0656673B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61198457A (ja) | 1986-09-02 |
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| JPH0227736B2 (ja) |
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