JPH0526234B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0526234B2 JPH0526234B2 JP57133115A JP13311582A JPH0526234B2 JP H0526234 B2 JPH0526234 B2 JP H0526234B2 JP 57133115 A JP57133115 A JP 57133115A JP 13311582 A JP13311582 A JP 13311582A JP H0526234 B2 JPH0526234 B2 JP H0526234B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- pixels
- slice level
- small area
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W46/00—Marks applied to devices, e.g. for alignment or identification
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は、まるめ前処理を必要とするパターン
認識において、そのまるめスライスレベルの設定
の仕方を改良したパターン認識装置に関する。
認識において、そのまるめスライスレベルの設定
の仕方を改良したパターン認識装置に関する。
(2) 技術の背景
自動ワイヤボンダにおいて、リード側パターン
認識を行うのに先立つて、試料から得られたパタ
ーンに対するまるめ前処理が不可欠な処理であ
る。このまるめ前処理では、試料パターンの白黒
判定のため、判定スライスレベルを設定する必要
性があるが、その従来の手法に問題があつて、こ
れを解決しうる技術的手段の開発が要望されてい
る。
認識を行うのに先立つて、試料から得られたパタ
ーンに対するまるめ前処理が不可欠な処理であ
る。このまるめ前処理では、試料パターンの白黒
判定のため、判定スライスレベルを設定する必要
性があるが、その従来の手法に問題があつて、こ
れを解決しうる技術的手段の開発が要望されてい
る。
(3) 従来技術と問題点
上述のようなまるめ前処理は、自動ワイヤボン
ダで得られるリードの２値化像が第１図の１−１
に示すように離散的な点の集合体となつているこ
とから必要となる。そのまるめ前処理における白
黒の判定レベルは固定であつた。この処理法で
は、第１図の１−１の如き２値化像に対しては第
１図の１−２に示す如きまるめ処理後の２値化像
が得られるのに対して、第１図の１−３のような
密度の濃い２値化像に対しまるめ処理を行うと、
第１図の１−４に示す如き周囲にノイズを含む２
値化像が得られるという不具合がある。又、第１
図の１−５に示す如き密度の低い２値化像に対し
てまるめ処理を行うと、第１図の１−６に示す如
くその２値化像に目的とするリード情報が欠けて
しまうという欠点を有する。
ダで得られるリードの２値化像が第１図の１−１
に示すように離散的な点の集合体となつているこ
とから必要となる。そのまるめ前処理における白
黒の判定レベルは固定であつた。この処理法で
は、第１図の１−１の如き２値化像に対しては第
１図の１−２に示す如きまるめ処理後の２値化像
が得られるのに対して、第１図の１−３のような
密度の濃い２値化像に対しまるめ処理を行うと、
第１図の１−４に示す如き周囲にノイズを含む２
値化像が得られるという不具合がある。又、第１
図の１−５に示す如き密度の低い２値化像に対し
てまるめ処理を行うと、第１図の１−６に示す如
くその２値化像に目的とするリード情報が欠けて
しまうという欠点を有する。
そこで、その認識が開始される際に、オペレー
タがその２値欠像に適切に思われるスライスレベ
ルを、その必要性が生ずる都度、変更する如き手
段が採られていた。
タがその２値欠像に適切に思われるスライスレベ
ルを、その必要性が生ずる都度、変更する如き手
段が採られていた。
(4) 発明の目的
本発明は上述したような従来技法の有する欠点
に鑑みて創案されたもので、その目的はパターン
認識に先立つて必要となるまるめ前処理のための
適正なスライスレベルを短時間で決定し得るパタ
ーン認識装置を提供することにある。
に鑑みて創案されたもので、その目的はパターン
認識に先立つて必要となるまるめ前処理のための
適正なスライスレベルを短時間で決定し得るパタ
ーン認識装置を提供することにある。
(5) 発明の構成
そして、この目的は、２進化された被認識パタ
ーンを記憶するメモリを有するパターン認識装置
において、 上記メモリに記憶されている上記被認識パター
ンの一部からパターン画素についての仮のスライ
スレベルを出力する第１の算定装置と、 上記仮のスライスレベルより上記被認識パター
ン内の各小領域のパターン画素数が小さいとき当
該小領域の各画素を非パターン画素でぬりつぶ
し、大きいとき当該小領域の各画素をパターン画
素でぬりつぶすぬりつぶし装置と、 ぬりつぶされた各小領域内のパターン画素数の
平均値を算定する平均値算定装置と、 非パターン画素でぬりつぶした小領域のパター
ン画素数の平均値と、パターン画素でぬりつぶし
た小領域のパターン画素数の平均値とからスライ
スレベルを算定する第２の算定装置とを設け、 該第２の算定装置から出力されるスライスレベ
ルを上記被認識パターンの認識に用いるようにし
て構成される。
ーンを記憶するメモリを有するパターン認識装置
において、 上記メモリに記憶されている上記被認識パター
ンの一部からパターン画素についての仮のスライ
スレベルを出力する第１の算定装置と、 上記仮のスライスレベルより上記被認識パター
ン内の各小領域のパターン画素数が小さいとき当
該小領域の各画素を非パターン画素でぬりつぶ
し、大きいとき当該小領域の各画素をパターン画
素でぬりつぶすぬりつぶし装置と、 ぬりつぶされた各小領域内のパターン画素数の
平均値を算定する平均値算定装置と、 非パターン画素でぬりつぶした小領域のパター
ン画素数の平均値と、パターン画素でぬりつぶし
た小領域のパターン画素数の平均値とからスライ
スレベルを算定する第２の算定装置とを設け、 該第２の算定装置から出力されるスライスレベ
ルを上記被認識パターンの認識に用いるようにし
て構成される。
(6) 発明の実施例
以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施
例を説明する。
例を説明する。
第２図は本発明を実施する概略構成を示し、第
３図はその要部構成の詳細図である。第２図にお
いて、１は試料であり、２は撮像系、例えば産業
用TVカメラである。TVカメラ２は２値化回路
３を介してフレームメモリ４へ接続され、フレー
ムメモリ４はカメラ２からのカメラ視野像をカメ
ラ２と同期して取り込みうるように構成されてい
る。
３図はその要部構成の詳細図である。第２図にお
いて、１は試料であり、２は撮像系、例えば産業
用TVカメラである。TVカメラ２は２値化回路
３を介してフレームメモリ４へ接続され、フレー
ムメモリ４はカメラ２からのカメラ視野像をカメ
ラ２と同期して取り込みうるように構成されてい
る。
フレームメモリ４には、まるめ前処理回路５が
接続されており、その詳細は第３図を用いて後述
する。
接続されており、その詳細は第３図を用いて後述
する。
フレームメモリ４は又、認識論理回路６を経て
ワイヤボンダ７へ接続されている。
ワイヤボンダ７へ接続されている。
第３図において、８は小領域計数回路で、これ
はフレームメモリ４から指定された、又は自動的
に順次の小領域を切り出し、その小領域内の予め
決められた画素、例えば黒画素数をカウントしう
るように構成されたものである。回路８は判定回
路９及び自動スライスレベル作成回路１０へ接続
されている。回路１０はスライスレベル設定回路
１１を経て判定回路９へ接続されている。この判
定回路９の出力はぬりつぶし回路１２へ接続さ
れ、回路１２によつてメモリ４の小領域が判定回
路９の指定する画素にぬりつぶされるように構成
されている。
はフレームメモリ４から指定された、又は自動的
に順次の小領域を切り出し、その小領域内の予め
決められた画素、例えば黒画素数をカウントしう
るように構成されたものである。回路８は判定回
路９及び自動スライスレベル作成回路１０へ接続
されている。回路１０はスライスレベル設定回路
１１を経て判定回路９へ接続されている。この判
定回路９の出力はぬりつぶし回路１２へ接続さ
れ、回路１２によつてメモリ４の小領域が判定回
路９の指定する画素にぬりつぶされるように構成
されている。
次に、上記構成の本発明装置の動作を説明す
る。
る。
マスタサンプルである試料１がTVカメラ２で
読取られ、その映像信号が２値化回路３で２値化
されてその２次元的なパターン形状を保つてフレ
ームメモリ４に記憶される。その記憶パターンを
図解したのが第４図の４−１である。
読取られ、その映像信号が２値化回路３で２値化
されてその２次元的なパターン形状を保つてフレ
ームメモリ４に記憶される。その記憶パターンを
図解したのが第４図の４−１である。
そのフレームメモリ４のパターン領域（被認識
パターンの領域）ａ内の適所に対して基準小領域
Stを設定し、この小領域Stから読出される２値デ
ータの内のパターン画素情報数NSを小領域計数
回路８でカウントする。このNsを自動スライス
レベル作成回路１０でNS／２の値とし、この値
をスライスレベル設定回路１１へ供給し該回路１
１から仮のスライスレベルとして判定回路９へ供
給する。
パターンの領域）ａ内の適所に対して基準小領域
Stを設定し、この小領域Stから読出される２値デ
ータの内のパターン画素情報数NSを小領域計数
回路８でカウントする。このNsを自動スライス
レベル作成回路１０でNS／２の値とし、この値
をスライスレベル設定回路１１へ供給し該回路１
１から仮のスライスレベルとして判定回路９へ供
給する。
次に、フレームメモリの予め決められた位置、
例えば第４図の４−２の左上から基準小領域と同
じサイズの小領域を順次に切り出し、その小領域
内のパターン画素数を小領域計数回路８でカウン
トしてこれを判定回路９へ供給すると共に、自動
スライスレベル作成回路１０へ供給する。
例えば第４図の４−２の左上から基準小領域と同
じサイズの小領域を順次に切り出し、その小領域
内のパターン画素数を小領域計数回路８でカウン
トしてこれを判定回路９へ供給すると共に、自動
スライスレベル作成回路１０へ供給する。
判定回路９での判定が否定である、即ちカウン
ト値がNS／２より小さいことを示すならば、ぬ
りつぶし回路１２をして今切り出したフレームメ
モリ４内の小領域を非パターン画素、例えば白画
素でぬりつぶす。これに加えて、自動スライスレ
ベル作成回路１０では、今非パターン画素でぬり
つぶした小領域内のぬりつぶす前にあつた非パタ
ーン画素数と前回までの同種の画素数（その初回
においては零にリセツトされている）との和と、
上述の非パターン画素でぬりつぶした小領域の累
計を求める。
ト値がNS／２より小さいことを示すならば、ぬ
りつぶし回路１２をして今切り出したフレームメ
モリ４内の小領域を非パターン画素、例えば白画
素でぬりつぶす。これに加えて、自動スライスレ
ベル作成回路１０では、今非パターン画素でぬり
つぶした小領域内のぬりつぶす前にあつた非パタ
ーン画素数と前回までの同種の画素数（その初回
においては零にリセツトされている）との和と、
上述の非パターン画素でぬりつぶした小領域の累
計を求める。
又、判定回路９での判定が肯定である、即ちカ
ウント値がNS／２以上であるならば、ぬりつぶ
し回路１２をして今切り出したフレームメモリ４
内の小領域をパターン画素、例えば黒画素でぬり
つぶす。
ウント値がNS／２以上であるならば、ぬりつぶ
し回路１２をして今切り出したフレームメモリ４
内の小領域をパターン画素、例えば黒画素でぬり
つぶす。
これに加えて、自動スライスレベル作成回路１
０では、今パターン画素でぬりつぶした小領域内
のぬりつぶす前にあつたパターン画素数と前回ま
での同種の画素数（その初回において零にリセツ
トされている。）との和と、上述のパターン画素
でぬりつぶした小領域の累計を求める。
０では、今パターン画素でぬりつぶした小領域内
のぬりつぶす前にあつたパターン画素数と前回ま
での同種の画素数（その初回において零にリセツ
トされている。）との和と、上述のパターン画素
でぬりつぶした小領域の累計を求める。
上述のようなぬりつぶし処理並びに和及び累計
を求める処理をフレームメモリ４内に存在するす
べての小領域について行う。
を求める処理をフレームメモリ４内に存在するす
べての小領域について行う。
その終了後、自動スライスレベル作成回路１０
において次のような処理を行う。
において次のような処理を行う。
非パターン画素でぬりつぶした小領域について
の非パターン画素数の平均値pffを pff＝パターン画素数の和／非
パターン画素でぬりつぶした小領域の累計……(1) として求めると共に、パターン画素でぬりつぶし
た小領域についてのパターン画素数の平均値ON
を ON＝パターン画素数の和／パタ
ーン画素でぬりつぶした小領域の累計……(2) として求める。そして、これらの値を用いて SL＝NON＋Npff／２ ……(3) を求め、このSLを被認識サンプルに対して用いる
まるめスライスレベルとする。
の非パターン画素数の平均値pffを pff＝パターン画素数の和／非
パターン画素でぬりつぶした小領域の累計……(1) として求めると共に、パターン画素でぬりつぶし
た小領域についてのパターン画素数の平均値ON
を ON＝パターン画素数の和／パタ
ーン画素でぬりつぶした小領域の累計……(2) として求める。そして、これらの値を用いて SL＝NON＋Npff／２ ……(3) を求め、このSLを被認識サンプルに対して用いる
まるめスライスレベルとする。
このようにして求められるスライスレベルSLは
被認識パターンを囲む視野内の２値化信号の分布
を考慮に入れているので、まるめスライスレベル
としてより適正なレベルとなりうるばかりでな
く、その設定を自動的に短時間でなしうる。従つ
て、従来のようなスライスレベルの変更に付きま
とう煩わしさからオペレータを開放しうる。
被認識パターンを囲む視野内の２値化信号の分布
を考慮に入れているので、まるめスライスレベル
としてより適正なレベルとなりうるばかりでな
く、その設定を自動的に短時間でなしうる。従つ
て、従来のようなスライスレベルの変更に付きま
とう煩わしさからオペレータを開放しうる。
(7) 発明の効果
以上述べたように、本発明によれば、まるめス
ライスレベルの決定に当たつて、仮りのスライス
レベルに対しパターン画素数が大きいときパター
ン画素でぬりつぶされた小領域のパターン画素数
の平均値と、仮りのスライスレベルに対しパター
ン画素数が小さいとき非パターン画素でぬりつぶ
された小領域のパターン画素数の平均値とを用い
ているから、まるめスライスレベルとして適正な
レベルを短時間で決定し得る。
ライスレベルの決定に当たつて、仮りのスライス
レベルに対しパターン画素数が大きいときパター
ン画素でぬりつぶされた小領域のパターン画素数
の平均値と、仮りのスライスレベルに対しパター
ン画素数が小さいとき非パターン画素でぬりつぶ
された小領域のパターン画素数の平均値とを用い
ているから、まるめスライスレベルとして適正な
レベルを短時間で決定し得る。
第１図は従来技法を説明するための図、第２図
は本発明の概略構成を示す図、第３図は第２図の
本発明の要部を示す図、第４図は本発明装置動作
を説明するのに用いる図である。 図中、４はフレームメモリ、５はまるめ前処理
回路、８は小領域計数回路、９は判定回路、１０
は自動スライスレベル作成回路、１１はスライス
レベル設定回路、１２はぬりつぶし回路である。
は本発明の概略構成を示す図、第３図は第２図の
本発明の要部を示す図、第４図は本発明装置動作
を説明するのに用いる図である。 図中、４はフレームメモリ、５はまるめ前処理
回路、８は小領域計数回路、９は判定回路、１０
は自動スライスレベル作成回路、１１はスライス
レベル設定回路、１２はぬりつぶし回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ２進化された被認識パターンを記憶するメモ
リを有するパターン認識装置において、 上記メモリに記憶されている上記被認識パター
ンの一部からパターン画素についての仮のスライ
スレベルを出力する第１の算定装置と、 上記仮のスライスレベルより上記被認識パター
ン内の各小領域のパターン画素数が小さいとき当
該小領域の各画素を非パターン画素でぬりつぶ
し、大きいとき当該小領域の各画素をパターン画
素でぬりつぶすぬりつぶし装置と、 ぬりつぶされた各小領域内のパターン画素数の
平均値を算定する平均値算定装置と、 非パターン画素でぬりつぶした小領域のパター
ン画素数の平均値と、パターン画素でぬりつぶし
た小領域のパターン画素数の平均値とからスライ
スレベルを算定する第２の算定装置とを設け、 該第２の算定装置から出力されるスライスレベ
ルを上記被認識パターンの認識に用いることを特
徴とするパターン認識装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57133115A JPS5923537A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | パタ−ン認識装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57133115A JPS5923537A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | パタ−ン認識装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923537A JPS5923537A (ja) | 1984-02-07 |
| JPH0526234B2 true JPH0526234B2 (ja) | 1993-04-15 |
Family
ID=15097144
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57133115A Granted JPS5923537A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | パタ−ン認識装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923537A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60166747A (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-30 | Masayuki Yamamoto | 燃焼システム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51128230A (en) * | 1975-04-30 | 1976-11-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Picture element pattern conversion system |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP57133115A patent/JPS5923537A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5923537A (ja) | 1984-02-07 |
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