JPS5923537A - パタ−ン認識装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （１）１発明の技術分野 本発明は、まるめ前処理を必要とするノシクーン認識に
おいて、そのまるめスライスレベルの設定の仕方を改良
したパターン認識装置〃に関する。

（２）、技術の背景 自動ワイヤボンダにおいて、リード佃しくターン認識を
行うのに先立って、試料からイ（すられたパターンに対
する筐るめ前処理が不可欠な処理である。このまるめ前
処理では、試料パターンの白黒判定のため、判定スライ
スレベルを設定する必要性があるが、その従来の手法に
問題があって、これを解決しつる技術的手段の開発が要
望されている。

（３）、従来技術と問題点 」二連のようなまるめ前処理は、自動ワイヤボンダで得
られるリードの２値化像が第１図の（１−１）に示すよ
うに離散的な点の集合体となっていることから必要とな
る。そのするめ前処理における白黒の判定レベルは固定
であった。

この処理法では、第１図の（ｉ−ｉ）の如き２値化像に
対しては第１図の（１−２）に示す如き“まるめ処ｌｌ
後の２値化像がイ０られるのに対しで、第１図の（１−
３）のような密度の濃い２値化像に対しまるめ処理を行
うと、第１図の（１−４）に示す如き周囲にノイズを含
む２値化像が得られるという不具合がある。又、第１図
の（１，−５７に示す如き密度の低い２値化像に対して
するめ処理をイｊうと、第１図の（１−６）に示す如く
ぞの２値化（ｍに目的とするリード情報が欠けてし址う
という欠点を有する。

そこで、その認識が開始される際に、オペレータがその
２値化像に適切と思われるスライスレベルを、その必要
性が生ずる都度、変更する如き手段が採られていた。

（４）０発明の目的 本発明は上述したような従来技法の有する欠点に鑑みて
創案されたもので、その目的はパターン認識に先立って
必要となるまるめ前処理のスライスレベルを自動的に決
定しうるパターン認識装置を提供することにある。

（５）０発明の４１１ヴ成 そして、この目的は２値化された被認識パターンを記１
．ハするフレームメモリと、該フレームメモリに接続さ
れたまるめ前処理回路とを有するパターン認識装置にお
いて、上記被認識パターンを含む予め決められた領域に
相嶺するマスクサンプルの領域内の２値化信号に応じて
、」１記まるめ前処理回路のまるめスライスレベルを決
めるよつに構成するこ吉によって達成される。

（６）９発明の実施例 以下、添イ；］図面を参照しながら、本発明の詳細な説
明する。

第２図は本発明を実施する概略構成を示し、第３図ｔ」
その要部構成の詳細図である。第２区１におい又、１は
試料であり、２は撮像系、例えば産業用ＴＶカメラであ
る。ＴＶ右カメラ　ｆＪ：　２値化回路３を介してフレ
ームメモリ４へ接続され、フレームメモリ４はカメラ２
からのカメラ視野像をカメラ２と同期して取り込みうる
ように構成されている。

フレームメモリ４には、オるめ前処理回路５が接続され
ており、その詳細１−１第３図を用いて後述する。

フレームメモリ４は又、認識論理回路６を経てワイヤボ
ンダ７へ接続されている。

第３図において、８は小領域計数回路で、これはフレー
ムメモリ４から指定された、又は自動的に順次の小領域
を切り出し、その小領域内の予め決められた画素、例え
ば黒画素数をカウントしうるように構成されたものであ
る。回路８は判定回路９及び自動スライスレベル作成回
路１０へ接続されている。回路１０ケま＾ライスレベル
設定回路工１を紅て判定回路９へ接続されている。この
判定回路９の出力はめシつぶし回路１２へ接続され、回
路１２によ、ってメモリ４の小領域が判定回路９の指定
する画素にぬりつぶされるように構成されている。

次に、上記構成の本発明装置の動作を説明するＯ マスクサンプルである試料１がＴＶ右カメラで読取られ
、その映像信号が２値化回路３で２値化されてその２次
元的なパターン形状を保って７レーＪ・メモリー４に■
己憶される。ぞのＭＱ　（、音パターンを図解したのが
第４図の（４−１）である０ そのフレームメモリ４のパターン領域（被認識パターン
の領域）ａ内の適所に対して基準小領域Ｓｊを設定し、
この小領域Ｓｊから読出される２値データの内のパター
ン画素情報数Ｎ８を小領域ｔｔｔ　ｉ回路８でカウント
する。このＮ８を自動スライスレベル作成回路１０でＮ
８／２の値とし、この値をスライスレベル設定回路１１
へ供給して該回路１１から仮のスライスレベルとしてｆ
４ｊ定回路９へ供給する。

次に、フレームメモリの予め決められた位置、例えば第
４図の（４−２）の左上から基準小領域と同じサイズの
小領域を順次に切シ出し、その小領域内のパターン画素
数を小領域計数回路８でカウントしてこれを判定回路９
へ供給すると共に、自動スライスレベル作成回路１ｏへ
供給する。

判定回路９での判定が否定である、即ちカウント値がＮ
ＦＩ／２より小さいことを示すならば、ぬりつぶし回路
１２をして今切υ出したフレーノ・メモリ４内の小領域
を非パターン画素、例えば白画素でぬりつぶす。これに
加えて、自動スライスレベル作成回路１０では、合弁パ
ターン画素でぬりつぶした小領域内のぬりつぶす前にあ
った非パターン１ｉＩＪｉ素数と前回までの同種の画素
数（その初回においては零にリセットされている）との
和と、上述の非パターン画素でぬりつぶした小領域の県
側を求める。

又、判定回路９での判定が肯定である、即ちカウント値
がＮ８７２以上であるならば、ぬりつぶし回路１２をし
て今！ｌ出したフレームメモリ４内の小領域をパターン
画素、例えば黒１ＩＩｊ７素でぬりつぶす。

これに加えて、自動スライスレベル作成回路１０では、
今パターン画素でぬりつぶした小領域内のぬりつぶす前
にあったパターン画素数と前回までの同種の画素数（そ
の初回によ？いて零にリセットされている。）との和と
、上述のパターン画素でぬシつぶした小領域の累ａ１を
求める。

上述のようなぬりつぶし処理並びに和及び素側を求める
処理をフレームメモリ４内に存在するすべての小領域に
ついて行う。

その終了後、自動スライスレベル作成回路１０において
次のような処理を行う。

非パターン１ｉＴｉｉ素でぬシつぶした小領域について
の非パターン画素数の平均値Ｎ。ｆｆをとして求めると
共に、パターン画素でぬりつぶした小領域にりいてのパ
ターン画素数の平均値ＮＯＮを として求める。そして、これらの値を用いてＮｏＮ十Ｎ
ｏｆｆ ５Ｌ−・・・（３） を求め、この札を被認識サンプルに対して用いる凍るめ
スライスレベルとする。

このようにして求められるスライスレベルＳＬｄ被認識
パターンを囲む視野内の２値化信号の分布を考慮に入れ
ているので、まるめスライスレベルとしてより適正なレ
ベルとなりつるばかりでなく、その設定を１動的になし
つる。従って、従来のようなスライスレベルの変更に付
きまとう煩わしさからオペレータを開放しつる。

上記実施例においてｔ」１、ＳＬを式（３）によシ決定
する例について説明したが、これに限られるものでｔ」
、ない。又、ＮｏＨＸＮ０Ｎも夫々、式（ｔｌ　、　（
２１からのみ求めイ（するという風に限定して考えられ
るべきではない。

（７）１発明の効果 以上ｊＢべたように、本発明によれば、まるめスライス
レベルの決定に当って、被認識パターンを含む領域に相
当するマスクサンプルの領域内のすべてのパターン画素
及び非パターン画素を考慮に入れているから、′まるめ
スライスレベルとして適正なレベルを自動的にイ得るこ
とが出来る等の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来技法を説明するための図、第２図は本発明
の概略構成を示す図、第３図は第２図の本発明の要部を
示す図、第４図は本発明装置動作を説明するのに用いる
図である。 図中、４はフレームメモリ、５はするめ前処理回路、８
は小領域１数回路、９は判定回路、１０は自動スライス
レベル作成回路、１１＋ｉスライスレベル設定回路、１
２はぬりつぶし回路である○特許出願人　富士通株式会
社 第４ （４−１） （４−２） ＝１４３

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ＋１＋、　　２値化された被認識パターンを記憶するメ
   モリと、該メモリに接続されたまるめ前処理回路とを有
   するパターン認識装置〃において、北記被認識パターン
   を含む予め決められた領域に相当するマスクザンプルの
   領域内の２値化信号に応じて上記まるめ前処理回路のま
   るめスライスレベルを決めるように構成したことを特徴
   とするパターン認識装置。 （２）、上記まるめスライスレベルはパターン画素でぬ
   りつぶしたすべての小領域についてのパターン画素数の
   平均値と、非パターン画累でぬりつぶしたすべての小領
   域についての非パターン画素数の平均値とから決めるよ
   うに構成したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記
   載のパターン認識装置４゜