JPH05267367A - 樹脂封止半導体製造装置 - Google Patents

樹脂封止半導体製造装置

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JPH05267367A
JPH05267367A JP4065098A JP6509892A JPH05267367A JP H05267367 A JPH05267367 A JP H05267367A JP 4065098 A JP4065098 A JP 4065098A JP 6509892 A JP6509892 A JP 6509892A JP H05267367 A JPH05267367 A JP H05267367A
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JP
Japan
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resin
tablet
mps
semiconductor manufacturing
humidity
Prior art date
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Application number
JP4065098A
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English (en)
Inventor
Daiichi Saito
大一 齋藤
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Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
Original Assignee
Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Miyagi Electronics Ltd filed Critical Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は半導体素子を熱硬化性樹脂で封止す
る樹脂封止半導体製造装置(MPS)に関し、タブレッ
トの品質劣化を防止し、半導体素子の樹脂封止品質を向
上させることを目的とする。 【構成】 MPS1内に、パーツフィーダ2及びローダ
部3からなるタブレット5保管部の周辺を、所定の温度
及び湿度に保つ自動空調装置6を設け、MPS1内にお
いてタブレット5を所定の温度及び湿度の雰囲気で保管
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は樹脂封止半導体製造装置
に係り、特に半導体素子を熱硬化性樹脂で封止する樹脂
封止半導体製造装置に関する。
【0002】IC、トランジスタ等の半導体素子は、一
般にリードフレームとワイヤボンディング等で接続して
おり、外部からの応力、塵、埃、湿気等から半導体素子
及び接続部を保護する必要がある。
【0003】このため、半導体素子を樹脂で封止する手
段が用いられており、このような用途に用いる樹脂とし
ては、硬化時間が短く、耐熱性及び耐湿性に優れている
ことから、熱硬化性樹脂が広く使われている。
【0004】
【従来の技術】図2は半導体の樹脂封止工程に、一般に
用いられる樹脂封止半導体製造装置(MPS;Mold
Press System)の構成図で、同図(A)
はその平面図、同図(B)はその正面図を示す。
【0005】MPS11は周囲を外板9で覆われてお
り、その内部に各構成部分を有している。同図中2はパ
ーツフィーダで、上部に開口部を有し、そこから半導体
の樹脂封止に用いるペレット状の熱硬化性樹脂材料(タ
ブレット)5が供給される。タブレット5はパーツフィ
ーダ2内で振動を与えられ、これによりパーツフィーダ
2内部に設けられた溝に整列し、順次ローダ部3へ送ら
れる。
【0006】ローダ部3は、所定量のタブレット5を、
樹脂封止のタイミングに合わせて、モールド金型4に供
給する。モールド金型4は常時加熱されており、タブレ
ット5はモールド金型4に供給されると、その熱により
軟化する。タブレット5が十分軟化して液状となるのを
待って加圧すると、液状となった熱硬化性樹脂は、予め
モールド金型4にセットされている半導体素子の周囲に
流れ込む。その後所定時間加熱を継続すると、液状の熱
硬化性樹脂は熱により硬化し、半導体素子は熱硬化性樹
脂により封止される。
【0007】このように、タブレット5に熱が加えられ
るとその性質が変化するため、パーツフィーダ2及びロ
ーダ部3で保管されている間に熱が加わらないよう、熱
遮蔽板7、8を設けて、モールド金型4の発する熱が直
接放射されないようにしている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記従来のMP
S11では、装置の周囲を外板9で覆っているため、モ
ールド金型4の発する熱が装置内にこもり、熱遮蔽板
7、8を回り込んでパーツフィーダ2及びローダ部3の
周囲の温度及び湿度が上昇する。このためタブレット5
は、パーツフィーダ2及びローダ部3で保管されている
間に加熱されると共に、周辺の水分を吸湿し、品質が変
化する。
【0009】熱硬化性樹脂の硬化反応は、不可逆反応で
あるため、タブレット5の品質が加熱により変化した場
合、モールド金型4内で加熱して液状にする際、十分な
樹脂の流れ性が得られない。またタブレット5の吸湿量
が多い場合には、モールド金型4内で加熱される際に、
吸湿された水分がガス化し、封止後の樹脂内部にボイ
ド、ピンホール等の樹脂封止不良を発生させる。
【0010】特に、生産計画がMPS11を長時間停止
するように組まれた場合や休日において、パーツフィー
ダ2及びローダ部3で保管されるタブレット5は、連続
生産される場合と比べて品質劣化が進行し、樹脂封止不
良を多発させる。
【0011】また近年、半導体素子の薄型パッケージ化
が進行し、樹脂封止の対象が小型化すると共に、リード
フレームも微細化されている。このため、品質の劣化し
たタブレット5では、十分な樹脂の流れが確保できない
ため、樹脂の充填不良や、インナーリードの変形を引起
し、歩留りの低下、または半導体素子の信頼性低下の原
因ともなっている。
【0012】本発明は、上述の点に鑑みてなされたもの
であり、タブレットの品質劣化を防止し、半導体素子の
樹脂封止の品質を向上させるMPSを提供することを目
的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ために本発明は、半導体の樹脂封止に用いる樹脂材料
を、加熱して軟化させた後、予め内部に半導体素子が配
置されたモールド金型に流し込んで硬化させることによ
り、半導体素子を樹脂封止する樹脂封止半導体製造装置
において、前記樹脂材料を保管する保管部を、所定の温
湿度に保つ空調機構を設けた構成である。
【0014】
【作用】上記の構成によれば、前記保管部は、所定の温
度及び湿度に保たれるため、該保管部に保管される樹脂
材料も所定温湿度に保たれる。従って装置内に保管され
た時間によらず、良好な樹脂の品質が維持される。
【0015】
【実施例】図1は本発明にかかるMPSの一実施例の構
成図で、同図(A)はその平面図、同図(B)はその正
面図を示す。同図において図2と同一部分には同一符号
を付し、その説明を省略する。
【0016】同図中6は、前記空調機構に相当する自動
空調装置で、MPS1内の外板9と熱遮蔽板7、8で仕
切られた空間に配設され、前記保管部に相当するパーツ
フィーダ2及びローダ部3周辺の温湿度が所定の設定範
囲から上下した場合のみ、自動的に除湿、送風を行う。
【0017】タブレット5は、通常熱硬化性樹脂の粉末
をペレット状に成形して構成されるため、その外周には
容易に浮遊する粉末樹脂が存在する。このため、ファン
等で直接タブレット5に送風すると、粉末樹脂がMPS
1内を飛散し、光電スイッチ等の各種センサに付着し
て、MPS1の動作不良を引き起こす。
【0018】このため本実施例装置における自動空調装
置6は、その送風口を、パーツフィーダ2及びローダ部
3に直接向けず、それらの周辺に送風して、温度及び湿
度を管理している。
【0019】本実施例装置において、例えば自動空調装
置6の設定範囲を、パーツフィーダ2及びローダ部3周
辺の温度が20〜30[°C]、湿度が40±10[%
Rh]となるように設定すると、パーツフィーダ2及び
ローダ部3に保管されるタブレット5は、モールド金型
4の発する熱による影響を受けず、従来の自動空調装置
6の無いMPSで半導体素子を樹脂封止した場合に比
べ、ボイド及びピンホール等の樹脂封止不良は1/10
以下に低減する。
【0020】このように本実施例装置によれば、MPS
1内に保管されるタブレット5を、品質が劣化しない環
境で保管することができるため、生産計画による装置の
長時間停止、夜間、休日等の際に、MPS1内に保管さ
れるタブレット5の品質劣化を防止することができ、樹
脂封止不良が低減される。また通常の生産時において
も、常にほぼ一定条件のタブレット5を使用することか
ら、樹脂封止の工程が安定する。
【0021】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、樹脂封止
半導体製造装置内に保管される熱硬化性樹脂が、所定の
温湿度で保たれるため、常に良好な樹脂の流れ性を有
し、安定した樹脂封止品質を確保できると共に、樹脂封
止半導体製造装置内で熱硬化性樹脂が長時間保管された
場合でも、ボイド及びピンホール等の不良が発生しな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る樹脂封止半導体製造装置の一実施
例の構成図である。
【図2】従来の樹脂封止半導体製造装置の構成図であ
る。
【符号の説明】
1 樹脂封止半導体製造装置(MPS) 2 パーツフィーダ 3 ローダ部 4 モールド金型 5 タブレット 6 自動空調装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体の樹脂封止に用いる樹脂材料を、
    加熱して軟化させた後、予め内部に半導体素子が配置さ
    れたモールド金型に流し込んで硬化させることにより、
    半導体素子を樹脂封止する樹脂封止半導体製造装置にお
    いて、 前記樹脂材料を保管する保管部を、所定の温湿度に保つ
    空調機構を設けたことを特徴とする樹脂封止半導体製造
    装置。
JP4065098A 1992-03-23 1992-03-23 樹脂封止半導体製造装置 Pending JPH05267367A (ja)

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JP4065098A JPH05267367A (ja) 1992-03-23 1992-03-23 樹脂封止半導体製造装置

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JP4065098A JPH05267367A (ja) 1992-03-23 1992-03-23 樹脂封止半導体製造装置

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JPH05267367A true JPH05267367A (ja) 1993-10-15

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ID=13277105

Family Applications (1)

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JP4065098A Pending JPH05267367A (ja) 1992-03-23 1992-03-23 樹脂封止半導体製造装置

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JP (1) JPH05267367A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20190244794A1 (en) * 2014-05-19 2019-08-08 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus
JP2019202495A (ja) * 2018-05-24 2019-11-28 Towa株式会社 樹脂成形装置、及び樹脂成形品の製造方法

Cited By (3)

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