JPH0532790Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0532790Y2 JPH0532790Y2 JP17619385U JP17619385U JPH0532790Y2 JP H0532790 Y2 JPH0532790 Y2 JP H0532790Y2 JP 17619385 U JP17619385 U JP 17619385U JP 17619385 U JP17619385 U JP 17619385U JP H0532790 Y2 JPH0532790 Y2 JP H0532790Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- count rate
- gain
- radiation
- rate
- energy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 47
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000000084 gamma-ray spectrum Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は放射線モニタのゲイン変化検出回路、
特にシンチレーシヨンカウンタを用いて放射線を
検出する放射線モニタに使用される改良されたゲ
イン変化検出回路に関する。
特にシンチレーシヨンカウンタを用いて放射線を
検出する放射線モニタに使用される改良されたゲ
イン変化検出回路に関する。
［従来の技術］
シンチレーシヨンカウンタを用いて放射線（主
にγ線）を測定する放射線モニタにおいて、シン
チレータはNaI（Tl）が多く用いられ、数keVか
ら数MeVの放射線の測定が行われる。
にγ線）を測定する放射線モニタにおいて、シン
チレータはNaI（Tl）が多く用いられ、数keVか
ら数MeVの放射線の測定が行われる。
そして、NaI（Tl）シンチレータは測定する放
射線のエネルギにより計数率に変化が生じるとい
う性質を持つており、このエネルギ特性による誤
差を補正するため、一般にはDBM方式（照射線
量変換にバイアス変調弁別回路を用いる方式）が
採用される。該DBM方式では、測定する放射線
の波高値により間引き率を決定しており、NaI
（Tl）シンチレータのエネルギ特性は放射線のエ
ネルギが高いほど大きく、放射線エネルギが高い
場合、すなわち電気パルスの波高値が高い場合に
は、その間引き率も大きくなつている。
射線のエネルギにより計数率に変化が生じるとい
う性質を持つており、このエネルギ特性による誤
差を補正するため、一般にはDBM方式（照射線
量変換にバイアス変調弁別回路を用いる方式）が
採用される。該DBM方式では、測定する放射線
の波高値により間引き率を決定しており、NaI
（Tl）シンチレータのエネルギ特性は放射線のエ
ネルギが高いほど大きく、放射線エネルギが高い
場合、すなわち電気パルスの波高値が高い場合に
は、その間引き率も大きくなつている。
このようにしてシンチレータのエネルギ特性に
よる誤差を補正して正確な放射線の測定が行われ
るが、DBM回路に入力される前にシンチレーシ
ヨンカウンタで検出された電気的パルスは、測定
するためにいくつかの増幅器によつて増幅されて
おり、常に一定のゲインで増幅される必要がある
ことから、ゲインが不安定であれば波高値も不安
定となり、間引き率の正確な選択ができないとい
う問題があつた。
よる誤差を補正して正確な放射線の測定が行われ
るが、DBM回路に入力される前にシンチレーシ
ヨンカウンタで検出された電気的パルスは、測定
するためにいくつかの増幅器によつて増幅されて
おり、常に一定のゲインで増幅される必要がある
ことから、ゲインが不安定であれば波高値も不安
定となり、間引き率の正確な選択ができないとい
う問題があつた。
このゲイン変動による誤差をなくすために、放
射線測定前に必ず基準線源を用いゲインの確認を
する必要があり、これは従来においては基準線源
のγ線スペクトルを多重波高分析器（MCA）等
にてパルス波高値の微分曲線を求めてゲインを確
認する方法、あるいは波高弁別器による積分曲線
を求めてゲインを確認する方法により行われてい
る。
射線測定前に必ず基準線源を用いゲインの確認を
する必要があり、これは従来においては基準線源
のγ線スペクトルを多重波高分析器（MCA）等
にてパルス波高値の微分曲線を求めてゲインを確
認する方法、あるいは波高弁別器による積分曲線
を求めてゲインを確認する方法により行われてい
る。
しかしながら、前者の多重波高分析器は高価な
装置であり、また回路、装置として複雑となるこ
とから、持ち運んで使用する装置においては不便
であるという問題があり、後者のおいては測定に
多大の時間がかかるという欠点があつた。
装置であり、また回路、装置として複雑となるこ
とから、持ち運んで使用する装置においては不便
であるという問題があり、後者のおいては測定に
多大の時間がかかるという欠点があつた。
［考案の目的］
本考案は前記従来の課題に鑑みなされたもので
あり、その目的は、簡単な回路構成によりゲイン
変化の迅速な確認を可能とする放射線モニタのゲ
イン変化検出回路を提供することにある。
あり、その目的は、簡単な回路構成によりゲイン
変化の迅速な確認を可能とする放射線モニタのゲ
イン変化検出回路を提供することにある。
［考案の構成］
前記目的を達成するために、本考案は、シンチ
レーシヨンカウンタを用いた放射線モニタのゲイ
ン変化検出回路において、基準線源のエネルギピ
ークを中心としてそれぞれ左右に等しいエネルギ
幅に対応するウインド幅を有し該ウインド幅に現
われる電気パルスの高さを分析する２個の波高分
析器と、該各波高分析器にて得られたパルスの計
数率を演算する計数率回路と、前記両計数率値の
差を演算する引算器とを含み、２個の計数率値の
差にてゲインの変化を検出することを特徴とす
る。
レーシヨンカウンタを用いた放射線モニタのゲイ
ン変化検出回路において、基準線源のエネルギピ
ークを中心としてそれぞれ左右に等しいエネルギ
幅に対応するウインド幅を有し該ウインド幅に現
われる電気パルスの高さを分析する２個の波高分
析器と、該各波高分析器にて得られたパルスの計
数率を演算する計数率回路と、前記両計数率値の
差を演算する引算器とを含み、２個の計数率値の
差にてゲインの変化を検出することを特徴とす
る。
［実施例］
以下、図面に基づいて本考案の好適な実施例を
説明する。
説明する。
第１図には、放射線モニタのゲイン変化検出回
路の好適な実施例を説明するブロツク図が示さ
れ、被測定放射線はシンチレーシヨンカウンタ１
０にて電気パルスに変換され、パルス増幅器１１
に入力されており、該パルス増幅器１１により増
幅された電気信号はDBM回路１２に入力され、
放射線エネルギにより定められた間引き率にて間
引かれて線量率計１３に入力される。ここで、被
測定放射線の線量率が求められ、表示器１４にそ
の測定値が表示される。以上が放射線モニタの概
略、構成であり、該放射線モニタのゲイン変化を
確認する場合には、パルス増幅器１１から出力さ
れた電気信号は切換器１５を介してをゲイン変化
検出回路１６に入力される。
路の好適な実施例を説明するブロツク図が示さ
れ、被測定放射線はシンチレーシヨンカウンタ１
０にて電気パルスに変換され、パルス増幅器１１
に入力されており、該パルス増幅器１１により増
幅された電気信号はDBM回路１２に入力され、
放射線エネルギにより定められた間引き率にて間
引かれて線量率計１３に入力される。ここで、被
測定放射線の線量率が求められ、表示器１４にそ
の測定値が表示される。以上が放射線モニタの概
略、構成であり、該放射線モニタのゲイン変化を
確認する場合には、パルス増幅器１１から出力さ
れた電気信号は切換器１５を介してをゲイン変化
検出回路１６に入力される。
本考案において特徴的なことは、基準線源のエ
ネルギピーク（γ線）を中心としてそれぞれ左右
に等しいエネルギ幅に存在する基準線源のγ線の
差を求めてゲインの変化を検出することであり、
ゲイン変化検出回路１６には基準線源のエネルギ
ピークを中心としてそれぞれ左右に等しいエネル
ギ幅に対応するウインド幅を有する２個の波高分
析器１８，２０と、これら両波高分析器１８，２
０にて得られるパルスの計数率を演算する計数率
回路２２，２４と、これら計数率回路で得られた
計数率値の差を演算する引算器２６が設けられて
いる。
ネルギピーク（γ線）を中心としてそれぞれ左右
に等しいエネルギ幅に存在する基準線源のγ線の
差を求めてゲインの変化を検出することであり、
ゲイン変化検出回路１６には基準線源のエネルギ
ピークを中心としてそれぞれ左右に等しいエネル
ギ幅に対応するウインド幅を有する２個の波高分
析器１８，２０と、これら両波高分析器１８，２
０にて得られるパルスの計数率を演算する計数率
回路２２，２４と、これら計数率回路で得られた
計数率値の差を演算する引算器２６が設けられて
いる。
本実施例において、基準線源はセシウム
（137Cs）が用いられ、このγ線のエネルギピーク
662keVを中心としてそれぞれ左右に等しいエネ
ルギ幅に、波高分析器１８，２０のウインド幅を
設定している。すなわち、波高分析器１８のウイ
ンド幅662keVに対応した電圧から上側に、放射
線モニタ自体のエネルギ分解能である半値幅の1/
２に相当する電圧の幅（以下Ａチヤンネルと称す
る）に設定されている。一方、波高分析器２０の
ウインド幅は、662keVに対応する電圧から下側
に、波高分析器１８と同様に半値幅の1/2に相当
する電圧の幅（以下Ｂチヤンネルと称する）に設
定されている。
（137Cs）が用いられ、このγ線のエネルギピーク
662keVを中心としてそれぞれ左右に等しいエネ
ルギ幅に、波高分析器１８，２０のウインド幅を
設定している。すなわち、波高分析器１８のウイ
ンド幅662keVに対応した電圧から上側に、放射
線モニタ自体のエネルギ分解能である半値幅の1/
２に相当する電圧の幅（以下Ａチヤンネルと称す
る）に設定されている。一方、波高分析器２０の
ウインド幅は、662keVに対応する電圧から下側
に、波高分析器１８と同様に半値幅の1/2に相当
する電圧の幅（以下Ｂチヤンネルと称する）に設
定されている。
従つて、Ａチヤンネルの波高分析器１８では、
137Csの中心エネルギピーク662keVの上側の一定
エネルギ幅に存在するγ線と分析された電気信号
が検出され、該信号は計数率回路２２に入力され
る。そして、該計数率回路２２により電気パルス
の計数率が演算された後、引算器２６にその計数
率が入力される。一方、Ｂチヤンネルの波高分析
器２０では、中心エネルギピークの下側の一定エ
ネルギ幅に存在するγ線と分析された電気信号が
検出され、計数率回路２４に入力されており、該
計数率回路２４にて演算された計数率は補正回路
２８に入力される。
137Csの中心エネルギピーク662keVの上側の一定
エネルギ幅に存在するγ線と分析された電気信号
が検出され、該信号は計数率回路２２に入力され
る。そして、該計数率回路２２により電気パルス
の計数率が演算された後、引算器２６にその計数
率が入力される。一方、Ｂチヤンネルの波高分析
器２０では、中心エネルギピークの下側の一定エ
ネルギ幅に存在するγ線と分析された電気信号が
検出され、計数率回路２４に入力されており、該
計数率回路２４にて演算された計数率は補正回路
２８に入力される。
該補正回路２８では、前記計数率回路２２で求
めた計数率値と比較できる計数率値に補正され
る。すなわち137Csのγ線エネルギピーク
（662keV）を中心としたエネルギ分布はほぼ正規
分布に近いが、中心エネルギピークより低いエネ
ルギ側では若干高い計数値となる非対称形となる
ため、ピークの左右に存在するγ線エネルギ分布
を比較する前にエネルギ分布を正規分布にする補
正が必要となる。そして、該補正回路２８にて補
正されたＢチヤンネルの計数率は引算器２６に入
力され、既に入力されているＡチヤンネルでの計
数率値との差（Ａチヤンネルの計数率−Ｂチヤン
ネルの計数率が演算される。
めた計数率値と比較できる計数率値に補正され
る。すなわち137Csのγ線エネルギピーク
（662keV）を中心としたエネルギ分布はほぼ正規
分布に近いが、中心エネルギピークより低いエネ
ルギ側では若干高い計数値となる非対称形となる
ため、ピークの左右に存在するγ線エネルギ分布
を比較する前にエネルギ分布を正規分布にする補
正が必要となる。そして、該補正回路２８にて補
正されたＢチヤンネルの計数率は引算器２６に入
力され、既に入力されているＡチヤンネルでの計
数率値との差（Ａチヤンネルの計数率−Ｂチヤン
ネルの計数率が演算される。
第２図には、ゲイン変化と前述したＡチヤンネ
ルとＢチヤンネルの波高分析器１８，２０で求め
られる計数率値との関係が示されている。
ルとＢチヤンネルの波高分析器１８，２０で求め
られる計数率値との関係が示されている。
前記引算器２６の出力は、表示器３０に入力さ
れており、放射線モニタのゲインが正しく設定さ
れている時［第２図ａ］は、ＡチヤンネルのとＢ
チヤンネルとの計数率値の差は０となるので、表
示器３０の指示目盛は０となる。しかし、仮に放
射線モニタのゲインが高く設定されている場合
［第２図ｂ］には、Ａチヤンネルの計数率がＢチ
ヤンネルでの計数率より大きくなるので引算器２
６から＋符号の計算率の差が出力され、表示器３
０の指針は＋方向を指示する。また放射線モニタ
のゲインが低く設定されている時［第２図ｃ］
は、Ａチヤンネルの計数率よりＢチヤンネルの計
数率が大きいので引算器２６からは−符号の計数
率の差が出力され、表示器３０の指針は−方向を
指示する。
れており、放射線モニタのゲインが正しく設定さ
れている時［第２図ａ］は、ＡチヤンネルのとＢ
チヤンネルとの計数率値の差は０となるので、表
示器３０の指示目盛は０となる。しかし、仮に放
射線モニタのゲインが高く設定されている場合
［第２図ｂ］には、Ａチヤンネルの計数率がＢチ
ヤンネルでの計数率より大きくなるので引算器２
６から＋符号の計算率の差が出力され、表示器３
０の指針は＋方向を指示する。また放射線モニタ
のゲインが低く設定されている時［第２図ｃ］
は、Ａチヤンネルの計数率よりＢチヤンネルの計
数率が大きいので引算器２６からは−符号の計数
率の差が出力され、表示器３０の指針は−方向を
指示する。
従つて、該表示器３０の指針によりゲインが正
しく設定されているか否かの判断ができ、表示器
３０の目盛りに従つて放射線モニタのゲインを調
整することが可能となる。すなわち、放射線モニ
タのゲイン変化率と計数変化率は第３図に示され
るような特性を持つており、例えば、引算器２６
の計数率値が計数率回路２２と計数率回路２４の
計数率を加えた値に対して40％の計数変化率であ
る時はゲイン変化率は＋２であり、この場合には
DBM回路１２に設けられた調整ツマミにて＋２
のゲイン変化率を０に調整することにより、放射
線モニタのゲインは変化のない正しい値に設定さ
れる。
しく設定されているか否かの判断ができ、表示器
３０の目盛りに従つて放射線モニタのゲインを調
整することが可能となる。すなわち、放射線モニ
タのゲイン変化率と計数変化率は第３図に示され
るような特性を持つており、例えば、引算器２６
の計数率値が計数率回路２２と計数率回路２４の
計数率を加えた値に対して40％の計数変化率であ
る時はゲイン変化率は＋２であり、この場合には
DBM回路１２に設けられた調整ツマミにて＋２
のゲイン変化率を０に調整することにより、放射
線モニタのゲインは変化のない正しい値に設定さ
れる。
以上のようにして、放射線測定を開始する前の
放射線モニタのゲイン調整が行われて、始めて所
期の放射線の正確な測定が可能となる。
放射線モニタのゲイン調整が行われて、始めて所
期の放射線の正確な測定が可能となる。
［考案の効果］
以上説明したように、本考案によれば、２個の
波高分析器により基準線源のエネルギピークを中
心としてそれぞれ左右に等しいエネルギ幅に存在
する放射線を検出し、その計数率値の差によりゲ
インの変化を検出しているので、簡単な回路構成
によりゲインの確認、調整が容易かつ迅速に行う
ことができる。従つて、正確なエネルギ値での放
射線線量率が求められ、DBM回路にて所定の計
数値の間引きがなされた場合であつても正確な放
射線の線量率測定が可能となる。
波高分析器により基準線源のエネルギピークを中
心としてそれぞれ左右に等しいエネルギ幅に存在
する放射線を検出し、その計数率値の差によりゲ
インの変化を検出しているので、簡単な回路構成
によりゲインの確認、調整が容易かつ迅速に行う
ことができる。従つて、正確なエネルギ値での放
射線線量率が求められ、DBM回路にて所定の計
数値の間引きがなされた場合であつても正確な放
射線の線量率測定が可能となる。
第１図は本考案に係るゲイン変化検出回路を適
用した放射線モニタを示すブロツク図、第２図は
基準線源のエネルギピークと２個の波高分析器に
より求められた計数率値との関係を示す説明図、
第３図は計数変化率とゲイン変化率との関係を示
すグラフ図である。 １０……シンチレーシヨンカウンタ、１１……
パルス増幅器、１２……DBM回路、１６……ゲ
イン変化検出回路、１８，２０……波高分析器、
２２，２４……計数率回路、２６……引算器、２
８……補正回路。
用した放射線モニタを示すブロツク図、第２図は
基準線源のエネルギピークと２個の波高分析器に
より求められた計数率値との関係を示す説明図、
第３図は計数変化率とゲイン変化率との関係を示
すグラフ図である。 １０……シンチレーシヨンカウンタ、１１……
パルス増幅器、１２……DBM回路、１６……ゲ
イン変化検出回路、１８，２０……波高分析器、
２２，２４……計数率回路、２６……引算器、２
８……補正回路。
Claims (1)
- シンチレーシヨンカウンタを用いた放射線モニ
タのゲイン変化検出回路において、基準線源のエ
ネルギピークを中心としてそれぞれ左右に等しい
エネルギ幅に対応するウインド幅を有し該ウイン
ド幅に現われる電気パルスの高さを分析する２個
の波高分析器と、該各波高分析器にて得られたパ
ルスの計数率を演算する計数率回路と、前記両計
数率値の差を演算する引算器とを含み、２個の計
数率値の差にてゲインの変化を検出することを特
徴とする放射線モニタのゲイン変化検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17619385U JPH0532790Y2 (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17619385U JPH0532790Y2 (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6284778U JPS6284778U (ja) | 1987-05-29 |
| JPH0532790Y2 true JPH0532790Y2 (ja) | 1993-08-20 |
Family
ID=31116203
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17619385U Expired - Lifetime JPH0532790Y2 (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0532790Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-11-18 JP JP17619385U patent/JPH0532790Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6284778U (ja) | 1987-05-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP3637147A1 (en) | Gain correction apparatus and method for scintillation detector | |
| US9029769B2 (en) | Dose rate measuring apparatus | |
| US4075480A (en) | Quench determination in liquid scintillation counting systems | |
| JP3709340B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| JP3153484B2 (ja) | 環境放射線モニタ | |
| Silva et al. | Determination of the voltage applied to x‐ray tubes from the bremsstrahlung spectrum obtained with a silicon PIN photodiode | |
| US4295045A (en) | Background compensation type plutonium air monitor | |
| JP2002022839A (ja) | 放射線測定装置 | |
| US4918313A (en) | Device for counting particles of ionizing radiation and its application to implementing a method of measuring the rate of leakage between the primary and secondary circuits of a steam generator | |
| JPH03123881A (ja) | γ線核種分析方法及び装置 | |
| US4418281A (en) | Quench correction in liquid scintillation counting | |
| US4060728A (en) | Method of measuring the disintegration rate of beta-emitting radionuclide in a liquid sample | |
| US4322617A (en) | Method and apparatus for calibrating a gamma counter | |
| JPH0527020Y2 (ja) | ||
| JP2001116844A (ja) | 放射線測定装置 | |
| RU2130624C1 (ru) | Способ стабилизации энергетической шкалы спектрометра и устройство для его реализации | |
| Heath et al. | Instrumental requirements for high-resolution gamma-ray spectrometry using lithium-drifted germanium detectors | |
| RU2061244C1 (ru) | Дозиметр-радиометр ионизирующего излучения | |
| Pieroni et al. | Measurement of time-dependent fast neutron spectra with an NE 213 scintillator | |
| JPH0293393A (ja) | 照射線量率計 | |
| Kearfott | Performance of a well counter and a dose calibrator for quantitative positron emission tomography | |
| JP3585356B2 (ja) | 放射線検出装置 | |
| JPS58200186A (ja) | ゲインスタビライザ | |
| JPH0426073B2 (ja) | ||
| JPH0564312B2 (ja) |