JPH05280942A - 光電センサの外形測定方法 - Google Patents
光電センサの外形測定方法Info
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- JPH05280942A JPH05280942A JP11228592A JP11228592A JPH05280942A JP H05280942 A JPH05280942 A JP H05280942A JP 11228592 A JP11228592 A JP 11228592A JP 11228592 A JP11228592 A JP 11228592A JP H05280942 A JPH05280942 A JP H05280942A
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- Japan
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】この発明は、物体に穴が開いていても、大・小
の異物が混入しても物体の外形を正確に測定することが
できる光電センサの外形測定方法を提供する。 【構成】この発明は、一定間隔毎に配列した光電検知素
子のＯＮ・ＯＦＦ状態を検知することに基づいて物体の
外形を測定する光電センサの外形測定方法であって、上
記光電検知素子の配列方向に特定個が連続してＯＮした
最初のＯＮ検知位置を外形の一端部に設定し、上記光電
検知素子の配列方向に特定個が連続してＯＦＦした最後
のＯＦＦ検知位置を外形の他端部に設定し、上記設定さ
れた一端部から他端部までの２点間の距離を物体の外形
寸法に特定することを特徴としている。
の異物が混入しても物体の外形を正確に測定することが
できる光電センサの外形測定方法を提供する。 【構成】この発明は、一定間隔毎に配列した光電検知素
子のＯＮ・ＯＦＦ状態を検知することに基づいて物体の
外形を測定する光電センサの外形測定方法であって、上
記光電検知素子の配列方向に特定個が連続してＯＮした
最初のＯＮ検知位置を外形の一端部に設定し、上記光電
検知素子の配列方向に特定個が連続してＯＦＦした最後
のＯＦＦ検知位置を外形の他端部に設定し、上記設定さ
れた一端部から他端部までの２点間の距離を物体の外形
寸法に特定することを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば自動取引機に
装備されるような光電センサに関し、さらに詳しくは紙
幣や硬貨等の物体の外形寸法を正確に測定する高測定性
能を有する光電センサの外形測定方法に関する。
装備されるような光電センサに関し、さらに詳しくは紙
幣や硬貨等の物体の外形寸法を正確に測定する高測定性
能を有する光電センサの外形測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、物体の外形を光電検知して測定
する光電センサは、図３に示すように、光電検知エリア
に光電検知素子３１の多数個を一定間隔毎に配列し、こ
の光電検知エリアに物体３２が通過したとき、この物体
３２により遮光された光電検知素子３１の数を計数する
ことに基づいて物体３２の外形寸法を測定している。
する光電センサは、図３に示すように、光電検知エリア
に光電検知素子３１の多数個を一定間隔毎に配列し、こ
の光電検知エリアに物体３２が通過したとき、この物体
３２により遮光された光電検知素子３１の数を計数する
ことに基づいて物体３２の外形寸法を測定している。
【０００３】しかし、物体３２に穴３３が開いている場
合は、検知光線を投光許容して、その穴３３の非検知個
数だけ差引かれるため、実際の物体３２の外形寸法より
小さく誤測定されてしまう。このため、光電検知時に光
電検知素子３１が配列方向に連続して遮光された複数の
連続遮光光電検知素子３４…の外端部側の各位置Ａ，Ｂ
を物体３２の一端と他端とに仮定し、この端部間の距離
Ａ〜Ｂを物体の外形寸法Ｃとして求めている。
合は、検知光線を投光許容して、その穴３３の非検知個
数だけ差引かれるため、実際の物体３２の外形寸法より
小さく誤測定されてしまう。このため、光電検知時に光
電検知素子３１が配列方向に連続して遮光された複数の
連続遮光光電検知素子３４…の外端部側の各位置Ａ，Ｂ
を物体３２の一端と他端とに仮定し、この端部間の距離
Ａ〜Ｂを物体の外形寸法Ｃとして求めている。
【０００４】このときの演算式は、 Ａ：一端側の連続遮光光電検知素子の位置 Ｂ：他端側の連続遮光光電検知素子の位置 Ｃ：物体の外形寸法 Ｐ：光電検知素子の配列方向の間隔 とすると、図３において物体の外形寸法Ｃは、 Ｃ＝（Ｂ−Ａ）×Ｐ ＝（１５−７）×Ｐ＝８Ｐ で求まる。
【０００５】ところが、図４に示すように、光電検知エ
リアに比較的大きな異物４１が混入した場合、光電検知
時に、この異物４１の検知位置Ｄを物体の一端部側と誤
判定し、この結果、誤物体の外形寸法Ｅを求めてしま
い、実際の物体３２の外形寸法より大きく誤測定してし
まう。
リアに比較的大きな異物４１が混入した場合、光電検知
時に、この異物４１の検知位置Ｄを物体の一端部側と誤
判定し、この結果、誤物体の外形寸法Ｅを求めてしま
い、実際の物体３２の外形寸法より大きく誤測定してし
まう。
【０００６】さらに近年、光電検知素子の配列密度を高
めて検知精度の向上化を図っているが、この場合には微
小異物であっても全て正確に捉えてしまい、これが誤検
知を誘引する原因となりやすく、高精度化には不適とな
る問題を有していた。
めて検知精度の向上化を図っているが、この場合には微
小異物であっても全て正確に捉えてしまい、これが誤検
知を誘引する原因となりやすく、高精度化には不適とな
る問題を有していた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】そこでこの発明は、物
体に穴が開いていても、大小の異物が混入しても物体の
外形を正確に測定することができる光電センサの外形測
定方法の提供を目的とする。
体に穴が開いていても、大小の異物が混入しても物体の
外形を正確に測定することができる光電センサの外形測
定方法の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は、一定間隔毎
に配列した光電検知素子のＯＮ・ＯＦＦ状態を検知する
ことに基づいて物体の外形を測定する光電センサの外形
測定方法であって、上記光電検知素子の配列方向に特定
個が連続してＯＮした最初のＯＮ検知位置を外形の一端
部に設定し、上記光電検知素子の配列方向に特定個が連
続してＯＦＦした最後のＯＦＦ検知位置を外形の他端部
に設定し、上記設定された一端部から他端部までの２点
間の距離を物体の外形寸法に特定することを特徴とす
る。
に配列した光電検知素子のＯＮ・ＯＦＦ状態を検知する
ことに基づいて物体の外形を測定する光電センサの外形
測定方法であって、上記光電検知素子の配列方向に特定
個が連続してＯＮした最初のＯＮ検知位置を外形の一端
部に設定し、上記光電検知素子の配列方向に特定個が連
続してＯＦＦした最後のＯＦＦ検知位置を外形の他端部
に設定し、上記設定された一端部から他端部までの２点
間の距離を物体の外形寸法に特定することを特徴とす
る。
【０００９】
【作用】この発明によれば、光電検知エリアに物体が導
かれると、多数の光電検知素子が検知対応し、このとき
光電検知素子の配列方向に特定個が連続してＯＮした最
初のＯＮ検知位置を、ここに導かれた物体の外形を表す
一端部であると設定し、続いて光電検知素子の配列方向
に特定個が連続してＯＦＦした最後のＯＦＦ検知位置を
物体の外形を表す他端部であると設定し、この設定した
一端部から他端部までの２点間の距離を物体の外形寸法
と特定する。
かれると、多数の光電検知素子が検知対応し、このとき
光電検知素子の配列方向に特定個が連続してＯＮした最
初のＯＮ検知位置を、ここに導かれた物体の外形を表す
一端部であると設定し、続いて光電検知素子の配列方向
に特定個が連続してＯＦＦした最後のＯＦＦ検知位置を
物体の外形を表す他端部であると設定し、この設定した
一端部から他端部までの２点間の距離を物体の外形寸法
と特定する。
【００１０】
【発明の効果】このように、物体の外形測定に際して
は、物体の端部を境にして光電検知素子の検知・非検知
が連続することから光電検知素子の最初の連続ＯＮ検知
と最後の連続ＯＦＦ検知とを組合わせ、しかも特定個と
設定することで、物体の両端部を正確に特定することが
できる。
は、物体の端部を境にして光電検知素子の検知・非検知
が連続することから光電検知素子の最初の連続ＯＮ検知
と最後の連続ＯＦＦ検知とを組合わせ、しかも特定個と
設定することで、物体の両端部を正確に特定することが
できる。
【００１１】このため、物体に穴が開いていても、また
大・小の異物が混入しても正確に物体の外形を測定する
ことができ、特に光電検知素子の配列密度を高めた検知
が可能となり、検知精度を確実に向上することができ
る。
大・小の異物が混入しても正確に物体の外形を測定する
ことができ、特に光電検知素子の配列密度を高めた検知
が可能となり、検知精度を確実に向上することができ
る。
【００１２】
【実施例】この発明の一実施例を以下図面に基づいて詳
述する。図１は光電センサの外形測定方法を示し、この
光電センサは光電検知エリア１１の検知方向に光電検知
素子１２の多数個を一定間隔毎に配列し、ここに物体１
３が通過したときに、検知光線１４が物体１３に遮光さ
れた位置の光電検知素子１２と、検知光線１４を投光許
容した位置の光電検知素子１２とのＯＮ・ＯＦＦ検知状
態をチェックすることに基づいて物体１３の外形寸法を
測定する。
述する。図１は光電センサの外形測定方法を示し、この
光電センサは光電検知エリア１１の検知方向に光電検知
素子１２の多数個を一定間隔毎に配列し、ここに物体１
３が通過したときに、検知光線１４が物体１３に遮光さ
れた位置の光電検知素子１２と、検知光線１４を投光許
容した位置の光電検知素子１２とのＯＮ・ＯＦＦ検知状
態をチェックすることに基づいて物体１３の外形寸法を
測定する。
【００１３】この場合、光電検知素子１２…の配列方向
に特定個が連続してＯＮした最初のＯＮ検知位置を物体
１３の外形の一端部ａに設定し、光電検知素子１２…の
配列方向に特定個が連続してＯＦＦした最後のＯＦＦ検
知位置を物体１３の外形の他端部ｂに設定し、これら設
定された一端部ａから他端部ｂまでの２点間の距離を物
体の外形寸法ｃとして求める。
に特定個が連続してＯＮした最初のＯＮ検知位置を物体
１３の外形の一端部ａに設定し、光電検知素子１２…の
配列方向に特定個が連続してＯＦＦした最後のＯＦＦ検
知位置を物体１３の外形の他端部ｂに設定し、これら設
定された一端部ａから他端部ｂまでの２点間の距離を物
体の外形寸法ｃとして求める。
【００１４】この際、光電検知素子１２の最初の連続Ｏ
Ｎ検知と、最後の連続ＯＦＦ検知との特定個を求めるの
は、物体１３の端部を境にして、光電検知素子１２…が
検知・非検知と連続してＯＮ・ＯＦＦすることから、こ
の特定個の位置をチェックするだけで検知した物体の端
部を明確に区別できるためであり、この結果、物体１３
の両端部を正確に特定することができる。
Ｎ検知と、最後の連続ＯＦＦ検知との特定個を求めるの
は、物体１３の端部を境にして、光電検知素子１２…が
検知・非検知と連続してＯＮ・ＯＦＦすることから、こ
の特定個の位置をチェックするだけで検知した物体の端
部を明確に区別できるためであり、この結果、物体１３
の両端部を正確に特定することができる。
【００１５】これは、例えば図１において、光電検知素
子１２が連続してＯＮ・ＯＦＦ設定する特定個を共に３
個に設定した場合、このときの演算式は、 ａ：一端側の３連続ＯＮ光電検知素子の位置 ｂ：他端側の３連続ＯＦＦ光電検知素子の位置 Ｐ：光電検知素子の配列方向の間隔 Ｘ：特定個（３個） とすると、実際の物体の一端部Ａは、Ａ＝ａ−（Ｘ−
１）と補正して求まり、実際の物体の他端部Ｂは、Ｂ＝
ｂ−Ｘと補正して求まる。この結果、Ｂ−Ａの２点間の
距離を求めた実際の物体の外形寸法Ｃは、 Ｃ＝（ｂ−ａ−１）×Ｐ ＝（１８−９−１）×Ｐ＝８Ｐ で求まる。
子１２が連続してＯＮ・ＯＦＦ設定する特定個を共に３
個に設定した場合、このときの演算式は、 ａ：一端側の３連続ＯＮ光電検知素子の位置 ｂ：他端側の３連続ＯＦＦ光電検知素子の位置 Ｐ：光電検知素子の配列方向の間隔 Ｘ：特定個（３個） とすると、実際の物体の一端部Ａは、Ａ＝ａ−（Ｘ−
１）と補正して求まり、実際の物体の他端部Ｂは、Ｂ＝
ｂ−Ｘと補正して求まる。この結果、Ｂ−Ａの２点間の
距離を求めた実際の物体の外形寸法Ｃは、 Ｃ＝（ｂ−ａ−１）×Ｐ ＝（１８−９−１）×Ｐ＝８Ｐ で求まる。
【００１６】図２は光電センサの制御回路ブロック図を
示し、ＣＰＵ２１はＲＯＭ２２に格納されたプログラム
に沿って各回路装置を制御し、その制御データをＲＡＭ
２３で読出し可能に記憶する。
示し、ＣＰＵ２１はＲＯＭ２２に格納されたプログラム
に沿って各回路装置を制御し、その制御データをＲＡＭ
２３で読出し可能に記憶する。
【００１７】このＣＰＵ２１は、光電検知エリア１１に
配列された多数の光電検知素子１２…からのＯＮ・ＯＦ
Ｆ検知信号を入力し、このＯＮ・ＯＦＦ検知信号に基づ
いて上述の演算式から実際の物体の外形寸法を演算して
求め、この求めた値を他の機器に出力する。
配列された多数の光電検知素子１２…からのＯＮ・ＯＦ
Ｆ検知信号を入力し、このＯＮ・ＯＦＦ検知信号に基づ
いて上述の演算式から実際の物体の外形寸法を演算して
求め、この求めた値を他の機器に出力する。
【００１８】このように構成された光電センサの外形測
定方法によれば、光電検知エリア１１に外形寸法を測定
すべき物体１３が導かれると、この物体１３と対応する
多数の光電検知素子１２…が検知対応し、このときＣＰ
Ｕ２１は、光電検知素子１２の配列方向に特定数の３個
が連続してＯＮした最初の３連続ＯＮ検知位置を、ここ
に導かれた物体１３の一外形端部であると判定し、続い
て光電検知素子１２の配列方向に特定数の３個が連続し
てＯＦＦした最後の３連続ＯＦＦ検知位置を他外形端部
であると判定し、この判定した一端部ａから他端部ｂま
での２点間の距離を物体の外形寸法ｃと特定し、これを
演算式から求める。
定方法によれば、光電検知エリア１１に外形寸法を測定
すべき物体１３が導かれると、この物体１３と対応する
多数の光電検知素子１２…が検知対応し、このときＣＰ
Ｕ２１は、光電検知素子１２の配列方向に特定数の３個
が連続してＯＮした最初の３連続ＯＮ検知位置を、ここ
に導かれた物体１３の一外形端部であると判定し、続い
て光電検知素子１２の配列方向に特定数の３個が連続し
てＯＦＦした最後の３連続ＯＦＦ検知位置を他外形端部
であると判定し、この判定した一端部ａから他端部ｂま
での２点間の距離を物体の外形寸法ｃと特定し、これを
演算式から求める。
【００１９】この場合、物体１３の端部を境にして光電
検知素子１２…が検知・非検知と連続してＯＮ・ＯＦＦ
することから、この特定個数の３個の位置をチェックす
るだけで検知した物体の端部を明確に区別することがで
きる。
検知素子１２…が検知・非検知と連続してＯＮ・ＯＦＦ
することから、この特定個数の３個の位置をチェックす
るだけで検知した物体の端部を明確に区別することがで
きる。
【００２０】このようにして、物体の外形寸法を求める
ため、物体の両端部を正確に特定して物体の外形を求め
ことができる。このため、仮に物体１３に穴１５が開い
ていても、また光電検知エリア１１に比較的大きな異物
１６あるいは微小異物が混入しても、物体の端部とは明
確に区別して正確に物体の外形を測定することができ
る。また、光電検知素子の配列密度を高めて高精度化を
図っても、物体端部と微小異物との区別が明確なため高
精度の光電検知が可能となる。
ため、物体の両端部を正確に特定して物体の外形を求め
ことができる。このため、仮に物体１３に穴１５が開い
ていても、また光電検知エリア１１に比較的大きな異物
１６あるいは微小異物が混入しても、物体の端部とは明
確に区別して正確に物体の外形を測定することができ
る。また、光電検知素子の配列密度を高めて高精度化を
図っても、物体端部と微小異物との区別が明確なため高
精度の光電検知が可能となる。
【００２１】この発明と、上述の一実施例の構成との対
応において、この発明の光電検知素子の特定個は、実施
例の光電検知素子の３個に対応するも、この発明は上述
の一実施例の構成のみに限定されるものではない。
応において、この発明の光電検知素子の特定個は、実施
例の光電検知素子の３個に対応するも、この発明は上述
の一実施例の構成のみに限定されるものではない。
【図１】この発明の光電センサの検知状態を示す検知原
理図。
理図。
【図２】この発明の光電センサの制御回路ブロック図。
【図３】従来の光電センサの穴開き物体の誤検知状態を
示す検知原理図。
示す検知原理図。
【図４】従来の光電センサの物体外形の誤検知状態を示
す検知原理図。
す検知原理図。
１１…光電検知エリア １２…光電検知素子 １３…物 体 １４…検知光線 ａ…一端側の３連続ＯＮ光電検知素子の位置 ｂ…他端側の３連続ＯＦＦ光電検知素子の位置 ｃ…物体の外形寸法 Ｐ…光電検知素子の配列方向の間隔 Ｘ…特定個（３個）
Claims (1)
- 【請求項１】一定間隔毎に配列した光電検知素子のＯＮ
・ＯＦＦ状態を検知することに基づいて物体の外形を測
定する光電センサの外形測定方法であって、上記光電検
知素子の配列方向に特定個が連続してＯＮした最初のＯ
Ｎ検知位置を外形の一端部に設定し、上記光電検知素子
の配列方向に特定個が連続してＯＦＦした最後のＯＦＦ
検知位置を外形の他端部に設定し、上記設定された一端
部から他端部までの２点間の距離を物体の外形寸法に特
定することを特徴とする光電センサの外形測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11228592A JPH05280942A (ja) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | 光電センサの外形測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11228592A JPH05280942A (ja) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | 光電センサの外形測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05280942A true JPH05280942A (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=14582871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11228592A Pending JPH05280942A (ja) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | 光電センサの外形測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05280942A (ja) |
-
1992
- 1992-04-03 JP JP11228592A patent/JPH05280942A/ja active Pending
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