JPH0528913B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0528913B2
JPH0528913B2 JP16981486A JP16981486A JPH0528913B2 JP H0528913 B2 JPH0528913 B2 JP H0528913B2 JP 16981486 A JP16981486 A JP 16981486A JP 16981486 A JP16981486 A JP 16981486A JP H0528913 B2 JPH0528913 B2 JP H0528913B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
cover case
semiconductor sensor
receiving element
groove
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP16981486A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6327070A (ja
Inventor
Tsuguo Uchino
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP61169814A priority Critical patent/JPS6327070A/ja
Priority to KR1019870007890A priority patent/KR900007051B1/ko
Publication of JPS6327070A publication Critical patent/JPS6327070A/ja
Publication of JPH0528913B2 publication Critical patent/JPH0528913B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F55/00Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto

Landscapes

  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、発光素子および受光素子を用いた半
導体センサーに関するものであり、特に塵埃の多
い悪環境のもとにおいて使用可能なセンサーに関
するものである。
(従来の技術) 半導体センサーとは、検知空間内において被検
知物の有無を、発光素子と受光素子とで検出する
ものである。
従来この半導体センサーにおいては、外光によ
る誤動作等を防止し検出精度を上げるため、発光
素子および受光素子をそれぞれ不透明な樹脂で覆
い、この樹脂に小さなスリツト(窓)を設け、こ
のスリツトを介して光の入出力を行うものがあ
る。
しかしながら、このようなセンサーは、塵埃の
多い悪影響においては、スリツトに塵埃がたまり
やすく、使用困難であつた。
このため、塵埃カバーケースでこのセンサーを
覆つて使用することが考えられた。
(発明が解決しようとする問題点) ところが、このカバーケースを用いたところ、
発光素子からの光が受光素子へ入力しない光遮断
状態においても受光素子に出力電流が発生し誤動
作することがあつた。また、受光素子としてフオ
トトランジスタを用いた場合もコレクタ電波(出
力電流)が発生しS/N比が低下してしまう。
これは、カバーケース自体がライトバス(光通
路)となり、受光素子に光を導くためであつた。
本発明は塵埃の多い悪影響にも十分使用可能な
半導体センサーを供給することを目的とするもの
であり、さらに、通常のセンサー本体を加工する
ことなく、安価にしかも容易に、光遮断状態にお
ける漏れ出力電流の小さい半導体センサーを供給
することを目的とするものである。
[発明の構成] (問題を解決するための手段) 半導体センサーに防塵用カバーケースを用いた
場合、このカバーケースにライトパス(光通路)
が必然的に形成されてしまう。
これに対し、ライトパスを開口等により完全に
遮断する場合は、この遮断部より塵埃が侵入し、
塵埃がスリツトまで達し光伝達特性が低下してし
まう。
本発明は、カバーケースのライトパスとなる部
分を分断することなく、側面が傾斜構造の溝を形
成することにより反射散乱壁を構成し、このライ
トパスを通り受光素子へ到達する光を減少させる
ものである。
(作用) 本発明の半導体センサーは、カバーケースのラ
イトパスとなる部分に、側面が傾斜構造の溝を形
成してある。
この溝の周壁が、ライトパスを通る光の光反射
散乱壁を構成する。
従つて、発光素子からライトパスを通つてきた
光は、この反射散乱壁で反射散乱され減少し、受
光素子へ入力する光は極めて少なくなる。
(実施例) 本発明の1実施例装置を図を用いて説明する。
第1図に本実施例装置のセンサー本体およびカ
バーケースの斜視図を示す。
検知空間Xを構成するよう、所定間隔をおいて
配置された不透明発光素子収納部1および不透明
受光素子収納部2には、図示しない発光素子およ
び受光素子が収納されている。そして、この発光
素子により放射される光が受光素子へ入射される
よう各収納部1,2の対向する面には夫々スリツ
ト(窓)3が形成されている。
なお収納部1,2の下部は連結部4により連結
され、センサー本体は収納部1,2および連結部
4で略U字形状を成している。また、各収納部
1,2の底面からは、発光素子および受光素子の
リード5,5が突出している。
透明な樹脂からなるカバーケース6はこの略U
字形状の本体の上面と側面を覆い、かつ検知空間
Xを構成するよう、本体と相似な略U字形状を成
している。
そして、このカバーケース6の、連結部4を覆
う部分には、第2図に断面図で示すように、外側
表面の中央に、側面が傾斜構造の溝M1が1つ、
内側表面の両角に、側面が垂直構造の溝M2が1
つずつ、形成されている。なお図中7および8は
発光素子および受光素子を示している。
次に本実施例装置の動作について第2図を用い
て説明する。
まず、発光素子7に電圧を印加する。電圧の印
加された素子7は発光し、この光は発光素子収納
部1のスリツトを通り、空間Xへ照射される。
そして、空間Xに被検知物体が無い場合、この
光は受光素子収納部2のスリツトを通り、受光素
子8へ入射される。
また、空間Xに被検知物体が有る場合、この光
は被検知物体により遮断され、受光素子8へ入射
されない。
以上のようにして被検知物体の有無が検知され
る。
しかしながら、空間Xに被検知物体が存在する
光遮断状態の場合においても、発光素子7からの
光は、カバーケース自体をライトパス(光通路)
として受光素子8へ伝わる。
しかし、本実施例装置においては、このカバー
ケース6を伝わる光は3つの溝M1,M2,M2
周壁で反射散乱される。
もし仮に、中央の溝M1の側面を垂直構造とす
ると、発光側の側面から受光側の側面へ空気層を
介して伝わる光が生ずる。
これに対し、側面を傾斜構造とすると、ケース
内を通る光はこの側面で全反射するため、受光側
の側面へ空気層を介して伝わる光はなくなる。な
お、望ましい傾斜角度は、37〜41度である。
よつて、側面を傾斜構造とすることにより、受
光素子8へ到達する光は著しく減少する。
なお、受光素子としてフオトトランジスタを用
い、光遮断状態でのコレクタ電流(出力電流)を
測定したところ、溝の無いカバーケースを用いた
ものに比べ、このコレクタ電流は45%〜55%減少
した。
また、溝の表面に粗面加工を施すと、光の散乱
効果が上り、このコレクタ電流は更に数%減少す
る。
本発明は、上記1実施例に限定されるものでは
なく、例えば、カバーケース6に形成される溝
は、もつと複数あつてもよい。
溝の形状も、側面が平面のものに限定されるも
のではなく、曲面であつてもよい。また、発光素
子として赤外発光LEDを用いる場合は、可視光
遮断樹脂を用いてもよい。
また、カバーケースに、カーボン含有のポリカ
ーボネートを用いた場合、塵埃が付着しにくくな
る。このため、長時間使用した場合等発生する、
「カバーケースへの塵埃付着による光伝達特性の
低下」という問題が防止できる。
なお、通常の樹脂を用いる場合においても、カ
バーケース表面に静電防止加工を施すことによ
り、同様に光伝達特性の低下が防止できる。
(効果) 本発明の半導体センサーによると、カバーケー
スを通じて受光素子へ到達する光を、簡単な構成
で著しく軽減できる。従つて、塵埃の多い悪影響
の元でも誤動作すること無く使用できるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置の斜視図、第2
図は一実施例装置の断面図。 1…発光素子収納部、2…受光素子収納部、3
…スリツト、4…連結部、6…カバーケース、7
…発光素子、8…受光素子、M1,M2…溝。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 所定間隔をおいて配置された不透明発光素子
    収納部および不透明受光素子収納部と、これら収
    納部の被検知物に対向する面に夫々形成されたス
    リツトと、前記各収納部の下部を連結する連結部
    と、前記各収納部に収納される発光素子および受
    光素子と、前記各収納部および連結部表面を覆う
    カバーケースとを有し、前記カバーケースの、前
    記連結部を覆う部分には、側面が傾斜構造の溝が
    形成されていることを特徴とする半導体センサ
    ー。 2 前記カバーケースの溝は、前記連結部を覆う
    部分の外側表面中央付近に1つ形成されているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導
    体センサー。 3 前記カバーケースの溝の傾斜角度は、37〜41
    度であることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体センサー。 4 前記各収納部および連結部とで略U字形状を
    構成し、前記カバーケースもこれに対応した略U
    字形状を成していることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の半導体センサー。 5 前記カバーケースは静電防止樹脂にて形成さ
    れるか、または静電防止加工が施されていること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体
    センサー。 6 少なくとも前記カバーケースの溝表面は、粗
    画加工されていることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の半導体センサー。
JP61169814A 1986-07-21 1986-07-21 半導体センサ− Granted JPS6327070A (ja)

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JP61169814A JPS6327070A (ja) 1986-07-21 1986-07-21 半導体センサ−
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JP61169814A JPS6327070A (ja) 1986-07-21 1986-07-21 半導体センサ−

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JPS6327070A JPS6327070A (ja) 1988-02-04
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JPH04144175A (ja) * 1990-10-04 1992-05-18 Nec Corp 反射型ホトセンサー及びその製造方法
JPH0563675U (ja) * 1992-01-30 1993-08-24 上原ネームプレート工業株式会社 蒸着処理標体
JP6946921B2 (ja) * 2017-10-17 2021-10-13 株式会社デンソー 発受光装置の筐体

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JPS6327070A (ja) 1988-02-04

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