JPH05293088A - 無侵襲温度計測装置 - Google Patents
無侵襲温度計測装置Info
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Abstract
度向上というバランス法のメリットの低下を抑えなが
ら、短い測定時間で対象物の輝度温度を測定し、対象物
の温度が基準となる温度値以上か以下かを測定する無侵
襲温度計測装置を提供することを目的とする。 【構成】生体1から放射される熱雑音電波を受信してそ
の熱雑音電波に合わせて参照雑音源24の参照雑音温度
を調節することにより、前記生体1の温度を測定する無
侵襲温度計測装置において、生体1の目標温度に対応す
る基準輝度温度とバランスし得る参照雑音温度を求め、
その参照雑音温度を放出するように参照雑音源24を調
節する手段と、測定輝度温度の値と前記基準輝度温度の
値を比較し、この比較結果を出力する手段とを備えたも
のである。
Description
ヤや病巣部診断等に際してその生体の温度計測に用いる
無侵襲温度計測装置に関する。
術として、測定対象物から放出されるマイクロ波を受信
してその対象物の温度を測定するラジオメトリという手
法が知られている。この手法を生体に用いた例として
は、特公昭63−1064号公報等のものがある。また、生体
などを対象とした場合の問題点としての、アンテナの反
射係数の変化に対応した測定法としてのバランス法ラジ
オメトリについては、Elect.Leters, 14,194〜196 に示
されている。
測定技術に用いる技術が、特公昭63−1064号公報におい
て示されている。また、無侵襲温度測定によって自動的
に加温制御を行うものとしては、実公昭62−7331号公報
に記載されたものがある。温度測定時には、加温治療の
ための電磁波をオフしないと対象物から放射される微弱
なマイクロ波を測定できないが、そのため、測定時に加
温出力をオフする技術が特公昭57−53110 号公報におい
て示されている。
ジオメータは、参照雑音源を固定して、マイクロ波を受
信し、マイクロ波受信器の出力より測定対象物からの放
射されたマイクロ波電力、つまり、輝度温度を測定する
方式と、参照雑音源からの放射量、雑音温度を変化させ
て、マイクロ波受信器の出力をゼロにするようにするバ
ランス法という方式がある。
参照雑音源からマイクロ波を発生させ、これをアンテナ
から測定対象物に放射するとともに、その測定対象物か
ら放出および反射するマイクロ波を前記アンテナで受信
し、この受信マイクロ波の電力との差が零となるよう参
照雑音源の雑音温度を調節し、その差が零となったとき
の参照雑音源の温度をそのまま測定対象物の温度として
捕らえるようにしている。つまり、アンテナと生体との
境界面の電力反射係数に影響を受けることなく、精度の
高い測定を可能としている。
係数の影響を除去し、測定精度を高める利点がある。し
かし、その代わり、マイクロ波受信器の出力が零になる
まで、参照雑音源の雑音温度を変化させなくてはならな
いため、それに要する測定時間がかなり長くなるという
操作上の欠点があった。
ーサーミアなどの加温治療における温度測定器として用
いた場合、測定時間中は加温動作を遮断するので、その
測定時間が長くなると、加温能力がそれに伴って低下し
てくる。さらに、加温出力をオフした後の加温対象物の
温度は、通常、安定していない。したがって、測定時間
が長くかかると、むしろ正確な温度が測定できないとい
うこともあり得る。
ついては、細かく何℃であるという情報がなくても、加
温の目標である温度値以上か以下か、または、これ以上
に上げたくないという温度値以上か以下かということが
分かれば、その加温治療装置を充分に制御することがで
きるものである。
数の影響の除去による測定精度向上というバランス法の
メリットの低下を抑えながら、短い測定時間で対象物の
輝度温度を測定し、対象物の温度が基準となる温度値以
上か以下かを測定する無侵襲温度計測装置を提供するこ
とを目的とするものである。
定対象物から放射される熱雑音電波を受信してその熱雑
音電波に合わせて参照雑音源の参照雑音温度を調節する
ことにより、前記測定対象物の温度を測定する無侵襲温
度計測装置において、測定対象物の目標温度に対応する
基準輝度温度とバランスし得る参照雑音温度を求め、そ
の参照雑音温度を放出するように参照雑音源を調節する
手段と、測定輝度温度の値と前記基準輝度温度の値を比
較し、この比較結果を出力する手段を備えたものであ
る。
のための操作を必要としなくなるので、測定時間が大幅
に短縮される。また、参照雑音源の雑音温度を基準とな
る輝度温度とバランスするはずの値に設定するものであ
るため、基準となる輝度温度についてはバランス法で測
定したのと同じことになり、結果的に、アンテナと測定
対象物の境界面の反射係数に影響されること無く測定対
象物の温度を測定できる。ひいては、測定値がその基準
温度以上か以下かの比較結果は反射係数に影響されるこ
と無く捕られることができる。
照して説明する。まず、図1を参照して装置全体のシス
テムを説明する。
の生体(体腔)であり、この生体1内にプローブ2が挿
入される。プローブ2はその先端部分に送受信用アンテ
ナ3を有している。さらに、プローブ2にはアンテナ3
を囲むようにしてバルーン4が設けられている。前記ア
ンテナ3は、生体1にマイクロ波を照射し、または生体
1から放射される熱雑音電波(マイクロ波)を受信する
ものである。
ローブ2の内部に形成される図示されない管路を通じて
同じく図示されない給排装置からの水等の拡張用液体が
給排される。そして、プローブ2におけるバルーン4
は、その液体の注入により膨らみ、生体1の腔内面に密
着してアンテナ3を任意の位置に保持する働きをする。
また、バルーン4内には、そのバルーン4内の液体の温
度を測定するように温度センサ5が設けられている。
同軸スイッチ7に接続され、前記同軸スイッチ7を切り
換えることによってそのアンテナ3に加温用発振器8か
マイクロ波受信器9を選択的に接続するようになってい
る。同軸スイッチ7とマイクロ波受信器9は、同軸ケー
ブル11を通じて接続されている。マイクロ波受信器9
の出力は、測温用制御部15に送られる。また、後述す
るように、マイクロ波受信器9の参照雑音源は、その測
温用制御部15からの信号により制御される。
ーブ2の基体を成し、これらには、複数の温度センサ1
2a,12b,…12n、13a,13b,…13nが
その軸方向に沿って所定の間隔で複数の箇所に付設され
ている。これらの温度センサ12a,12b,…12
n、13a,13b,…13nは、前記ケーブル6,1
1の温度による測定誤差を無くす補正のためのものであ
る。
2n、13a,13b,…13nは、各同軸ケーブル
6,11の軸方向における温度分布を検出する。この検
出データは、温度計14を介して後述する測温用制御部
15に送られ、この測温用制御部15にて補正や校正の
計算に用いられる。測温用制御部15で得られた最終的
な測定温度データは加温用制御部16へ送られる。ま
た、この測定結果は、測温用表示部20において表示す
る。
18の水は、図示しない温度昇降手段によって加温また
は冷却され、所定の温度に調節される。その水の温度
は、水槽用温度センサ19で検出され、温度計14で測
定される。この測定された温度情報は、測温用制御部1
5に送られ、測温用制御部15はその水温を所定の温度
値にするように水槽18を制御する。この水槽18は、
校正時において用いるものであり、普段の測定において
は使用しない。
によって制御される。加温用制御部16は同軸スイッチ
7をも制御し、その切換え情報を測温用制御部15に送
っている。また、加温用制御部16は、加温制御のため
に測温用制御部15から温度情報を得ている。そして、
この加温状況を表示部20において表示させる。
内部回路の構成を説明する。すなわち、ディッキー・ス
イッチ21を介して前記同軸ケーブル11に、サーキュ
レータ22のポートが接続されている。ディッキー・ス
イッチ21は、同期信号発生器31からの矩形波状の同
期信号によりオン・オフし、オン時に同軸ケーブル11
とサーキュレータ22との間を導通させるものである。
ており、それらのポートには、その信号の伝達の順番
に、ディッキー・スイッチ21、アイソレータ23、参
照雑音源24が接続されている。ディッキー・スイッチ
21から送られてきた熱雑音信号はアイソレータ23を
介してRFアンプ25で増幅され、ミキサ26のRF端
子に入力される。アイソレータ23は、RFアンプ25
以降で反射された信号を吸収するためのものである。ミ
キサ26のLO端子に、局部発振器27の出力が減衰器
28を介して入力され、ミキサ26はその入力とRFア
ンプ25の出力とを乗算させて周波数変換を行う。この
信号がミキサ26のIF端子を介してアンプ29に送ら
れる。
めに、最適のLO端子出力を送り込むように調整されて
いる。雑音信号はIFアンプ29で増幅され、検波器3
0で雑音電力がDC成分として検波出力される。検波出
力されたDC成分は前記同期信号発生器31からの同期
信号に同期しているロックインアンプ32に入力され
る。なお、前述したように、ディッキー・スイッチ21
も、この同じ同期信号によってオン/オフ制御される。
し、マイクロコンピュータおよびその周辺回路から成
り、これは測温装置全般にわたる制御も行う。さらに、
この測温用制御部15は内部メモリを有しており、そこ
に測定温度をファイルとして記憶したり、温度計14の
検知温度を逐次に記憶するようになっている。
象物の目標温度に対応する基準輝度温度とバランスし得
る参照雑音温度を求め、その参照雑音温度を放出するよ
うに参照雑音源を調節する機能と、測定輝度温度の値と
前記基準輝度温度の値を比較し、この比較結果を出力す
る機能を備える。さらに、入力部33の操作に応じて校
正モードおよび計測モードを設定する機能などを備え
る。
信器9の動作を説明する。まず、ディッキー・スイッチ
21がオン時において、以下に示す電圧VONが検波器3
0で検波出力されている。 VON=k・G・Cd (1−R)Tobj ・B+k・G・C
d ・R・Tref ・B k :ボルツマン定数
照雑音源24からの雑音電力がサーキュレータ22を通
じてディッキー・スイッチ21に送られる。そして、デ
ィッキー・スイッチ21で全反射されて再度、サーキュ
レータ22を通って、アイソレータ23を介してRFア
ンプ25に入力される。 よって、以下に示す電圧V
OFF が、検波出力される。 VOFF =k・G・Cd ・Tref ・B
信号と参照信号とを掛算し、その結果を積分するもので
あり、すなわち、参照信号と同じ周波数成分のみを取り
出す装置である。よって、簡略的に理解すると、ディッ
キー・スイッチ21のオン時とオフ時の検波信号の差を
検出していることになる。すると、ロックインアンプ3
2の出力VLOCKは以下のようになる。 VLOCK=k・GSYS ・B(1−R)(Tobj −Tref ) GSYS :システム全体のゲイン ここで、VLOCKが零になるように参照雑音源24を調節
すると、反射係数Rが1でない場合であれば、Tobj =
Tref となり、反射係数Rに関係が無い測定ができる。
これがバランス法の原理である。
説明する。まず、入力部33で校正モードに設定し、そ
のモードの開始操作を行う。すなわち、水槽18内の水
中にプローブ2を入れ、その水槽18内の水温を、測定
対象物の温度を含む範囲で、測温用制御部15の指令に
より変化させる。
における、その温度水槽18内の水温をTw ′、この装
置で測定した輝度温度をTref ′とし、 この
Tw ′とTref ′とを種々測定してその間の相関を求
め、この相関関係のデータを測温用制御部15の内部メ
モリに記憶する。また、このとき、温度センサ12a,
12b,…12n、13a,13b,…13nで測定し
たケーブル6,11の温度分布も、測温用制御部15の
内部メモリに記憶しておく。
う。これはときどき行って装置を校正しておく。この校
正時の輝度温度測定は、時間的に急ぐものではないの
で、バランス法を用いて行う方が良い。
べる。まず、最初に図1で示すように、プローブ2を加
温・測温対象物の生体(体腔)1に挿入して装着する。
このとき、バルーン4を膨らませて生体1の所定位置に
固定する。そして、加温用制御部16からの信号によ
り、同軸スイッチ7を操作し、加温用発振器8側にアン
テナ3を接続する。さらに、加温用制御部16からの信
号によって、加温用発振器8がオンの状態とされ、その
加温用発振器8が出力動作を行う。そして、アンテナ3
から照射されるマイクロ波で生体1は加温される。
いが、可変可能なものである場合には、その出力値も加
温用制御部16によって調節することができる。また、
加温出力値、及び積算エネルギー量などを加温表示部2
0に表示させる。一定時間加温した後、加温用制御部1
6からの信号によって、まず、加温用発振器8の出力が
オフされる。
マイクロ波受信器9側にアンテナ3が接続される。そし
て、まず、温度センサ5で検出するバルーン4内の液体
の温度を温度計14を介して測温用制御部15に取り込
む。
波の雑音温度は、このバルーン4内の液体によって減衰
される。したがって、望みの生体1の輝度温度をxとす
れば、そのxが得られるときのアンテナ3の温度は、前
記取り込んだバルーン4内の液体温度、およびその液体
の減衰定数(これは、内部メモリに予め記憶されてい
る。)から求めることができる。つまり、生体1の本来
の輝度温度をアンテナ3での輝度温度に置き換え、それ
を基準アンテナ温度(基準輝度温度)とする。
アンテナ3では何℃に受信されるかを、そのバルーン4
の内部温度を用いて測温用制御部15内の演算機能で計
算を行うのである。
は、アンテナ3の放射方向をアンテナ3の軸と垂直にな
っているように近似する方法や、アンテナ3の近傍放射
界分布を測定し、それをデータとして用いて計算を行う
方法などがある。どの方法においても、バルーン4内の
液体の減衰定数は、前もって測温用制御部15のメモリ
内に入力しておく必要はある。なお、この計算について
は、加温中にも温度センサ5による温度計測が可能なの
であれば、加温中に測温用制御部15はこの温度を読み
込んで前もって計算しておくことが可能である。
御部15は、マイクロ波受信器9内の参照雑音源24
を、前記基準アンテナ温度とバランスするはずの雑音温
度に設定する。
の水温TW と測定値Tref の相関を、校正用データ測定
時と実際の測定時での温度センサ温度センサ12a,1
2b,…12n、13a,13b,…13nで測定され
るケーブル6,11の温度の差で補正し、補正後の相関
の水温Tw に基準アンテナ温度を代入することにより求
まる。すると、基準アンテナ温度とバランスするはずの
参照雑音源24の雑音温度Tref が計算できる。
り求めた値に設定した後、マイクロ波受信器9の出力を
測温用制御部15に取り込み、実際のマイクロ波受信器
9の測定値が前記基準アンテナ温度より高いか低いかを
比較判断する。つまり、ロックインアンプ32の出力が
正か負または零かを判断する。
ば、低くなるまで加温を行わずに加温・測温対象物の生
体1の温度が下がるのを待つ。もし、低ければ、そのこ
とを信号で加温用制御部16に知らせる。すると、加温
用制御部16は、同軸スイッチ7の切り換えを行って加
温用発振器8側への接続に戻し、加温用発振器8の出力
をオンにすることにより加温を行う。
アンテナ温度とバランスする値に調節されていれば、実
際の受信輝度温度が基準アンテナ温度になったとき、ア
ンテナ3の反射係数Rに関係なくマイクロ波受信器9の
出力が零となるはずである。よって、実際の測定値が基
準アンテナ温度より高い場合と低い場合、それが、マイ
クロ波受信器9の出力の符号に違いとして得られ、明確
に判断できる。
したい温度付近に、単に固定してあると、バランスした
ときの測定値が基準アンテナ温度である保証は何もな
く、2つの温度の差を出力の符号で判断できなくなるこ
とはもちろん、アンテナ3の反射係数の変化があった場
合にその判断さえ容易にできなくなってしまう。
計算結果と校正データからの処理によって算出された温
度にするだけの操作しか行わないので、バランス法のよ
うに参照雑音源24の雑音温度を何度も操作する必要が
無く、結果として測定時間の短縮が可能である。もし、
バルーン4内の温度センサ5による温度検出が加温中に
も可能であれば、参照雑音源24の制御を加温中に行う
ことも可能であり、その場合には更に測定時間が短縮で
きる。
の加温治療に際し、温度測定に伴う加温出力のオフ時間
を短く押さえることができ、かつバランス法ラジオメト
リのメリットによる精度の高い温度制御を確保できる。
を示すものである。図3はその装置の全体的な構成を示
しており、その基本的な構成は、前述した第1の実施例
のものと同様なものであるが、バルーン4の外表面側の
温度、すなわち、生体1の表面の温度を測定できる温度
センサ35を付加している。また、マイクロ波受信器9
は図4で示すように構成されている。この構成は以下の
点を除いて前述した第1の実施例のものと同じである。
に、前記測温用制御部15によって制御される同軸スイ
ッチ41を設けた。また、参照雑音源24が、2つの参
照雑音源24a,24bを有し、それらは同軸スイッチ
41を切換えることにより選択される。これら参照雑音
源24a,24bはどちらも測温用制御部15によって
制御される。
いても、第1の実施例と異なるのは、同軸スイッチ41
によって参照雑音源24a,24bが切り換えられるこ
とだけであり、他の部分については同じである。次に、
これの操作とその動作について説明する。校正用データ
の測定については前述した第1の実施例の場合と同じで
ある。
まず、プローブ2を加温・測温対象たる生体1に装着す
る。加温用制御部16からの信号により同軸スイッチ7
が加温用発振器8側を接続するように切り換える。加温
用発振器8は加温用制御部16からの信号によって出力
がオンにされる。加温出力は固定でも良いが、可変なら
ば、この出力値も加温制御部16によって制御される。
可能ならば、温度センサ35による温度検出を行い、温
度計14を介して加温用制御部16に入力させることも
できる。このときには、温度センサ35の温度により生
体1の表面が危険温度を越していないかどうかの確認が
可能となる。また、その検出温度や加温出力値及び積算
エネルギー量などを加温表示部20に表示させる。
信号によって、まず、加温用発振器8の出力がオフされ
る。ついで、同軸スイッチ7が切り換えられ、マイクロ
波受信器9側への接続に切り換わる。測温用制御部15
は、まず、バルーン4内の液体温度を測定している温度
センサ5、または温度センサ5,35の両方で検出でき
る温度の検出データを温度計14を介して入力を受け
る。
射されているマイクロ波の雑音温度が、このバルーン4
内またはバルーン4内と生体1の内表層部で減衰し、か
つ、その減衰分だけその部分の温度の雑音が足し合わさ
れるわけであるので、基準とする生体1の表面または内
部からの輝度温度出力がアンテナ3では、何℃に受信さ
れるかを、バルーン4内の温度を用いて測温用制御部1
5の演算機能がその計算を行う。
と呼ぶ。この基準アンテナ温度には下限と上限がある。
この場合の計算方法には、アンテナ3の放射方向をその
アンテナ3の軸と垂直になっているように近似する方法
や、アンテナ3の近傍放射界分布を測定し、それをデー
タとして用いて計算を行う方法などがある。また、温度
分布モデルについて、温度センサ35を用いるときは、
生体1の内表層部の温度はこの温度センサ35の検知し
た温度を用いることができる。どの方法においても、バ
ルーン4内の液体の減衰定数や生体1の組織の減衰定数
は前もって測温用制御部15のメモリ内に入力されてい
る必要はある。なお、この計算については、加温中にも
温度センサ5,35による温度計測が可能なのであれ
ば、加温中に測温用制御部15は,この温度を読み込ん
で前もって計算しておくことが可能である。
御部15はマイクロ波受信器9内の同軸スイッチ41を
参照雑音源24a側に切り換え、その参照雑音源24a
を、前記計算によって得られた下限基準アンテナ温度を
入力したときにバランスする雑音温度に設定・制御す
る。実際の計算方法としては、校正用データでのTW と
Tref の相関を、校正用データ測定時と実際の測定時で
の温度センサ5,35で測定されるケーブル温度の差で
補正し、補正後の相関のTW に下限基準アンテナ温度を
代入すればよい。すると、下限基準アンテナ温度とバラ
ンスするはずの参照雑音源24の雑音温度Tref が計算
できる。
れた雑音温度に制御した後、マイクロ波受信器9の出力
を測温用制御部15に入力し、実際のアンテナ3での受
信輝度温度が下限基準アンテナ温度より高いか低いかを
判断する。もし、下限基準アンテナ温度より低いのであ
れば、そのことを信号で加温用制御部16に知らせる。
すると、加温用制御部16が同軸スイッチ7の切り換え
を行って加温用発振器8側への接続に戻し、加温用発振
器8の出力をオンにし、少し長めの加温を行い、次回の
測温をその後に行う。もし、高いのであれば、参照雑音
源24を、上限基準アンテナ温度とバランスする雑音温
度に設定する。これは、マイクロ波受信器9の出力結果
を見る前から設定していても何ら問題なく、むしろ測定
時間としてはその方が良いものである。
源24b側への接続に切り換え、上限基準アンテナ温度
と実際の受信輝度温度との比較を行う。そして、受信輝
度温度が上限基準アンテナ温度より高ければ、受信輝度
温度が下限基準アンテナ温度に下がるまでこの測温をし
ながら待つ。もし低ければ、同軸スイッチ7を切り換
え、加温用発振器8をオンし、少し短めの加温を行い、
次回の測温をその後に行う。
の実施例の利点の他に、加温温度にヒステリシスを与え
ているので、第1の実施例の場合より安定した加温が行
える。また、加温出力が可変の場合には、下限基準アン
テナ温度以下の時と以上の時とでその後の1サイクルの
加温時間だけでなく加温出力も制御すると、さらに安定
した加温が行える。
に設けることによって、生体1表面の危険温度を検知で
きることや、体腔内1内部の温度を輝度温度より推定す
るときの精度が向上するという利点がある。
を、上限基準アンテナ温度と下限基準アンテナ温度とい
う設定にせず、一方を基準アンテナ温度にしてもう一方
を危険アンテナ温度とすることによって加温制御を第1
の実施例の場合と同じようにしながら過加温の保護を行
うというシステムに変更することもできる。
である。この装置の基本的な構成は、プローブ2の先端
部の構成以外については前述した第1の実施例のものと
同様なものである。
ローブ2の先端には、アンテナ3があり、このアンテナ
3において最も電力が放射される部分のすぐ近くに温度
センサ5を設ける。さらに、アンテナ3と温度センサ5
を含むプローブ先端部分はシリコンチューブやシリコン
材等のシリコン部材51で囲われている。ここで、シリ
コン部材51を用いたのは柔軟性や生体1との適合性、
表面の適度な滑らかさ等から選択されたためであり、用
途によってはこの材質は変更されても良い。
ないため、送排水管路は必要としない。この実施例にお
いては、生体1の表層部から既に癌等に侵されていてそ
の表層部の冷却の必要性が無い場合や、生体腔内の径が
細く、バルーン付きのプローブでは挿入が不可能な場合
などに用いることができる。
はそのアンテナ3からの距離によって単調減少する形と
なるため、その減少カーブの距離に対する関数形を経験
から推定すれば、表面温度(温度センサ5で検知する温
度)と実際の受信輝度温度の2つから前記関数(すなわ
ち、推定温度分布)を決定することも可能である。
と組み合わせたもののみを挙げてあるが、これに限定さ
れるものではなく、測温装置単体でも発明は有効であ
る。生体の患部は正常部位より温度が高いと一般に言わ
れており、正常部位の温度を基にして基準アンテナ温度
を設定すれば患部の検出が容易に行えることになる。
測定時において、バランスのための操作を必要としなく
なるので、測定時間が大幅に短縮される。また、基準と
なる輝度温度についてはアンテナと測定対象物の境界面
の反射係数に影響されること無く測定でき、測定値がそ
の基準の輝度温度以上か以下かについて比較結果が前記
反射係数に影響されること無く求めることができる。
器の構成説明図。
器の構成説明図。
バルーン、5…温度センサ、9…マイクロ波受信器、8
…加温用発振器、15…測温用制御部、16…加温用制
御部、21…ディッキー・スイッチ、22…サーキュレ
ータ、23…アイソレータ、24…参照雑音源、26…
ミキサ、31…同期信号発生器、32…ロックインアン
プ、35…温度センサ。
Claims (1)
- 【請求項1】 測定対象物から放射される熱雑音電波を
受信してその熱雑音電波に合わせて参照雑音源の参照雑
音温度を調節することにより、前記測定対象物の温度を
測定する無侵襲温度計測装置において、 測定対象物の目標温度に対応する基準輝度温度とバラン
スし得る参照雑音温度を求め、その参照雑音温度を放出
するように参照雑音源を調節する手段と、 測定輝度温度の値と前記基準輝度温度の値を比較し、こ
の比較結果を出力する手段とを備えたことを特徴とする
無侵襲温度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04098281A JP3084124B2 (ja) | 1992-04-17 | 1992-04-17 | 無侵襲温度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04098281A JP3084124B2 (ja) | 1992-04-17 | 1992-04-17 | 無侵襲温度計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05293088A true JPH05293088A (ja) | 1993-11-09 |
| JP3084124B2 JP3084124B2 (ja) | 2000-09-04 |
Family
ID=14215549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04098281A Expired - Lifetime JP3084124B2 (ja) | 1992-04-17 | 1992-04-17 | 無侵襲温度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3084124B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013192553A1 (en) * | 2012-06-22 | 2013-12-27 | Covidien Lp | Microwave thermometry for microwave ablation systems |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102315222B1 (ko) * | 2021-04-22 | 2021-10-21 | (주)이지템 | 마이크로웨이브 수신기용 라디오미터 및 그의 탐지체 온도 측정 방법 |
-
1992
- 1992-04-17 JP JP04098281A patent/JP3084124B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013192553A1 (en) * | 2012-06-22 | 2013-12-27 | Covidien Lp | Microwave thermometry for microwave ablation systems |
| JP2015521741A (ja) * | 2012-06-22 | 2015-07-30 | コビディエン エルピー | マイクロ波焼灼システムのためのマイクロ波温度測定 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3084124B2 (ja) | 2000-09-04 |
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