JPH0530862B2 - - Google Patents

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JPH0530862B2
JPH0530862B2 JP5193586A JP5193586A JPH0530862B2 JP H0530862 B2 JPH0530862 B2 JP H0530862B2 JP 5193586 A JP5193586 A JP 5193586A JP 5193586 A JP5193586 A JP 5193586A JP H0530862 B2 JPH0530862 B2 JP H0530862B2
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JP
Japan
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epoxy
resin
hydrogenated polybutadiene
agent
modified hydrogenated
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JP5193586A
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Japanese (ja)
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JPS62209125A (en
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Ichiro Takahashi
Hiromi Ito
Goro Okamoto
Osamu Hayashi
Kazuo Okabashi
Tatsuhiko Akyama
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[産業上の利用分野] 本発明は半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関
する。さらに詳しくは、エポキシ変成水添ポリブ
タジエン樹脂とフエノールノボラツク樹脂との予
備反応物を可撓化剤として用いた半導体封止用エ
ポキシ樹脂組成物であり、エポキシ樹脂の耐熱性
と耐湿性とを保持し、かつ低弾性率で低膨脹率の
硬化物を提供する半導体封止用エポキシ樹脂組成
物に関する。 [従来の技術・発明が解決しようとする問題点] 近年、半導体素子は大型化、高集積化の傾向を
強め、従来のエポキシ樹脂組成物で半導体を封止
したばあい、チツプやリードフレームと封止樹脂
との線膨脹率の差による熱応力により、チツプに
クラツクが生じたり、ボンデイング線が切断され
るなど、半導体部品の信頼性が低下するという問
題がある。これは、従来の半導体封止用エポキシ
樹脂組成物が耐熱性と耐水性という観点から開発
されており、その硬化物は非常に硬く、可撓性が
乏しく、素子に加わる応力が大きくなるためであ
る。 この応力を小さくするには、弾性率、膨脹率お
よびガラス転移点を低下させればよいが、耐湿性
と耐熱性を保持するという面からみると、ガラス
転移点は高い方がよい。 低応力化の方法として可撓化剤を添加する方法
があるが、従来の可撓化剤で弾性率を低下させる
方法では硬化物のガラス転移点が大きく低下し、
高温時の電気特性および耐湿性の劣化がおこり、
半導体封止用樹脂組成物として不適当である。 高温時の電気特性をよくするために、耐熱性の
ある可撓化剤である低弾性率のシリコーン樹脂を
配合する方法もあるが、シリコーン樹脂を用いる
と金属との接着性が劣り、透湿性が大きくなるた
め、耐湿性の面で信頼性が欠けるという問題があ
る。 耐湿性およびガラス転移点の低下のない可撓化
剤として、両端末にカルボキシル基を有するポリ
ブタジエンまたは両端末にカルボキシル基を有す
るポリブタジエンとアクリロニトリルとの共重合
体とエポキシ樹脂とを反応させてえられるゴム変
性エポキシ可撓化剤も提案されているが、高温に
保持するとポリブタジエン構造中の不飽和結合が
酸化され、劣化し、可撓性が消失するという問題
がある。 [問題点を解決するための手段] 本発明者らはかかる問題を改良すべく、耐熱性
を耐湿性とを有し、かつ低弾性率の半導体封止材
料をうるため鋭意研究を重ねた結果、エポキシ変
成水添ポリブタジエン樹脂とフエノールノボラツ
ク樹脂との予備反応物である可撓化剤、ノボラツ
ク型エポキシ樹脂、硬化剤、硬化促進剤、充填
剤、離型剤、表面処理剤を含む半導体封止用エポ
キシ樹脂組成物を見出し、本発明を完成するに至
つた。 [実施例] 本発明に用いるノボラツク型エポキシ樹脂とし
ては、たとえばクレゾールノボラツク型エポキシ
樹脂、フエノールノボラツク型エポキシ樹脂、ア
ルキルベンゼン変成フエノールノボラツク型エポ
キシ樹脂、臭素化フエノールノボラツク型エポキ
シ樹脂などがあげられるが、これらに限定される
ものではない。これらは単独で用いてもよく、2
種以上併用してもよい。 本発明に用いる硬化剤としては、たとえばフエ
ノールノボラツク樹脂、クレゾールノボラツク樹
脂、アルキル変成フエノールノボラツク樹脂など
があげられるが、これらに限定されるものではな
い。これらは単独で用いてもよく、2種以上併用
してもよい。 本発明に用いる硬化促進剤は通常の触媒である
かぎりとくに制限なく使用することができ、その
具体例としては、たとえばトリフエニルホスフイ
ン、亜リン酸トリフエニルなどのリン化合物、2
−メチルイミダゾール、2−フエニルイミダゾー
ル、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデ
シルイミダゾール、2−エチル、−4−メチルイ
ミダゾールなどのイミダゾール類、2−(ジメチ
ルアミノメチル)フエノール、2,4,6−トリ
ス(ジメチルアミノメチル)フエノール、ベンジ
ルジメチルアミン、α−メチルベンジルメチルア
ミンのような第3アミン、1,8−ジアザビシク
ロ(5,4,0)ウンデセン−7などの有機酸塩
類があり、その添加量は封止樹脂組成物中に、
0.02〜1.0%(重量%、以下同様)でよい。 本発明に用いる充填剤としては、たとえば結晶
性シリカ粉、石英ガラス粉などがあげられる。充
填剤の添加量は封止用樹脂組成物中に50〜80%が
望ましく、80%をこえると組成物の流動性が低く
なり、成形が難しくなり、50%未満になると線膨
脹率が大きくなるなどの問題が生じる傾向にあ
る。 離型剤としては、たとえば天然ワツクス、合成
ワツクス、高級脂肪酸またはその金属塩類、ある
いはパラフイン類などがあげられる。 表面処理剤とは充填剤の表面処理剤のことであ
り、公知のシランカツプリング剤が用いられる。 本発明において、エポキシ変成水添ポリブタジ
エン樹脂とフエノールノボラツク樹脂との予備反
応物が可撓化剤として用いられる。 前記エポキシ変成水添ポリブタジエン樹脂と
は、たとえば末満にカルボキシル基を有する水素
添加型ポリブタジエン樹脂あるいは末端に水酸基
を有する水素添加型ポリブタジエン樹脂とビスフ
エノール型エポキシ樹脂あるいは脂環式エポキシ
樹脂の混合物に所定の触媒を加え、130〜150℃、
窒素雰囲気下で2〜30時間程度反応させてえられ
る両末満にエポキシ基をもつエポキシ変成水添ポ
リブタジエン樹脂のごとき樹脂のことである。 前記末端にカルボキシル基を有する水素添加型
ポリブタジエン樹脂としては、たとえば日本曹達
(株)製のCI1000などがあげられる。また末端に水
酸基を有する水素添加型ポリブタジエン樹脂とし
ては、たとえば日本曹達(株)製のGI1000、GI2000、
GI3000などがあげられる。さらにビスフエノー
ル型エポキシ樹脂としては、たとえば油化シエル
エポキシ(株)製のエピコート807、同827、同828、
同834など、チバガイギー社製のアラルダイト
GY250、同255、同260、同280など、ダウケミカ
ル社製のDER−330、同331、同337などがあげら
れる。脂環式エポキシ樹脂としては、たとえばチ
バガイギー社製のアラルダイトCY175、同179、
同180、RD−4などがあげられる。 エポキシ変成水添ポリブタジエン樹脂とフエノ
ールノボラツク樹脂との予備反応物は、エポキシ
変成水添ポリブタジエン樹脂とフエノールノボラ
ツク樹脂の混合物に、触媒としてリン系化合物あ
るいはイミダゾール系化合物などを加え、窒素雰
囲気下で120〜150℃、5〜20時間程度の反応によ
つてえられる。 前記フエノールノボラツク樹脂は、軟化点が60
〜110℃のものが望ましい。触媒として用いるリ
ン系化合物としては、たとえばトリフエニルホス
フインなどのホスフイン類、イミダゾール系化合
物としては、とくに2−エチル−4−メチルイミ
ダゾール、2−メチルイミダゾール、2−ウンデ
シルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾー
ルが好ましい。 エポキシ変成水添ポリブタジエン樹脂とフエノ
ールノボラツク樹脂の配合比は、エポキシ変成水
添ポリブタジエン樹脂中のエポキシ基とフエノー
ルノボラツク樹脂中の水酸基の当量比(エポキシ
基/フエノール性水酸基)が0.02/1〜0.3/1
となるような割合が好ましい。エポキシ変成水添
ポリブタジエン樹脂中のエポキシ基とフエノール
ノボラツク樹脂中の水酸基の当量比が0.02より小
さいばあいには、可撓化剤中の水添ポリブタジエ
ン成分の割合が少なくなり、半導体封止材料に用
いても可撓化効果を充分発揮しないことがあり、
当量比が0.3より大きいばあいには、エポキシ変
成水添ポリブタジエン樹脂とフエノールノボラツ
ク樹脂の予備反応中にゲル化がおこつたり、安定
した可撓化剤をうることができなかつたりしがち
である。 触媒の添加量はエポキシ変成水添ポリブタジエ
ン樹脂100部(重量部、以下同様)に対して0.1〜
2.0部が好ましい。 このようにして製造されるエポキシ変成水添ポ
リブタジエン樹脂とフエノールノボラツク樹脂と
の予備反応物である可撓化剤の添加量[s]は硬
化剤量[b]に対して[s]/([b]+[s])で
5〜70%の範囲であることが好ましく、10〜60%
であることがさらに好ましい。該割合が5%未満
では、えられる組成物を形成したばあいの弾性率
の低下が少なく、可撓性効果が充分でないばあい
があり、70%をこえると、ガラス転移点の低下の
生ずることがあつたり、機械的強度の低下、高温
時の電気特性が低下が大きくなることがあるなど
の問題が生じやすくなる傾向にある。 本発明の組成物におけるノボラツク型エポキシ
樹脂のエポキシ基と硬化剤および可撓化剤中のフ
エノール性水酸基の合計との当量比(エポキシ
基/フエノール性水酸基)は、0.7〜1.3の範囲が
好ましい。 本発明の組成物には必要に応じて、カーボンの
ような着色剤、三酸化アンチモン、五酸化アンチ
モン、リン酸塩などの難燃剤などを添加してもよ
い。以下、実施例に基づき具体的に本発明の組成
物を説明する。 実施例 1〜8 末端にカルボキシル基を有する水添ポリブタジ
エン樹脂(CI1000)100部とビスフエノール型エ
ポキシ樹脂(エピコート828)64部と2−エチル
−4−メチルイミダゾール0.5部とを窒素を吹き
込みながら150℃で6時間反応させ、両端末にエ
ポキシ基をもエポキシ当量900のエポキシ変成水
添ポリブタジエン樹脂を合成した。 フエノールノボラツク樹脂(PSF−4261、群栄
化学(株)製)100部と上記エポキシ変成水添ポリブ
タジエン樹脂85部(エポキシ基/フエノール性水
酸基の当量比=0.1)と2−エチル−4−メチル
イミダゾール0.3部とを、窒素を吹き込みながら
140℃で10時間反応させ、エポキシ変成水添ポリ
ブタジエン樹脂とフエノールノボラツク樹脂とを
予備反応させた可撓化剤(A)をえた。 クレゾールノボラツク型エポキシ樹脂
(EOCN102S、日本化薬(株)製)、臭素化フエノー
ルノボラツク型エポキシ樹脂(BREN−S、日
本化薬(株)製)、硬化剤であるフエノールノボラツ
ク樹脂(PSF−4261)、硬化促進剤、可撓化剤(A)、
充填剤としての溶融シリカ(RD−8、龍森(株)
製)およびその他の材料(シランカツプリング剤
2部、三酸化アンチモン6部、ワツクス2部、着
色剤5部)を第1表に示す割合で混合したのち、
加熱ロールにより混練後冷却し、粉砕して、成形
用エポキシ樹脂組成物を調製した。 えられた組成物を175℃/3分の条件で成形し、
180℃、6時間の後硬化を行ない、硬化試験片を
作製した。 こうしてえられた成形品の曲げ弾性率(JIS
K6911)、ガラス転移点および121℃、2気圧で
500時間のプレツシヤークツカーテスト前後の体
積抵抗率を測定した。結果を第1表に示す。 実施例 9 フエノールノボラツク樹脂(PSF−4261)100
部と実施例1で用いたエポキシ変成水添ポリブタ
ジエン樹脂42部(エポキシ基/フエノール性水酸
基の当量比=0.05)と2−エチル−4−メチルイ
ミダゾール0.2部とを配合し、実施例1と同様に
して反応させ、えられた可撓化剤(B)を用いた他は
実施例1と同様にして組成物を調製し、評価し
た。結果を第1表に示す。 実施例 10 エポキシ変成水添ポリブタジエン樹脂の合成お
よびエポキシ変成水添ポリブタジエン樹脂とフエ
ノールノボラツク樹脂の予備反応に用いる触媒と
してトリフエニルホスフインを用い、かつえられ
た可撓化剤(C)を用いた他は実施例6と同様にして
組成物を調製し、評価した。結果を第1表に示
す。 比較例 1 可撓化剤としてダウケミカル社製のDER736を
用いて第1表の配合組成の封止用エポキシ樹脂組
成物を調製し、評価した。結果を第1表に示す。 比較例 2 可撓化剤としてチバガイギー社製のアラルダイ
トGY298を用い、第1表の配合組成の封止用エ
ポキシ樹脂組成物を調製し、評価した。結果を第
1表に示す。 比較例 3 可撓化剤を用いないで第1表の配合組成の封止
用エポキシ樹脂組成物を調製し、評価した。結果
を第1表に示す。
[Industrial Application Field] The present invention relates to an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation. More specifically, it is an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation that uses a preliminary reaction product of epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and phenol novolak resin as a flexibilizing agent, and maintains the heat resistance and moisture resistance of the epoxy resin. The present invention relates to an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation which provides a cured product having a low elastic modulus and a low expansion coefficient. [Problems to be solved by conventional technology/inventions] In recent years, semiconductor devices have become larger and more highly integrated, and when semiconductors are encapsulated with conventional epoxy resin compositions, chips and lead frames Thermal stress caused by the difference in coefficient of linear expansion with the sealing resin causes problems such as cracks in the chip and breakage of bonding lines, reducing the reliability of semiconductor components. This is because conventional epoxy resin compositions for semiconductor encapsulation have been developed from the viewpoint of heat resistance and water resistance, and the cured product is extremely hard and has poor flexibility, which increases the stress applied to the device. be. This stress can be reduced by lowering the elastic modulus, expansion coefficient, and glass transition point, but from the viewpoint of maintaining moisture resistance and heat resistance, the higher the glass transition point is, the better. One way to reduce stress is to add a flexibilizing agent, but the conventional method of lowering the elastic modulus with a flexibilizing agent greatly lowers the glass transition point of the cured product.
Deterioration of electrical properties and moisture resistance occurs at high temperatures,
It is unsuitable as a resin composition for semiconductor encapsulation. In order to improve electrical properties at high temperatures, there is a method of blending silicone resin with a low elastic modulus, which is a heat-resistant flexibilizing agent, but using silicone resin has poor adhesion to metals and poor moisture permeability. Because of this, there is a problem of lack of reliability in terms of moisture resistance. As a flexibilizing agent that has moisture resistance and does not lower the glass transition point, it is obtained by reacting polybutadiene having carboxyl groups at both ends or a copolymer of polybutadiene and acrylonitrile having carboxyl groups at both ends with an epoxy resin. Rubber-modified epoxy flexibilizing agents have also been proposed, but there is a problem in that unsaturated bonds in the polybutadiene structure are oxidized and degraded when kept at high temperatures, resulting in loss of flexibility. [Means for solving the problem] In order to improve the problem, the present inventors have conducted intensive research to obtain a semiconductor encapsulating material that has heat resistance, moisture resistance, and a low elastic modulus. , a flexibilizing agent which is a preliminary reaction product of an epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and a phenol novolac resin, a novolac-type epoxy resin, a hardening agent, a curing accelerator, a filler, a mold release agent, and a semiconductor encapsulation containing a surface treatment agent. The inventors discovered an epoxy resin composition for use as a stopper and completed the present invention. [Example] Examples of the novolak type epoxy resin used in the present invention include cresol novolak type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, alkylbenzene-modified phenol novolak type epoxy resin, and brominated phenol novolak type epoxy resin. However, it is not limited to these. These may be used alone, or 2
More than one species may be used in combination. Examples of the curing agent used in the present invention include, but are not limited to, phenol novolak resins, cresol novolak resins, alkyl-modified phenol novolak resins, and the like. These may be used alone or in combination of two or more. The curing accelerator used in the present invention can be used without particular limitation as long as it is a common catalyst, and specific examples thereof include phosphorus compounds such as triphenylphosphine and triphenyl phosphite;
-Imidazoles such as methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecyl imidazole, 2-ethyl, -4-methylimidazole, 2-(dimethylaminomethyl)phenol, 2,4,6 - Tertiary amines such as tris(dimethylaminomethyl)phenol, benzyldimethylamine, α-methylbenzylmethylamine, and organic acid salts such as 1,8-diazabicyclo(5,4,0)undecene-7; The amount added is in the sealing resin composition,
It may be 0.02 to 1.0% (weight%, the same applies hereinafter). Examples of the filler used in the present invention include crystalline silica powder and quartz glass powder. The amount of filler added to the sealing resin composition is preferably 50 to 80%; if it exceeds 80%, the fluidity of the composition will decrease and molding will become difficult, and if it is less than 50%, the coefficient of linear expansion will increase. Problems such as problems tend to occur. Examples of the mold release agent include natural waxes, synthetic waxes, higher fatty acids or metal salts thereof, and paraffins. The surface treatment agent refers to a surface treatment agent for the filler, and a known silane coupling agent is used. In the present invention, a pre-reaction product of an epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and a phenolic novolak resin is used as a flexibilizing agent. The epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin is, for example, a hydrogenated polybutadiene resin having a carboxyl group at the end, or a mixture of a hydrogenated polybutadiene resin having a hydroxyl group at the end, a bisphenol epoxy resin, or an alicyclic epoxy resin. Add catalyst and heat to 130-150℃,
It refers to a resin such as an epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin having epoxy groups at both ends, which is obtained by reaction in a nitrogen atmosphere for about 2 to 30 hours. As the hydrogenated polybutadiene resin having a carboxyl group at the terminal, for example, Nippon Soda
Examples include CI1000 manufactured by Co., Ltd. Examples of hydrogenated polybutadiene resins having hydroxyl groups at the terminals include GI1000 and GI2000 manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.
Examples include GI3000. Further, as bisphenol type epoxy resins, for example, Epicoat 807, 827, 828 manufactured by Yuka Ciel Epoxy Co., Ltd.
Ciba Geigy's Araldite, such as 834.
Examples include GY250, GY255, GY260, GY280, and Dow Chemical's DER-330, GY331, and GY337. Examples of alicyclic epoxy resins include Araldite CY175, Araldite CY179, and Ciba Geigy.
Examples include 180 and RD-4. A preliminary reaction product of an epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and a phenol novolak resin is prepared by adding a phosphorus-based compound or an imidazole-based compound as a catalyst to a mixture of an epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and a phenol novolak resin, and then reacting the mixture under a nitrogen atmosphere. It can be obtained by reaction at 120-150°C for about 5-20 hours. The phenol novolac resin has a softening point of 60
~110℃ is preferable. Examples of phosphorus compounds used as catalysts include phosphines such as triphenylphosphine, and imidazole compounds include 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, and 2-heptadecyl. Imidazole is preferred. The compounding ratio of the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and the phenolic novolac resin is such that the equivalent ratio of the epoxy group in the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin to the hydroxyl group in the phenolic novolac resin (epoxy group/phenolic hydroxyl group) is 0.02/1 to 1. 0.3/1
It is preferable that the ratio is as follows. If the equivalent ratio of the epoxy groups in the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin to the hydroxyl groups in the phenol novolac resin is less than 0.02, the proportion of the hydrogenated polybutadiene component in the flexibilizing agent decreases, and the semiconductor encapsulation material Even if used for
If the equivalence ratio is greater than 0.3, gelation tends to occur during the preliminary reaction between the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and the phenol novolac resin, or a stable flexibilizing agent may not be obtained. be. The amount of catalyst added is 0.1 to 100 parts (parts by weight, same hereinafter) of epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin.
2.0 parts is preferred. The amount [s] of the flexibilizing agent, which is a preliminary reaction product between the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and the phenol novolac resin produced in this way, is determined by [s]/( [b]+[s]) is preferably in the range of 5 to 70%, and 10 to 60%
It is more preferable that If the proportion is less than 5%, the elastic modulus of the obtained composition may not be reduced sufficiently, and the flexibility effect may not be sufficient, and if it exceeds 70%, the glass transition point may be lowered. Problems such as heating, a decrease in mechanical strength, and a significant decrease in electrical properties at high temperatures tend to occur. The equivalent ratio (epoxy group/phenolic hydroxyl group) between the epoxy group of the novolak type epoxy resin and the total of the phenolic hydroxyl groups in the curing agent and the flexibilizing agent in the composition of the present invention is preferably in the range of 0.7 to 1.3. A coloring agent such as carbon, a flame retardant such as antimony trioxide, antimony pentoxide, phosphate, etc. may be added to the composition of the present invention, if necessary. Hereinafter, the composition of the present invention will be specifically explained based on Examples. Examples 1 to 8 100 parts of hydrogenated polybutadiene resin (CI1000) having a carboxyl group at the terminal, 64 parts of bisphenol type epoxy resin (Epicote 828) and 0.5 part of 2-ethyl-4-methylimidazole were mixed at 150 parts while blowing nitrogen. The reaction was carried out at ℃ for 6 hours, and an epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin having epoxy groups at both terminals and an epoxy equivalent of 900 was synthesized. 100 parts of phenol novolac resin (PSF-4261, manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd.), 85 parts of the above epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin (equivalent ratio of epoxy group/phenolic hydroxyl group = 0.1), and 2-ethyl-4-methyl 0.3 parts of imidazole while blowing nitrogen.
The reaction was carried out at 140°C for 10 hours to obtain a flexibilizing agent (A) in which the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and the phenol novolac resin were pre-reacted. Cresol novolac type epoxy resin (EOCN102S, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), brominated phenol novolac type epoxy resin (BREN-S, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), phenol novolac type epoxy resin (PSF, which is a curing agent) -4261), curing accelerator, flexibilizing agent (A),
Fused silica as a filler (RD-8, Ryumori Co., Ltd.)
After mixing 2 parts of silane coupling agent, 6 parts of antimony trioxide, 2 parts of wax, and 5 parts of colorant in the proportions shown in Table 1,
After kneading with heating rolls, the mixture was cooled and pulverized to prepare an epoxy resin composition for molding. The obtained composition was molded at 175°C/3 minutes,
Post-curing was performed at 180°C for 6 hours to prepare a cured test piece. Flexural modulus of the molded product obtained in this way (JIS
K6911), glass transition temperature and 121℃, 2 atm.
The volume resistivity was measured before and after a 500 hour pressure test. The results are shown in Table 1. Example 9 Phenol novolac resin (PSF-4261) 100
42 parts of the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin used in Example 1 (equivalent ratio of epoxy group/phenolic hydroxyl group = 0.05) and 0.2 part of 2-ethyl-4-methylimidazole were mixed, and the same as in Example 1 was prepared. A composition was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1, except that the resulting flexibilizing agent (B) was used. The results are shown in Table 1. Example 10 Triphenylphosphine was used as a catalyst for the synthesis of epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and the preliminary reaction of epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and phenol novolac resin, and the resulting flexibilizing agent (C) was used. Otherwise, a composition was prepared and evaluated in the same manner as in Example 6. The results are shown in Table 1. Comparative Example 1 An epoxy resin composition for sealing having the formulation shown in Table 1 was prepared using DER736 manufactured by Dow Chemical Company as a flexibilizing agent, and evaluated. The results are shown in Table 1. Comparative Example 2 Using Araldite GY298 manufactured by Ciba Geigy as a flexibilizing agent, an epoxy resin composition for sealing having the formulation shown in Table 1 was prepared and evaluated. The results are shown in Table 1. Comparative Example 3 An epoxy resin composition for sealing having the formulation shown in Table 1 was prepared without using a flexibilizing agent and evaluated. The results are shown in Table 1.

【表】 [発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明のエポ
キシ変成水添ポリブタジエン樹脂とフエノールノ
ボラツク樹脂との予備反応物を可撓化剤として用
いた封止用エポキシ樹脂組成物は、耐熱性を耐湿
性を保持し、低弾性率であり、半導体封止用エポ
キシ樹脂組成物として好適である。
[Table] [Effects of the Invention] As is clear from the above description, the epoxy resin composition for sealing uses the preliminary reaction product of the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin of the present invention and the phenol novolac resin as a flexibilizing agent. The material maintains heat resistance and moisture resistance, has a low elastic modulus, and is suitable as an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 エポキシ変成水添ポリブタジエン樹脂とフエ
ノールノボラツク樹脂との予備反応物である可撓
化剤、ノボラツク型エポキシ樹脂、硬化剤、硬化
促進剤、充填剤、離型剤および表面処理剤を含む
半導体封止用エポキシ樹脂組成物。 2 前記エポキシ変成水添ポリブタジエン樹脂の
エポキシ基とフエノールノボラツク樹脂の水酸基
との当量比(エポキシ基/フエノール性水酸基)
が0.02/1〜0.3/1の範囲である特許請求の範
囲第1項記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成
物。
[Claims] 1. A flexibilizing agent which is a preliminary reaction product of an epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and a phenol novolak resin, a novolak-type epoxy resin, a curing agent, a curing accelerator, a filler, a mold release agent, and a surface. An epoxy resin composition for semiconductor encapsulation containing a processing agent. 2 Equivalence ratio of the epoxy group of the epoxy-modified hydrogenated polybutadiene resin and the hydroxyl group of the phenolic novolac resin (epoxy group/phenolic hydroxyl group)
The epoxy resin composition for semiconductor encapsulation according to claim 1, wherein the ratio is in the range of 0.02/1 to 0.3/1.
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