JPH05329103A - 眼科機械用アライメント装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 レフラクトメーター、眼底カメラ、オフサル
メーター等の作動距離を正確かつ効率的に演算すること
ができる眼科機械用アライメント装置を提供することで
ある。 【構成】 被検眼角膜に向けて所定パターン像を投影す
る投影系と、被検眼角膜により反射された光束により形
成された角膜反射パターン像を光電的に検出するための
受光部と、前記受光部からの信号に基づき角膜反射パタ
ーン像の形状を示す方程式より角膜反射パターン像の幾
何学的中心を演算し、被検眼に対する装置のアライメン
ト量を算出するための演算部とからなる眼科機械用アラ
イメント装置である。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、眼科器械、例えばレフラクトメーター、眼底
カメラ、またはオフサルモメーターなどの被検眼光軸と
上記器械光軸との位置合せ（狭義のアライメント合
せ）、もしくは作動距離合せのための眼科器械用アライ
メント装置に関する。以下本明細書では特に断りのない
限り、上記「狭義のアライメント合せ」と「作動距離合
せ」の両者を含め、単に「アライメント」と言う。従
来、この種の装置としては、被検眼の角膜もしくは強膜
等の前眼部に予め定めた角度で光束を照射する発光手段
と、眼科器機が正規の位置にアライメントされていると
き、前記照射光束が被検眼の前眼部で反射されその反射
光が帰環すべき位置に配され、その反射光を受光する受
光手段とから構成され、受光手段が反射光を受光したと
きにアライメント完了の信号を出し検者に知らせる装置
であった。そして従来のアライメント装置においては発
光、受光各手段の配置位置を定める前提として、照射光
を反射する被検眼前眼部の形状をある一定のモデル眼に
求めざるを得ず、通常例えば角膜で反射させる場合は、
角膜の前面の曲率半径を７．５ｍ／ｍないし７．８ｍ／
ｍのいずれか一つの値を基準としていた。またアライメ
ント精度を向上させるためには発光手段として、発光ダ
イオード等の微少光源を使用し、さらにこの光源からの
光をリレー光学系によりピンホールに結像し、このピン
ホールを二次光源として使用しこの二次光源を被検眼角
膜上もしくはその近傍に結像レンズで結像させ、また受
光手段にもピンホールを設け、このピンホールを受光素
子の光学的共役位置に配置し、このピンホール上に前記
角膜からの反射光を結像させる結像手段が採用されてい
た。しかしながら、被検者はかならずしも、上記モデル
眼と同一の形状を有する角膜をもつているとは限らない
ばかりか、被検者の眼屈折特性、例えば遠視眼、近視眼
においては角膜の曲率半径はモデル眼の数値からズレる
ことが多く、このことはアライメント検出精度の低下を
まねいていた。さらに大きな欠点としては、従来のアラ
イメント装置は被検眼の乱視要素を一切考慮していない
点にある。一般に人眼にはたとえ自覚もしくは他覚的視
力測定において正視と測定されても平均ＩＤの生理的角
膜乱視が約９０％の人にみとめられる。これは角膜の水
平切面の曲率半径より垂直切面の曲率半径が小さいため
である。また被検眼が乱視眼であれば、乱視眼中の約８
０％は角膜性乱視に起因しているため、さらに角膜の各
径線上の曲率半径の差は大きくなる。これら被検眼の乱
視特性による角膜をある一定の球面とみなして設計され
た従来のアライメント装置では、そのアライメント精度
はきわめて低いものとならざるを得なかつた。また従来
のアライメント装置のある種のものには、前述の発光−
受光手段を４組もうけ、その内２組を装置光軸を含む水
平面内に、他の２組を光軸を含む垂直面内に配置し、さ
らにアライメント表示装置に前記各受光素子に対応する
位置関係で４つの表示手段をもうけ、受光手段が反射光
を受光したとき点燈するように構成して、この表示手段
の表示状態によりアライメントの完了及びアライメント
方向すなわち器械を上下左右いずれの方向に移動すれば
よいかを検者に指示する装置があつた。しかしながらこ
のアライメント装置においても、発光−受光手段はあく
まで反射光を受光できたか、否かの信号を出力し得るだ
けであるから、移動量を定量的に出力することは不可能
であった。このことはアライメント操作を検者に実行さ
せざるを得ず、検者は多大のアライメント調整時間を費
やす結果となり、また器機本来の機機、すなわち眼底カ
メラであれば被検眼眼底の撮影、レフラクトメーターで
あれば屈折力測定、オフサルモメーターであれば角膜の
曲率半径測定等を実行している間はアライメント状態を
監視することができず、ややもするとアライメントが不
完全な状態のまま測定してしまうことにもなり、器械の
測定結果に大きな誤差をまねくという欠点があった。特
に被検者が小児の場合は固視がむずかしく、測定とアラ
イメント調整を頻繁にくり返すこととなり、測定時間の
長大化をまねき、被検眼の調節力の介入が測定結果の誤
差を将来するという欠点につながつた。特に近年多くの
眼料器械がその測定を自動化する傾向にあるも、アライ
メントの自動化はいまだ実現されておらず、たとえ測定
自身は自動化されても、いなそれなるがゆえに、アライ
メント不完全な状態で自動測定しても、アライメント不
備を知ることが出来ず、誤つた測定値を正しい測定値と
みなしてしまう欠点があつた。本発明は、係る従来の眼
科用器械におけるアライメント装置の欠点を解決するた
めになされるもので、その第１の目的は非結像光学形式
でアライメント量を定量的に測定できるアライメント装
置を提供することにある。本発明の第２の目的は、継続
的にアライメント量を計測でき、しかもアライメント調
整量を数値化して出力し、その出力をもとに自動的にア
ライメント調整できる自動アライメント装置を提供する
ことにある。本発明の第３の目的は、係るアライメント
装置を比較的安価に提供でき、しかもアライメント量検
出精度の高い、新しい型式のアライメント装置を提供す
ることにある。以上の目的を達成するための本発明に係
るアライメント装置の構成上の特徴は、ある平面内で測
定の基準となる予め定められた形状を成し照明光束を射
出する光源と、光軸上に配置されたピンホールと、前記
ピンホールを通過する前記照明光束の主光線を前記光軸
と平行にし、かつ被検眼前眼部の頂点の接平面近傍に前
記光源の像を結像させるための光学部材とを有する照明
光学系と；前記照明光束の前記前眼部からの反射光を前
記光源と光学的に非共役な面内で光電的に検出する検出
手段と；前記検出手段が検出した前記反射光から前記光
源に対応する光源像を求め、前記光源像の前記光源に対
する形状および位置の変化を求め、その形状および位置
の変化に基いて装置のアライメント量を演算する演算手
段とから構成されてなることにある。以上の構成によ
り、非結像光学形式で、且つ従来のアライメント装置で
は不可能であつた定量的なアライメント量の測定が可能
となり、このアライメント量をもとに自動的にアライメ
ント調整ができ、しかもこのアライメント装置を有する
眼科器械の本来の測定あるいは検査もしくは記録取り等
を実行している間も、つねにアライメント量を測定出
来、この結果をもとに継続的にアライメント調整ができ
る新しいアライメント装置を提供することができる。以
下本発明の原理を図をもとに説明する。第１図は、本発
明に係わるアライメント装置の基本原理を示すための概
略光装置図である。照明光軸Ｏ_２から予め定められた間
隔を開けて少なくとも３つの点光源Ｐ_１，Ｐ_２，Ｐ_３が
配置されている（第１図ではＰ_１，Ｐ_２のみを図示す
る）。点光源Ｐ_１，Ｐ_２，Ｐ_３から射出されか光束は、
照明光軸Ｏ_２上に配置されたピンホールＰＨを通つて、
反射鏡Ｍで反射されたのち、前記ピンホールＰＨの位置
に焦点を有する結像レンズＬにより装置光軸Ｏ_１とその
主光線Ｉ_１，Ｉ_２，Ｉ_３がそれぞれ平行となる照明光束
Ｉ_１，Ｉ_２，Ｉ_３となつて角膜Ｃに照射される。そして
結像レンズＬにより、角膜Ｃの頂点Ｏｃと接する接平面
Ｈに点光源Ｐ_１，Ｐ_２，Ｐ_３の光源像が結像されるよう
になつている。また装置光軸Ｏ_１と垂直な平面内に平面
型検出器Ｄｏを配置し、この検出器Ｄｏは、前記結像レ
ンズＬがリレーレンズとして働き図中Ｄの位置にその光
学的共役像が形成されている。共役検出面Ｄは、前記ピ
ンホールＰＨとは光学的に非共役な関係にある。ここで
検出面Ｄは、角膜Ｃから光軸Ｏ_１方向に１、また結像レ
ンズＬの前面から距離ｄ離れて位置している。また本測
定原理において点光源Ｐ_１，Ｐ_２，Ｐ_３の像を接平面Ｈ
上に結像させる利点は以下のようである。すなわち、一
般に、平行光束が被検眼に光束を入射されると、その光
源像は、被検眼が正視の場合にその焦点位置である網膜
の黄斑中心窩上に結像されるため強い照明光束を入射さ
せると被検眼に眩しさや、はなはだしい時には、損傷を
あたえる可能性がある。これをさけるために接平面上に
光源像を結像させ、それにより第２図に示すように接平
面Ｈ通過後の光束ｉは拡散光束として角膜に入射し、角
膜Ｃの焦点Ｆｃに向う。そして眼内に入射するに従つて
拡散され、周辺網膜に拡散光として照射されるため、網
膜等の損傷や眩しさを防止することができる。また照明
光束ｉの主光線Ｉは、つねに光軸Ｏ_１と平行であるから
角膜Ｃへ到達する主光線も平行であり、その角膜での
反射光は角膜焦点Ｆｃから射出したごとき反射光束とな
るため、測定原理上極めて便利となる。第３図は本発明
の第１の測定原理を説明するための斜視図であり、共役
検出面Ｄ以降の光学系については図示を省略してある。
また以後の説明において照明光束ｉ_１，ｉ_２，ｉ_３はす
べてその主光線Ｉ_１，Ｉ_２，Ｉ_３を使つて説明する。第
３図において装置光軸Ｏ_１に原点を有するＸ_０−Ｙ_０直
交座標系を考える。。このＸ_０−Ｙ_０座標系を含む面
に、その頂点を接するように角膜Ｃが配置されているも
のとする。この角膜Ｃは、その光学中心（角膜頂点）Ｏ
ｃをＸ_０軸方向にＥ_Ｈ、Ｙ_０軸方向にＥ_ｖずらして配置
されており、かつ、曲率半径ｒ_１の第１主径線ｒ_１がＸ
_０軸に対し角度θだけ傾けられて配置されているものと
する。またその第２主径線ｒ_２の曲率半径をｒ_２とす
る。今このＸ_０−Ｙ_０座標面から装置光軸Ｏ_１にそつて
距離Ｉ離れた位置に、その装置光軸Ｏ_１に原点Ｏをもつ
Ｘ−Ｙ直交座標系を想定し、このＸ−Ｙ座標面に検出面
Ｄを配置したとする。今、この角膜Ｃに前述したように
光軸Ｏ_１と平行な３本の光線Ｉ_１，Ｉ_２，Ｉ_３を照射す
るとこれら光線は角膜Ｃにより反射され、その反射光線
Ｉ_１，Ｉ_２´，Ｉ_３´は共役検出面Ｄに到達する。光線
Ｉ_１，Ｉ_２，Ｉ_３のＸ_０−Ｙ_０座標面に入射する入射点
をそれぞれＵ_０（_０Ｘ_１，_０Ｙ_１）、Ｖ_０（_０Ｘ_２，_０
Ｙ_２）、Ｗ_０（_０Ｘ_３，_０Ｙ_３）とし、また反射光線Ｉ
_１´，Ｉ_２´，Ｉ_３´の検出面Ｄへの到達点のＸ−Ｙ座
標上の位置をそれぞれＵ（Ｘ_１，Ｙ_１）、Ｖ（Ｘ_２，Ｙ
_２）、Ｗ（Ｘ_３，Ｙ_３）とし、これら６点について以下
の係数の式を定義する。

以上の定義のもとに角膜への入射点と検出面への投影点
の間には の方程式であらわされる。ここに１は、前述の通り角膜
の頂点と検出面Ｄとの間の距離であり、ｒは角膜の曲率
半径である。ここで、上記係数のカツコ式を以下のもの
で定義する。

ここで、ｐ，ｑはそれぞれ上記（１）式のＡ，Ｂ，Ｃ，
Ｄのいずれかをとるものとすると（２）式は として表わされる。ここで上記の二次方程式の根を ここでｉ＝１， ２とする。また、検出面Ｄを第１図に
示すように角膜頂点 から距離Ｉ´の位置にその共役検出面を移動させ、検出
面Ｄ´への反射光線Ｉ_１´，Ｉ_２´，Ｉ_３´の到達点Ｕ
´（Ｘ_１´，Ｙ_１´，）、Ｖ´（Ｘ_２´，Ｙ_２´）、Ｗ
´（Ｘ_３´，Ｙ_３´）について考えると、Ｘ_０−Ｙ_０座
標面への光線Ｉ_１，Ｉ_２，Ｉ_３の入射点Ｕ_０（_０Ｘ_１，
_０Ｙ_１）、Ｖ_０（_０Ｘ_２，_０Ｙ_２）、Ｗ_０（_０Ｘ_３，_０
Ｙ_３）との間にやはり上述の第（３）式と同様に が成立し、その根を とする。こうして、上記（４），（４）´式の根λｉ
１，λｉ´より これより として１をもとめることができる。また第１図から分か
るように １−１´＝ｄ´−ｄ であり、かつｄ，ｄ´は設計上予め定めることのできる
既知の距離であるから、第（５）式は と書くことができる。また第１図から作動距離すなわち
レンズＬと角膜Ｃ間の距離ＷＤは、ＷＤ＝１＋ｄである
から結局作動距離ＷＤは として求めることが出来る。この求められた作動 距離
ｗｄと眼科装置の固有の正規の作動距離とを比較すれ
ば、装置が正規の作動距離位置に位置しているか否かが
判定できるし、作動距離ｗｄと正規の作動距離との差を
計算すれば眼科装置を光軸方向にどれ程移動させればよ
いか求めることができる。次に、角膜頂点Ｏｃが光軸Ｏ
_１と水平方向にＥ_Ｍ、垂直方向にＥ_Ｖずれていることに
起因する狭義のアライメントのための水平方向アライメ
ント量α、垂直方向アライメント量βを求めるために点
光源ｐ_１，Ｐ_２，Ｐ_３の配置を _０ｘ_１＋_０ｘ_２＋_０ｘ_３＝０ ０ｙ_１＋０ｙ_２＋０ｙ_３＝０｝ ……（７） を満たすよう例えば点光源Ｐ_１，Ｐ_２，Ｐ_３が作る正 ……（３）′式 三角形の重心が光軸Ｏ_１と一致するように予め設計する
か、もしくは角膜Ｃの前方に光軸Ｏ_１と垂直な反射鏡を
配置し、このときの検出面Ｄでの検出点をもとに前記
（７）式を満たすようなＸ_０−Ｙ_０座標系及びＸ−Ｙ座
標系を作定し、これを初期条件としてもよい。こうする
ことにより、角膜Ｃに光線Ｉ_１，Ｉ_２，Ｉ_３を入射させ
たときの検出面Ｄでの検出点Ｕ（Ｘ_１，Ｙ_１）、Ｖ（Ｘ
_２，Ｙ_２）、Ｗ（Ｘ_３，Ｙ_３）より、アライメント量
α，βはそれぞれ としてもとめることができる。もし点光源Ｐをｎ個にす
ればα，βはそれぞれ以下のように拡張できる。すなわ
ち となる。第４図は、本発明の第２の測定原理を説明する
ための斜視図である。前述の第１の測定原理と同ーの構
成要素は、同一の符号を付して説明を省略する。本測定
原理は、球面あるいはトーリツク面形状の反射面に直線
状光源からの平面光束を入射させても、その反射光束は
やはり平面光束であり、ただ曲面特性により、その平面
光束の長さと傾き角のみが変化するという原理にもとず
いている。今、第４図に示すように直線状光源Ａ，Ｂを
想定する。この直線状光源Ａ及びＢは、１点Ｕで互いに
交差し、それぞれの端点をＶ，Ｗとする。直線状光源Ａ
は、Ｘ_０軸と平行な直線Ｘｐに対し角度θ_１傾斜してお
り、また直線状光源Ｂは直線Ｘｐに対し角度θ_２で傾斜
しているものとする。また両直線光源Ａ，Ｂの交差角は
θとする。この直線光源Ａ，Ｂからの光が、その主光軸
を装置光軸Ｏ_１に対し平行になるようにＸ_０−Ｙ_０座標
面に投影結像されたとすると、光源Ａ，Ｂからの主光線
は角膜Ｃで反射され前記直線状光源Ａ，Ｂと光学的に非
共役な検出面Ｄに到達する。この検出面Ｄ上の前記直線
状光源Ａの角膜Ｃでの反射による投影直線をＡ´、前記
直線状光源Ｂの角膜Ｃでの反射による投影直線をＢ´と
すると、角膜Ｃの前面のトーリツク面形状の形状特性、
すなわちそれぞれの主径線の方向及び曲率半径によつて
投影直線Ａ´とＢ´の交点はＵ´に、投影直線Ａ´の端
点はＶ´に、その傾きはＸ軸とθ_１′の角度に変化し、
また投影直線Ｂ´の端点はＷ´、そのＸ軸との傾きはθ
_２´に変化する。そしてまた、直線状光源Ａの長さ、す
なわち交点Ｕと端点Ｖとの間の長さ_０ｌ_Ａは交点Ｕ´と
端点Ｖ´の間の長さ_０ｌ_Ａ´に変化しており、同様に直
線状光源Ｂの長さ、すなわち交点Ｕと端点Ｗとの間の長
さ_０ｌ_５は、交点Ｕ´と端点Ｗ′の間の長さ_０ｌ_Ｂ´に
変化している。そこでｔａｎθ_１＝_０ｍ_Ａ、ｔａｎθ_２
＝_０ｍ_Ｂ´ｔａｎθ_１´＝_０ｍ_Ａ´、ｔａｎθ_２´＝_０
ｍ_Ｂ´とすると、 とする。ここで前述の第１測定原理と同様に共役検出面
ＤをＤ´に移動し、角膜Ｃから１´の距離に配置する。
この場合の直線状光源Ａ及びＢのこの移動後の検出面Ｄ
´上への投影像についても上記第（９）式と同様の二次
方程式 として求めることができる。以上の測定原理は、直線状
光源Ａ，Ｂの角膜Ｃでの反射による投影直線Ａ´，Ｂ´
の検出に検出面ＤおよびＤ´を使つたが、次にＸ−Ｙ座
標系の両座標軸Ｘ軸及びＹ軸上だけでこれら投影直線Ａ
´Ｂ′を決定する方法を考える。そのためには、第５図
に示すように直線状光源Ａ，Ｂの相方に交差する今一つ
の直線状光源Ｃを想定し、その交点をそれぞれＶ，Ｗと
する。この三つの直線状光源Ａ，Ｂ，ＣのＸ−Ｙ座標系
への角膜Ｃの反射による投影直線をそれぞれＡ´Ｂ´及
びＣ´とする。そしてＸ軸及びＹ軸とこれね投影直線Ａ
´，Ｂ´及びＣ´の交点を検出する。Ｘ軸上の検出点
を、それぞれｘａ_１，ｘａ_２及びｘａ_３とし、Ｙ軸上の
検出点をそれぞれｙａ_１，ｙａ_２及びｙａ_３とすると、
直線はその内の任意の２点がきまればその方程式を決定
できるので、検出点ｙａ_１とｘａ_３から投影直線Ａ´の
方程式が決定でき、同様に検出点ｘａ_１とｙａ_２から投
影直線Ｂ´の方程式が、検出点ｘａ_２とｙａ_３から投影
直線Ｃ´の方程式がそれぞれ決定できる。これら投影直
線Ａ´，Ｂ´及びＣ′のそれぞれの方程式からこれら３
直線Ａ´，Ｂ´及びＣ´の交点Ｕ´とＶ′及びＷ´の座
標が算出でき、これよりＵ′とＶ´間の長さ０_１´Ａ
´，Ｕ´とＷ´間の長さ０_１´Ｂ´が求められ、また上
記投影直線Ａ´の方程式よりその傾きｔａｎθ_１´＝０
^ｍＡ´を、投影直線Ｂ´の方程式よりその傾きｔａｎ^θ
_２´，＝０^ｍＢ´をそれぞれ算出でき、これより上述の
第（９）式から第（１２）式を使つて作動距離ＷＤを求
めることができる。また装置光軸Ｏ_１と被検角膜Ｃの頂
点Ｏｃとの狭義のアライメントは、直線状光源Ａ，Ｂ及
びＣの交点Ｕ，Ｖ及びＷの座標をそれぞれＵ（０Ｘ_１，
０Ｙ_１）、Ｖ（０Ｘ_２，０Ｙ_２）及びＷ（０Ｘ_３，０Ｙ
_３） とするとき、前記第１の測定原理と同様の考え方
から、第（７）式、第（８）式を使つてアライメント量
α，βを算出することができる。また、前述の第
（９），（９）´を解いて、その根φｉ，φｉ´をもと
めることが演算処理装置の能力上困難であれば、投影直
線Ａ´，Ｂ´，Ｃ´のそれぞれの方程式を求め、これら
三つの方程式をもとに、三交点Ｕ´，Ｖ´，Ｗ′の座標
を演算し、以下前述の第１の測定原理で述べた第（１）
式から第（４）´を適用して、第（３）式、第（３）´
のそれぞれの２根λｉ、λｉ´から、第（６）式により
作動距離ＷＤをもとめ、また三交点Ｕ´、Ｖ´、Ｗ´の
座標値から第（７）式、第（８）式を適用してアライメ
ント量α，βを算出してもよい。以上説明したように、
第５図の方法にしたがえば、第４図に示したように投影
直線Ａ´，Ｂ´のそれぞれの交点及び端点ｉ´，ｊ´，
ｋ´を検出する必要がないばかりか、平面状の検出器で
なく互いに交差する２本の直線上の検出器で投影直線Ａ
´，Ｂ´，Ｃ´が決定でき、これよりその交点ｉ´，ｊ
´，ｋ´を算出できるので装置構成上有利である。第６
図は、本発明の第３の測定原理を脱明するための斜視図
である。本測定原理は２本の平行直線状光源からの平行
する平面光束が球面またはトーリツク面状の反射面に入
射したとき、その反射面からの反射平面光束の平行性は
そこなわれずただそのピッチＰと平行な平面光束自身の
傾き角が変化するという原理にもとずいている。以下本
原理の説明にあつて前述の第１または第２の測定原理と
同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略す
る。今、ピッチがＰで、Ｘｏ軸と傾きｍで交差する少な
くとも２本の平行直線群Ｌをなす直線光源からの光が、
その主光線を装置光軸Ｏ_１と平行になるように前記Ｘｏ
−Ｙｏ座標面に結像投影されると、この照明光は、角膜
Ｃの前面の曲面特性、すなわちもしこの角膜がトーリッ
ク面形状であれば、その第１主径線Ｒ_１の曲率半径
Ｒ_１、その第２主径線Ｒ_２の曲率半径Ｒ_２、及び第１主
径線の軸角度θのそれぞれの値に応じて偏向反射され、
前記直線状光源と光学的に非共役な面にある前記検出面
Ｄに向う。そして、直線状光源に対応した検出面Ｄ上に
投影直線パターンＬ´はそのピッチＰ´に、そのＸ軸の
傾きをＭに変化させている。検出面Ｄと角膜頂点Ｏｃ間
の距離を１とすると、投影直線パターンＬ´の傾きＭは
次式で表わされる。

である。実際の測定に際して、第（１３），（１４）式
に基づき平行直線群の傾きとピッチの変化から作動距離
ＷＤを測定するには、第（１３），（１４）式の未知数
がＲ_１，Ｒ_２，θの３つであるため、１つの平行直線群
の変化だけでは、第（１３），（１４）式の解は得られ
ないことがわかる。このため、実際には、他の１つの平
行直線群と合せ、２つの平行直線群の傾きとピッチの変
化を知る必要がある。この構成を第７図に示す。第７図
には、傾きｍ_１、ピツＰ_１の２本の平行直線群Ｌ_１と、
傾きｍ_２、ピッチＰ_２の２本の平行直線群Ｌ_２を構成す
る直線光源が配置されており、この光源を射出し被検角
膜Ｃで反射された光線束は、検出面Ｄ上で傾きｍ_１´、
ピツチＰ_１´，の２本の投影平行直線群Ｌ_１´と傾きｍ
_２´、ピツチＰ_２´の２本の投影平行直線群Ｌ_２´を形
成する。この２組の投影平行直線群から（１３），（１
４）式がそれぞれ２組、合計４式得られるため、（１
３），（１４）式の未知数θ，Ｒ_１，Ｒ_２を求めること
ができる。二次方程式第（１３），（１４）式を解いて
Ｒ_１，Ｒ_２，θを求めることが演算処理上、複雑で処理
機構のコストアツプ、処理時間の増大をまねくようであ
れば、以下の中間的演算処理をほどこせばよい。第８ａ
図は、第７図の直線状光源が形成する平行直線群Ｌ_１，
Ｌ_２を示している。Ｌ_１の傾きはｍ_１で、ピツチは
Ｐ_１，Ｌ_２の傾きはｍ_２で、ピッチはＰ_２であることは
第７図と同様である。今、平行直線群Ｌ_１のうちの１本
Ｌ_１１から、ピツチＰ_１のｅ倍の距離 を考える。また平行直線群Ｌ_２のうちの１本Ｌ_２１から
距離 仮想平行四辺形ＵＶＷＱが形成され、これら四頂点のｘ
−ｙ座標系の仮想座標を、Ｕ（ｏｘ_１，ｏｙ_１）、Ｖ
（ｏｘ_２，ｏｙ_２）、Ｗ（ｏｘ_３，ｏｙ_３）、Ｑ（ｏｘ
_４，ｏｙ_４）とする。第８ｂ図は、第８ａ図の平行直線
群Ｌ_１，Ｌ_２が角膜Ｃで反射し、検出面Ｄ上に投影され
た投影平行直線群Ｌ_１´，Ｌ_２´を示す図で、このＬ_１
´は傾きｍ_１´，ピツチＰ_２´，に、Ｌ_２´は傾きｍ_２
´、ピツチＰ_２´に変化していることは第７図と同様で
ある。この投影平行直線群を検出面Ｄに配置された平面
型ポジシヨンセンサで検出してもよいが、今、仮りにＸ
−Ｙ座標の原点ＯからＸ軸方向にξ、Ｙ軸方向にηだけ
平行移動された点に原点Ｏ´を有する交差角γで交差す
るＸ´−Ｙ´座標軸上に配されたリニアポジシヨンセン
サーＳ_１，Ｓ_２で検出するものとすると、リニアセンサ
ーＳ_１は検出点イ，ロ，ハ，ニで投影平行直線群を検出
し、リニアセンサーＳ_２は検出点ホ，ヘ，ト，チで投影
平行直線群を検出する。そして検出点ロ，ヘから投影平
行直線群のうちの１本Ｌ_１１´の方程式を演算し、また
検出点ハ，トからＬ_２１´の方程式を演算する。また同
様に検出点イ，ホから投影平行直線群のうちの他の１本
Ｌ_１２′の、検出点ニ，チからＬ_２２´のそれぞれの方
程式が演算できＬ_１１´，Ｌ_１２´のピツチＰ_１´も、
Ｌ_２１´、Ｌ_２２´のピッチＰ_２´も演算できる。そし
てＬ_１１´からピツチＰ_１´に第８ａ図でかけた倍率と
同じ倍率ｅを 行四辺形Ｕ′Ｖ´Ｗ´Ｃ´をもとめることができる。こ
の仮想平行四辺形の四頂点のＸ−ｙ座標系における仮想
座標をＵ´（ｘ_１，ｙ_１）、Ｖ´（ｘ_２，ｙ_２）、Ｗ´
（ｘ_３，ｙ_３）、Ｑ´（ｘ_４，ｙ_４）とすると、第８ａ
図の基準仮想平行四辺形ＵＶＷＱと第８ｂ図の第１投影
平行四辺形Ｕ′Ｖ´Ｗ´Ｑ´は対応しており、この変化
はまさに角膜の曲面特性にかかわるものである。さてこ
こで仮想４点に対し以下前述の第（１）式と同様の係数
と式を定義する。

ここにｉ，ｊ，ｋはｉを基準としてｊもしくはｋをとる
ものとする。仮想４点より、１２通りの組合せが考えら
れる。上記第（１５ａ）式を用いれば、２つの主径線の
半径に関するＲ_１，Ｒ_２は以下の２次方程式で表示でき
る。

ここで上記係数のカッコ式を以下のもので定義する。

ここでｐ，ｑはそれぞれＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄのいずれかをと
るものとすると、（１５ｂ） 式は として表わされる。１は第７図で示すように角膜Ｃと光
役検出面Ｄ間の距離をいう。従つて、第７図のように２
組の投影平行直線群Ｌ_１´，Ｌ_２´のピッチＰ_１´，Ｐ
_２′と傾きｍ_１´，ｍ_２´，を検出し、第８ｂ図のよう
に第１投影仮想投影四辺形を作り、その平行四辺形を形
成する４頂点より、第（１５）式の二次方程式を解くこ
とにより、根を 求めることができる。ここで、第１の測定原理と同様に
検出面Ｄを角膜Ｃから距離１´の位置に移動して検出面
Ｄ´を作る。第８ｃ図に示すようにこの検出面Ｄ´上で
の投影平行四線群Ｌ_１″，，Ｌ_２″，が作る第２投影仮
想平行四辺形Ｕ″Ｖ″Ｗ″Ｑ″についても前記第（１５
ａ）式〜第（１５ｃ）式が適用でき、その根を とすると、Ｋｉ，Ｋｉ´から前述の（５）式と同様に が得られ、前述の第１の測定原理と同様の考え方から作
動距離ＷＤは が得られる。上述した第８ａ図、第８ｂ図及び第８ｃ図
では、仮想平行四辺形をもとめるのに、ピツチＰ_１，Ｐ
_２，Ｐ_１´，Ｐ_２´，Ｐ_１″及びＰ_２″に任意の倍率
ｅ，ｆ，ｇ，ｈをそれぞれ掛けたが実際にはｅ＝１、ｇ
＝１として仮想平行四辺形Ｕ_０Ｖ_０Ｗ_０Ｑ、及びＵ_０´
Ｖ_０´Ｗ_０´Ｑ´を使つて演算した方が、処理はその分
簡略化できる。また、仮想平行四辺形の各頂点の座標を
ｘ_０＝ｙ_０直交座標系、Ｘ−Ｙ直交座標系を使つて説明
したが、リニアセンサーＳ_１，Ｓ_２の配置にそつて斜交
座標系Ｘ´−Ｙ´座標系を考えると、第９図に示すよう
にＸ軸とＸ´軸が角度αで交差し、Ｙ軸とＹ´軸が角度
βで交差し、かつＸ´−Ｙ´座標系の原点Ｏ_２はＸ−Ｙ
座標系の原点Ｏ_１からＸ軸方向にξ，Ｙ軸方向にηずれ
ているので、このときのＸ′−Ｙ´座標系からＸ−Ｙ座
標系への座標変換は 前記（１５）式から Ａｉｊ＝（ｏｘｉ−ｘｉ）−（ｏｘｊ−ｘｊ） これに（１９）式を代入して Ａｉｊ＝｛（ｏｘ´ｉｓｉｎα＋ｏｙ´ｉｓｉｎβ＋ξ）−（ｘ´ｉｓｉｎα＋ ｙ´ｉｓｉｎβ＋ξ）｝−｛（ｏｘ´ｊｓｉｎα＋ｏｙ´ｊｓｉｎβ＋ξ）−（ ｘ´ｊｓｉｎα−ｙ´ｊｓｉｎβ＋ξ）｝＝ｓｉｎα｛（ｏｘ´ｉ−ｘ´ｉ）− （ｏｘ´ｊ−ｘ´ｊ）｝＋ｓｉｎβ｛ｏｙ´ｉ−ｙ´ｉ）−（ｏｙ´ｊ−ｙ´ｊ ）｝＝Ａ´ｉｊｓｉｎα＋Ｂ´ｉｊｓｉｎβ ……（２０ａ） またＢｉｊ＝（ｏｙｉ−ｙｉ）−（ｏｙｊ−ｙｊ）で上
記同様の計算で Ｂｉｊ＝ｃｏｓβ｛（ｏｙ´ｉ−ｙ´ｉ）−（ｏｙ´ｊ−ｙ´ｊ）｝−ｃｏｓα ｛（ｏｘ´ｉ−ｘ´ｉ）−（ｏｘ´ｊ−ｘ´ｊ）｝＝Ｂ´ｉｊｃｏｓβ−Ａ´ｉ ｊｃｏｓα ……（２０ｂ） 以下同様に Ｃｉｊ＝Ｃ´ｉｊｓｉｎα＋Ｄ´ｉｊｓｉｎβ ……（２０ｃ） Ｄｉｊ＝Ｄ′ｉｊｃｏｓβ＋Ｃ´ｉｊｃｏｓα ……（２０ｄ） となる。ここで〔Ｃ，Ｄ，〕、〔Ｂ，Ｃ〕、〔Ａ，
Ｄ〕、〔Ａ，Ｂ〕を求めると、第（２０ａ）〜（２０
ｄ）式から 〔Ｃ，Ｄ〕＝ＣｉｊＤｉｋ−ＤｉｊＣｉｋ ＝（Ｃ´ｉｊｓｉｎα＋Ｄ´ｉｊｓｉｎβ）（Ｄ´ｉｋ
ｏｃｓβ−Ｃ´ｉｋｃｏｓα）−（Ｄ´ｉｊｃｏｓβ−
Ｃ´ｉｊｃｏｓα）（Ｃ´ｉｋｓｉｎα＋Ｄ´ｉｋｓｉ
ｎβ）＝（ｓｉｎαｓｉｎβ＋ｃｏｓαｓｉｎβ）〔Ｃ
´，Ｄ´〕同様に、 〔Ｂ，Ｃ〕＝（ｓｉｎαｓｉｎβ＋ｓｉｎβｃｏｓα）
〔Ａ´，Ｂ´〕〔Ａ，Ｄ〕＝ｓｉｎαｃｏｓβ〔Ａ´，
Ｄ′〕−ｓｉｎαｃｏｓα〔Ａ´，Ｃ´〕＋ｓｉｎβｃ
ｏｓβ〔Ｂ´，Ｄ´〕−ｓｉｎβｃｏｓα〔Ｂ´，Ｃ
´〕〔Ａ，Ｂ〕＝ｓｉｎαｃｏｓβ＋ｃｏｓαｓｉｎ
β〕〔Ａ´，Ｂ′〕 また 〔Ｂ，Ｃ〕−（Ａ，Ｄ〕＝（ｓｉｎαｃｏｓβ＋ｃｏｓ
αｓｉｎβ）｛〔Ｂ´，Ｃ´〕−〔Ａ´，Ｄ´）｝ 従つて第（１５ｃ）式は となり、｛ ｝内は第（１５ｃ）式と同一形式の二次方
程式となり、このことから第（１５ｃ）式の二次方程式
は、座標系の取り方に無関係な不変方程式であることが
わかる。このことは、検出器としての２本のリニアセン
サーの配置において、その配置の自由度が非常に大きい
ことを示す。すなわち、２本のリニアセンサーをＸ，Ｙ
座標系と直交座標軸上におく必要はなく、Ｘ´−Ｙ´座
標系においてもよいことを意味するもので、リニアセン
サーの直交精度及び光軸合せはまつたく考えなくとも、
測定精度に無関係にすることができる。そして測定に際
しては共役検出面Ｄにおける平行直線群パターンＬ
_１´，Ｌ_２´，を斜交座標系Ｘ´−Ｙ´座標のＸ´軸、
Ｙ´軸に配したリニアセンサーＳ_１，Ｓ_２で検出してお
き、この検出からつくられる仮想平行四辺形Ｕ´Ｖ´
Ｗ′Ｑ´を第１投影仮想平行四辺形とし、つぎに検出面
をＤ´の位置に移動し、このときの第２投影仮想平行四
辺形Ｕ″Ｖ″Ｗ″Ｑ″をつくり、第１投影仮想平行四辺
形と第２投影仮想平行四辺形とに基づき、その各頂点Ｕ
´，Ｖ´，Ｗ´，Ｑ´及びＵ″，Ｖ″，Ｗ″，Ｑ″の座
標から前述の第（１５）〜第（１８）式を使つて作動距
離ＷＤを求める。そしてこのとき両平行四辺形は任意に
選択できる斜交座標系Ｘ´−Ｙ´座標系に対してのみ座
標系を考えていることとなり、かつこの斜交座標系Ｘ´
−Ｙ´は、上述したようにその選択は作動距離ＷＤ演算
のための二次方程式に対し、無関係な不変式であり、本
発明によればリニアセンサＳ_１，Ｓ_２の配置に対して、
何ら組立上も、メンテナンス上も調整を必要としないと
いう非常に有利な効果をもつ。次にアライメント量α，
βの算出について第１０図をもとに説明する。光源位置
に想定されるＸ_０−Ｙ_０直交座標系と検出面位置に想定
されるＸ−Ｙ直交座標系によるアライメント量α，βの
算定は、Ｙ_０軸に対し、同じ角度γで対称に配置された
ピツチＰ_１の平行直線群Ｌ_１とピッチＰ_２の平行直線群
Ｌ_２のそれぞれいずれか１本の直線Ｌ_１１，Ｌ_{２１ Ｘ ０}軸、Ｙ_０軸に一致するようにとる。すなわち基準仮
想平行四辺形を測定光軸Ｏ_１に対して対称になるように
演算により作れば、この基準仮想平行四辺形の中心は、
測定光軸Ｏ_１と一致している。次に、角膜Ｃを照明し
て、検出面（Ｘ−Ｙ座標系）に投影される投影平行直線
群Ｌ´_１，Ｌ´_２を検出 となり、この四頂点の座標から水平方向アライメント量
α、及び垂直方向アライメント量βは次式で表わされ
る、 斜交座標系ｘ´−ｙ´で測定した場合は、直交座標系の
場合と同様に、対称性の原理から、初期仮想点を（ｏｘ
_１，ｏｙ_１）（ｏｘ_２＋ｏｙ_２）（ｏｘ_３，ｏｙ_３）
（ｏｘ_４，ｏｙ_４）とおき を満たすように仮想点を設定すればよい。そして、水平
方向アライメント量α、垂直方向アライメント量βは、
それぞれ第（２２）式で与えられるから第（２３）式を
第（１９）式により変換すれば となり、第（２２）式を同様に第（１９）式で変換すれ
ば となる。αおよびβは、角膜Ｃを照射しないときの初期
仮想点（ｏｘｉ，ｏｙｉ）の斜交座標系での座標（ｏｘ
´ｉ，ｏｙ´ｉ）と、角膜Ｃを照射し、検出面Ｄで測定
したときの測定座標の斜交座標系における座標（ｘ´
ｉ，ｙ´ｉ）との差であるから、第（２４），（２５）
式から次式が得られる。

この式がアライメント量を表わすものである。以上のべ
たように本測定原理では、作動距離の測定には、座標系
の取り方に無関係な不変方程式で算出できるが、アライ
メント量において斜交−直交座標変換が必要となり、第
（２６）式の変換が必要であるが、演算機構上複雑であ
れば、斜交座標系での測定座標（ｘ´，ｙ´）から第
（１９）式で直交座標変換したのち、直交座標系による
算出式第２２）式を使つて、アライメント量を算出して
もよい。このように、本測定原理では、光源位置（Ｘ_０
−Ｙ_０座標系）に配置された直線状光源の平行直線群Ｌ
_１，Ｌ_２から光軸Ｏ_１に対し対称な基準仮想平行四辺形
をこのＸ_０−Ｙ_０座標系に演算により作り、次にＸ−Ｙ
座標系にある検出面Ｄへの投影平行直線群Ｌ_１−，Ｌ_２
−から前記基準仮想平行四辺形と相似的な第１投影仮想
平行四辺形を演算により作れば、この両方仮想平行四辺
形の４頂点の座標からアライメント量α，βが算出で
き、このアライメント量α，βの算出は作動距離ＷＤを
知らなくとも独立に求めることができる。これは、従来
のアライメント装置が、まず作動距離を調整してからで
なければアライメント調整ができなかつた点を考えれば
非常に有利であり、作動距離算出ステツプとアライメン
ト量算出ステツプとを独立に平行して進めることができ
るため演算時間の大幅な短縮ができる利点をもつ。さら
にアライメント量が定量的に測定できる点は従来のアラ
イメント装置にない本発明特有の大きな特徴である。ま
た、仮想平行四辺形を作成するとき、直線Ｌ_１１，Ｌ
_２１にそれら直線の属する直線群のピツチをｎ倍して、
直線Ｌ_１１，Ｌ_２１の傾きに平行に仮想直線を引くこと
により仮想平行四辺形を作成したが、仮想平行四辺形の
作成方法はこれに限定されるものでなく、第８ｄ図のよ
うに直線Ｌ_１１に対し、角度βの傾きをもつ仮想直線ｌ
_１１を、また、直線Ｌ_２１に対し角度αの傾きをもつ仮
想直線ｌ_２１を作り、この作られた仮想直線ｌ_１１，ｌ
_２１をもとにして仮想平行四辺形ｕｖｗｑを作成しても
よいことは言うまでもなく、これにより、本願の測定原
理が変更をうけるものではない。 第１１図は本発明の
第４の測定原理を説明するための斜視図である。本測定
原理は円形光源からの光束が球面により反射される場合
は、その反射光束は、反射面の曲率半径に応じた円形光
束となり、またトーリツク面により反射される場合はそ
の曲面特性により楕円光束となる原理にもとずくもので
ある。本測定原理を説明するにあたり前述の第１の測定
原理と同様の構成要素には、同一の符号を付して説明は
省略する。今、予め定められた半径Ｒの円形光源からの
光束Ｆｘが装置光軸Ｏ_１とその主光線が平行になるよう
にＸｏ−Ｙｏ座標面上に投影され結像されているものと
する。この照明光束の角膜Ｃでの反射光は角膜Ｃの曲面
特性すなわちその角膜前面の形状の３要素である第１主
径線ｒ_１の曲率半径ｒ_１、第２主径線ｒ_２の曲率半径ｒ
_２及び第１主径線ｒ_１の軸方向θさらに光学中心Ｏｃの
装置光軸Ｏ_１に対する偏位量、Ｅ_Ｈ、Ｅ_Ｖの影響により
偏向され検出面Ｄ上に楕円パターンＦＸ′を投影形成す
る。円形光源と検出面Ｄ上の楕円パターンＦＸ′との関
係は円形光源からの光束ＦＸの主光線が作る円形照明光
束が ｘ^２＋ｙ^２＝Ｒ^２≡定数 の条件のもとに 〔ａ^２（１）ｓｉｎ^２θ＋ｂ^２（１）ｃｏｓ^２θ）（ｘ´−α）^２ ＋〔ａ^２（１）ｃｏｓ^２θ＋ｂ^２（１）ｓｉｎ^２θ〕（ｙ´−β）^２ −〔ａ^２（１）−ｂ^２（１）〕ｓｉｎ^２θ＋ａ（１）ｂ （１）・Ｒ^２＝０ ……（２７） の方程式が成り立つ。今この方程式の根 とする。また、この方程式中のα，βはそれぞれ角膜Ｃ
の頂点Ｏｃ（光学中心でもある）のＸｏ−Ｙｏ座標系の
頂点Ｏ_ｏとの偏位量Ｅ_Ｈ、Ｅ_Ｖに起因する本発明が測定
しようとしているアライメント量であり水平方向アライ
メント量をα、垂直方向アライメント量をβと定義して
あることは前述の各測定原理と同様である。今、前述の
第１原理と同様に検出面Ｄを角膜Ｃから距離ｌ´の位置
におき、これを検出面Ｄ´とし、このときの楕円パター
ンについても上記第（１）式が成り立つので、その根を とすると（２８）（２８´）式より、前記（５）式と同
様に として１を求めることができ、また前記第１の原理と同
様の考え方で作動距離ＷＤは ……（３０）として求めることができる。

上記第（２７）式において１は第（２９）式でもとめら
れるので、結局第（２７）式の未知数はｒ_１，ｒ_２，
θ，α，βの５つであるから投影楕円パターン上の５点
を検出しその座標値（Ｘｉ´，Ｙｉ´）（ここにｉ＝
１、２、３、４および５）を第（２７）式のＸ´及びＹ
´値として代入し、これによつてできる５元連立方程式
を解けば、検出面Ｄ上の投影楕円パターンは、その形状
及びＸ−Ｙ座標系上の位置が決定できるので、これより
アライメント量α，βを求めることができる。もし、第
１１図に示したように検出器として平面型のポジション
センサを使用することやあるいは光軸Ｏ_１を中心にリニ
アポジションセンサを回転させることが検出器のコスト
アツプや精度保証上の問題があるならば以下のような構
成をとればよい。すなわち第１２図に示すように円形光
源に、さらにこれと交差する一本の直線光源をもちいる
と前述の第２の原理より明らかなように直線光源からの
平面光束が角膜Ｃで反射され検出面Ｄに投影されたと
き、その傾きは変化しても直線性自身はくずれないの
で、この傾きの変化を知ることにより、逆に角膜Ｃの曲
面特性の情報を得ることができる。そしてその曲面特性
を利用して作動距離及びアライメント量を求めることが
できる。今、第１２図に示すように、直線状光源のＸｏ
軸との傾き角をａ、この直線状光源に対応する検出面Ｄ
上の投影直線パターンＬ_Ａ′のＸ軸との傾をａ′とすれ
ば、以下の方程式が成り立つ。

〔Ａ（１）ａ−Ｂ（１）ａ′〕ｔａｎ^２θ＋〔Ａ（１）−Ｂ（１）〕（１−ａ・ ａ′）ｔａｎθ＋〔Ａ（１）ａ′−Ｂ（１）ａ）＝０ ……（３１） ここに である。これよりＸ−Ｙ座標系のＸ軸上に記したリニア
ポジシヨンセンサｌｘとＹ軸上に配置されたリニアポジ
シヨンセンサｌｙとにより、投影楕円パターン上の４点
Ｕ（ｏ_１，ｙ_１）、Ｖ（ｘ_１，ｏ）、Ｗ（ｏ，ｙ_２）、
Ｑ（ｘ_２，ｏ）、及び投影直線パターン上の２点Ｉ（ｘ
_３，ｏ）、Ｊ（ｏ，ｙ_３）を求めれば、角膜Ｃの曲面特
性を求めることができる。またリニアセンサｌｘ、ｌｙ
の配置としては前記第３の原理で説明したように検出面
上で斜交させてもよい。この場合前記の座標変換式 を使えばよい。また、第１２図に示すように、２本の平
行なリニアセンサ_１ｌｙ，_２ｌｙを使用してもよい。こ
のとき投影楕円パターンＦｘ′は検出点Ｕ， 以上説明した測定原理を利用したアライメント装置の
２，３の実施例を以下図をもとに説明する。第１３図
は、本発明の第１の実施例を示す光学配置図である。架
台１上に前後左右及び上下方向に可動自在に支持された
眼科器機筐体２にはこの眼科機器本来の測定あるいは検
査もしくは撮影をつかさどる測定光学系部３と本発明の
アライメント光学系４が組込まれている。測定光学系３
とは、例えばレフラクトメーター、オフサルモメーター
あるいは眼底カメラの光学系である。アライメント装置
４は、大きく分けて照明光学系５、測定光学系６、演算
回路７、表示器８及び架台１内に内蔵された筐体駆動部
９とから構成されている。照明光学系５の構成は次の通
りである。その光源としては発光波長が互いに異なる２
つの赤外光を発光する発光ダイオード１０ａ，１０ｂが
利用される。発光ダイオード１０ａを射出した光は、ダ
イクロイツクプリズム１１のダイクロイツク面１１ａで
反射され、また発光ダイオード１０ｂを射出した光は、
ダイクロイツク面１１ａを透過してコンデンサレンズ１
２により開口板１３に入射する。開口板１３には、第１
４図ａ〜ｄに示すように前記第１から第４の測定原理の
それぞれに則した開口パターンのいずれかが形成されて
いる。第１４図ａの開口板１３は前記第１測定原理を採
用するときの開口板の一例である。この開口板１３に
は、多数の点開口２００が、直交する２軸上にそつて配
列されている。第１４図ｂは前記第２測定原理を採用す
るときの開口板であり、この開口板１３には、太い開口
直線２０１ａ，２０１ｂが平行に配列され、かつこの開
口直線２０１ａ，２０１ｂの両方に直交するようにして
細い３本の直線開口を１組とする第１直線群開口２０２
ａ、及び同様の構成からなる第２直線群開口２０２ｂが
配列されており、前記開口直線２０１ａ，２０１ｂとの
交差部では、直線群開口２０２ａ，２０２ｂは切断され
た形となつている。ここで直線開口として太い直線から
なる直線開口２０１と細い３本線からなる直線群開口２
０２を形成したのは、互いの直線開口の投影パターンを
検出するときに区別できるようにするためであり、本発
明はこの開口板のパターンに限定されるものではない。
例えば開口２０１と２０２の透過率に差をもたせてもよ
いし、単に互いの太さのみを変えるだけでもよい。第１
４図ｃは前述の第３の測定原理を採用するための開口板
に形成される開口パターンの一例を示す図であり、この
開口板１３には直線開口２０３ａを複数本同一のピツチ
間隔で平行に配列してなる第１平行直線開口群２０３と
この第１平行直線開口群２０３とその配列方向を異にす
る直線開口２０４ａを複数本同一のピッチ間隔で平行に
配列してなる第２平行直線開口群２０４が形成されてい
る。また、第１及び第２それぞれの平行直線開口群には
少なくとも１本の前記直線開口２０３ａ，２０４ａと太
さの異なる基準直線開口２０３ｂ及び２０４ｂが形成さ
れている。この基準直線開口２０３ｂ，２０４ｂをもう
けた理由は、これら平行直線開口群の投影パターンを２
本のリニア型ポジシヨンセンサで検出し、その検出点か
ら投影パターンの方程式を決定するときどの検出点とど
の検出点を結ぶ方程式を算出すればよいかが簡単にかわ
るようにするためである。また直線開口を多数形成した
のはこれらに対応する投影パターンを平均化して測定精
度を高めるためである。第１４ｄ図は、前記第４の測定
原理を採用するときの開口板の開口パターンの一例を示
す図であり、この開口板１３には、円形開口２０５と、
これに交わる２本の互いに平行な直線開口２０６ａ，２
０６ｂからなる平行直線開口群２０６が形成されてい
る。ここで、直線開口２０６ａと２０６ｂを２本、平行
にもうけたのは、例えばこの開口パターンの投影パター
ンを２本のリニアセンサで検出する場合、直線開口２０
６ａに対応する投影直線パターンが、この２本のリニア
センサの交差点上に投影された場合でも、他の直線開口
２０６ｂに対応する投影直線パターンはかならず２本の
リニアセンサ上にまたがつて投影されるため、その投影
パターン上の２点が検出でき、もつてこの投影パターン
の方程式が算出できることを利用するためである。この
様に、各測定原理により、その測定原理にそつた種々の
開口パターンが採用可能であるが以下本実施例の説明は
第１４図ｂに示した開口パターンを有する開口板１３が
組込まれているものとして説明する。すなわち、この開
口板１３が前述の直線光源として作用する。開口板１３
の開口パターンを射出した光束はピンホール板１４のピ
ンホール１４ａを通つて結像補助レンズ１５に入射す
る。この結像補助レンズ１５を射出した照明光束は、測
定光学系６の測定光軸Ｏ_１に傾設されている小ハーフミ
ラー１６で反射され結像レンズ１７に入射する。この結
像レンズ１７は、アライメント装置として独立のもので
もよいし、このアライメント装置を組込んだ眼科器機の
測定光学部３の対物レンズとして兼用されてもよい。結
像レンズ１７と前記結像補助レンズ１５の両方の合成焦
点位置に前記ピンホール１４ａが配置されている。結像
レンズ１７を射出した照明光束は、被検眼Ｅの角膜Ｃの
近傍の像平面ＩＳにその光源すなわち開口板１３の開口
パターン像を結像する。角膜Ｃで反射された照明光束
は、結像レンズ１７を通り、この照明光束を眼科器機の
測定光学部３への光束とアライメント測定用光束とに分
割する光軸Ｏ_１に傾設されたハーフミラー１８で一部が
反射され、前記ダイクロイツクプリズム１１と同一の波
長選択反射透過特性を有するダイクロイツクプリズム１
９により、第１光路２０と第２光路２１に分割される。
第１光路２０は、補助リレーレンズ２２とミラー２３及
び光学光路長調整用の平行平面ガラス２４から構成され
る。他方第２光路２１は補助リレーレンズ２５、ミラー
２６及びこの第２光路の光軸回わりに像すなわち光束を
所定角回転するイメージローテーター２７から構成され
ている。そして第１光路２０と第２光路２１の光束は、
ダイクロイツクプリズム１１と同一の波長選択反射透過
特定を有するダイクロイツクプリズム２８により合成さ
れる。そしてダイクロイツクプリズム２８を射出した角
膜反射光束はリニアポジシヨンセンサ２９に投影され
る。このリニアポジシヨンセンサ２９としては例えば直
線状のＣＣＤ（Ｃｈａｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉ
ｉｃｅ）アレイが利用される。リニアセンサ２９は後に
詳述する演算回路７に接続している。ダイクロイツクプ
リズム２８とリニアセンサ２９との間には演算回路７か
らの信号を受けて、検出面切替回路３０の駆動制御によ
り光路内に挿入及び選出される例えば平行平面ガラスか
ら成る光路長変換部材３１が配置されている。リニアセ
ンサ２９は、その光学的共役像が、補助リレーレンズ２
２または２５により一度結像点ＩＰに作つたのち結像レ
ンズ１７により光路長変換部材３１が光路内に挿入され
ているときは図中Ｄの位置に、光路長変換部材３１が光
路から飛出しているときは図中Ｄ′の位置にそれぞれ形
成される。またこれら共役検出面Ｄ，Ｄ′は前記照明光
学系のピンホール１４ａとは非共役な位置に位置付けら
れている。さらに、結像レンズ１７の前方には、測定時
の基準投影パターンを得るための手段として、光軸Ｏ_１
に垂直な反射面をもち測定光路内に挿入退出できる反射
鏡３２を配置してこの反射鏡３２を使つて、この反射鏡
により照明光の反射光による直線光源と同一形状の投影
パターンをリニアセンサ２９で検出し、これをもとに基
準投影パターンを作り、その値を演算回路のメモリーに
記憶しておけば直線光源としての開口板１３の開口パタ
ーンの制作に際して設計値と誤差があつたりあるいは開
口板１３の照明光学系５への組込みの誤差があつたとし
てもその装置２２に個有の基準投影パターンを使えるの
で測定誤差にならないという利点をもつている。次に本
実施例の測定作用を説明する。まず基準投影パターンの
作り方を説明する。通常被検眼が位置するであろうと予
想される位置で、反射鏡３２を光軸Ｏ_１と垂直になるよ
うに図示しない保持手段、例えばこのアライメント装置
を有する眼科器機の被検者頭部固定用のアゴ受け手段等
に取り付ける。次に光路長変換部材３１を測定光路内に
挿入し、発光ダイオード１０ａを点燈する。発光ダイオ
ード１０ａを射出した光束は、開口板１３で選択透過さ
れ、この開口板１３の開口パターンを直線状光源とし、
この光源から射出した光は結像レンズ１７及び結像補助
レンズ１５により光軸Ｏ_１とその主光線が平行とされて
反射鏡に照明され、反射鏡近傍の像平面ＩＳ上に直線光
源像を作る。反射鏡３２からの反射光は、照明光と同一
の光路を通つて結像レンズに入射する。そして結像レン
ズ１７により、その反射光はハーフミラー１８により反
射されダイクロイツクプリズム１９のダイクロイツク面
で反射され第１光路２０を通つてリニアセンサ２９に投
影される。この基準投影パターンＰ_０を第１５図に実線
で示す。リニアセンサ２９はこの基準投影パターンと交
差する点すなわち検出点_０Ｓ_０，_０Ｓ_２，_０Ｓ_３，_０Ｓ
_４を検出する。次に発光ダイオード１０ｂに発光を切り
替えると、この光束による開口板１３の開口パターンに
よる直線状光源の反射鏡３２による反射光束はダイクロ
イツクプリズム１９のダイクロイツク面を透過し第２光
路２１を通りリニアセンサ２９に投影される。ここで光
束は、第２光路２１のイメージローテーター２７の作用
により回転され、第１５図に２９′で示す位置にリニア
センサ２９を配置したと等価な反射光束となつてリニア
センサ２９に入射する。リニアセンサは、この投影パタ
ーン上の検出点_０Ｓ_５，_０Ｓ_６，_０Ｓ_７及び_０Ｓ_８を検
出する。そして検出点_０Ｓ_１と_０Ｓ_６より投影直線パタ
ーン２０１′ａの方程式をもとめる。同様に検出点_０Ｓ
_３と_０Ｓ_７より直線パターン２０１′ｂの方程式を検出
点_０Ｓ_５と_０Ｓ_４から投影パターン２０２′ａの方程式
を、検出点_０Ｓ_２と_０Ｓ_８とから投影パターンの方程式
をそれぞれ求め、これら４つの方程式をもとに投影パタ
ーンの交点Ｕ_０，Ｖ_０，Ｗ_０，Ｑ_０を算定し、この交点
Ｕ_０とＷ_０を通る直線をＸ軸とし、また交点Ｖ_０とＱ_０
を通る直線をＹ軸としてＸ−Ｙ座標系を定める。そして
以後このＸ−Ｙ座標系を測定上の座標系として使用す
る。また交点Ｕ_０，Ｖ_０，Ｗ_０，Ｑ_０を基準点とする。
そして、これらＸ−Ｙ座標系と交点Ｕ_０，Ｖ_０，Ｗ_０，
Ｑ_０を基準原点として演算回路のメモリー回路に記憶し
ておく。このように準備されている眼科器機を被検眼に
対置させ、上述と同様の測定手順で測定し、光路長変換
部材３１を光路中に挿入しての共役検出面Ｄでの検出に
より、第１投影パターンＰ_１の各投影直線パターン２０
１″ａ，２０１″ｂ，２０２″ａ，２０２″ｂのそれぞ
れの方程式を求め、この４つの方程式をもとに交点
Ｕ_１，Ｖ_１，Ｗ_１，Ｑ_１を求める。その４点Ｕ_１，
Ｖ_１，Ｗ_１，Ｑ_１と上述の基準原点Ｕ_０，Ｖ_０，Ｗ_０，
Ｑ_０のＸ−Ｙ座標系における座標値を記憶しておく。次
に、光路変換部材３１を光路外に退出させ、共役検出面
Ｄ′の位置において前述と同様の測定手順で第２投影パ
ターンＰ_２を検出する。検出点から第２投影パターンの
交点Ｕ_２，Ｖ_２，Ｗ_２，Ｑ_２を前述と同様の手順で求め
ＹのＸ−Ｙ座標系での座標値を記憶する。そして前述の
基準原点Ｕ_０，Ｖ_０，Ｗ_０，Ｑ_０と第１投影パターンの
４交点Ｕ_１，Ｖ_１，Ｗ_１，Ｑ_１との間で第（１）〜
（４）式を適用し、その根λｔを求める。つぎに基準原
点Ｕ_０，Ｖ_０，Ｗ_０，Ｑ_０と第２投影パターンの４交点
Ｕ_２，Ｖ_２，Ｗ_２，Ｑ_２との間で同様に第（１）〜
（４）式を適用し、その根λ′ｔを求める。これらλ
ｔ′，λｔ′とから第（６）式により作動距離ＷＤを演
算して求める。また基準原点Ｕ_０，Ｖ_０，Ｗ_０，Ｑ_０と
第１投影パターンの４交点Ｕ_１，Ｖ_１，Ｗ_１，Ｑ_１との
間で第（８）′式のｎをｎ＝４の場合として適用し、ア
ライメント量を求める。これら作動距離とアライメント
量の演算は独立に並行して演算回路７で演算できること
は、原理説明で述べた通りである。そして、作動距離調
整量とアライメント量はＣＲＴデイスプレイ３３に数値
あるいは図形表示するか、あるいは筐体駆動部９に入力
され自動的に作動距離とアライメントが調整される。第
１６図は、以上の演算処理を行うための演算回路７の一
例を示すブロツク図である。リニアポジシヨンセンサ駆
動回路１０１によつて駆動されるリニアポジシヨンセン
サ２９はドライブ回路１００によつて駆動された発光ダ
イオード１０ａの発光により投影直線パターンの検出出
力を信号ライン１０２に送出する。符号１０４はアナロ
グスイツチであり、マイクロプロセッサ１０５によつて
コントロールされるものである。マイクロプロセツサ１
０５は、リニアセンサ２９を駆動する駆動回路１０１よ
りリニアセンサの走査開始パルス１０６により割込みを
受けると、アナログスイツチ１０４を制御して、リニア
センサ２９の出力がＡ／Ｄ変換器１０７に入力される様
にする。Ａ／Ｄ変換器１０７は駆動回路１０１からの読
み出しパルス１０８により読み出されるリニアセンサの
１素子毎の出力をアナログーデジタル変換し変換された
デジタル値をマイクロプロセツサに供給する。ここでＡ
／Ｄ変換器１０７は８ピツト（１／２５６）程度の分解
能を有し、かつリニアセンサ走査周波数より速い変換時
間を有するものが選ばれる。マイクロプロセツサ１０５
は１素子毎にデジタル値に変換されたリニアセンサ２９
の出力を読み込み、ＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモ
リー）等で構成されるデータメモリー１０９に遂次記憶
させる。従つてデータメモリー１０９には、予め定めら
れた番地より、リニアセンサの最初の素子による出力か
ら順にデジタル値として記憶される。例えばリニアセン
サ２９が１７２８素子のものであれば、１７２８個のデ
ータ取り込みが終了すると、マイクロプロセツサ１０５
は、それ以上のデータ取り込みをやめ駆動回路１００を
制御して今まで発光していた発光ダイオード１０ａを消
し、発光ダイオード１０ｂを発光させる。そして前述と
同様の駆動によりリニアセンサ２９の検出出力をデータ
メモリ１０９に記憶する。次にマイクロプロセツサは検
出面切替回路３０の切替信号１２０を出力し、この切替
回路３０を駆動し光路長変換部材３１を測定光路から退
出させ、再び前述と同様の駆動をしすべての検出データ
をデータメモリ１０９に記憶する。以後、マイクロプロ
セツサ１０５内の演算回路１１２はデータメモリ１０９
に書き込まれたデータを基に、以下の処理をおこなう。

ｉ 直線投影パターンによるリニアセンサ出力波形の中
心位置がリニアセンサの素子の何番目に位置するかを検
出する。

ｉｉ ｉ）の検出位置から投影直線パターンの方程式を
算出する。

ｉｉｉ 方程式より、投影パターンの交点の位置座標を
もとめる。

ｉｖ 交点の座標値をもとに、第（１）〜第（４）′式
の２根λｉ，λｉをもとめる。

ｖ ２根λｉ，λｉ′を使つて第（６）式より作動距離
を算出する。

ｖｉ 交点座標値からアライメント量を算出する。以上
の処理により求められた各値はＣＲＴデイスプレイ３３
により数値もしくは図形表示される。あるいは予め基準
値設定回路１２１に記憶されている基準作動距離との差
をベクトル値、すなわち装置筐体２を移動させたい量及
びその方向を演算回路１１２で演算し、その値を筐体駆
動部９内の前後方向移動用モータ１１７を駆動制御する
駆動制御回路１１４に入力して作動距離を自動的に調整
させる。同様に水平方向アライメント量αを左右方向移
動用モータ１１８の駆動制御回路１１５に、また垂直方
向アライメント量βを上下方向移動用モータ１１９の駆
動制御回路１１６にそれぞれ入力し、自動的にアライメ
ント調整させる。第１７図は本発明の第２の実施例を示
す光学配置図である。前述の第１の実施例と同一もしく
は均等の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略
する。本実施例の照明光学系５の開口板は、２つの開口
板５０，５１からなり、それぞれダイクロイツクプリズ
ム１１の反射光軸上と、透過光軸上に配置されている。
また、発光光源は、発光ダイオードでなく一般の白熱電
球５２，５３を使用している。光源５２，５３を射出し
た光束はそれぞれ散板５４及び赤外光のみを透過する赤
外フイルター５５を通過して開口板５０，５１に入射す
る。開口板５１には、第１４図に示す開口板１３の各開
口パターンにつき、その一方の開口のみが形成される。
例えば第１４ｂ図について言えば開口板５０には直線開
口２０１ａ，２０１ｂが、開口板５１には平行直線群開
口２０２ａ，２０２ｂが、それぞれ形成されており、ピ
ンホール１４ａを通つて結像レンズ１７、補助結像レン
ズ１５によつて角膜近傍の像平面ＩＳ上に結像され、こ
の像平面内で合成される。またハーフミラー５６は、測
定光学系６の第１光路２０、第２光路２１の合成を行な
うとともに、第１光路２０を通つてきた角膜反射光を２
分割しこのハーフミラー５３の反射光はリニアセンサ２
９に、また透過光はリニアセンサ５７にそれぞれ投影さ
れる。同様に第２光路２１を通つてきた角膜反射光は、
ハーラミラー５７で２分割され、このハーフミラー５６
の反射光はリニアセンサ５７に、透過光はリニアセンサ
２９に投影させる。ここで２本のリニアセンサ２９と５
７はそれぞれ補肋リレーレンズ２２又は２５及び結像レ
ンズ１７により、共役検出面ＤもしくはＤ′内で互いに
交差するように配置されている。光源５２を発光する
と、その射出光は開口板５０で選択透過されダイクロイ
ツクプリズム１１で反射されて角膜に向う。そして角膜
反射光は光学像レンズ１７、ハーフミラー１８、第１光
路２０を通つてハーフミラー５６で２分され、リニアセ
ンサ２９及び５７にそれぞれ投影される。そしてリニア
センサ２９は、第１５図の検出点_１Ｓ_１，_１Ｓ_２を、リ
ニアセンサ５７は検出点_１Ｓ_３，_１Ｓ_４をそれぞれ検出
する。次に光源５３に発光を切り替えると、その射出光
は開口板５１で選択透過されて、角膜Ｃに向う。角膜Ｃ
からの反射光は第２光路２１を通つて同様にハーフミラ
ー５６で２分され、一方はリニアセンサ２９に投影さ
れ、リニアセンサ２９は検出点_１Ｓ_５，_１Ｓ_６を検出す
る。他方はリニアセンサ５７に投影され、リニアセンサ
５７は検出点_１Ｓ_７，_１Ｓ_８を検出する。そしてこれら
８個検出点_１Ｓ_１，１Ｓ_２、…_１Ｓ_８から各投影直線パ
ターンの方程式を求め４交点Ｕ_１，Ｖ_１，Ｗ_１，Ｑ_１を
求める。以後は前述の第１実施例と同様の測定手順によ
り作動距離とアライメント量を求めることができる。第
１８図は本発明の第３の実施例を示す光学配置図であ
り、第１９図は本発明の第４の実施例を示す光学配置図
である。第３、及び第４実施例において前述の第１また
は第２実施例と同一もしくは均等の構成要素には同一の
符号を附して説明を省略する。第１８図の第３の実施例
はリニアセンサ２９を回転駆動制御回路３０１で制御さ
れるパルスモーター３００で光軸Ｏ_１を回転軸として回
転し、そしてリニアセンサ２９を固定しておいて鎖線で
示したようにイメージローテーター３０２を回転する例
を示している。これにより平面型センサとまつたく同様
の効果が得られるので第１の測定原理のように測定に点
光源を使う場合も一本のリニアセンサで検出できる。ま
た第４の測定原理において同形光源のみを使う場合も同
様に１本のリニアセンサで検出できる。また第１９図に
示す第４実施例は検出器として二本のリニアセンサを平
行に配置する代りに、平行平面ガラス３０３を光軸Ｏ_１
に垂直な軸を回転軸として回転して反射光束をシフトす
ることにより１本のリニアセンサで平行配置したと同様
の作用効果をもたせた例である。以上説明した各実施例
とも光源として、開口板上に形成した開口パターンを利
用しているが、本発明はこれに限定されるものでなく、
光源からの照明光束を選択的に反射する反射パターンを
光源として利用してもよいことは説明するまでもないこ
とであり、また多数の微少発光素子を配列して直接各パ
ターンを形成してもよいことは言うまでもなく、特に点
光源を利用する第１の測定原理の場合は十分実用性があ
るものである。さらに、これら光源を得るために、１つ
の点光源から射出された光束を複数の屈折面から成るピ
ラミットプリズムや多角錐形プリズムを通して、あたか
も複数光源があるかの様に構成することや、１本のリニ
ア発光素子アレイまたは、マスクパターンを移動あるい
は回転して、上記原理の述べたような複数本のリニア発
光素子アレイや複数本のマスクパターンを仮想的に形成
せしめてもよいことは言うまでもない。また円形光源の
かわりに、１つの光軸外点光源もしくは光軸外点開口を
光軸を回転軸として回転して円形光源を作つてもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を示すための光学配置図、第２図
は角膜への照明光の角膜近傍での反射屈折状態を示す
図、第３図は本発明の第１の測定原理を説明するための
斜視図、第４図及び第５図は本発明の第２の測定原理を
説明するための斜視図、第６図、第７図は本発明の第３
の測定原理を示すための斜視図、第８ａ図ないし第８ｄ
図及び１０図は本発明の投影パターンから仮想平行四辺
形を作る方法を示す概略図、第９図は直交座標系と斜交
座標系の関係を示す図、第１１図及び第１２図は本発明
の第４の測定原理を説明するための斜視図、第１３図は
本発明の第１の実施例を示す光学配置図、第１４図ａ〜
ｄは開口板の例を示す正面図、第１５図は投影パターン
の検出法を示す概略図、第１６図は演算回路の一例を示
すブロツク図、第１７図は本発明の第２の実施例を示す
光学配置図、第１８図は本発明の第３の実施例を示す光
学配置図、第１９図は本発明の第４の実施例を示す光学
配置図。 ５……照明光学系、６……測定光学系，１０ａ，１０ｂ
……発光ダイオード、１４ａ……ピンホール、１７……
結像レンズ、２７，３０２……イメージローテーター、
２９，５７……リニアポジシヨンセンサ、３１……光路
長変換部材、５２，５３……光源、 ５５……赤外フイ
ルター、３０３……光束シフト手段、３００……パルス
モーター。

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成５年６月７日

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】図面の簡単な説明

【補正方法】変更

【補正内容】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理を示すための光学配置図、

【図２】角膜への照明光の角膜近傍での反射屈折状態を
示す図、

【図３】本発明の第１の測定原理を説明するための斜視
図、

【図４】本発明の第２の測定原理を説明するための斜視
図、

【図５】本発明の第２の測定原理を説明するための斜視
図、

【図６】本発明の第３の測定原理を示すための斜視図、

【図７】本発明の第３の測定原理を示すための斜視図、

【図８】本発明の投影パターンから仮想平行四辺形を作
る方法を示す概略図、

【図９】本発明の投影パターンから仮想平行四辺形を作
る方法を示す概略図、

【図１０】本発明の投影パターンから仮想平行四辺形を
作る方法を示す概略図、

【図１１】本発明の投影パターンから仮想平行四辺形を
作る方法を示す概略図、

【図１２】直交座標系と斜交座標系の関係を示す図、

【図１３】本発明の投影パターンから仮想平行四辺形を
作る方法を示す概略図、

【図１４】本発明の第４の測定原理を説明するための斜
視図、

【図１５】本発明の第４の測定原理を説明するための斜
視図、

【図１６】本発明の第１の実施例を示す光学配置図、

【図１７】ａ〜ｄは開口板の例を示す正面図、

【図１８】投影パターンの検出法を示す概略図、

【図１９】演算回路の一例を示すブロック図、

【図２０】本発明の第２の実施例を示す光学配置図、

【図２１】本発明の第３の実施例を示す光学配置図、

【図２２】本発明の第４の実施例を示す光学配置図。

【符号の説明】 ５……照明光学系、６……測定光学系、１０ａ，１０ｂ
……発光ダイオード、１４ａ……ピンホール、１７……
結像レンズ、２７，３０２……イメージローテーター、
２９，５７……リニアポジションセンサ、３１……光路
長変換部材、５２，５３……光源、５５……赤外フイル
ター、３０３……光束シフト手段、３００……パルスモ
ーター。

【手続補正３】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】全図

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１】

【図２】

【図３】

【図４】

【図５】

【図６】

【図７】

【図８】

【図２１】

【図９】

【図１０】

【図２２】

【図１１】

【図１２】

【図１３】

【図１４】

【図１５】

【図１６】

【図１８】

【図１７】

【図１９】

【図２０】

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検眼角膜に向けて所定パターン像を投
   影する投影系と、被検眼角膜により反射された光束によ
   り形成された角膜反射パターン像を光電的に検出するた
   めの受光部と、前記受光部からの信号に基づき角膜反射
   パターン像の形状を示す方程式より角膜反射パターン像
   の幾何学的中心を演算し、被検眼に対する装置のアライ
   メント量を算出するための演算部とからなることを特徴
   とする眼科機械用アライメント装置。