JPH053307A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH053307A JPH053307A JP3153264A JP15326491A JPH053307A JP H053307 A JPH053307 A JP H053307A JP 3153264 A JP3153264 A JP 3153264A JP 15326491 A JP15326491 A JP 15326491A JP H053307 A JPH053307 A JP H053307A
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- JP
- Japan
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- region
- input
- type
- pad
- output circuit
- Prior art date
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- Withdrawn
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/90—Masterslice integrated circuits
- H10D84/903—Masterslice integrated circuits comprising field effect technology
- H10D84/907—CMOS gate arrays
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、ボーダーレスマスタースライス半導
体装置に関し、マスターウエハ全面に配列される基本セ
ルの集積度を向上させる。 【構成】縦方向に延びるスクライブラインに隣接して形
成された、横方向にN1個連続するウエル領域及び中間
領域からなるパッド領域にパッドが配置されるととも
に、該パッド領域に隣接して形成された、横方向にN2
個連続するウエル領域及び中間領域からなる入出力回路
領域内の配線により入力用及び/又は出力用回路が形成
されてなり、N1とN2とが互いに素なる関係を満足す
る。
体装置に関し、マスターウエハ全面に配列される基本セ
ルの集積度を向上させる。 【構成】縦方向に延びるスクライブラインに隣接して形
成された、横方向にN1個連続するウエル領域及び中間
領域からなるパッド領域にパッドが配置されるととも
に、該パッド領域に隣接して形成された、横方向にN2
個連続するウエル領域及び中間領域からなる入出力回路
領域内の配線により入力用及び/又は出力用回路が形成
されてなり、N1とN2とが互いに素なる関係を満足す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マスタースライス方式
の半導体装置に関する。
の半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、客先からの要求に迅速に対処する
こと等のために、LSIの設計、製造上大きなウェイト
を占める拡散処理までを画一的に処理しておき、その後
の回路配線のみを品種毎に行うマスタースライス方式が
採用されてきている。このマスタースライス方式は、開
発期間の短縮化、開発費用の低減化に役立ち、さらに標
準化により自動化を促進することができ、また開発品種
の特性を的確に予測することができる等の長所を有す
る。
こと等のために、LSIの設計、製造上大きなウェイト
を占める拡散処理までを画一的に処理しておき、その後
の回路配線のみを品種毎に行うマスタースライス方式が
採用されてきている。このマスタースライス方式は、開
発期間の短縮化、開発費用の低減化に役立ち、さらに標
準化により自動化を促進することができ、また開発品種
の特性を的確に予測することができる等の長所を有す
る。
【0003】図3は、多数の基本マスタースライスチッ
プが形成されたウエハを表わした模式図、図4は、その
基本マスタースライスチップ1個分を拡大して表わした
図である。ここで図4(a)は、回路配線を行う前の状
態、図4(b)は回路配線を行い(演算領域および入出
力回路領域における回路配線は省略した)さらにスクラ
イブを行った後の状態を表わしている。
プが形成されたウエハを表わした模式図、図4は、その
基本マスタースライスチップ1個分を拡大して表わした
図である。ここで図4(a)は、回路配線を行う前の状
態、図4(b)は回路配線を行い(演算領域および入出
力回路領域における回路配線は省略した)さらにスクラ
イブを行った後の状態を表わしている。
【0004】図3に示すように、ウエハ2上に、図に破
線で示す縦横の多数のスクライブ予定線4a,4bで囲
まれた各升目内に1つずつ基本マスタースライスチップ
6が形成されている。これらの各基本マスタースライス
チップ6は、図4(a)に示すように、多数の論理演算
用の基本セルが形成された第一の領域61と該第一の領
域61を取り巻くように多数の入力用セル及び/又は出
力用セル(以下、単に「入出力用セル」と称する)が形
成された第二の領域62から形成されている。ここで、
互いに隣接する基本マスタースライスチップ6の間に
は、回路配線に際し入出力用セルと接続される導体パッ
ドを配置するため、およびその後スクライブするための
間隙8が設けられている。
線で示す縦横の多数のスクライブ予定線4a,4bで囲
まれた各升目内に1つずつ基本マスタースライスチップ
6が形成されている。これらの各基本マスタースライス
チップ6は、図4(a)に示すように、多数の論理演算
用の基本セルが形成された第一の領域61と該第一の領
域61を取り巻くように多数の入力用セル及び/又は出
力用セル(以下、単に「入出力用セル」と称する)が形
成された第二の領域62から形成されている。ここで、
互いに隣接する基本マスタースライスチップ6の間に
は、回路配線に際し入出力用セルと接続される導体パッ
ドを配置するため、およびその後スクライブするための
間隙8が設けられている。
【0005】このウエハ2に回路配線を行うとともに外
部回路との接続のためのパッドを配置し、さらにスクラ
イブを行うことにより図4(b)に示すような半導体チ
ップが完成する。ここで、このマスタースライス方式に
おいては回路配線より前の工程までは個々の品種によら
ずあらかじめ製作されるものであるため、論理演算用基
本セルの数、入出力用基本セルの数等が固定され、した
がって論理演算用基本セルが少なくて済む品種、複雑な
論理演算を行う必要のある品種等を想定して、例えば4
00ゲート用、800ゲート用、2000ゲート用、…
といった多数種類の基本マスタースライスチップを準備
しておく必要がある。このため汎用性を目的としたマス
タースライス方式の長所が一部殺がれる結果となってし
まっている。
部回路との接続のためのパッドを配置し、さらにスクラ
イブを行うことにより図4(b)に示すような半導体チ
ップが完成する。ここで、このマスタースライス方式に
おいては回路配線より前の工程までは個々の品種によら
ずあらかじめ製作されるものであるため、論理演算用基
本セルの数、入出力用基本セルの数等が固定され、した
がって論理演算用基本セルが少なくて済む品種、複雑な
論理演算を行う必要のある品種等を想定して、例えば4
00ゲート用、800ゲート用、2000ゲート用、…
といった多数種類の基本マスタースライスチップを準備
しておく必要がある。このため汎用性を目的としたマス
タースライス方式の長所が一部殺がれる結果となってし
まっている。
【0006】この問題を解決するために、ウエハ全面に
論理演算用基本セルを配置することが提案されている
(特開平2−58871号公報参照)。図5は、この提
案によるウエハの平面図、図6は図5の微細領域Aを拡
大して示した模式図である。この提案に係るウエハ12
は、図6に示すような構造の基本セル14がその全面に
亘って配置されたものである。この基本セル14は独立
されたウエル領域16と、このウエル領域16と縦方向
に隣接する中間領域18とからなる。このウエル領域1
6は、例えばウエハ12がn型半導体ウエハの場合、こ
のウエハ上にp型不純物がドーピングされて形成され
る。このP型ウエル領域には、2つのnチャネルMOS
トランジスタ群20が形成されている。このnチャネル
MOSトランジスタ群20は、第一n+ 型領域−第一シ
リコンゲート端子−第二n+ 型領域第二シリコンゲート
端子−第三n+型領域の順に配列され、直列に接続され
た2つの電流通路及び相互に横方向に並列に配列された
二つのゲート端子等を持つ一対のnチャネルMOSトラ
ンジスタから構成されている。上記第二n+ 型領域は一
対のnチャネルMOSトランジスタのうちの一方のドレ
イン領域となり、それと同時に他方のソース領域とな
る。また、上記p型ウエル領域16には三つのp+ 型拡
散領域22が形成されている。このp+ 型拡散領域22
は、上記2つのnチャネルMOSトランジスタ群20の
中間および両側に配置されている。
論理演算用基本セルを配置することが提案されている
(特開平2−58871号公報参照)。図5は、この提
案によるウエハの平面図、図6は図5の微細領域Aを拡
大して示した模式図である。この提案に係るウエハ12
は、図6に示すような構造の基本セル14がその全面に
亘って配置されたものである。この基本セル14は独立
されたウエル領域16と、このウエル領域16と縦方向
に隣接する中間領域18とからなる。このウエル領域1
6は、例えばウエハ12がn型半導体ウエハの場合、こ
のウエハ上にp型不純物がドーピングされて形成され
る。このP型ウエル領域には、2つのnチャネルMOS
トランジスタ群20が形成されている。このnチャネル
MOSトランジスタ群20は、第一n+ 型領域−第一シ
リコンゲート端子−第二n+ 型領域第二シリコンゲート
端子−第三n+型領域の順に配列され、直列に接続され
た2つの電流通路及び相互に横方向に並列に配列された
二つのゲート端子等を持つ一対のnチャネルMOSトラ
ンジスタから構成されている。上記第二n+ 型領域は一
対のnチャネルMOSトランジスタのうちの一方のドレ
イン領域となり、それと同時に他方のソース領域とな
る。また、上記p型ウエル領域16には三つのp+ 型拡
散領域22が形成されている。このp+ 型拡散領域22
は、上記2つのnチャネルMOSトランジスタ群20の
中間および両側に配置されている。
【0007】また上記中間領域18には、上記ウエル領
域16内の2つのnチャネルMOSトランジスタ群20
と相互に対応する、横方向に2つのpチャネルMOSト
ランジスタ群24が形成されている。このpチャネルM
OSトランジスタ群24は、第一p+ 型領域−第一シリ
コンゲート端子−第二p+ 型領域−第二シリコンゲート
端子−第三p+ 型領域の順に配置され、直列に接続され
た2つの電流通路及び相互に横方向に配列された2つの
ゲート端子を持つ一対のpチャネルMOSトランジスタ
で構成されている。上記第二p+ 型領域は一対のpチャ
ネルMOSトランジスタのうちの一方のドレイン領域と
なり、これと同時に他方のソース領域となる。また、上
記中間領域18には3つのn+ 型拡散領域26が形成さ
れている。このn+ 型拡散領域26は、上記2つのpチ
ャネルMOSトランジスタ群24の中間および両側に配
置されている。
域16内の2つのnチャネルMOSトランジスタ群20
と相互に対応する、横方向に2つのpチャネルMOSト
ランジスタ群24が形成されている。このpチャネルM
OSトランジスタ群24は、第一p+ 型領域−第一シリ
コンゲート端子−第二p+ 型領域−第二シリコンゲート
端子−第三p+ 型領域の順に配置され、直列に接続され
た2つの電流通路及び相互に横方向に配列された2つの
ゲート端子を持つ一対のpチャネルMOSトランジスタ
で構成されている。上記第二p+ 型領域は一対のpチャ
ネルMOSトランジスタのうちの一方のドレイン領域と
なり、これと同時に他方のソース領域となる。また、上
記中間領域18には3つのn+ 型拡散領域26が形成さ
れている。このn+ 型拡散領域26は、上記2つのpチ
ャネルMOSトランジスタ群24の中間および両側に配
置されている。
【0008】ここで上記ウエル領域16内のp+ 型拡散
領域22および上記中間領域18内のn+ 型拡散領域2
6は、それぞれウエル領域16、中間領域18の基板電
位を安定化させるのに使用される。ここでウエハ上に形
成されたウエル内に配置されたMOSトランジスタ等の
回路素子は、そのウエルがスクライブにより傷つけられ
ない限り使用可能であるため、上記のように極く小さな
基本セル14をウエハ12の全面に配置すると任意の位
置をスクライブすることができ、入出力用回路もこの基
本セル14を用いて構成することにより、任意の大きさ
の、かつ無駄なスペースの少ない半導体チップが構成さ
れる。
領域22および上記中間領域18内のn+ 型拡散領域2
6は、それぞれウエル領域16、中間領域18の基板電
位を安定化させるのに使用される。ここでウエハ上に形
成されたウエル内に配置されたMOSトランジスタ等の
回路素子は、そのウエルがスクライブにより傷つけられ
ない限り使用可能であるため、上記のように極く小さな
基本セル14をウエハ12の全面に配置すると任意の位
置をスクライブすることができ、入出力用回路もこの基
本セル14を用いて構成することにより、任意の大きさ
の、かつ無駄なスペースの少ない半導体チップが構成さ
れる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ここで、分割された複
数のウエル領域を形成すると互いに隣接するウエル領域
の中間にスペースが必要となり、またウエル領域の境界
よりも所定の距離だけ内側に入った位置からしか回路素
子を配置することができないため、ウエル領域をみだり
に分割して形成することは集積度の向上の観点から好ま
しくない。上記のように極く小さな基本セル14をウエ
ハ12の全面に形成すると、あまりにも多数のウエル領
域16が存在することとなり、したがって無駄なスペー
スをなくして集積度の向上を図るというマスタースライ
ス方式の目的が殺がれる結果となる。
数のウエル領域を形成すると互いに隣接するウエル領域
の中間にスペースが必要となり、またウエル領域の境界
よりも所定の距離だけ内側に入った位置からしか回路素
子を配置することができないため、ウエル領域をみだり
に分割して形成することは集積度の向上の観点から好ま
しくない。上記のように極く小さな基本セル14をウエ
ハ12の全面に形成すると、あまりにも多数のウエル領
域16が存在することとなり、したがって無駄なスペー
スをなくして集積度の向上を図るというマスタースライ
ス方式の目的が殺がれる結果となる。
【0010】本発明は、この点に鑑み、集積度をさらに
向上させたマスタースライス方式の半導体装置を提供す
ることを目的とする。
向上させたマスタースライス方式の半導体装置を提供す
ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の半導体装置は、第一伝導型半導体ウエハの全
面に、多数の第一伝導型MOSトランジスタ及び多数の
第二伝導型拡散領域が横方向に並ぶように形成された横
方向に所定の長さを有する第二伝導型ウエル領域が横方
向に多数配列されるとともに、多数の第二伝導型MOS
トランジスタ及び多数の第一伝導型拡散領域が横方向に
並ぶように形成された横方向に前記所定の長さを有する
第一伝導型中間領域が、縦方向に前記第二伝導型ウエル
領域と交互に配列されるように横方向に多数配列されて
なるマスタースライス型半導体装置において、縦方向に
延びるスクライブラインに隣接して形成された、横方向
にN1個連続する前記第二伝導型ウエル領域及び前記第
一伝導型中間領域からなるパッド領域にパッドが配置さ
れるとともに、該パッド領域に隣接して形成された、横
方向にN2個連続する前記第二伝導型ウエル領域及び前
記第一伝導型中間領域からなる入出力回路領域内の配線
により入力用及び/又は出力用回路が形成されてなり、
前記N1と前記N2とが互いに素なる関係を満足するも
のであることを特徴とするものである。
の本発明の半導体装置は、第一伝導型半導体ウエハの全
面に、多数の第一伝導型MOSトランジスタ及び多数の
第二伝導型拡散領域が横方向に並ぶように形成された横
方向に所定の長さを有する第二伝導型ウエル領域が横方
向に多数配列されるとともに、多数の第二伝導型MOS
トランジスタ及び多数の第一伝導型拡散領域が横方向に
並ぶように形成された横方向に前記所定の長さを有する
第一伝導型中間領域が、縦方向に前記第二伝導型ウエル
領域と交互に配列されるように横方向に多数配列されて
なるマスタースライス型半導体装置において、縦方向に
延びるスクライブラインに隣接して形成された、横方向
にN1個連続する前記第二伝導型ウエル領域及び前記第
一伝導型中間領域からなるパッド領域にパッドが配置さ
れるとともに、該パッド領域に隣接して形成された、横
方向にN2個連続する前記第二伝導型ウエル領域及び前
記第一伝導型中間領域からなる入出力回路領域内の配線
により入力用及び/又は出力用回路が形成されてなり、
前記N1と前記N2とが互いに素なる関係を満足するも
のであることを特徴とするものである。
【0012】ここで上記「第一伝導型」、「第二伝導
型」は、その一方がp型、他方がn型であり、p型とn
型とのいずれが第一伝導型であってもよい。
型」は、その一方がp型、他方がn型であり、p型とn
型とのいずれが第一伝導型であってもよい。
【0013】
【作用】上記パッド領域はパッドの配置に使用されるた
め、このパッド領域内にある上記第二伝導型ウエル領域
および上記第一伝導型中間領域内の回路素子は使用され
ない。また上記入出力回路領域内の回路素子は、入力用
回路及び/又は出力用回路のために用いられ、この入出
力回路領域よりも内側の演算領域内に形成されている回
路素子は論理演算用として用いられる。ここで、入出力
用回路は、外部から侵入するノイズや過度の電圧等によ
り破壊されないようにその回路が構成されており、一方
上記演算領域内の論理回路は、ノイズ等は入出力用回路
で防止されるものとしてその回路が構成される。したが
ってこれらの点に鑑みると、上記演算領域と上記入出力
回路領域との境界、および該入出力回路領域と上記パッ
ド領域の境界ではウエル領域が互いに分離されているこ
とが好ましい。
め、このパッド領域内にある上記第二伝導型ウエル領域
および上記第一伝導型中間領域内の回路素子は使用され
ない。また上記入出力回路領域内の回路素子は、入力用
回路及び/又は出力用回路のために用いられ、この入出
力回路領域よりも内側の演算領域内に形成されている回
路素子は論理演算用として用いられる。ここで、入出力
用回路は、外部から侵入するノイズや過度の電圧等によ
り破壊されないようにその回路が構成されており、一方
上記演算領域内の論理回路は、ノイズ等は入出力用回路
で防止されるものとしてその回路が構成される。したが
ってこれらの点に鑑みると、上記演算領域と上記入出力
回路領域との境界、および該入出力回路領域と上記パッ
ド領域の境界ではウエル領域が互いに分離されているこ
とが好ましい。
【0014】一方前述した従来例のようにウエル領域を
あまりにも細分化しすぎると、前述したように、集積度
が低下する結果となる。本発明は、これらを総合的に検
討することにより完成されたものであり、上記N1とN
2とが互いに素なる関係を有するものであること、即
ち、上記第二伝導型ウエル領域の横方向の上記所定の厚
さをLとしたとき、上記パッド領域、上記入出力回路領
域の横方向の各寸法N1・L,N2・Lの最大公約数が
上記所定の長さLとなる関係を有するものであるため、
演算領域と入出力回路領域との間、入出力回路領域とパ
ッド領域との間にウエル領域が跨って形成されることが
防止されるととももに、前述した従来例のようにウエル
を細分化し過ぎた場合と比べ集積度を例えば20%程度
向上させることができる。
あまりにも細分化しすぎると、前述したように、集積度
が低下する結果となる。本発明は、これらを総合的に検
討することにより完成されたものであり、上記N1とN
2とが互いに素なる関係を有するものであること、即
ち、上記第二伝導型ウエル領域の横方向の上記所定の厚
さをLとしたとき、上記パッド領域、上記入出力回路領
域の横方向の各寸法N1・L,N2・Lの最大公約数が
上記所定の長さLとなる関係を有するものであるため、
演算領域と入出力回路領域との間、入出力回路領域とパ
ッド領域との間にウエル領域が跨って形成されることが
防止されるととももに、前述した従来例のようにウエル
を細分化し過ぎた場合と比べ集積度を例えば20%程度
向上させることができる。
【0015】
【実施例】以下本発明の実施例について説明する。図1
は、本発明の一実施例に係る半導体装置の、ウエハ上に
配列された基本セル群の一単位を表わした模式図であ
る。この一単位を構成する基本セル群14’が、その長
手方向(図の左右方向)がウエハの横方向(一定の方
向)に並ぶようにウエハ全面に亘って配置される。この
図において、図6に示す基本セルの各構成要素と対応す
る構成要素には、図6に付した番号と同一の番号を付し
て示し、共通点についての詳細な説明は省略する。
は、本発明の一実施例に係る半導体装置の、ウエハ上に
配列された基本セル群の一単位を表わした模式図であ
る。この一単位を構成する基本セル群14’が、その長
手方向(図の左右方向)がウエハの横方向(一定の方
向)に並ぶようにウエハ全面に亘って配置される。この
図において、図6に示す基本セルの各構成要素と対応す
る構成要素には、図6に付した番号と同一の番号を付し
て示し、共通点についての詳細な説明は省略する。
【0016】この基本セル群14’は、独立されたウエ
ル領域16’と、このウエル領域16’と縦方向に隣接
する中間領域18’とからなる点は、従来例における基
本セル14(図6参照)と同様であるが、ウエル領域1
6’内にMOSトランジスタ群20が例えば20〜30
個配置されている。中間領域18’についても同様であ
る。
ル領域16’と、このウエル領域16’と縦方向に隣接
する中間領域18’とからなる点は、従来例における基
本セル14(図6参照)と同様であるが、ウエル領域1
6’内にMOSトランジスタ群20が例えば20〜30
個配置されている。中間領域18’についても同様であ
る。
【0017】ここでこの一単位の長さLは以下のように
規定される。図2は、図1に示すような単位セル群1
4’が全面に形成されたウエハに回路配線を施した後の
スクライブラインの近傍を拡大して示した模式図であ
る。スクライブライン30は、その中央線30aが、図
1に示す単位セル群14’どおしの境界線上となるよう
にその位置が定められる。このスクライブライン30に
隣接して、パッド32aが配置されるパッド領域32が
形成されており、そのパッド領域32に隣接して、図1
に示すMOSトランジスタ群20,24を用いて配線さ
れた入出力回路34aが形成された入出力回路領域34
が形成されており、さらにその入出力回路領域34に隣
接して図1に示すMOSトランジスタ群20,24を用
いて論理演算回路が形成された演算領域36が形成され
ている。
規定される。図2は、図1に示すような単位セル群1
4’が全面に形成されたウエハに回路配線を施した後の
スクライブラインの近傍を拡大して示した模式図であ
る。スクライブライン30は、その中央線30aが、図
1に示す単位セル群14’どおしの境界線上となるよう
にその位置が定められる。このスクライブライン30に
隣接して、パッド32aが配置されるパッド領域32が
形成されており、そのパッド領域32に隣接して、図1
に示すMOSトランジスタ群20,24を用いて配線さ
れた入出力回路34aが形成された入出力回路領域34
が形成されており、さらにその入出力回路領域34に隣
接して図1に示すMOSトランジスタ群20,24を用
いて論理演算回路が形成された演算領域36が形成され
ている。
【0018】ここで、パッド領域32、入出力回路領域
34はその横方向に図1に示す単位セル群14’をそれ
ぞれN1個、N2個用いて形成されている。ここでN1
とN2とは互いに素となるように単位セル群14’、パ
ッド領域32、入出力回路領域34の横方向の長さL、
N1・L、N2・Lが定められている。即ちLはN1・
LとN2・Lとの最大公約数である。したがって、演算
領域36と入出力回路領域34の双方、入出力回路領域
34とパッド領域32の双方に跨った単位セル群14’
が形成されることが防止されるとともに、この条件を満
足する範囲で、単位セル群14’が横方向に最大限の長
さLを有するものとなる。これにより図6に示すように
各単位セル14毎にウエル16を形成した場合と比べ2
0%程度集積度が向上する。
34はその横方向に図1に示す単位セル群14’をそれ
ぞれN1個、N2個用いて形成されている。ここでN1
とN2とは互いに素となるように単位セル群14’、パ
ッド領域32、入出力回路領域34の横方向の長さL、
N1・L、N2・Lが定められている。即ちLはN1・
LとN2・Lとの最大公約数である。したがって、演算
領域36と入出力回路領域34の双方、入出力回路領域
34とパッド領域32の双方に跨った単位セル群14’
が形成されることが防止されるとともに、この条件を満
足する範囲で、単位セル群14’が横方向に最大限の長
さLを有するものとなる。これにより図6に示すように
各単位セル14毎にウエル16を形成した場合と比べ2
0%程度集積度が向上する。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体装
置は、横方向に単位セル群がN1個連続する領域からな
るパッド領域と横方向に単位セル群がN2個連続する領
域からなる入出力回路領域を有し、N1とN2とが互い
に素なる関係を満足するものであるため、ウエルを細分
化しすぎることによる集積度の低下が防止され、これに
より集積度がさらに向上することとなる。
置は、横方向に単位セル群がN1個連続する領域からな
るパッド領域と横方向に単位セル群がN2個連続する領
域からなる入出力回路領域を有し、N1とN2とが互い
に素なる関係を満足するものであるため、ウエルを細分
化しすぎることによる集積度の低下が防止され、これに
より集積度がさらに向上することとなる。
【図1】本発明の一実施例に係る半導体装置の、ウエハ
上に配置された基本セル群の一単位を表わした模式図で
ある。
上に配置された基本セル群の一単位を表わした模式図で
ある。
【図2】図1に示すような単位セル群が全面に形成され
たウエハに回路配線を施した後のスクライブラインの近
傍を拡大して示した模式図である。
たウエハに回路配線を施した後のスクライブラインの近
傍を拡大して示した模式図である。
【図3】多数の基本マスタースライスチップが形成され
たウエハを表わした模式図である。
たウエハを表わした模式図である。
【図4】基本マスタースライスチップ1個分を拡大して
表わした図である。
表わした図である。
【図5】従来の提案によるウエハの平面図である。
【図6】図5の微細領域Aを拡大して示した模式図であ
る。
る。
2,12 ウエハ 4a,4b スクライブ予定線 6 基本マスタースライスチップ 8 間隙 14 基本セル 14’ 基本セル群 16,16’ ウエル 18 中間領域 20,24 MOSトランジスタ群 30 スクライブライン 32 パッド領域 32a パッド 32b パッド領域と入出力回路領域の境界 34 入出力回路領域 34a 入出力回路 34b 入出力回路と演算領域の境界 36 演算領域 61 多数の論理回路用基本セルが形成された領域 62 多路の入出力用基本セルが形成された領域 63 パッド
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 第一伝導型半導体ウエハの全面に、多数
の第一伝導型MOSトランジスタ及び多数の第二伝導型
拡散領域が横方向に並ぶように形成された横方向に所定
の長さを有する第二伝導型ウエル領域が横方向に多数配
列されるとともに、多数の第二伝導型MOSトランジス
タ及び多数の第一伝導型拡散領域が横方向に並ぶように
形成された横方向に前記所定の長さを有する第一伝導型
中間領域が、縦方向に前記第二伝導型ウエル領域と交互
に配列されるように横方向に多数配列されてなるマスタ
ースライス型半導体装置において、縦方向に延びるスク
ライブラインに隣接して形成された、横方向にN1個連
続する前記第二伝導型ウエル領域及び前記第一伝導型中
間領域からなるパッド領域にパッドが配置されるととも
に、該パッド領域に隣接して形成された、横方向にN2
個連続する前記第二伝導型ウエル領域及び前記第一伝導
型中間領域からなる入出力回路領域内の配線により入力
用及び/又は出力用回路が形成されてなり、前記N1と
前記N2とが互いに素なる関係を満足するものであるこ
とを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3153264A JPH053307A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3153264A JPH053307A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH053307A true JPH053307A (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=15558658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3153264A Withdrawn JPH053307A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH053307A (ja) |
-
1991
- 1991-06-25 JP JP3153264A patent/JPH053307A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980903 |