JPH05335930A - 入力回路 - Google Patents
入力回路Info
- Publication number
- JPH05335930A JPH05335930A JP4141454A JP14145492A JPH05335930A JP H05335930 A JPH05335930 A JP H05335930A JP 4141454 A JP4141454 A JP 4141454A JP 14145492 A JP14145492 A JP 14145492A JP H05335930 A JPH05335930 A JP H05335930A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- circuit
- input
- power supply
- supply line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は入力回路の改善に関し、当該回路の
3ステート状態時の制御に係わり該回路の論理を正確に
固定し、そのフローティング状態を無くして、他の貫通
電流経路を断ち低消費電力化を図ることを目的とする。 【構成】 相補形トランジスタ回路11の入力部inと
電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイッチングトランジ
スタT0が直列に接続された入力回路において、相補形
トランジスタ回路11と電源線VCCとの間にトランジス
タT1が接続され、かつ、相補形トランジスタ回路11
の出力部outと接地線GNDの間にトランジスタT2が接
続されることを含み構成し、また、相補形トランジスタ
回路12と電源線VCCとの間にトランジスタT1が接続
され、かつ、相補形トランジスタ回路12の出力部out
と電源線VCCの間にトランジスタT2が接続され、該ト
ランジスタT2のゲートGを制御する相補形トランジス
タ回路13が接続されることを含み構成する。
3ステート状態時の制御に係わり該回路の論理を正確に
固定し、そのフローティング状態を無くして、他の貫通
電流経路を断ち低消費電力化を図ることを目的とする。 【構成】 相補形トランジスタ回路11の入力部inと
電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイッチングトランジ
スタT0が直列に接続された入力回路において、相補形
トランジスタ回路11と電源線VCCとの間にトランジス
タT1が接続され、かつ、相補形トランジスタ回路11
の出力部outと接地線GNDの間にトランジスタT2が接
続されることを含み構成し、また、相補形トランジスタ
回路12と電源線VCCとの間にトランジスタT1が接続
され、かつ、相補形トランジスタ回路12の出力部out
と電源線VCCの間にトランジスタT2が接続され、該ト
ランジスタT2のゲートGを制御する相補形トランジス
タ回路13が接続されることを含み構成する。
Description
【0001】 〔目次〕 産業上の利用分野 従来の技術(図16) 発明が解決しようとする課題(図17) 課題を解決するための手段(図1〜4) 作用 実施例 (1)第1の実施例の説明(図5) (2)第2の実施例の説明(図6) (3)第3の実施例の説明(図7) (4)第4の実施例の説明(図8) (5)第5の実施例の説明(図9) (6)第6の実施例の説明(図10) (7)第7の実施例の説明(図11) (8)第8の実施例の説明(図12) (9)第9の実施例の説明(図13) (10)第10の実施例の説明(図14) (11)第11の実施例の説明(図15) 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、入力回路に関するもの
であり、更に詳しく言えば、論理信号等を入力増幅する
回路の低消費電力化の改善に関するものである。
であり、更に詳しく言えば、論理信号等を入力増幅する
回路の低消費電力化の改善に関するものである。
【0003】近年、情報量の増大により高機能,高性能
のデータ処理装置が要求され、該処理装置にはN,Pチ
ャネル型の電界効果トランジスタを高集積,高密度に形
成した半導体集積回路装置がプリント基板等に実装さ
れ、それ等の入出力バッファが共通バスに接続されて使
用される傾向にある。
のデータ処理装置が要求され、該処理装置にはN,Pチ
ャネル型の電界効果トランジスタを高集積,高密度に形
成した半導体集積回路装置がプリント基板等に実装さ
れ、それ等の入出力バッファが共通バスに接続されて使
用される傾向にある。
【0004】これによれば、入出力バッファの3ステー
ト状態(出力ハイ・インピーダンス)時の制御におい
て、入力プルアップ抵抗を遮断するスイッチングトラン
ジスタをOFF動作することにより、入力部に接続された
外部回路に流出しようとする貫通電流を阻止している。
ト状態(出力ハイ・インピーダンス)時の制御におい
て、入力プルアップ抵抗を遮断するスイッチングトラン
ジスタをOFF動作することにより、入力部に接続された
外部回路に流出しようとする貫通電流を阻止している。
【0005】しかし、当該入力回路の初段のCMOSト
ランジスタ回路がフローティング状態になることから他
の貫通電流が流れる場合がある。これにより、初段のC
MOSトランジスタ回路の出力値が不安定となり、その
低消費電力化の妨げとなっている。
ランジスタ回路がフローティング状態になることから他
の貫通電流が流れる場合がある。これにより、初段のC
MOSトランジスタ回路の出力値が不安定となり、その
低消費電力化の妨げとなっている。
【0006】そこで、当該入力回路の3ステート状態時
の制御に係わりプルアップ抵抗の遮断のみに依存するこ
となく、当該回路の論理を正確に固定し、そのフローテ
ィング状態を無くして、他の貫通電流経路を断ち低消費
電力化を図ることができる入力回路が望まれている。
の制御に係わりプルアップ抵抗の遮断のみに依存するこ
となく、当該回路の論理を正確に固定し、そのフローテ
ィング状態を無くして、他の貫通電流経路を断ち低消費
電力化を図ることができる入力回路が望まれている。
【0007】
【従来の技術】図16,17は、従来例に係る説明図であ
る。図16(a),(b)は、従来例に係る入力回路の説
明図であり、同図はバスインタフェース等に使用される
入力部の回路図を示している。
る。図16(a),(b)は、従来例に係る入力回路の説
明図であり、同図はバスインタフェース等に使用される
入力部の回路図を示している。
【0008】例えば、バイポーラ・相補形トランジスタ
回路(以下Bi・CMOS回路という)は、図16(a)
において、電源線VCCと接地線GNDとの間に直列に接続
されたPチャネル型及びNチャネル型の電界効果トラン
ジスタ(以下単に第1,第2のトランジスタという)P
1, N1や次段のPチャネル型及びNチャネル型の電界
効果トランジスタ(以下単に第3,第4のトランジスタ
という)P2, N2と、該第1,第2のトランジスタP
1,N1の共通ゲートGと電源線VCCとの間に接続され
たプルアップ抵抗Rと、その共通ゲートGにエミッタE
が接続された入力トランジスタQから成る。
回路(以下Bi・CMOS回路という)は、図16(a)
において、電源線VCCと接地線GNDとの間に直列に接続
されたPチャネル型及びNチャネル型の電界効果トラン
ジスタ(以下単に第1,第2のトランジスタという)P
1, N1や次段のPチャネル型及びNチャネル型の電界
効果トランジスタ(以下単に第3,第4のトランジスタ
という)P2, N2と、該第1,第2のトランジスタP
1,N1の共通ゲートGと電源線VCCとの間に接続され
たプルアップ抵抗Rと、その共通ゲートGにエミッタE
が接続された入力トランジスタQから成る。
【0009】なお、プルアップ抵抗Rの機能は、入力オ
ープン時に「H」レベルに固定をするものである。これ
は、通電状態でLSI装置を入れ換える活線挿抜作業等
の場合に、入力部INがオープンとなっても、LSI装
置内部では入力オープン状態にならないようにするため
である。
ープン時に「H」レベルに固定をするものである。これ
は、通電状態でLSI装置を入れ換える活線挿抜作業等
の場合に、入力部INがオープンとなっても、LSI装
置内部では入力オープン状態にならないようにするため
である。
【0010】また、当該回路の通常入力状態時の機能
は、例えば、入力部INに論理信号「H」(ハイ)レベ
ルが入力されると、プルアップ抵抗Rや入力トランジス
タQを介して第1,第2のトランジスタP1,N1のゲ
ートGに入力信号として「H」レベルが入力され、両ト
ランジスタP1,N1のドレインD=出力部outに出力
信号=「L」(ロー)レベルが出力される。
は、例えば、入力部INに論理信号「H」(ハイ)レベ
ルが入力されると、プルアップ抵抗Rや入力トランジス
タQを介して第1,第2のトランジスタP1,N1のゲ
ートGに入力信号として「H」レベルが入力され、両ト
ランジスタP1,N1のドレインD=出力部outに出力
信号=「L」(ロー)レベルが出力される。
【0011】さらに、第1,第2のトランジスタP1,
N1のゲートGに入力信号として「L」レベルが入力さ
れると、両トランジスタP1,N1のドレインD=出力
部outに出力信号=「H」レベルが出力される。これに
より、入力部INに供給された論理信号等が入力増幅さ
れる。なお、図16(b)は、MOSレベルの論理信号を
入力増幅する相補形トランジスタ回路(以下CMOS回
路という)を示している。
N1のゲートGに入力信号として「L」レベルが入力さ
れると、両トランジスタP1,N1のドレインD=出力
部outに出力信号=「H」レベルが出力される。これに
より、入力部INに供給された論理信号等が入力増幅さ
れる。なお、図16(b)は、MOSレベルの論理信号を
入力増幅する相補形トランジスタ回路(以下CMOS回
路という)を示している。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図16
(a),(b)に示したプルアップ抵抗Rが接続された
Bi・CMOS回路やCMOS回路では、入力オープン
時に「H」レベルに固定されるため、入力部INが
「L」レベルの場合には、電源線VCCから入力部INに
電流iが流れ、当該回路の低消費電力化の妨げとなる。
(a),(b)に示したプルアップ抵抗Rが接続された
Bi・CMOS回路やCMOS回路では、入力オープン
時に「H」レベルに固定されるため、入力部INが
「L」レベルの場合には、電源線VCCから入力部INに
電流iが流れ、当該回路の低消費電力化の妨げとなる。
【0013】そこで、図17(a),(b)に示すような
プルアップ抵抗Rを電源線VCCから遮断をするスイッチ
ングトランジスタT0を設けた入力回路が考えられてい
る。すなわち、図17(a)は、特開昭59−95729
や特開昭62−259292に見られるような低消費電
力型のスイッチングトランジスタ回路を含んだ入力回路
をそれぞれ示している。
プルアップ抵抗Rを電源線VCCから遮断をするスイッチ
ングトランジスタT0を設けた入力回路が考えられてい
る。すなわち、図17(a)は、特開昭59−95729
や特開昭62−259292に見られるような低消費電
力型のスイッチングトランジスタ回路を含んだ入力回路
をそれぞれ示している。
【0014】例えば、Bi・CMOS回路は、図17
(a)において、電源線VCCと接地線GNDとの間に直列
に接続されたPチャネル型及びNチャネル型の電界効果
トランジスタ(以下単に第1,第2のトランジスタとい
う)P1, N1や次段のPチャネル型及びNチャネル型
の電界効果トランジスタ(以下単に第3,第4のトラン
ジスタという)P2, N2と、該第1,第2のトランジ
スタP1,N1の共通ゲートGと電源線VCCとの間に直
列接続されたスイッチングトランジスタT0やプルアッ
プ抵抗Rと、その共通ゲートGにエミッタEが接続され
た入力トランジスタQから成る。
(a)において、電源線VCCと接地線GNDとの間に直列
に接続されたPチャネル型及びNチャネル型の電界効果
トランジスタ(以下単に第1,第2のトランジスタとい
う)P1, N1や次段のPチャネル型及びNチャネル型
の電界効果トランジスタ(以下単に第3,第4のトラン
ジスタという)P2, N2と、該第1,第2のトランジ
スタP1,N1の共通ゲートGと電源線VCCとの間に直
列接続されたスイッチングトランジスタT0やプルアッ
プ抵抗Rと、その共通ゲートGにエミッタEが接続され
た入力トランジスタQから成る。
【0015】また、当該回路の入力論理を「L」レベル
に固定する3ステート状態時の機能は、スイッチングト
ランジスタT0のゲートGに「H」レベルの制御信号S
Gが入力されると、該トランジスタT0がOFF動作をす
る。これにより、通常動作時と異なり、電源線VCCから
プルアップ抵抗R,入力トランジスタQを経由して入力
部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
(以下第1の貫通電流という)i1 が阻止され、当該入
力回路の低消費電力化が図られる。
に固定する3ステート状態時の機能は、スイッチングト
ランジスタT0のゲートGに「H」レベルの制御信号S
Gが入力されると、該トランジスタT0がOFF動作をす
る。これにより、通常動作時と異なり、電源線VCCから
プルアップ抵抗R,入力トランジスタQを経由して入力
部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
(以下第1の貫通電流という)i1 が阻止され、当該入
力回路の低消費電力化が図られる。
【0016】なお、図17(b)は、MOSレベルの論理
信号を入力増幅する相補形トランジスタ回路(以下CM
OS回路という)を示している。図17(b)において、
当該回路の3ステート状態時の機能は、スイッチングト
ランジスタT0のゲートGに「H」レベルの制御信号S
Gが入力されると、Bi・CMOS回路と同様に該トラ
ンジスタT0がOFF動作をする。これにより、電源線V
CCからプルアップ抵抗R,入力トランジスタQを経由し
て外部回路に流出しようとする第1の貫通電流i1 が阻
止され、当該入力回路の低消費電力化が図られる。
信号を入力増幅する相補形トランジスタ回路(以下CM
OS回路という)を示している。図17(b)において、
当該回路の3ステート状態時の機能は、スイッチングト
ランジスタT0のゲートGに「H」レベルの制御信号S
Gが入力されると、Bi・CMOS回路と同様に該トラ
ンジスタT0がOFF動作をする。これにより、電源線V
CCからプルアップ抵抗R,入力トランジスタQを経由し
て外部回路に流出しようとする第1の貫通電流i1 が阻
止され、当該入力回路の低消費電力化が図られる。
【0017】しかし、図17(a),(b)に示したBi
・CMOS回路やCMOS回路では、スイッチングトラ
ンジスタT0がOFF動作し入力部INがオープンになる
と、その初段のCMOS回路が電気的に不安定になるフ
ローティング状態になり、電源線VCCと接地線GNDとの
間に直列に接続された第1,第2のトランジスタP1,
N1間に第2の貫通電流i2 が流れる場合がある。
・CMOS回路やCMOS回路では、スイッチングトラ
ンジスタT0がOFF動作し入力部INがオープンになる
と、その初段のCMOS回路が電気的に不安定になるフ
ローティング状態になり、電源線VCCと接地線GNDとの
間に直列に接続された第1,第2のトランジスタP1,
N1間に第2の貫通電流i2 が流れる場合がある。
【0018】これは、入力部INがオープン状態で、プ
ルアップ抵抗Rが電源線VCCから切り離されるために、
初段のCMOSトランジスタ回路を構成する第1,第2
のトランジスタP1,N1のゲートGがフローティング
状態となり、不安定な状態となるためである。
ルアップ抵抗Rが電源線VCCから切り離されるために、
初段のCMOSトランジスタ回路を構成する第1,第2
のトランジスタP1,N1のゲートGがフローティング
状態となり、不安定な状態となるためである。
【0019】これにより、初段のCMOS回路の出力値
が不安定となることから、次段のCMOS回路の第3,
第4のトランジスタP2,N2間にも第2の貫通電流i
2 が流れる恐れがある。
が不安定となることから、次段のCMOS回路の第3,
第4のトランジスタP2,N2間にも第2の貫通電流i
2 が流れる恐れがある。
【0020】本発明は、かかる従来例の問題点に鑑みて
創作されたものであり、当該入力回路の3ステート状態
時の制御に係わりプルアップ抵抗の遮断のみに依存する
ことなく、当該回路の論理を正確に固定し、そのフロー
ティング状態を無くして、他の貫通電流経路を断ち低消
費電力化を図ることが可能となる入力回路の提供を目的
とする。
創作されたものであり、当該入力回路の3ステート状態
時の制御に係わりプルアップ抵抗の遮断のみに依存する
ことなく、当該回路の論理を正確に固定し、そのフロー
ティング状態を無くして、他の貫通電流経路を断ち低消
費電力化を図ることが可能となる入力回路の提供を目的
とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】図1〜4は、本発明に係
る入力回路の原理図(その1〜4)をそれぞれ示してい
る。
る入力回路の原理図(その1〜4)をそれぞれ示してい
る。
【0022】本発明の第1の入力回路は図1(a)に示
すように、相補形トランジスタ回路11の入力部inと
第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイッチングト
ランジスタT0が直列に接続された入力回路において、
前記相補形トランジスタ回路11と第1の電源線VCCと
の間に第1のトランジスタT1が接続され、かつ、前記
相補形トランジスタ回路11の出力部outと第2の電源
線GNDの間に第2のトランジスタT2が接続されること
を特徴とする。
すように、相補形トランジスタ回路11の入力部inと
第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイッチングト
ランジスタT0が直列に接続された入力回路において、
前記相補形トランジスタ回路11と第1の電源線VCCと
の間に第1のトランジスタT1が接続され、かつ、前記
相補形トランジスタ回路11の出力部outと第2の電源
線GNDの間に第2のトランジスタT2が接続されること
を特徴とする。
【0023】なお、本発明の第1の入力回路において、
前記第1のトランジスタT1がp型の電界効果トランジ
スタから成り、前記第2のトランジスタT2がn型の電
界効果トランジスタから成り、前記第1,第2のトラン
ジスタT1,T2の各ゲートGが共にスイッチングトラ
ンジスタT0のゲートGに接続されることを特徴とす
る。
前記第1のトランジスタT1がp型の電界効果トランジ
スタから成り、前記第2のトランジスタT2がn型の電
界効果トランジスタから成り、前記第1,第2のトラン
ジスタT1,T2の各ゲートGが共にスイッチングトラ
ンジスタT0のゲートGに接続されることを特徴とす
る。
【0024】また、本発明の第2の入力回路は第1の入
力回路において、図1(a)の破線に示すように、前記
相補形トランジスタ回路11の入力部inにバイポーラ
トランジスタQが接続されることを特徴とする。
力回路において、図1(a)の破線に示すように、前記
相補形トランジスタ回路11の入力部inにバイポーラ
トランジスタQが接続されることを特徴とする。
【0025】さらに、本発明の第3の入力回路は、図1
(b)に示すように、第1の相補形トランジスタ回路1
2の入力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子R
とスイッチングトランジスタT0が直列に接続された入
力回路において、前記第1の相補形トランジスタ回路1
2と第1の電源線VCCとの間に第1のトランジスタT1
が接続され、かつ、前記第1の相補形トランジスタ回路
12の出力部outと第1の電源線VCCの間に第2のトラ
ンジスタT2が接続され、前記第2のトランジスタT2
のゲートGを制御する第2の相補形トランジスタ回路1
3が第1の電源線VCCと第2の電源線GNDとの間に接続
されることを特徴とする。
(b)に示すように、第1の相補形トランジスタ回路1
2の入力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子R
とスイッチングトランジスタT0が直列に接続された入
力回路において、前記第1の相補形トランジスタ回路1
2と第1の電源線VCCとの間に第1のトランジスタT1
が接続され、かつ、前記第1の相補形トランジスタ回路
12の出力部outと第1の電源線VCCの間に第2のトラ
ンジスタT2が接続され、前記第2のトランジスタT2
のゲートGを制御する第2の相補形トランジスタ回路1
3が第1の電源線VCCと第2の電源線GNDとの間に接続
されることを特徴とする。
【0026】なお、本発明の第3の入力回路において、
前記第1,第2のトランジスタT1,T2がp型の電界
効果トランジスタから成り、前記第1のトランジスタT
1のゲートGと第2の相補形トランジスタ回路13の共
通ゲートGとがスイッチングトランジスタT0のゲート
Gに接続されることを特徴とする。
前記第1,第2のトランジスタT1,T2がp型の電界
効果トランジスタから成り、前記第1のトランジスタT
1のゲートGと第2の相補形トランジスタ回路13の共
通ゲートGとがスイッチングトランジスタT0のゲート
Gに接続されることを特徴とする。
【0027】また、本発明の第4の入力回路は、図2
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路14の入
力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路14の入力部i
nと第2の電源線GNDとの間にn型の電界効果トランジ
スタTNが接続され、前記n型の電界効果トランジスタ
TNのゲートGがスイッチングトランジスタT0のゲー
トGに接続されることを特徴とする。
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路14の入
力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路14の入力部i
nと第2の電源線GNDとの間にn型の電界効果トランジ
スタTNが接続され、前記n型の電界効果トランジスタ
TNのゲートGがスイッチングトランジスタT0のゲー
トGに接続されることを特徴とする。
【0028】さらに、本発明の第5の入力回路は、図2
(b)に示すように、相補形トランジスタ回路15の入
力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路15と第2の電
源線GNDとの間に第1のトランジスタT1が接続され、
かつ、前記相補形トランジスタ回路15の出力部outと
第2の電源線GNDとの間に第2のトランジスタT2が接
続されることを特徴とする。
(b)に示すように、相補形トランジスタ回路15の入
力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路15と第2の電
源線GNDとの間に第1のトランジスタT1が接続され、
かつ、前記相補形トランジスタ回路15の出力部outと
第2の電源線GNDとの間に第2のトランジスタT2が接
続されることを特徴とする。
【0029】なお、本発明の第5の入力回路において、
前記第1,第2のトランジスタT1,T2がn型の電界
効果トランジスタから成り、前記第2のトランジスタT
2のゲートGがスイッチングトランジスタT0のゲート
Gに接続され、前記第1のトランジスタT1のゲートG
にスイッチングトランジスタT0のゲートGに供給する
ゲート制御信号SGの反転信号を供給することを特徴と
する。
前記第1,第2のトランジスタT1,T2がn型の電界
効果トランジスタから成り、前記第2のトランジスタT
2のゲートGがスイッチングトランジスタT0のゲート
Gに接続され、前記第1のトランジスタT1のゲートG
にスイッチングトランジスタT0のゲートGに供給する
ゲート制御信号SGの反転信号を供給することを特徴と
する。
【0030】さらに、本発明の第6の入力回路は、図3
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路16の入
力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路16と第2の電
源線GNDとの間に第1のトランジスタT1が接続され、
かつ、前記相補形トランジスタ回路16の出力部outと
第1の電源線VCCとの間に第2のトランジスタT2が接
続されることを特徴とする。
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路16の入
力部inと第1の電源線VCCとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路16と第2の電
源線GNDとの間に第1のトランジスタT1が接続され、
かつ、前記相補形トランジスタ回路16の出力部outと
第1の電源線VCCとの間に第2のトランジスタT2が接
続されることを特徴とする。
【0031】なお、本発明の第6の入力回路において、
前記第1のトランジスタT1がn型の電界効果トランジ
スタから成り、前記第2のトランジスタT2がp型の電
界効果トランジスタから成り、前記第1,第2のトラン
ジスタT1,T2の各ゲートGにスイッチングトランジ
スタT0のゲートGに供給するゲート制御信号SGの反
転信号を供給することを特徴とする。
前記第1のトランジスタT1がn型の電界効果トランジ
スタから成り、前記第2のトランジスタT2がp型の電
界効果トランジスタから成り、前記第1,第2のトラン
ジスタT1,T2の各ゲートGにスイッチングトランジ
スタT0のゲートGに供給するゲート制御信号SGの反
転信号を供給することを特徴とする。
【0032】さらに、本発明の第7,8の入力回路は、
図3(b)に示すように、第1の電源線VCCと第2の電
源線GNDとの間に一段以上の相補形トランジスタ回路C
MOSn〔n=1,2,3…〕が具備され、前記相補形ト
ランジスタ回路CMOS nの入力部inと第1の電源線V
CCとの間に抵抗素子RとスイッチングトランジスタT0
が直列に接続された入力回路において、前記相補形トラ
ンジスタ回路CMOS nと第1の電源線VCCとの間又は相
補形トランジスタ回路CMOS nと第2の電源線GNDとの
間にスイッチング素子17が接続され、前記スイッチン
グ素子17が相補形トランジスタ回路CMOS nの各段毎
に接続されることを特徴とする。
図3(b)に示すように、第1の電源線VCCと第2の電
源線GNDとの間に一段以上の相補形トランジスタ回路C
MOSn〔n=1,2,3…〕が具備され、前記相補形ト
ランジスタ回路CMOS nの入力部inと第1の電源線V
CCとの間に抵抗素子RとスイッチングトランジスタT0
が直列に接続された入力回路において、前記相補形トラ
ンジスタ回路CMOS nと第1の電源線VCCとの間又は相
補形トランジスタ回路CMOS nと第2の電源線GNDとの
間にスイッチング素子17が接続され、前記スイッチン
グ素子17が相補形トランジスタ回路CMOS nの各段毎
に接続されることを特徴とする。
【0033】また、本発明の第9の入力回路は第1〜第
8の入力回路において、図3(b)に示すように前記直
列に接続された抵抗素子R又はスイッチングトランジス
タT0の一端が第1の電源線VCC又は前記相補形トラン
ジスタ回路11〜16,CMOS nの入力部inに接続さ
れることを特徴とする。
8の入力回路において、図3(b)に示すように前記直
列に接続された抵抗素子R又はスイッチングトランジス
タT0の一端が第1の電源線VCC又は前記相補形トラン
ジスタ回路11〜16,CMOS nの入力部inに接続さ
れることを特徴とする。
【0034】さらに、本発明の第10の入力回路は、図4
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路18の入
力部inと第2の電源線GNDとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路18の出力部o
utと第2の電源線GNDとの間にn型の電界効果トランジ
スタTNが接続され、前記スイッチングトランジスタT
0のゲートGとn型の電界効果トランジスタTNのゲー
トGが接続されることを特徴とする。
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路18の入
力部inと第2の電源線GNDとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路18の出力部o
utと第2の電源線GNDとの間にn型の電界効果トランジ
スタTNが接続され、前記スイッチングトランジスタT
0のゲートGとn型の電界効果トランジスタTNのゲー
トGが接続されることを特徴とする。
【0035】また、本発明の第11の入力回路は、図4
(b)に示すように、相補形トランジスタ回路19の入
力部inと第2の電源線GNDとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路19の出力部o
utと第1の電源線VCCとの間にp型の電界効果トランジ
スタTPが接続され、かつ、p型の電界効果トランジス
タTPのゲートGに前記スイッチングトランジスタT0
のゲートGに供給するゲート制御信号SGの反転信号を
供給することを特徴とする。
(b)に示すように、相補形トランジスタ回路19の入
力部inと第2の電源線GNDとの間に抵抗素子Rとスイ
ッチングトランジスタT0が直列に接続された入力回路
において、前記相補形トランジスタ回路19の出力部o
utと第1の電源線VCCとの間にp型の電界効果トランジ
スタTPが接続され、かつ、p型の電界効果トランジス
タTPのゲートGに前記スイッチングトランジスタT0
のゲートGに供給するゲート制御信号SGの反転信号を
供給することを特徴とする。
【0036】なお、本発明の第1〜第9の入力回路にお
いて、前記スイッチングトランジスタT0がp型の電界
効果トランジスタから成り、本発明の第10,11の入力回
路において、前記スイッチングトランジスタT0がn型
の電界効果トランジスタから成ることを特徴とし、上記
目的を達成する。
いて、前記スイッチングトランジスタT0がp型の電界
効果トランジスタから成り、本発明の第10,11の入力回
路において、前記スイッチングトランジスタT0がn型
の電界効果トランジスタから成ることを特徴とし、上記
目的を達成する。
【0037】
【作 用】本発明の第1の入力回路によれば、図1
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路11と第
1の電源線VCCとの間に第1のトランジスタT1が接続
され、かつ、相補形トランジスタ回路11の出力部out
と第2の電源線GNDの間に第2のトランジスタT2が接
続され、両トランジスタT1,T2の各ゲートGが共に
p型の電界効果トランジスタから成るスイッチングトラ
ンジスタT0のゲートGに接続される。
(a)に示すように、相補形トランジスタ回路11と第
1の電源線VCCとの間に第1のトランジスタT1が接続
され、かつ、相補形トランジスタ回路11の出力部out
と第2の電源線GNDの間に第2のトランジスタT2が接
続され、両トランジスタT1,T2の各ゲートGが共に
p型の電界効果トランジスタから成るスイッチングトラ
ンジスタT0のゲートGに接続される。
【0038】例えば、当該第1の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0,両ト
ランジスタT1,T2にゲート制御信号SG=「H」レ
ベルが入力されると、まず、スイッチングトランジスタ
T0がOFF動作をすることで、従来例と同様に入力部I
Nに接続された外部回路に流出しようとする電流i1の
貫通電流経路を断つことが可能となる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0,両ト
ランジスタT1,T2にゲート制御信号SG=「H」レ
ベルが入力されると、まず、スイッチングトランジスタ
T0がOFF動作をすることで、従来例と同様に入力部I
Nに接続された外部回路に流出しようとする電流i1の
貫通電流経路を断つことが可能となる。
【0039】これと共に、p型の電界効果トランジスタ
から成る第1のトランジスタT1がOFF動作をすること
で、図1(a)において、相補形トランジスタ回路11
が第1の電源線VCCから切り離される。これにより、電
源線VCCから切り離された抵抗素子Rや入力部INに接
続された外部回路の論理信号の影響により、相補形トラ
ンジスタ回路11の共通ゲートGの電位が不安定となっ
た場合であっても、n型の電界効果トランジスタから成
る第2のトランジスタT2がON動作をすることで、相
補形トランジスタ回路11の出力値を「L」(ロー)レ
ベルに固定することが可能となる。このことから従来例
のようなフローティング状態を無くすことができる。
から成る第1のトランジスタT1がOFF動作をすること
で、図1(a)において、相補形トランジスタ回路11
が第1の電源線VCCから切り離される。これにより、電
源線VCCから切り離された抵抗素子Rや入力部INに接
続された外部回路の論理信号の影響により、相補形トラ
ンジスタ回路11の共通ゲートGの電位が不安定となっ
た場合であっても、n型の電界効果トランジスタから成
る第2のトランジスタT2がON動作をすることで、相
補形トランジスタ回路11の出力値を「L」(ロー)レ
ベルに固定することが可能となる。このことから従来例
のようなフローティング状態を無くすことができる。
【0040】このため、従来例のようなフローティング
状態を原因とする第1の電源線VCCと第2の電源線GND
との間に接続された相補形トランジスタ回路11に流れ
る他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが可能とな
る。
状態を原因とする第1の電源線VCCと第2の電源線GND
との間に接続された相補形トランジスタ回路11に流れ
る他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが可能とな
る。
【0041】これにより、初段のCMOSトランジスタ
回路の出力値が安定化することから、次段のCMOSト
ランジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能とな
り、当該入力回路の3ステート状態時に係わりその低消
費電力化を図ることが可能となる。
回路の出力値が安定化することから、次段のCMOSト
ランジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能とな
り、当該入力回路の3ステート状態時に係わりその低消
費電力化を図ることが可能となる。
【0042】また、本発明の第2の入力回路によれば第
1の入力回路において、図1(a)の破線に示すよう
に、相補形トランジスタ回路11の入力部inにバイポ
ーラトランジスタQが接続される。
1の入力回路において、図1(a)の破線に示すよう
に、相補形トランジスタ回路11の入力部inにバイポ
ーラトランジスタQが接続される。
【0043】例えば、当該第2の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0,両ト
ランジスタT1,T2にゲート制御信号SG=「H」レ
ベルが入力されると、第1の入力回路と同様に、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をすることで、バイ
ポーラトランジスタQを介して入力部IN´に接続され
た外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流経路
を断つことが可能となる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0,両ト
ランジスタT1,T2にゲート制御信号SG=「H」レ
ベルが入力されると、第1の入力回路と同様に、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をすることで、バイ
ポーラトランジスタQを介して入力部IN´に接続され
た外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流経路
を断つことが可能となる。
【0044】これと共に、第1のトランジスタT1がO
FF動作をすることで、図1(a)において、相補形トラ
ンジスタ回路11が第1の電源線VCCから切り離され、
第2のトランジスタT2がON動作をすることで、相補
形トランジスタ回路11の出力値を「L」(ロー)レベ
ルに固定することが可能となる。このことから相補形ト
ランジスタ回路11のフローティング状態を無くすこと
ができる。
FF動作をすることで、図1(a)において、相補形トラ
ンジスタ回路11が第1の電源線VCCから切り離され、
第2のトランジスタT2がON動作をすることで、相補
形トランジスタ回路11の出力値を「L」(ロー)レベ
ルに固定することが可能となる。このことから相補形ト
ランジスタ回路11のフローティング状態を無くすこと
ができる。
【0045】このため、第1の入力回路と同様に、相補
形トランジスタ回路11に流れる他の電流i2 の貫通電
流経路を断つことが可能となる。これにより、第1の入
力回路と同様に、当該入力回路の低消費電力化を図るこ
とが可能となる。
形トランジスタ回路11に流れる他の電流i2 の貫通電
流経路を断つことが可能となる。これにより、第1の入
力回路と同様に、当該入力回路の低消費電力化を図るこ
とが可能となる。
【0046】さらに、本発明の第3の入力回路によれ
ば、図1(b)に示すように、第1の相補形トランジス
タ回路12と第1の電源線VCCとの間に第1のトランジ
スタT1が接続され、かつ、その出力部outと第1の電
源線VCCの間に第2のトランジスタT2が接続され、該
トランジスタT2のゲートGを制御する第2の相補形ト
ランジスタ回路13が接続される。また、第1のトラン
ジスタT1のゲートGと第2の相補形トランジスタ回路
13の共通ゲートGとがスイッチングトランジスタT0
のゲートGに接続される。
ば、図1(b)に示すように、第1の相補形トランジス
タ回路12と第1の電源線VCCとの間に第1のトランジ
スタT1が接続され、かつ、その出力部outと第1の電
源線VCCの間に第2のトランジスタT2が接続され、該
トランジスタT2のゲートGを制御する第2の相補形ト
ランジスタ回路13が接続される。また、第1のトラン
ジスタT1のゲートGと第2の相補形トランジスタ回路
13の共通ゲートGとがスイッチングトランジスタT0
のゲートGに接続される。
【0047】例えば、当該第3の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0,第2
の相補形トランジスタ回路13にゲート制御信号SG=
「H」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がOFF動作をすることで、第1,2の入力
回路と同様に入力部INに接続された外部回路に流出し
ようとする電流i1 の貫通電流経路を断つことが可能と
なる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0,第2
の相補形トランジスタ回路13にゲート制御信号SG=
「H」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がOFF動作をすることで、第1,2の入力
回路と同様に入力部INに接続された外部回路に流出し
ようとする電流i1 の貫通電流経路を断つことが可能と
なる。
【0048】これと共に、p型の電界効果トランジスタ
TPから成る第1のトランジスタT1がOFF動作をする
ことで、図1(b)において、相補形トランジスタ回路
11が第1の電源線VCCから切り離される。また、p型
の電界効果トランジスタから成る第2のトランジスタT
2が第2の相補形トランジスタ回路13の出力値「L」
レベルを受けてON動作をすることで、第1,第2の入
力回路と異なり相補形トランジスタ回路11の出力値を
「H」(ハイ)レベルに固定することが可能となる。
TPから成る第1のトランジスタT1がOFF動作をする
ことで、図1(b)において、相補形トランジスタ回路
11が第1の電源線VCCから切り離される。また、p型
の電界効果トランジスタから成る第2のトランジスタT
2が第2の相補形トランジスタ回路13の出力値「L」
レベルを受けてON動作をすることで、第1,第2の入
力回路と異なり相補形トランジスタ回路11の出力値を
「H」(ハイ)レベルに固定することが可能となる。
【0049】これにより、第1の入力回路と同様に相補
形トランジスタ回路12のフローティング状態を無くす
ことができ、従来例のような相補形トランジスタ回路1
1に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが可
能となる。
形トランジスタ回路12のフローティング状態を無くす
ことができ、従来例のような相補形トランジスタ回路1
1に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが可
能となる。
【0050】このことで、初段の相補形トランジスタ回
路の出力値が安定化することから、次段の相補形トラン
ジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能となり、当
該入力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
路の出力値が安定化することから、次段の相補形トラン
ジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能となり、当
該入力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
【0051】また、本発明の第4の入力回路によれば、
図2(a)に示すように、相補形トランジスタ回路14
の入力部inと第2の電源線GNDとの間にn型の電界効
果トランジスタTNが接続され、該トランジスタTNの
ゲートGがスイッチングトランジスタT0のゲートGに
接続される。
図2(a)に示すように、相補形トランジスタ回路14
の入力部inと第2の電源線GNDとの間にn型の電界効
果トランジスタTNが接続され、該トランジスタTNの
ゲートGがスイッチングトランジスタT0のゲートGに
接続される。
【0052】例えば、当該第4の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0,トラ
ンジスタTNにゲート制御信号SG=「H」レベルが入
力されると、まず、スイッチングトランジスタT0がO
FF動作をすることで、第1〜3の入力回路と同様に入力
部INに接続された外部回路に流出しようとする電流i
1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0,トラ
ンジスタTNにゲート制御信号SG=「H」レベルが入
力されると、まず、スイッチングトランジスタT0がO
FF動作をすることで、第1〜3の入力回路と同様に入力
部INに接続された外部回路に流出しようとする電流i
1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
【0053】これと共に、トランジスタTNがON動作
をすることで、図2(a)において、相補形トランジス
タ回路14の入力部inを「L」レベルに固定すること
が可能となる。
をすることで、図2(a)において、相補形トランジス
タ回路14の入力部inを「L」レベルに固定すること
が可能となる。
【0054】このため、第1〜3の入力回路と同様に相
補形トランジスタ回路14のフローティング状態を無く
すことができ、従来例のような相補形トランジスタ回路
14に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが
可能となる。
補形トランジスタ回路14のフローティング状態を無く
すことができ、従来例のような相補形トランジスタ回路
14に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが
可能となる。
【0055】これにより、初段の相補形トランジスタ回
路14の出力値が安定化することから、次段の相補形ト
ランジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能とな
り、当該入力回路の低消費電力化を図ることが可能とな
る。
路14の出力値が安定化することから、次段の相補形ト
ランジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能とな
り、当該入力回路の低消費電力化を図ることが可能とな
る。
【0056】さらに、本発明の第5の入力回路によれ
ば、図2(b)に示すように、相補形トランジスタ回路
15と第2の電源線GNDとの間に第1のトランジスタT
1が接続され、かつ、その出力部outと第2の電源線G
NDとの間に第2のトランジスタT2が接続され、該トラ
ンジスタT2のゲートGがスイッチングトランジスタT
0のゲートGに接続される。また、第1のトランジスタ
T1にゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
ば、図2(b)に示すように、相補形トランジスタ回路
15と第2の電源線GNDとの間に第1のトランジスタT
1が接続され、かつ、その出力部outと第2の電源線G
NDとの間に第2のトランジスタT2が接続され、該トラ
ンジスタT2のゲートGがスイッチングトランジスタT
0のゲートGに接続される。また、第1のトランジスタ
T1にゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
【0057】例えば、当該第5の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力されると、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をする。
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力されると、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をする。
【0058】このため、第1〜4の入力回路と同様に入
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
型の電界効果トランジスタから成る第1のトランジスタ
T1にゲート制御信号SGの反転信号=「L」レベルが
入力されると、該トランジスタT1がOFF動作をする。
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
型の電界効果トランジスタから成る第1のトランジスタ
T1にゲート制御信号SGの反転信号=「L」レベルが
入力されると、該トランジスタT1がOFF動作をする。
【0059】このことで、図2(b)において、相補形
トランジスタ回路15が第2の電源線GNDから切り離さ
れる。また、n型の電界効果トランジスタから成る第2
のトランジスタT2がON動作をすることで、第1の入
力回路と同様に相補形トランジスタ回路15の出力値を
「L」レベルに固定することが可能となる。このことか
ら第1〜4の入力回路と同様に相補形トランジスタ回路
15のフローティング状態を無くすことができ、従来例
のような相補形トランジスタ回路15に流れる他の電流
i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
トランジスタ回路15が第2の電源線GNDから切り離さ
れる。また、n型の電界効果トランジスタから成る第2
のトランジスタT2がON動作をすることで、第1の入
力回路と同様に相補形トランジスタ回路15の出力値を
「L」レベルに固定することが可能となる。このことか
ら第1〜4の入力回路と同様に相補形トランジスタ回路
15のフローティング状態を無くすことができ、従来例
のような相補形トランジスタ回路15に流れる他の電流
i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
【0060】これにより、初段の相補形トランジスタ回
路15の出力値が安定化することから、第1〜4の入力
回路と同様に次段の相補形トランジスタ回路の貫通電流
経路を断つことが可能となり、当該入力回路の低消費電
力化を図ることが可能となる。
路15の出力値が安定化することから、第1〜4の入力
回路と同様に次段の相補形トランジスタ回路の貫通電流
経路を断つことが可能となり、当該入力回路の低消費電
力化を図ることが可能となる。
【0061】さらに、本発明の第6の入力回路によれ
ば、図3(a)に示すように、相補形トランジスタ回路
16と第2の電源線GNDとの間に第1のトランジスタT
1が接続され、かつ、その出力部outと第1の電源線V
CCとの間に第2のトランジスタT2が接続され、両トラ
ンジスタT1,T2にゲート制御信号SGの反転信号が
供給される。
ば、図3(a)に示すように、相補形トランジスタ回路
16と第2の電源線GNDとの間に第1のトランジスタT
1が接続され、かつ、その出力部outと第1の電源線V
CCとの間に第2のトランジスタT2が接続され、両トラ
ンジスタT1,T2にゲート制御信号SGの反転信号が
供給される。
【0062】例えば、当該第6の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力されると、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をする。
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力されると、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をする。
【0063】このため、第1〜5の入力回路と同様に入
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
型の電界効果トランジスタから成る第1のトランジスタ
T1にゲート制御信号SGの反転信号=「L」レベルが
入力されると、該トランジスタT1がOFF動作をする。
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
型の電界効果トランジスタから成る第1のトランジスタ
T1にゲート制御信号SGの反転信号=「L」レベルが
入力されると、該トランジスタT1がOFF動作をする。
【0064】このことで、図3(a)において、第5の
入力回路と同様に相補形トランジスタ回路16が第2の
電源線GNDから切り離される。また、p型の電界効果ト
ランジスタから成る第2のトランジスタT2にゲート制
御信号SGの反転信号=「L」レベルが入力されると、
該トランジスタT2がON動作をすることで、第3の入
力回路と同様に相補形トランジスタ回路16の出力値を
「H」レベルに固定することが可能となる。
入力回路と同様に相補形トランジスタ回路16が第2の
電源線GNDから切り離される。また、p型の電界効果ト
ランジスタから成る第2のトランジスタT2にゲート制
御信号SGの反転信号=「L」レベルが入力されると、
該トランジスタT2がON動作をすることで、第3の入
力回路と同様に相補形トランジスタ回路16の出力値を
「H」レベルに固定することが可能となる。
【0065】これにより、第1〜5の入力回路と同様に
相補形トランジスタ回路16のフローティング状態を無
くすことができ、従来例のような相補形トランジスタ回
路16に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つこと
が可能となる。このことから、初段の相補形トランジス
タ回路16の出力値が安定化することで、第1〜5の入
力回路と同様に次段の相補形トランジスタ回路の貫通電
流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の低消費
電力化を図ることが可能となる。
相補形トランジスタ回路16のフローティング状態を無
くすことができ、従来例のような相補形トランジスタ回
路16に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つこと
が可能となる。このことから、初段の相補形トランジス
タ回路16の出力値が安定化することで、第1〜5の入
力回路と同様に次段の相補形トランジスタ回路の貫通電
流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の低消費
電力化を図ることが可能となる。
【0066】さらに、本発明の第7,8の入力回路によ
れば、図3(b)に示すように、第1の電源線VCCと第
2の電源線GNDと間に接続された一段以上の相補形トラ
ンジスタ回路CMOS n〔n=1,2,3…〕の各段毎に
スイッチング素子17が接続される。
れば、図3(b)に示すように、第1の電源線VCCと第
2の電源線GNDと間に接続された一段以上の相補形トラ
ンジスタ回路CMOS n〔n=1,2,3…〕の各段毎に
スイッチング素子17が接続される。
【0067】例えば、当該第7の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力されると、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をする。
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力されると、スイッ
チングトランジスタT0がOFF動作をする。
【0068】このため、第1〜6の入力回路と同様に入
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、各
段毎に接続されたスイッチング素子17をスイッチング
制御信号に基づいてOFF動作させることで、図3(b)
において、各相補形トランジスタ回路CMOS nが第1の
電源線VCC又は第2の電源線GNDから切り離される。こ
れにより、第1〜6の入力回路と同様に各相補形トラン
ジスタ回路CMOS nのフローティング状態を無くすこと
ができ、従来例のような相補形トランジスタ回路CMOS
nに流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが可
能となる。
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、各
段毎に接続されたスイッチング素子17をスイッチング
制御信号に基づいてOFF動作させることで、図3(b)
において、各相補形トランジスタ回路CMOS nが第1の
電源線VCC又は第2の電源線GNDから切り離される。こ
れにより、第1〜6の入力回路と同様に各相補形トラン
ジスタ回路CMOS nのフローティング状態を無くすこと
ができ、従来例のような相補形トランジスタ回路CMOS
nに流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが可
能となる。
【0069】これにより、第1〜6の入力回路と同様に
次段の相補形トランジスタ回路の貫通電流経路を各段毎
に断つことが可能となり、当該入力回路の低消費電力化
を図ることが可能となる。
次段の相補形トランジスタ回路の貫通電流経路を各段毎
に断つことが可能となり、当該入力回路の低消費電力化
を図ることが可能となる。
【0070】なお、本発明の第9の入力回路によれば、
本発明の第1〜第8の入力回路において、直列に接続さ
れた抵抗素子R又はスイッチングトランジスタT0の一
端が第1の電源線VCC又は相補形トランジスタ回路11
〜16,CMOS nの入力部inに接続される。
本発明の第1〜第8の入力回路において、直列に接続さ
れた抵抗素子R又はスイッチングトランジスタT0の一
端が第1の電源線VCC又は相補形トランジスタ回路11
〜16,CMOS nの入力部inに接続される。
【0071】例えば、第1〜第8の入力回路では、抵抗
素子R,スイッチングトランジスタT0の直列回路であ
って、その抵抗素子Rの一端が相補形トランジスタ回路
11,12,14,15,16の入力部inに接続さ
れ、そのスイッチングトランジスタT0の一端が第1の
電源線VCCに接続されているが、第9の入力回路では、
その抵抗素子Rの一端が第1の電源線VCCに接続され、
そのスイッチングトランジスタT0の一端が相補形トラ
ンジスタ回路CMOS 1の入力部inに接続されている
(図3(b)参照)。
素子R,スイッチングトランジスタT0の直列回路であ
って、その抵抗素子Rの一端が相補形トランジスタ回路
11,12,14,15,16の入力部inに接続さ
れ、そのスイッチングトランジスタT0の一端が第1の
電源線VCCに接続されているが、第9の入力回路では、
その抵抗素子Rの一端が第1の電源線VCCに接続され、
そのスイッチングトランジスタT0の一端が相補形トラ
ンジスタ回路CMOS 1の入力部inに接続されている
(図3(b)参照)。
【0072】このため、抵抗素子R,スイッチングトラ
ンジスタT0の直列回路の接続方法に限定されることな
く、第1〜7の入力回路と同様に入力部INに接続され
た外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流経路
を断つことが可能となる。これにより、第1〜8の入力
回路において、抵抗素子R,スイッチングトランジスタ
T0の直列回路の接続方法に限定されることなく、当該
入力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
ンジスタT0の直列回路の接続方法に限定されることな
く、第1〜7の入力回路と同様に入力部INに接続され
た外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流経路
を断つことが可能となる。これにより、第1〜8の入力
回路において、抵抗素子R,スイッチングトランジスタ
T0の直列回路の接続方法に限定されることなく、当該
入力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
【0073】さらに、本発明の第10の入力回路によれ
ば、図4(a)に示すように、相補形トランジスタ回路
18の入力部inと第2の電源線GNDとの間に抵抗素子
RとスイッチングトランジスタT0が直列に接続され、
その相補形トランジスタ回路18の出力部outと第2の
電源線GNDとの間にn型の電界効果トランジスタTNが
接続される。また、n型の電界効果トランジスタから成
るスイッチングトランジスタT0のゲートGとn型の電
界効果トランジスタTNのゲートGとが接続される。
ば、図4(a)に示すように、相補形トランジスタ回路
18の入力部inと第2の電源線GNDとの間に抵抗素子
RとスイッチングトランジスタT0が直列に接続され、
その相補形トランジスタ回路18の出力部outと第2の
電源線GNDとの間にn型の電界効果トランジスタTNが
接続される。また、n型の電界効果トランジスタから成
るスイッチングトランジスタT0のゲートGとn型の電
界効果トランジスタTNのゲートGとが接続される。
【0074】例えば、当該第10の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0,n型
の電界効果トランジスタTNにゲート制御信号SG=
「H」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がON動作をすることで、第1〜第9の実
施例と同様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに
固定をすることが可能となる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0,n型
の電界効果トランジスタTNにゲート制御信号SG=
「H」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がON動作をすることで、第1〜第9の実
施例と同様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに
固定をすることが可能となる。
【0075】これと共に、n型の電界効果トランジスタ
TNがON動作をすることで、図4(a)において、相
補形トランジスタ回路18の出力値を「L」(ロー)レ
ベルに固定することが可能となる。このことから従来例
のようなフローティング状態を無くすことができる。
TNがON動作をすることで、図4(a)において、相
補形トランジスタ回路18の出力値を「L」(ロー)レ
ベルに固定することが可能となる。このことから従来例
のようなフローティング状態を無くすことができる。
【0076】このため、第1〜9の入力回路と同様に従
来例のようなフローティング状態を原因とする第1の電
源線VCCと第2の電源線GNDとの間に接続された相補形
トランジスタ回路18に流れる他の電流i2 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
来例のようなフローティング状態を原因とする第1の電
源線VCCと第2の電源線GNDとの間に接続された相補形
トランジスタ回路18に流れる他の電流i2 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
【0077】これにより、相補形トランジスタ回路18
の出力値が安定化することから、次段の相補形のトラン
ジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能となり、当
該入力回路の3ステート状態時に係わりその低消費電力
化を図ることが可能となる。
の出力値が安定化することから、次段の相補形のトラン
ジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能となり、当
該入力回路の3ステート状態時に係わりその低消費電力
化を図ることが可能となる。
【0078】また、本発明の第11の入力回路によれば、
図4(b)に示すように、相補形トランジスタ回路19
の出力部outと第1の電源線VCCとの間にp型の電界効
果トランジスタTPが接続され、かつ、p型の電界効果
トランジスタTPのゲートGにゲート制御信号SGの反
転信号が供給される。
図4(b)に示すように、相補形トランジスタ回路19
の出力部outと第1の電源線VCCとの間にp型の電界効
果トランジスタTPが接続され、かつ、p型の電界効果
トランジスタTPのゲートGにゲート制御信号SGの反
転信号が供給される。
【0079】例えば、当該第11の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力され、p型の電界
効果トランジスタTPにゲート制御信号SGの反転信号
「L」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がON動作をすることで、第10の実施例と
同様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに固定を
することが可能となる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力され、p型の電界
効果トランジスタTPにゲート制御信号SGの反転信号
「L」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がON動作をすることで、第10の実施例と
同様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに固定を
することが可能となる。
【0080】これと共に、p型の電界効果トランジスタ
TPがON動作をすることで、図4(b)において、相
補形トランジスタ回路19の出力値を「H」(ハイ)レ
ベルに固定することが可能となる。このことから従来例
のようなフローティング状態を無くすことができる。
TPがON動作をすることで、図4(b)において、相
補形トランジスタ回路19の出力値を「H」(ハイ)レ
ベルに固定することが可能となる。このことから従来例
のようなフローティング状態を無くすことができる。
【0081】このため、第1〜10の入力回路と同様に従
来例のようなフローティング状態を原因とする第1の電
源線VCCと第2の電源線GNDとの間に接続された相補形
トランジスタ回路19に流れる他の電流i2 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
来例のようなフローティング状態を原因とする第1の電
源線VCCと第2の電源線GNDとの間に接続された相補形
トランジスタ回路19に流れる他の電流i2 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
【0082】これにより、相補形トランジスタ回路19
の出力値が安定化することから、次段の相補形のトラン
ジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能となり、当
該入力回路の3ステート状態時に係わりその低消費電力
化を図ることが可能となる。
の出力値が安定化することから、次段の相補形のトラン
ジスタ回路の貫通電流経路を断つことが可能となり、当
該入力回路の3ステート状態時に係わりその低消費電力
化を図ることが可能となる。
【0083】
【実施例】次に、図を参照しながら本発明の各実施例に
ついて説明をする。図5〜15は、本発明の実施例に係る
入力回路を説明する図である。
ついて説明をする。図5〜15は、本発明の実施例に係る
入力回路を説明する図である。
【0084】(1)第1の実施例の説明 図5(a),(b)は、本発明の第1の実施例に係る入
力回路の構成図及びその動作説明図をそれぞれ示してい
る。
力回路の構成図及びその動作説明図をそれぞれ示してい
る。
【0085】例えば、MOSレベルの論理信号を入力増
幅する相補形トランジスタ入力回路(以下第1の入力回
路という)は、図5(a)において、pMOSトランジ
スタTP1,TP0,nMOSトランジスタTN1,プルアッ
プ抵抗R1,初段の相補形トランジスタ回路11及び次
段の相補形トランジスタ回路18から成る。
幅する相補形トランジスタ入力回路(以下第1の入力回
路という)は、図5(a)において、pMOSトランジ
スタTP1,TP0,nMOSトランジスタTN1,プルアッ
プ抵抗R1,初段の相補形トランジスタ回路11及び次
段の相補形トランジスタ回路18から成る。
【0086】すなわち、pMOSトランジスタTP1は原
理図1(a)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、p型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが第1の電源線(以下単に電源線という)V
CCに接続され、そのドレインDが初段の相補形トランジ
スタ回路(以下単にCMOS回路という)11のpMO
SトランジスタTP2のソースSに接続される。なお、p
MOSトランジスタTP1のゲートGがpMOSトランジ
スタTP0のゲートGに接続される。
理図1(a)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、p型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが第1の電源線(以下単に電源線という)V
CCに接続され、そのドレインDが初段の相補形トランジ
スタ回路(以下単にCMOS回路という)11のpMO
SトランジスタTP2のソースSに接続される。なお、p
MOSトランジスタTP1のゲートGがpMOSトランジ
スタTP0のゲートGに接続される。
【0087】さらに、nMOSトランジスタTN1は原理
図1(a)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、n型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが第2の電源線(以下単に接地線という)GND
に接続され、そのドレインDがCMOS回路11の共通
ドレイン(出力部out)Dに接続される。なお、nMO
SトランジスタTN1のゲートGがpMOSトランジスタ
TP0のゲートGに接続される。
図1(a)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、n型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが第2の電源線(以下単に接地線という)GND
に接続され、そのドレインDがCMOS回路11の共通
ドレイン(出力部out)Dに接続される。なお、nMO
SトランジスタTN1のゲートGがpMOSトランジスタ
TP0のゲートGに接続される。
【0088】また、pMOSトランジスタTP0はスイッ
チングトランジスタT0の一例であり、p型の電界効果
トランジスタから成る。例えば、そのソースSが電源線
VCCに接続され、そのドレインDが抵抗素子Rの一例と
なるプルアップ抵抗R1の一端に接続され、そのゲート
Gがゲート制御信号SGの供給点に接続される。
チングトランジスタT0の一例であり、p型の電界効果
トランジスタから成る。例えば、そのソースSが電源線
VCCに接続され、そのドレインDが抵抗素子Rの一例と
なるプルアップ抵抗R1の一端に接続され、そのゲート
Gがゲート制御信号SGの供給点に接続される。
【0089】なお、初段のCMOS回路11は、pMO
SトランジスタTP2,nMOSトランジスタTN2から成
り、両トランジスタTP2,TN2の共通ゲートGがプルア
ップ抵抗Rの一端に接続されて入力部INに延在され
る。また、nMOSトランジスタTN2のソースSが接地
線GNDに接続され、両トランジスタTP2,TN2の共通ド
レイン(出力部out)DがnMOSトランジスタTN1の
ドレインDに接続されて次段のCMOS回路20の両ト
ランジスタTP3,TN3の共通ゲートGに接続される。な
お、次段のCMOS回路20は電源線VCC,接地線GND
間に接続されたpMOSトランジスタTP3,nMOSト
ランジスタTN3から成る。
SトランジスタTP2,nMOSトランジスタTN2から成
り、両トランジスタTP2,TN2の共通ゲートGがプルア
ップ抵抗Rの一端に接続されて入力部INに延在され
る。また、nMOSトランジスタTN2のソースSが接地
線GNDに接続され、両トランジスタTP2,TN2の共通ド
レイン(出力部out)DがnMOSトランジスタTN1の
ドレインDに接続されて次段のCMOS回路20の両ト
ランジスタTP3,TN3の共通ゲートGに接続される。な
お、次段のCMOS回路20は電源線VCC,接地線GND
間に接続されたpMOSトランジスタTP3,nMOSト
ランジスタTN3から成る。
【0090】このようにして、本発明の第1の実施例に
係る入力回路によれば、図5(a)に示すように、初段
のCMOS回路11と電源線VCCとの間にpMOSトラ
ンジスタTP1が接続され、かつ、CMOS回路11の出
力部outと接地線GNDの間にnMOSトランジスタTN1
が接続され、両トランジスタTP1,TN1の各ゲートGが
共にpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続され
る。
係る入力回路によれば、図5(a)に示すように、初段
のCMOS回路11と電源線VCCとの間にpMOSトラ
ンジスタTP1が接続され、かつ、CMOS回路11の出
力部outと接地線GNDの間にnMOSトランジスタTN1
が接続され、両トランジスタTP1,TN1の各ゲートGが
共にpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続され
る。
【0091】例えば、当該第1の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0,両トラン
ジスタTP1,TN1にゲート制御信号SG=「H」レベル
が入力されると、まず、pMOSトランジスタTP0がO
FF動作をすることで、従来例と同様に入力部INに接続
された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
状態時において、pMOSトランジスタTP0,両トラン
ジスタTP1,TN1にゲート制御信号SG=「H」レベル
が入力されると、まず、pMOSトランジスタTP0がO
FF動作をすることで、従来例と同様に入力部INに接続
された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
【0092】これと共に、pMOSトランジスタTP1が
OFF動作をすることで、図5(b)において、CMOS
回路11が電源線VCCから切り離される。また、nMO
SトランジスタTN1がON動作をすることで、CMOS
回路11の出力値を「L」(ロー)レベルに固定するこ
とが可能となる。
OFF動作をすることで、図5(b)において、CMOS
回路11が電源線VCCから切り離される。また、nMO
SトランジスタTN1がON動作をすることで、CMOS
回路11の出力値を「L」(ロー)レベルに固定するこ
とが可能となる。
【0093】これにより、電源線VCCから切り離された
プルアップ抵抗Rや入力部INに接続された外部回路の
論理信号の影響により、CMOS回路11の共通ゲート
Gの電位が不安定となった場合であっても、従来例のよ
うなフローティング状態を無くすことができる。
プルアップ抵抗Rや入力部INに接続された外部回路の
論理信号の影響により、CMOS回路11の共通ゲート
Gの電位が不安定となった場合であっても、従来例のよ
うなフローティング状態を無くすことができる。
【0094】このため、従来例のようなフローティング
状態を原因とする電源線VCCと接地線GNDとの間に直列
に接続されたCMOS回路11に流れる他の電流i2 の
貫通電流経路を断つことが可能となる。このことから、
初段のCMOS回路11の出力値が安定化することで、
次段のCMOS回路20の貫通電流経路を断つことが可
能となり、当該入力回路の3ステート状態時に係わりそ
の低消費電力化を図ることが可能となる。
状態を原因とする電源線VCCと接地線GNDとの間に直列
に接続されたCMOS回路11に流れる他の電流i2 の
貫通電流経路を断つことが可能となる。このことから、
初段のCMOS回路11の出力値が安定化することで、
次段のCMOS回路20の貫通電流経路を断つことが可
能となり、当該入力回路の3ステート状態時に係わりそ
の低消費電力化を図ることが可能となる。
【0095】(2)第2の実施例の説明 図6(a),(b)は、本発明の第2の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0096】図6(a).おいて、第1の実施例と異な
るのは第2の実施例では、CMOS回路11の入力部i
nにpnp型のトランジスタQが接続され、ECLレベ
ルの論理信号を入力増幅するものである。
るのは第2の実施例では、CMOS回路11の入力部i
nにpnp型のトランジスタQが接続され、ECLレベ
ルの論理信号を入力増幅するものである。
【0097】すなわち、pnp型のトランジスタQは原
理図1(a)におけるバイポーラトランジスタQの一例
であり、そのエミッタEが初段のCMOS回路11の共
通ゲートGとプルアップ抵抗R1の一端とに接続され
る。また、そのコレクタCが接地線GNDに接続され、そ
のベースBが入力部IN´に延在される。なお、その他
の構成は第1の実施例と同様であるため、その説明を省
略する。
理図1(a)におけるバイポーラトランジスタQの一例
であり、そのエミッタEが初段のCMOS回路11の共
通ゲートGとプルアップ抵抗R1の一端とに接続され
る。また、そのコレクタCが接地線GNDに接続され、そ
のベースBが入力部IN´に延在される。なお、その他
の構成は第1の実施例と同様であるため、その説明を省
略する。
【0098】このようにして、本発明の第2の実施例に
係る入力回路によれば、図6(a),(b)に示すよう
に、CMOS回路11の入力部inにpnp型のトラン
ジスタQが接続される。
係る入力回路によれば、図6(a),(b)に示すよう
に、CMOS回路11の入力部inにpnp型のトラン
ジスタQが接続される。
【0099】例えば、当該第2の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0,両トラン
ジスタTP1,TN1にゲート制御信号SG=「H」レベル
が入力されると、第1の入力回路と同様に、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をすることで、pnp型のト
ランジスタQを介して入力部IN´に接続された外部回
路に流出しようとする電流i1 の貫通電流経路を断つこ
とが可能となる。
状態時において、pMOSトランジスタTP0,両トラン
ジスタTP1,TN1にゲート制御信号SG=「H」レベル
が入力されると、第1の入力回路と同様に、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をすることで、pnp型のト
ランジスタQを介して入力部IN´に接続された外部回
路に流出しようとする電流i1 の貫通電流経路を断つこ
とが可能となる。
【0100】これと共に、pMOSトランジスタTP1が
OFF動作をすることで、図6(b)において、CMOS
回路11が電源線VCCから切り離され、また、nMOS
トランジスタTN1がON動作をすることで、CMOS回
路11の出力値を「L」(ロー)レベルに固定すること
が可能となる。
OFF動作をすることで、図6(b)において、CMOS
回路11が電源線VCCから切り離され、また、nMOS
トランジスタTN1がON動作をすることで、CMOS回
路11の出力値を「L」(ロー)レベルに固定すること
が可能となる。
【0101】このため、初段のCMOS回路11のフロ
ーティング状態を無くすことができ、このことから第1
の入力回路と同様に、CMOS回路11に流れる他の電
流i 2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
ーティング状態を無くすことができ、このことから第1
の入力回路と同様に、CMOS回路11に流れる他の電
流i 2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
【0102】これにより、第1の入力回路と同様に、当
該入力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。 (3)第3の実施例の説明 図7(a),(b)は、本発明の第3の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
該入力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。 (3)第3の実施例の説明 図7(a),(b)は、本発明の第3の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0103】図7(a)において、第1,2の実施例と
異なるのは第3の実施例では、第1のCMOS回路12
と電源線VCCとの間にpMOSトランジスタTP1が接続
され、かつ、その出力部outと電源線VCCの間にpMO
SトランジスタTP2が接続され、該トランジスタTP2を
制御する第2のCMOS回路13が接続され、また、p
MOSトランジスタTP1のゲートGと第2のCMOS回
路13の共通ゲートGとがpMOSトランジスタTP0の
ゲートGに接続されるものである。
異なるのは第3の実施例では、第1のCMOS回路12
と電源線VCCとの間にpMOSトランジスタTP1が接続
され、かつ、その出力部outと電源線VCCの間にpMO
SトランジスタTP2が接続され、該トランジスタTP2を
制御する第2のCMOS回路13が接続され、また、p
MOSトランジスタTP1のゲートGと第2のCMOS回
路13の共通ゲートGとがpMOSトランジスタTP0の
ゲートGに接続されるものである。
【0104】すなわち、pMOSトランジスタTP1は原
理図1(b)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、p型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDが
第1のCMOS回路12のpMOSトランジスタTP2の
ソースSに接続される。なお、pMOSトランジスタT
P1のゲートGがpMOSトランジスタTP0のゲートGに
接続される。
理図1(b)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、p型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDが
第1のCMOS回路12のpMOSトランジスタTP2の
ソースSに接続される。なお、pMOSトランジスタT
P1のゲートGがpMOSトランジスタTP0のゲートGに
接続される。
【0105】さらに、pMOSトランジスタTP2は原理
図1(b)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、p型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDが第
1のCMOS回路12の共通ドレイン(出力部out)D
に接続される。なお、pMOSトランジスタTP2のゲー
トGが第2のCMOS回路13の共通ドレイン(出力部
out)Dに接続される。
図1(b)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、p型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDが第
1のCMOS回路12の共通ドレイン(出力部out)D
に接続される。なお、pMOSトランジスタTP2のゲー
トGが第2のCMOS回路13の共通ドレイン(出力部
out)Dに接続される。
【0106】また、第2のCMOS回路13は原理図1
(b)における第2の相補形トランジスタ回路13の一
例であり、電源線VCC,接地線GND間に接続されたpM
OSトランジスタTP3,nMOSトランジスタTN3から
成る。例えば、両トランジスタTP3,TN3の共通ゲート
GがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続され、
その共通ドレイン(出力部out)DがpMOSトランジ
スタTP2のゲートGに接続される。
(b)における第2の相補形トランジスタ回路13の一
例であり、電源線VCC,接地線GND間に接続されたpM
OSトランジスタTP3,nMOSトランジスタTN3から
成る。例えば、両トランジスタTP3,TN3の共通ゲート
GがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続され、
その共通ドレイン(出力部out)DがpMOSトランジ
スタTP2のゲートGに接続される。
【0107】なお、pMOSトランジスタTP0は、その
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがプ
ルアップ抵抗R2の一端に接続され、そのゲートGがゲ
ート制御信号SGの供給点に接続される。また、第1の
CMOS回路12は、pMOSトランジスタTP4,nM
OSトランジスタTN4から成り、両トランジスタTP4,
TN4の共通ゲートGがプルアップ抵抗R2の一端に接続
されて入力部INに延在される。
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがプ
ルアップ抵抗R2の一端に接続され、そのゲートGがゲ
ート制御信号SGの供給点に接続される。また、第1の
CMOS回路12は、pMOSトランジスタTP4,nM
OSトランジスタTN4から成り、両トランジスタTP4,
TN4の共通ゲートGがプルアップ抵抗R2の一端に接続
されて入力部INに延在される。
【0108】さらに、nMOSトランジスタTN4のソー
スSが接地線GNDに接続され、両トランジスタTP4,T
N4の共通ドレイン(出力部out)DがpMOSトランジ
スタTP2のドレインDに接続されて次段のCMOS回路
21の両トランジスタTP5,TN5の共通ゲートGに接続
される。なお、次段のCMOS回路21は電源線VCC,
接地線GND間に接続されたpMOSトランジスタTP5,
nMOSトランジスタTN5から成る。
スSが接地線GNDに接続され、両トランジスタTP4,T
N4の共通ドレイン(出力部out)DがpMOSトランジ
スタTP2のドレインDに接続されて次段のCMOS回路
21の両トランジスタTP5,TN5の共通ゲートGに接続
される。なお、次段のCMOS回路21は電源線VCC,
接地線GND間に接続されたpMOSトランジスタTP5,
nMOSトランジスタTN5から成る。
【0109】このようにして、本発明の第3の実施例に
係る入力回路によれば、図7(a)に示すように、第1
のCMOS回路12と電源線VCCとの間にpMOSトラ
ンジスタTP1が接続され、かつ、その出力部outと電源
線VCCの間にpMOSトランジスタTP2が接続され、該
トランジスタTP2のゲートGを制御する第2のCMOS
回路13が接続される。また、pMOSトランジスタT
P1のゲートGと第2のCMOS回路13の共通ゲートG
とがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続され
る。
係る入力回路によれば、図7(a)に示すように、第1
のCMOS回路12と電源線VCCとの間にpMOSトラ
ンジスタTP1が接続され、かつ、その出力部outと電源
線VCCの間にpMOSトランジスタTP2が接続され、該
トランジスタTP2のゲートGを制御する第2のCMOS
回路13が接続される。また、pMOSトランジスタT
P1のゲートGと第2のCMOS回路13の共通ゲートG
とがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続され
る。
【0110】例えば、当該第3の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0,第2のC
MOS回路13にゲート制御信号SG=「H」レベルが
入力されると、pMOSトランジスタTP0がOFF動作を
することで、第1,2の入力回路と同様に入力部INに
接続された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通
電流経路を断つことが可能となる。
状態時において、pMOSトランジスタTP0,第2のC
MOS回路13にゲート制御信号SG=「H」レベルが
入力されると、pMOSトランジスタTP0がOFF動作を
することで、第1,2の入力回路と同様に入力部INに
接続された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通
電流経路を断つことが可能となる。
【0111】これと共に、pMOSトランジスタTP1が
OFF動作をすることで、図7(b)において、CMOS
回路12が電源線VCCから切り離される。また、pMO
SトランジスタTP2が第2のCMOS回路13の出力値
「L」レベルを受けてON動作をすることで、第1,第
2の入力回路と異なり第1のCMOS回路12の出力値
を「H」(ハイ)レベルに固定することが可能となる。
OFF動作をすることで、図7(b)において、CMOS
回路12が電源線VCCから切り離される。また、pMO
SトランジスタTP2が第2のCMOS回路13の出力値
「L」レベルを受けてON動作をすることで、第1,第
2の入力回路と異なり第1のCMOS回路12の出力値
を「H」(ハイ)レベルに固定することが可能となる。
【0112】これにより、第1の入力回路と同様に第1
のCMOS回路12のフローティング状態を無くすこと
ができ、従来例のようなCMOS回路12に流れる他の
電流i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。この
ことから、初段のCMOS回路12の出力値が安定化す
ることで、次段のCMOS回路21の貫通電流経路を断
つことが可能となり、当該入力回路の低消費電力化を図
ることが可能となる。
のCMOS回路12のフローティング状態を無くすこと
ができ、従来例のようなCMOS回路12に流れる他の
電流i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。この
ことから、初段のCMOS回路12の出力値が安定化す
ることで、次段のCMOS回路21の貫通電流経路を断
つことが可能となり、当該入力回路の低消費電力化を図
ることが可能となる。
【0113】(4)第4の実施例の説明 図8(a),(b)は、本発明の第4の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0114】図8(a)において、第1〜3の実施例と
異なるのは第4の実施例では、CMOS回路14の入力
部INと接地線GNDとの間にnMOSトランジスタTN1
が接続され、該トランジスタTN1のゲートGがpMOS
トランジスタTP0のゲートGに接続される。
異なるのは第4の実施例では、CMOS回路14の入力
部INと接地線GNDとの間にnMOSトランジスタTN1
が接続され、該トランジスタTN1のゲートGがpMOS
トランジスタTP0のゲートGに接続される。
【0115】すなわち、nMOSトランジスタTN1は原
理図2(a)のn型の電界効果トランジスタTNの一例
であり、そのドレインDが入力部IN,プルアップ抵抗
R3の接続点に接続される。また、そのソースSが接地
線GNDに接続される。なお、pMOSトランジスタTP0
は、そのソースSが電源線VCCに接続され、そのドレイ
ンDがプルアップ抵抗R3の一端に接続され、そのゲー
トGがゲート制御信号SGの供給点に接続される。
理図2(a)のn型の電界効果トランジスタTNの一例
であり、そのドレインDが入力部IN,プルアップ抵抗
R3の接続点に接続される。また、そのソースSが接地
線GNDに接続される。なお、pMOSトランジスタTP0
は、そのソースSが電源線VCCに接続され、そのドレイ
ンDがプルアップ抵抗R3の一端に接続され、そのゲー
トGがゲート制御信号SGの供給点に接続される。
【0116】また、CMOS回路14は、pMOSトラ
ンジスタTP2,nMOSトランジスタTN2から成り、両
トランジスタTP2,TN2の共通ゲートGがプルアップ抵
抗R3の一端に接続されて入力部INに延在される。
ンジスタTP2,nMOSトランジスタTN2から成り、両
トランジスタTP2,TN2の共通ゲートGがプルアップ抵
抗R3の一端に接続されて入力部INに延在される。
【0117】このようにして、本発明の第4の実施例に
係る入力回路によれば、図8(a)に示すように、CM
OS回路14の入力部INと接地線GNDとの間にnMO
SトランジスタTN1が接続され、該トランジスタTN1の
ゲートGがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続
される。
係る入力回路によれば、図8(a)に示すように、CM
OS回路14の入力部INと接地線GNDとの間にnMO
SトランジスタTN1が接続され、該トランジスタTN1の
ゲートGがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続
される。
【0118】例えば、当該第4の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0,トランジ
スタTN1にゲート制御信号SG=「H」レベルが入力さ
れると、まず、pMOSトランジスタTP0がOFF動作を
することで、第1〜3の入力回路と同様に入力部INに
接続された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通
電流経路を断つことが可能となる。
状態時において、pMOSトランジスタTP0,トランジ
スタTN1にゲート制御信号SG=「H」レベルが入力さ
れると、まず、pMOSトランジスタTP0がOFF動作を
することで、第1〜3の入力回路と同様に入力部INに
接続された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通
電流経路を断つことが可能となる。
【0119】これと共に、トランジスタTN1がON動作
をすることで、図8(b)において、CMOS回路14
の入力部INを「L」レベルに固定することが可能とな
る。このため、第1〜3の入力回路と同様にCMOS回
路14のフローティング状態を無くすことができ、従来
例のようなCMOS回路14に流れる他の電流i2の貫
通電流経路を断つことが可能となる。
をすることで、図8(b)において、CMOS回路14
の入力部INを「L」レベルに固定することが可能とな
る。このため、第1〜3の入力回路と同様にCMOS回
路14のフローティング状態を無くすことができ、従来
例のようなCMOS回路14に流れる他の電流i2の貫
通電流経路を断つことが可能となる。
【0120】これにより、初段のCMOS回路14の出
力値が安定化することから、次段のCMOS回路の貫通
電流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の低消
費電力化を図ることが可能となる。
力値が安定化することから、次段のCMOS回路の貫通
電流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の低消
費電力化を図ることが可能となる。
【0121】(5)第5の実施例の説明 図9(a),(b)は、本発明の第5の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0122】図9(a)において、第1〜4の実施例と
異なるのは第5の実施例では、CMOS回路15と接地
線GNDとの間にnMOSトランジスタTn1が接続され、
かつ、CMOS回路15の出力部outと接地線GNDとの
間にnMOSトランジスタTN2が接続されるものであ
る。
異なるのは第5の実施例では、CMOS回路15と接地
線GNDとの間にnMOSトランジスタTn1が接続され、
かつ、CMOS回路15の出力部outと接地線GNDとの
間にnMOSトランジスタTN2が接続されるものであ
る。
【0123】すなわち、nMOSトランジスタTN1は原
理図2(b)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、n型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが接地線GNDに接続され、そのドレインDが
CMOS回路15のnMOSトランジスタTN3のソース
Sに接続される。なお、nMOSトランジスタTN1のゲ
ートGがゲート制御信号SGの反転信号の供給点に接続
される。
理図2(b)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、n型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが接地線GNDに接続され、そのドレインDが
CMOS回路15のnMOSトランジスタTN3のソース
Sに接続される。なお、nMOSトランジスタTN1のゲ
ートGがゲート制御信号SGの反転信号の供給点に接続
される。
【0124】さらに、nMOSトランジスタTN2は原理
図2(b)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、n型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが接地線GNDに接続され、そのドレインDがC
MOS回路15の共通ドレイン(出力部out)Dに接続
される。なお、nMOSトランジスタTN2のゲートGが
pMOSトランジスタTP0のゲートGに接続される。
図2(b)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、n型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが接地線GNDに接続され、そのドレインDがC
MOS回路15の共通ドレイン(出力部out)Dに接続
される。なお、nMOSトランジスタTN2のゲートGが
pMOSトランジスタTP0のゲートGに接続される。
【0125】さらに、pMOSトランジスタTP0は、そ
のソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDが
プルアップ抵抗R4の一端に接続され、そのゲートGが
ゲート制御信号SGの供給点に接続される。また、CM
OS回路15は、pMOSトランジスタTP3,nMOS
トランジスタTN3から成り、両トランジスタTP3,TN3
の共通ゲートGがプルアップ抵抗R4の一端に接続され
て入力部INに延在される。
のソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDが
プルアップ抵抗R4の一端に接続され、そのゲートGが
ゲート制御信号SGの供給点に接続される。また、CM
OS回路15は、pMOSトランジスタTP3,nMOS
トランジスタTN3から成り、両トランジスタTP3,TN3
の共通ゲートGがプルアップ抵抗R4の一端に接続され
て入力部INに延在される。
【0126】さらに、次段のCMOS回路22は、電源
線VCC,接地線GND間に接続されたpMOSトランジス
タTP4,nMOSトランジスタTN4から成り、両トラン
ジスタTP4,TN4の共通ゲートGがCMOS回路15の
共通ドレイン(出力部out)Dに接続される。
線VCC,接地線GND間に接続されたpMOSトランジス
タTP4,nMOSトランジスタTN4から成り、両トラン
ジスタTP4,TN4の共通ゲートGがCMOS回路15の
共通ドレイン(出力部out)Dに接続される。
【0127】このようにして、本発明の第5の実施例に
係る入力回路によれば、図9(a)に示すように、CM
OS回路15と接地線GNDとの間にnMOSトランジス
タTN1が接続され、かつ、その出力部outと接地線GND
との間にnMOSトランジスタTN2が接続され、該トラ
ンジスタTN2のゲートGがpMOSトランジスタTP0の
ゲートGに接続される。また、nMOSトランジスタT
N1にゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
係る入力回路によれば、図9(a)に示すように、CM
OS回路15と接地線GNDとの間にnMOSトランジス
タTN1が接続され、かつ、その出力部outと接地線GND
との間にnMOSトランジスタTN2が接続され、該トラ
ンジスタTN2のゲートGがpMOSトランジスタTP0の
ゲートGに接続される。また、nMOSトランジスタT
N1にゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
【0128】例えば、当該第5の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力されると、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をする。
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力されると、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をする。
【0129】このため、第1〜4の入力回路と同様に入
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
MOSトランジスタTN1にゲート制御信号SGの反転信
号=「L」レベルが入力されると、該トランジスタTN1
がOFF動作をする。
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
MOSトランジスタTN1にゲート制御信号SGの反転信
号=「L」レベルが入力されると、該トランジスタTN1
がOFF動作をする。
【0130】このことで、図9(b)において、CMO
S回路15が接地線GNDから切り離される。また、ゲー
ト制御信号SG=「H」レベルを受けてnMOSトラン
ジスタTN2がON動作をすることで、第1の入力回路と
同様にCMOS回路15の出力値を「L」レベルに固定
することが可能となる。
S回路15が接地線GNDから切り離される。また、ゲー
ト制御信号SG=「H」レベルを受けてnMOSトラン
ジスタTN2がON動作をすることで、第1の入力回路と
同様にCMOS回路15の出力値を「L」レベルに固定
することが可能となる。
【0131】これにより、第1〜4の入力回路と同様に
CMOS回路15のフローティング状態を無くすことが
でき、従来例のようなCMOS回路15に流れる他の電
流i 2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。このこ
とで、初段のCMOS回路15の出力値が安定化するこ
とから、第1〜4の入力回路と同様に次段のCMOS回
路22の貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入
力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
CMOS回路15のフローティング状態を無くすことが
でき、従来例のようなCMOS回路15に流れる他の電
流i 2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。このこ
とで、初段のCMOS回路15の出力値が安定化するこ
とから、第1〜4の入力回路と同様に次段のCMOS回
路22の貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入
力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
【0132】(6)第6の実施例の説明 図10(a),(b)は、本発明の第6の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0133】図10(a)において、第1〜5の実施例と
異なるのは第6の実施例では、CMOS回路16と接地
線GNDとの間にpMOSトランジスタTP1が接続され、
かつ、CMOS回路16の出力部outと電源線VCCとの
間にnMOSトランジスタTN1が接続されるものであ
る。
異なるのは第6の実施例では、CMOS回路16と接地
線GNDとの間にpMOSトランジスタTP1が接続され、
かつ、CMOS回路16の出力部outと電源線VCCとの
間にnMOSトランジスタTN1が接続されるものであ
る。
【0134】すなわち、nMOSトランジスタTN1は原
理図3(a)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、n型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが接地線GNDに接続され、そのドレインDが
CMOS回路16のnMOSトランジスタTN2のソース
Sに接続される。なお、nMOSトランジスタTN1のゲ
ートGがpMOSトランジスタTP1のゲートGに接続さ
れてゲート制御信号SGの反転信号の供給点に接続され
る。
理図3(a)における第1のトランジスタT1の一例で
あり、n型の電界効果トランジスタから成る。また、そ
のソースSが接地線GNDに接続され、そのドレインDが
CMOS回路16のnMOSトランジスタTN2のソース
Sに接続される。なお、nMOSトランジスタTN1のゲ
ートGがpMOSトランジスタTP1のゲートGに接続さ
れてゲート制御信号SGの反転信号の供給点に接続され
る。
【0135】さらに、pMOSトランジスタTP1は原理
図3(a)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、p型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがC
MOS回路16の共通ドレイン(出力部out)Dに接続
される。なお、pMOSトランジスタTP2のゲートGが
nMOSトランジスタTN1のゲートGに接続される。
図3(a)における第2のトランジスタT2の一例であ
り、p型の電界効果トランジスタから成る。また、その
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがC
MOS回路16の共通ドレイン(出力部out)Dに接続
される。なお、pMOSトランジスタTP2のゲートGが
nMOSトランジスタTN1のゲートGに接続される。
【0136】なお、pMOSトランジスタTP0は、その
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがプ
ルアップ抵抗R5の一端に接続され、そのゲートGがゲ
ート制御信号SGの供給点に接続される。また、CMO
S回路16は、pMOSトランジスタTP2,nMOSト
ランジスタTN2から成り、両トランジスタTP2,TN2の
共通ゲートGがプルアップ抵抗R5の一端に接続されて
入力部INに延在される。
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがプ
ルアップ抵抗R5の一端に接続され、そのゲートGがゲ
ート制御信号SGの供給点に接続される。また、CMO
S回路16は、pMOSトランジスタTP2,nMOSト
ランジスタTN2から成り、両トランジスタTP2,TN2の
共通ゲートGがプルアップ抵抗R5の一端に接続されて
入力部INに延在される。
【0137】さらに、両トランジスタTP2,TN2の共通
ドレイン(出力部out)DがpMOSトランジスタTP1
のドレインDに接続されて次段のCMOS回路23の両
トランジスタTP3,TN3の共通ゲートGに接続される。
なお、次段のCMOS回路23は電源線VCC,接地線G
ND間に接続されたpMOSトランジスタTP3,nMOS
トランジスタTN3から成る。
ドレイン(出力部out)DがpMOSトランジスタTP1
のドレインDに接続されて次段のCMOS回路23の両
トランジスタTP3,TN3の共通ゲートGに接続される。
なお、次段のCMOS回路23は電源線VCC,接地線G
ND間に接続されたpMOSトランジスタTP3,nMOS
トランジスタTN3から成る。
【0138】このようにして、本発明の第6の実施例に
係る入力回路によれば、図10(a)に示すように、CM
OS回路16と接地線GNDとの間にpMOSトランジス
タTP1が接続され、かつ、その出力部outと電源線VCC
との間にnMOSトランジスタTN1が接続され、両トラ
ンジスタTP1,TN1にゲート制御信号SGの反転信号が
供給される。
係る入力回路によれば、図10(a)に示すように、CM
OS回路16と接地線GNDとの間にpMOSトランジス
タTP1が接続され、かつ、その出力部outと電源線VCC
との間にnMOSトランジスタTN1が接続され、両トラ
ンジスタTP1,TN1にゲート制御信号SGの反転信号が
供給される。
【0139】例えば、当該第6の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力されると、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をする。
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力されると、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をする。
【0140】このため、第1〜5の入力回路と同様に入
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
MOSトランジスタTN1にゲート制御信号SGの反転信
号=「L」レベルが入力されると、該トランジスタTN1
がOFF動作をする。
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、n
MOSトランジスタTN1にゲート制御信号SGの反転信
号=「L」レベルが入力されると、該トランジスタTN1
がOFF動作をする。
【0141】このことで、図10(a)において、第5の
入力回路と同様にCMOS回路16が接地線GNDから切
り離される。また、pMOSトランジスタTP1にゲート
制御信号SGの反転信号=「L」レベルが入力される
と、該トランジスタTP1がON動作をすることで、第3
の入力回路と同様にCMOS回路16の出力値を「H」
レベルに固定することが可能となる。
入力回路と同様にCMOS回路16が接地線GNDから切
り離される。また、pMOSトランジスタTP1にゲート
制御信号SGの反転信号=「L」レベルが入力される
と、該トランジスタTP1がON動作をすることで、第3
の入力回路と同様にCMOS回路16の出力値を「H」
レベルに固定することが可能となる。
【0142】これにより、第1〜5の入力回路と同様に
CMOS回路16のフローティング状態を無くすことが
でき、従来例のようなCMOS回路16に流れる他の電
流i 2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。このこ
とから、初段のCMOS回路16の出力値が安定化する
ことで、第1〜5の入力回路と同様に次段のCMOS回
路23の貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入
力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
CMOS回路16のフローティング状態を無くすことが
でき、従来例のようなCMOS回路16に流れる他の電
流i 2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。このこ
とから、初段のCMOS回路16の出力値が安定化する
ことで、第1〜5の入力回路と同様に次段のCMOS回
路23の貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入
力回路の低消費電力化を図ることが可能となる。
【0143】(7)第7の実施例の説明 図11(a),(b)は、本発明の第7の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0144】図11(a)において、第1〜6の実施例と
異なるのは第7の実施例では、相補形トランジスタ回路
CMOS 1〜CMOS nと電源線VCCとの間にpMOSトラ
ンジスタTP12〜TPn2 〔n=1,2,3…〕がそれ
ぞれ接続されるものである。
異なるのは第7の実施例では、相補形トランジスタ回路
CMOS 1〜CMOS nと電源線VCCとの間にpMOSトラ
ンジスタTP12〜TPn2 〔n=1,2,3…〕がそれ
ぞれ接続されるものである。
【0145】すなわち、pMOSトランジスタTP12〜
TPn2はスイッチング素子17の一例であり、p型の電
界効果トランジスタから成る。各pMOSトランジスタ
TPn1のソースSが電源線VCCに接続され、そのゲート
GがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続されて
スイッチング制御信号の一例となるゲート制御信号SG
の供給点に接続される。また、各pMOSトランジスタ
TPn2のドレインDが相補形トランジスタ回路CMOS n
のpMOSトランジスタTPn1のソースSにそれぞれ接
続される。
TPn2はスイッチング素子17の一例であり、p型の電
界効果トランジスタから成る。各pMOSトランジスタ
TPn1のソースSが電源線VCCに接続され、そのゲート
GがpMOSトランジスタTP0のゲートGに接続されて
スイッチング制御信号の一例となるゲート制御信号SG
の供給点に接続される。また、各pMOSトランジスタ
TPn2のドレインDが相補形トランジスタ回路CMOS n
のpMOSトランジスタTPn1のソースSにそれぞれ接
続される。
【0146】なお、pMOSトランジスタTP0は、その
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがプ
ルアップ抵抗R6の一端に接続され、そのゲートGがゲ
ート制御信号SGの供給点に接続される。また、初段の
相補形トランジスタ回路CMOS 1は、pMOSトランジ
スタTP11,nMOSトランジスタTN1から成り、両ト
ランジスタTP11,TN1の共通ゲートGがプルアップ抵
抗R6の一端に接続されて入力部INに延在される。
ソースSが電源線VCCに接続され、そのドレインDがプ
ルアップ抵抗R6の一端に接続され、そのゲートGがゲ
ート制御信号SGの供給点に接続される。また、初段の
相補形トランジスタ回路CMOS 1は、pMOSトランジ
スタTP11,nMOSトランジスタTN1から成り、両ト
ランジスタTP11,TN1の共通ゲートGがプルアップ抵
抗R6の一端に接続されて入力部INに延在される。
【0147】さらに、両トランジスタTP11,TN1の共
通ドレイン(出力部out)Dが次段の相補形トランジス
タ回路CMOS 2の両トランジスタTP21,TN2の共通ゲ
ートGに接続される。なお、次段の相補形トランジスタ
回路CMOS 2はpMOSトランジスタTP21,nMOS
トランジスタTN2から成り、両トランジスタTP21,T
N2の共通ドレイン(out)が接続されて次段の相補形ト
ランジスタ回路CMOSnの両トランジスタTPn1,TNn
の共通ゲートGに接続される。
通ドレイン(出力部out)Dが次段の相補形トランジス
タ回路CMOS 2の両トランジスタTP21,TN2の共通ゲ
ートGに接続される。なお、次段の相補形トランジスタ
回路CMOS 2はpMOSトランジスタTP21,nMOS
トランジスタTN2から成り、両トランジスタTP21,T
N2の共通ドレイン(out)が接続されて次段の相補形ト
ランジスタ回路CMOSnの両トランジスタTPn1,TNn
の共通ゲートGに接続される。
【0148】このようにして、本発明の第7の実施例に
係る入力回路によれば、図11(a)に示すように、電源
線VCCと接地線GNDと間に接続された一段以上の相補形
トランジスタ回路CMOS n〔n=1,2,3…〕の各段
毎にpMOSトランジスタTPn2が接続される。
係る入力回路によれば、図11(a)に示すように、電源
線VCCと接地線GNDと間に接続された一段以上の相補形
トランジスタ回路CMOS n〔n=1,2,3…〕の各段
毎にpMOSトランジスタTPn2が接続される。
【0149】例えば、当該第7の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力されると、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をする。
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力されると、pMOSト
ランジスタTP0がOFF動作をする。
【0150】このため、第1〜6の入力回路と同様に入
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、各
段毎に接続されたpMOSトランジスタTPn2〔n=
1,2,3…〕をゲート制御信号SGに基づいて一斉に
OFF動作させることで、図11(b)において、各CMO
S回路CMOS 1〜CMOS nが電源線VCCから一斉に切り
離される。これにより、第1〜6の入力回路と同様に各
相補形トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nのフローテ
ィング状態を無くすことができ、従来例のような相補形
トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nに流れる他の電流
i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、各
段毎に接続されたpMOSトランジスタTPn2〔n=
1,2,3…〕をゲート制御信号SGに基づいて一斉に
OFF動作させることで、図11(b)において、各CMO
S回路CMOS 1〜CMOS nが電源線VCCから一斉に切り
離される。これにより、第1〜6の入力回路と同様に各
相補形トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nのフローテ
ィング状態を無くすことができ、従来例のような相補形
トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nに流れる他の電流
i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
【0151】これにより、第1〜6の入力回路と同様に
貫通電流経路を各相補形トランジスタ回路CMOS 1〜C
MOS n毎に断つことが可能となり、当該入力回路の低消
費電力化を図ることが可能となる。
貫通電流経路を各相補形トランジスタ回路CMOS 1〜C
MOS n毎に断つことが可能となり、当該入力回路の低消
費電力化を図ることが可能となる。
【0152】(8)第8の実施例の説明 図12(a),(b)は、本発明の第8の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0153】図12(a)において、第1〜7の実施例と
異なるのは第8の実施例では、相補形トランジスタ回路
CMOS 1〜CMOS nと接地線GNDとの間にnMOSトラ
ンジスタTN1〜TNn 〔n=1,2,3…〕がそれ
ぞれ接続されるものである。
異なるのは第8の実施例では、相補形トランジスタ回路
CMOS 1〜CMOS nと接地線GNDとの間にnMOSトラ
ンジスタTN1〜TNn 〔n=1,2,3…〕がそれ
ぞれ接続されるものである。
【0154】すなわち、nMOSトランジスタTN1〜
TNnはスイッチング素子17の一例であり、n型の電
界効果トランジスタから成る。各nMOSトランジスタ
TNnのソースSが接地線GNDに接続され、そのゲート
Gが他のnMOSトランジスタTNnのゲートGに接続
されてゲート制御信号SGの反転信号の供給点に接続さ
れる。また、各nMOSトランジスタTNnのドレイン
Dが相補形トランジスタ回路CMOS nのnMOSトラン
ジスタのソースSにそれぞれ接続される。
TNnはスイッチング素子17の一例であり、n型の電
界効果トランジスタから成る。各nMOSトランジスタ
TNnのソースSが接地線GNDに接続され、そのゲート
Gが他のnMOSトランジスタTNnのゲートGに接続
されてゲート制御信号SGの反転信号の供給点に接続さ
れる。また、各nMOSトランジスタTNnのドレイン
Dが相補形トランジスタ回路CMOS nのnMOSトラン
ジスタのソースSにそれぞれ接続される。
【0155】なお、その他の回路構成は、第7の入力回
路と同様であるため、その説明を省略する。このように
して、本発明の第8の実施例に係る入力回路によれば、
図12(a)に示すように、電源線VCCと接地線GNDと間
に接続された一段以上の相補形トランジスタ回路CMOS
n〔n=1,2,3…〕の各段毎にnMOSトランジス
タTN1〜TNnが接続される。
路と同様であるため、その説明を省略する。このように
して、本発明の第8の実施例に係る入力回路によれば、
図12(a)に示すように、電源線VCCと接地線GNDと間
に接続された一段以上の相補形トランジスタ回路CMOS
n〔n=1,2,3…〕の各段毎にnMOSトランジス
タTN1〜TNnが接続される。
【0156】例えば、当該第8の入力回路の3ステート
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力され、各nMOSトラ
ンジスタTNnのゲートGにゲート制御信号SGの反転
信号である「L」レベルが入力されると、pMOSトラ
ンジスタTP0がOFF動作をする。
状態時において、pMOSトランジスタTP0にゲート制
御信号SG=「H」レベルが入力され、各nMOSトラ
ンジスタTNnのゲートGにゲート制御信号SGの反転
信号である「L」レベルが入力されると、pMOSトラ
ンジスタTP0がOFF動作をする。
【0157】このため、第1〜7の入力回路と同様に入
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、各
段毎に接続されたnMOSトランジスタTNn〔n=
1,2,3…〕をゲート制御信号SGに基づいて一斉に
OFF動作させることで、図12(b)において、各CMO
S回路CMOS 1〜CMOS nが接地線GNDから一斉に切り
離される。
力部INに接続された外部回路に流出しようとする電流
i1 の貫通電流経路を断つことが可能となる。また、各
段毎に接続されたnMOSトランジスタTNn〔n=
1,2,3…〕をゲート制御信号SGに基づいて一斉に
OFF動作させることで、図12(b)において、各CMO
S回路CMOS 1〜CMOS nが接地線GNDから一斉に切り
離される。
【0158】これにより、第1〜7の入力回路と同様に
各相補形トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nのフロー
ティング状態を無くすことができ、従来例のような相補
形トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nに流れる他の電
流i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
各相補形トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nのフロー
ティング状態を無くすことができ、従来例のような相補
形トランジスタ回路CMOS 1〜CMOS nに流れる他の電
流i2 の貫通電流経路を断つことが可能となる。
【0159】このことで、第1〜7の入力回路と同様に
貫通電流経路を各相補形トランジスタ回路CMOS 1〜C
MOS n毎に断つことが可能となり、当該入力回路の低消
費電力化を図ることが可能となる。
貫通電流経路を各相補形トランジスタ回路CMOS 1〜C
MOS n毎に断つことが可能となり、当該入力回路の低消
費電力化を図ることが可能となる。
【0160】(9)第9の実施例の説明 図13(a),(b)は、本発明の第9の実施例に係る入
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
力回路及びその動作説明図をそれぞれ示している。
【0161】図13(a)において、第1〜8の実施例と
異なるのは第9の実施例では、プルアップ抵抗R7とp
MOSトランジスタTP0とを直列に接続した回路が第1
〜8の実施例に比べて反対向きに接続されるものであ
る。
異なるのは第9の実施例では、プルアップ抵抗R7とp
MOSトランジスタTP0とを直列に接続した回路が第1
〜8の実施例に比べて反対向きに接続されるものであ
る。
【0162】すなわち、プルアップ抵抗R7の一端が電
源線VCCに接続され、他の一端がpMOSトランジスタ
TP0のソースSに接続される。また、pMOSトランジ
スタTP0のドレインDが入力部INと図13(a)の二点
鎖線で囲んだ入力回路24に接続される。なお、入力回
路24が本発明の各実施例に係る第1〜第8の入力回路
から当該プルアップ抵抗R1〜R6とpMOSトランジ
スタTP0との直列回路を除いた回路部分が適用される。
なお、その他の構成は第1〜8の実施例と同様であるた
め、その説明を省略する。
源線VCCに接続され、他の一端がpMOSトランジスタ
TP0のソースSに接続される。また、pMOSトランジ
スタTP0のドレインDが入力部INと図13(a)の二点
鎖線で囲んだ入力回路24に接続される。なお、入力回
路24が本発明の各実施例に係る第1〜第8の入力回路
から当該プルアップ抵抗R1〜R6とpMOSトランジ
スタTP0との直列回路を除いた回路部分が適用される。
なお、その他の構成は第1〜8の実施例と同様であるた
め、その説明を省略する。
【0163】このようにして、本発明の第9の実施例に
係る入力回路によれば、図13(a)に示すように、本発
明の第1〜第8の入力回路に比べて、プルアップ抵抗R
7,pMOSトランジスタTP0の直列回路が反対向きに
接続される。
係る入力回路によれば、図13(a)に示すように、本発
明の第1〜第8の入力回路に比べて、プルアップ抵抗R
7,pMOSトランジスタTP0の直列回路が反対向きに
接続される。
【0164】例えば、第1〜第8の入力回路では、プル
アップ抵抗R1〜R6,pMOSトランジスタTP0の直
列回路であって、そのプルアップ抵抗R1〜R6の一端
がCMOS回路11,12,14,15,16等の入力
部inに接続され、そのpMOSトランジスタTP0の一
端が電源線VCCに接続されているが、第9の入力回路で
は、そのプルアップ抵抗R7の一端が電源線VCCに接続
され、そのpMOSトランジスタTP0の一端が本発明の
各実施例に係る第1〜第8の入力回路の入力部inに接
続される。
アップ抵抗R1〜R6,pMOSトランジスタTP0の直
列回路であって、そのプルアップ抵抗R1〜R6の一端
がCMOS回路11,12,14,15,16等の入力
部inに接続され、そのpMOSトランジスタTP0の一
端が電源線VCCに接続されているが、第9の入力回路で
は、そのプルアップ抵抗R7の一端が電源線VCCに接続
され、そのpMOSトランジスタTP0の一端が本発明の
各実施例に係る第1〜第8の入力回路の入力部inに接
続される。
【0165】このため、プルアップ抵抗R7,pMOS
トランジスタTP0の直列回路の接続方法に限定されるこ
となく、第1〜8の入力回路と同様に入力部INに接続
された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
トランジスタTP0の直列回路の接続方法に限定されるこ
となく、第1〜8の入力回路と同様に入力部INに接続
された外部回路に流出しようとする電流i1 の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
【0166】これにより、本発明の各実施例に係る第1
〜第8の入力回路から当該プルアップ抵抗R1〜R6と
pMOSトランジスタTP0との直列回路を除いた回路部
分と組み合わせることにより、第1〜8の入力回路と同
様に、当該入力回路の低消費電力化を図ることが可能と
なる。
〜第8の入力回路から当該プルアップ抵抗R1〜R6と
pMOSトランジスタTP0との直列回路を除いた回路部
分と組み合わせることにより、第1〜8の入力回路と同
様に、当該入力回路の低消費電力化を図ることが可能と
なる。
【0167】(10)第10の実施例の説明 図14(a),(b)は、本発明の第10の実施例に係る入
力回路の構成図及びその動作説明図をそれぞれ示してい
る。
力回路の構成図及びその動作説明図をそれぞれ示してい
る。
【0168】図14(a)において、第1〜9の実施例と
異なるのは第10の実施例では、抵抗素子R8とスイッチ
ングトランジスタT0とが直列に接続され回路が初段の
CMOS回路18の入力部inと接地線GNDとの間に接
続され、そのCMOS回路18の出力部outと接地線G
NDとの間にnMOSトランジスタTN1が接続され、か
つ、スイッチングトランジスタT0のゲートGとnMO
SトランジスタTN1のゲートGとが接続されるものであ
る。
異なるのは第10の実施例では、抵抗素子R8とスイッチ
ングトランジスタT0とが直列に接続され回路が初段の
CMOS回路18の入力部inと接地線GNDとの間に接
続され、そのCMOS回路18の出力部outと接地線G
NDとの間にnMOSトランジスタTN1が接続され、か
つ、スイッチングトランジスタT0のゲートGとnMO
SトランジスタTN1のゲートGとが接続されるものであ
る。
【0169】すなわち、nMOSトランジスタTN1は原
理図4(a)におけるn型の電界効果トランジスタTN
の一例であり、そのソースSが接地線GNDに接続され、
そのドレインDが初段のCMOS回路18の出力部out
に接続される。なお、nMOSトランジスタTN1のゲー
トGがnMOSトランジスタTN0のゲートGに接続され
る。
理図4(a)におけるn型の電界効果トランジスタTN
の一例であり、そのソースSが接地線GNDに接続され、
そのドレインDが初段のCMOS回路18の出力部out
に接続される。なお、nMOSトランジスタTN1のゲー
トGがnMOSトランジスタTN0のゲートGに接続され
る。
【0170】さらに、nMOSトランジスタTN0はスイ
ッチングトランジスタT0の一例であり、n型の電界効
果トランジスタから成る。例えば、そのソースSがプル
アップ抵抗R8の一端に接続され、そのドレインDが初
段のCMOS回路18の入力部inに接続され、そのゲ
ートGがゲート制御信号SGの供給点に接続される。な
お、プルアップ抵抗R8の他の一端が接地線GNDに接続
される。
ッチングトランジスタT0の一例であり、n型の電界効
果トランジスタから成る。例えば、そのソースSがプル
アップ抵抗R8の一端に接続され、そのドレインDが初
段のCMOS回路18の入力部inに接続され、そのゲ
ートGがゲート制御信号SGの供給点に接続される。な
お、プルアップ抵抗R8の他の一端が接地線GNDに接続
される。
【0171】また、初段のCMOS回路18は、pMO
SトランジスタTP2,nMOSトランジスタTN2から成
り、両トランジスタTP2,TN2の共通ゲートGがスイッ
チングトランジスタT0のドレインDに接続されて入力
部INに延在される。また、pMOSトランジスタTP2
のソースSが電源線VCCに接続され、nMOSトランジ
スタTN2のソースSが接地線GNDに接続され、両トラン
ジスタTP2,TN2の共通ドレイン(出力部out)Dがn
MOSトランジスタTN1のドレインDに接続されて次段
のCMOS回路25の両トランジスタTP3,TN3の共通
ゲートGに接続される。
SトランジスタTP2,nMOSトランジスタTN2から成
り、両トランジスタTP2,TN2の共通ゲートGがスイッ
チングトランジスタT0のドレインDに接続されて入力
部INに延在される。また、pMOSトランジスタTP2
のソースSが電源線VCCに接続され、nMOSトランジ
スタTN2のソースSが接地線GNDに接続され、両トラン
ジスタTP2,TN2の共通ドレイン(出力部out)Dがn
MOSトランジスタTN1のドレインDに接続されて次段
のCMOS回路25の両トランジスタTP3,TN3の共通
ゲートGに接続される。
【0172】このようにして、本発明の第10の実施例に
係る入力回路によれば、図14(a)に示すように、初段
のCMOS回路18の入力部inと第2の電源線GNDと
の間に抵抗素子RとスイッチングトランジスタT0が直
列に接続され、その初段のCMOS回路18の出力部o
utと接地線GNDとの間にnMOSトランジスタTN1が接
続される。また、スイッチングトランジスタT0のゲー
トGとnMOSトランジスタTN1のゲートGとが接続さ
れる。
係る入力回路によれば、図14(a)に示すように、初段
のCMOS回路18の入力部inと第2の電源線GNDと
の間に抵抗素子RとスイッチングトランジスタT0が直
列に接続され、その初段のCMOS回路18の出力部o
utと接地線GNDとの間にnMOSトランジスタTN1が接
続される。また、スイッチングトランジスタT0のゲー
トGとnMOSトランジスタTN1のゲートGとが接続さ
れる。
【0173】例えば、当該第10の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0,nM
OSトランジスタTN1にゲート制御信号SG=「H」レ
ベルが入力されると、まず、スイッチングトランジスタ
T0がON動作をすることで、第1〜第9の実施例と同
様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに固定をす
ることがが可能となる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0,nM
OSトランジスタTN1にゲート制御信号SG=「H」レ
ベルが入力されると、まず、スイッチングトランジスタ
T0がON動作をすることで、第1〜第9の実施例と同
様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに固定をす
ることがが可能となる。
【0174】これと共に、nMOSトランジスタTN1が
ON動作をすることで、図14(b)において、初段のC
MOS回路18の出力値を「L」(ロー)レベルに固定
することが可能となる。このことから従来例のようなフ
ローティング状態を無くすことができる。
ON動作をすることで、図14(b)において、初段のC
MOS回路18の出力値を「L」(ロー)レベルに固定
することが可能となる。このことから従来例のようなフ
ローティング状態を無くすことができる。
【0175】このため、第1〜9の入力回路と同様に従
来例のようなフローティング状態を原因とする電源線V
CCと接地線GNDとの間に接続された初段のCMOS回路
18に流れる貫通電流i2 の貫通電流経路を断つことが
可能となる。
来例のようなフローティング状態を原因とする電源線V
CCと接地線GNDとの間に接続された初段のCMOS回路
18に流れる貫通電流i2 の貫通電流経路を断つことが
可能となる。
【0176】これにより、初段のCMOS回路18の出
力値が安定化することから、次段のCMOS回路25の
貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の
3ステート状態時に係わりその低消費電力化を図ること
が可能となる。
力値が安定化することから、次段のCMOS回路25の
貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の
3ステート状態時に係わりその低消費電力化を図ること
が可能となる。
【0177】(11)第11の実施例の説明 図15(a),(b)は、本発明の第11の実施例に係る入
力回路の構成図及びその動作説明図をそれぞれ示してい
る。
力回路の構成図及びその動作説明図をそれぞれ示してい
る。
【0178】図15(a)において、第1〜9の実施例と
異なるのは第11の実施例では、抵抗素子Rとスイッチン
グトランジスタT0とが直列に接続された回路が初段の
CMOS回路19の入力部inと接地線GNDとの間に接
続され、また、第10の実施例と異なり第11の実施例では
CMOS回路19の出力部outと電源線VCCとの間にp
MOSトランジスタTP1が接続され、かつ、そのゲート
Gにゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
異なるのは第11の実施例では、抵抗素子Rとスイッチン
グトランジスタT0とが直列に接続された回路が初段の
CMOS回路19の入力部inと接地線GNDとの間に接
続され、また、第10の実施例と異なり第11の実施例では
CMOS回路19の出力部outと電源線VCCとの間にp
MOSトランジスタTP1が接続され、かつ、そのゲート
Gにゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
【0179】すなわち、pMOSトランジスタTP1は原
理図4(b)におけるp型の電界効果トランジスタTP
の一例であり、そのソースSが電源線VCCに接続され、
そのドレインDが初段のCMOS回路18の出力部out
に接続される。なお、pMOSトランジスタTP1のゲー
トGがnMOSトランジスタTN0のゲート制御信号SG
に対する反転信号の供給点に接続される。その他の構成
は第10の実施例と同様であるため、その説明を省略す
る。
理図4(b)におけるp型の電界効果トランジスタTP
の一例であり、そのソースSが電源線VCCに接続され、
そのドレインDが初段のCMOS回路18の出力部out
に接続される。なお、pMOSトランジスタTP1のゲー
トGがnMOSトランジスタTN0のゲート制御信号SG
に対する反転信号の供給点に接続される。その他の構成
は第10の実施例と同様であるため、その説明を省略す
る。
【0180】このようにして、本発明の第11の実施例に
係る入力回路によれば、図15(a)に示すように、初段
のCMOS回路19の出力部outと電源線VCCとの間に
p型MOSトランジスタTP1が接続され、かつ、そのゲ
ートGにゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
係る入力回路によれば、図15(a)に示すように、初段
のCMOS回路19の出力部outと電源線VCCとの間に
p型MOSトランジスタTP1が接続され、かつ、そのゲ
ートGにゲート制御信号SGの反転信号が供給される。
【0181】例えば、当該第11の入力回路の3ステート
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力され、p型MOS
トランジスタTP1にゲート制御信号SGの反転信号
「L」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がON動作をすることで、第10の実施例と
同様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに固定を
することが可能となる。
状態時において、スイッチングトランジスタT0にゲー
ト制御信号SG=「H」レベルが入力され、p型MOS
トランジスタTP1にゲート制御信号SGの反転信号
「L」レベルが入力されると、まず、スイッチングトラ
ンジスタT0がON動作をすることで、第10の実施例と
同様に、入力部INの入力論理を「L」レベルに固定を
することが可能となる。
【0182】これと共に、p型MOSトランジスタTP1
がON動作をすることで、図15(b)において、初段の
CMOS回路19の出力値を「H」(ハイ)レベルに固
定することが可能となる。このことから従来例のような
フローティング状態を無くすことができる。
がON動作をすることで、図15(b)において、初段の
CMOS回路19の出力値を「H」(ハイ)レベルに固
定することが可能となる。このことから従来例のような
フローティング状態を無くすことができる。
【0183】このため、第1〜10の入力回路と同様に従
来例のようなフローティング状態を原因とする電源線V
CCと接地線GNDとの間に接続された初段のCMOS回路
19に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが
可能となる。
来例のようなフローティング状態を原因とする電源線V
CCと接地線GNDとの間に接続された初段のCMOS回路
19に流れる他の電流i2 の貫通電流経路を断つことが
可能となる。
【0184】これにより、初段のCMOS回路19の出
力値が安定化することから、次段のCMOS回路26の
貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の
3ステート状態時に係わりその低消費電力化を図ること
が可能となる。
力値が安定化することから、次段のCMOS回路26の
貫通電流経路を断つことが可能となり、当該入力回路の
3ステート状態時に係わりその低消費電力化を図ること
が可能となる。
【0185】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の第1の入
力回路によれば、相補形トランジスタ回路と第1の電源
線との間に第1のトランジスタが接続され、かつ、相補
形トランジスタ回路の出力部と第2の電源線の間に第2
のトランジスタが接続され、両トランジスタの各ゲート
が共にスイッチングトランジスタのゲートに接続され
る。
力回路によれば、相補形トランジスタ回路と第1の電源
線との間に第1のトランジスタが接続され、かつ、相補
形トランジスタ回路の出力部と第2の電源線の間に第2
のトランジスタが接続され、両トランジスタの各ゲート
が共にスイッチングトランジスタのゲートに接続され
る。
【0186】このため、当該回路の3ステート状態時に
おいて、スイッチングトランジスタがOFF動作をするこ
とで、従来例と同様に外部回路に至る貫通電流経路を断
つことが可能となる(以下単に貫通電流遮断機能とい
う)。また、第1のトランジスタがOFF動作をすること
で、従来例のような相補形トランジスタ回路のフローテ
ィング状態を無くすことができ、他の貫通電流経路を断
つことが可能となる。
おいて、スイッチングトランジスタがOFF動作をするこ
とで、従来例と同様に外部回路に至る貫通電流経路を断
つことが可能となる(以下単に貫通電流遮断機能とい
う)。また、第1のトランジスタがOFF動作をすること
で、従来例のような相補形トランジスタ回路のフローテ
ィング状態を無くすことができ、他の貫通電流経路を断
つことが可能となる。
【0187】また、第2のトランジスタがON動作をす
ることで、相補形トランジスタ回路の出力値を「L」
(ロー)レベルに固定することが可能となる。このこと
で、初段の相補形トランジスタ回路の出力値の安定化が
図られる。
ることで、相補形トランジスタ回路の出力値を「L」
(ロー)レベルに固定することが可能となる。このこと
で、初段の相補形トランジスタ回路の出力値の安定化が
図られる。
【0188】また、本発明の第2の入力回路によれば第
1の入力回路において、相補形トランジスタ回路の入力
部にバイポーラトランジスタが接続される。このため、
当該第2の入力回路の3ステート状態時において、第1
の入力回路と同様に、スイッチングトランジスタがOFF
動作をすることで、バイポーラトランジスタを介して外
部回路に至る貫通電流経路を断つことが可能となる。ま
た、第1の入力回路と同様に、相補形トランジスタ回路
のフローティング状態を無くすことができ、他の貫通電
流経路を断つことが可能となる。さらに、相補形トラン
ジスタ回路の出力値を「L」(ロー)レベルに固定する
ことが可能となる。
1の入力回路において、相補形トランジスタ回路の入力
部にバイポーラトランジスタが接続される。このため、
当該第2の入力回路の3ステート状態時において、第1
の入力回路と同様に、スイッチングトランジスタがOFF
動作をすることで、バイポーラトランジスタを介して外
部回路に至る貫通電流経路を断つことが可能となる。ま
た、第1の入力回路と同様に、相補形トランジスタ回路
のフローティング状態を無くすことができ、他の貫通電
流経路を断つことが可能となる。さらに、相補形トラン
ジスタ回路の出力値を「L」(ロー)レベルに固定する
ことが可能となる。
【0189】さらに、本発明の第3の入力回路によれ
ば、第1の相補形トランジスタ回路と第1の電源線との
間に第1のトランジスタが接続され、かつ、その出力部
と第1の電源線の間に第2のトランジスタが接続され、
該トランジスタを制御する第2の相補形トランジスタ回
路が接続される。また、第1のトランジスタのゲートと
第2の相補形トランジスタ回路の共通ゲートとがスイッ
チングトランジスタのゲートに接続される。
ば、第1の相補形トランジスタ回路と第1の電源線との
間に第1のトランジスタが接続され、かつ、その出力部
と第1の電源線の間に第2のトランジスタが接続され、
該トランジスタを制御する第2の相補形トランジスタ回
路が接続される。また、第1のトランジスタのゲートと
第2の相補形トランジスタ回路の共通ゲートとがスイッ
チングトランジスタのゲートに接続される。
【0190】このため、当該第3の入力回路の3ステー
ト状態時において、第1,第2の入力回路と同様な貫通
電流遮断機能に加えて、第1のトランジスタがOFF動作
をすることで、相補形トランジスタ回路が第1の電源線
から切り離される。これにより、第1の入力回路と同様
に相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無く
すことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
ト状態時において、第1,第2の入力回路と同様な貫通
電流遮断機能に加えて、第1のトランジスタがOFF動作
をすることで、相補形トランジスタ回路が第1の電源線
から切り離される。これにより、第1の入力回路と同様
に相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無く
すことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
【0191】また、第2のトランジスタがON動作をす
ることで、第1,第2の入力回路と異なり相補形トラン
ジスタ回路の出力値を「H」(ハイ)レベルに固定する
ことが可能となる。
ることで、第1,第2の入力回路と異なり相補形トラン
ジスタ回路の出力値を「H」(ハイ)レベルに固定する
ことが可能となる。
【0192】また、本発明の第4の入力回路によれば、
相補形トランジスタ回路の入力部と第2の電源線との間
にn型の電界効果トランジスタが接続され、該トランジ
スタのゲートがスイッチングトランジスタのゲートに接
続される。
相補形トランジスタ回路の入力部と第2の電源線との間
にn型の電界効果トランジスタが接続され、該トランジ
スタのゲートがスイッチングトランジスタのゲートに接
続される。
【0193】このため、当該第4の入力回路の3ステー
ト状態時において、第1〜3の入力回路と同様な貫通電
流遮断機能に加えて、n型の電界効果トランジスタがO
N動作をすることで、相補形トランジスタ回路の入力部
を「L」レベルに固定することが可能となる。このこと
で、第1〜3の入力回路と同様に相補形トランジスタ回
路のフローティング状態を無くすことができ、相補形ト
ランジスタ回路の他の貫通電流経路を断つことが可能と
なる。
ト状態時において、第1〜3の入力回路と同様な貫通電
流遮断機能に加えて、n型の電界効果トランジスタがO
N動作をすることで、相補形トランジスタ回路の入力部
を「L」レベルに固定することが可能となる。このこと
で、第1〜3の入力回路と同様に相補形トランジスタ回
路のフローティング状態を無くすことができ、相補形ト
ランジスタ回路の他の貫通電流経路を断つことが可能と
なる。
【0194】さらに、本発明の第5の入力回路によれ
ば、相補形トランジスタ回路と第2の電源線との間に第
1のトランジスタが接続され、かつ、その出力部と第2
の電源線との間に第2のトランジスタが接続され、該ト
ランジスタのゲートがスイッチングトランジスタのゲー
トに接続される。また、第1のトランジスタにゲート制
御信号の反転信号が供給される。
ば、相補形トランジスタ回路と第2の電源線との間に第
1のトランジスタが接続され、かつ、その出力部と第2
の電源線との間に第2のトランジスタが接続され、該ト
ランジスタのゲートがスイッチングトランジスタのゲー
トに接続される。また、第1のトランジスタにゲート制
御信号の反転信号が供給される。
【0195】このため、当該第5の入力回路の3ステー
ト状態時において、第1〜4の入力回路と同様な貫通電
流遮断機能に加えて、第1のトランジスタがOFF動作を
することで、相補形トランジスタ回路が第2の電源線か
ら切り離される。
ト状態時において、第1〜4の入力回路と同様な貫通電
流遮断機能に加えて、第1のトランジスタがOFF動作を
することで、相補形トランジスタ回路が第2の電源線か
ら切り離される。
【0196】このことで、第1〜4の入力回路と同様に
相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無くす
ことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流経
路を断つことが可能となる。また、第2のトランジスタ
がON動作をすることで、第1の入力回路と同様に相補
形トランジスタ回路の出力値を「L」レベルに固定する
ことが可能となる。
相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無くす
ことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流経
路を断つことが可能となる。また、第2のトランジスタ
がON動作をすることで、第1の入力回路と同様に相補
形トランジスタ回路の出力値を「L」レベルに固定する
ことが可能となる。
【0197】さらに、本発明の第6の入力回路によれ
ば、相補形トランジスタ回路と第2の電源線との間に第
1のトランジスタが接続され、かつ、その出力部と第1
の電源線との間に第2のトランジスタが接続され、両ト
ランジスタにゲート制御信号の反転信号が供給される。
ば、相補形トランジスタ回路と第2の電源線との間に第
1のトランジスタが接続され、かつ、その出力部と第1
の電源線との間に第2のトランジスタが接続され、両ト
ランジスタにゲート制御信号の反転信号が供給される。
【0198】このため、当該第6の入力回路の3ステー
ト状態時において、第1〜5の入力回路と同様な貫通電
流遮断機能に加えて、第1のトランジスタがOFF動作を
することで、第5の入力回路と同様に相補形トランジス
タ回路が第2の電源線から切り離される。
ト状態時において、第1〜5の入力回路と同様な貫通電
流遮断機能に加えて、第1のトランジスタがOFF動作を
することで、第5の入力回路と同様に相補形トランジス
タ回路が第2の電源線から切り離される。
【0199】このことから第1〜5の入力回路と同様に
相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無くす
ことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流経
路を断つことが可能となる。また、第2のトランジスタ
がON動作をすることで、第3の入力回路と同様に相補
形トランジスタ回路の出力値を「H」レベルに固定する
ことが可能となる。
相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無くす
ことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流経
路を断つことが可能となる。また、第2のトランジスタ
がON動作をすることで、第3の入力回路と同様に相補
形トランジスタ回路の出力値を「H」レベルに固定する
ことが可能となる。
【0200】さらに、本発明の第7,8の入力回路によ
れば、第1の電源線と第2の電源線と間に接続された一
段以上の相補形トランジスタ回路の各段毎にスイッチン
グ素子が接続される。
れば、第1の電源線と第2の電源線と間に接続された一
段以上の相補形トランジスタ回路の各段毎にスイッチン
グ素子が接続される。
【0201】このため、当該第7,8の入力回路の3ス
テート状態時において、第1〜6の入力回路と同様な貫
通電流遮断機能に加えて、各段毎に接続されたスイッチ
ング素子がOFF動作をすることで、各相補形トランジス
タ回路が第1の電源線又は第2の電源線から切り離され
る。
テート状態時において、第1〜6の入力回路と同様な貫
通電流遮断機能に加えて、各段毎に接続されたスイッチ
ング素子がOFF動作をすることで、各相補形トランジス
タ回路が第1の電源線又は第2の電源線から切り離され
る。
【0202】このことから第1〜6の入力回路と同様に
各相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無く
すことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
各相補形トランジスタ回路のフローティング状態を無く
すことができ、相補形トランジスタ回路の他の貫通電流
経路を断つことが可能となる。
【0203】なお、本発明の第9の入力回路によれば、
本発明の第1〜第8の入力回路において、直列に接続さ
れた抵抗素子又はスイッチングトランジスタの一端が第
1の電源線又は相補形トランジスタ回路の入力部に接続
される。
本発明の第1〜第8の入力回路において、直列に接続さ
れた抵抗素子又はスイッチングトランジスタの一端が第
1の電源線又は相補形トランジスタ回路の入力部に接続
される。
【0204】このため、抵抗素子,スイッチングトラン
ジスタの直列回路の接続方法に限定されることなく、第
1〜8の入力回路と同様に入力部に接続された外部回路
に流出しようとする電流の貫通電流経路を断つことが可
能となる。
ジスタの直列回路の接続方法に限定されることなく、第
1〜8の入力回路と同様に入力部に接続された外部回路
に流出しようとする電流の貫通電流経路を断つことが可
能となる。
【0205】さらに、本発明の第10の入力回路によれ
ば、相補形トランジスタ回路の入力部と第2の電源線と
の間に抵抗素子とスイッチングトランジスタが直列に接
続され、その相補形トランジスタ回路の出力部と第2の
電源線との間にn型の電界効果トランジスタが接続され
る。また、スイッチングトランジスタのゲートとn型の
電界効果トランジスタのゲートとが接続される。
ば、相補形トランジスタ回路の入力部と第2の電源線と
の間に抵抗素子とスイッチングトランジスタが直列に接
続され、その相補形トランジスタ回路の出力部と第2の
電源線との間にn型の電界効果トランジスタが接続され
る。また、スイッチングトランジスタのゲートとn型の
電界効果トランジスタのゲートとが接続される。
【0206】このため、第1〜9の入力回路と同様に従
来例のようなフローティング状態を原因とする相補形ト
ランジスタ回路に流れる他の電流の貫通電流経路を断つ
ことが可能となる。
来例のようなフローティング状態を原因とする相補形ト
ランジスタ回路に流れる他の電流の貫通電流経路を断つ
ことが可能となる。
【0207】また、本発明の第11の入力回路によれば、
相補形トランジスタ回路の出力部と第1の電源線との間
にp型の電界効果トランジスタが接続され、かつ、その
ゲートにゲート制御信号の反転信号が供給される。
相補形トランジスタ回路の出力部と第1の電源線との間
にp型の電界効果トランジスタが接続され、かつ、その
ゲートにゲート制御信号の反転信号が供給される。
【0208】このため、第1〜10の入力回路と同様に従
来例のようなフローティング状態を原因とする相補形ト
ランジスタ回路に流れる他の電流の貫通電流経路を断つ
ことが可能となる。
来例のようなフローティング状態を原因とする相補形ト
ランジスタ回路に流れる他の電流の貫通電流経路を断つ
ことが可能となる。
【0209】これにより、本発明の第1〜11の入力回路
において、初段の相補形トランジスタ回路の出力値が安
定化することから、次段の相補形トランジスタ回路の貫
通電流経路を断つことが可能となる。このことから当該
入力回路の低消費電力化の向上に寄与するところが大き
い。
において、初段の相補形トランジスタ回路の出力値が安
定化することから、次段の相補形トランジスタ回路の貫
通電流経路を断つことが可能となる。このことから当該
入力回路の低消費電力化の向上に寄与するところが大き
い。
【図1】本発明に係る入力回路の原理図(その1)であ
る。
る。
【図2】本発明に係る入力回路の原理図(その2)であ
る。
る。
【図3】本発明に係る入力回路の原理図(その3)であ
る。
る。
【図4】本発明に係る入力回路の原理図(その4)であ
る。
る。
【図5】本発明の第1の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図6】本発明の第2の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図7】本発明の第3の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図8】本発明の第4の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図9】本発明の第5の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図10】本発明の第6の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図11】本発明の第7の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図12】本発明の第8の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図13】本発明の第9の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図14】本発明の第10の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図15】本発明の第11の実施例に係る入力回路の構成図
及びその動作説明図である。
及びその動作説明図である。
【図16】従来例に係る入力回路の説明図である。
【図17】従来例に係る問題点を説明する入力回路図であ
る。
る。
11,14,15,16,18,19…相補形トランジ
スタ回路、 12,13…第1,第2の相補形トランジスタ回路、 17…スイッチング素子、 TP0…スイッチングトランジスタ、 TP1,TN1…第1,第2のトランジスタ、 TN…n型の電界効果トランジスタ、 TP…p型の電界効果トランジスタ、 Q…バイポーラトランジスタ、 R…抵抗素子、 VCC…第1の電源線、 GND…第2の電源線、 SG…ゲート制御信号。
スタ回路、 12,13…第1,第2の相補形トランジスタ回路、 17…スイッチング素子、 TP0…スイッチングトランジスタ、 TP1,TN1…第1,第2のトランジスタ、 TN…n型の電界効果トランジスタ、 TP…p型の電界効果トランジスタ、 Q…バイポーラトランジスタ、 R…抵抗素子、 VCC…第1の電源線、 GND…第2の電源線、 SG…ゲート制御信号。
Claims (15)
- 【請求項1】 相補形トランジスタ回路(11)の入力
部(in)と第1の電源線(VCC)との間に抵抗素子
(R)とスイッチングトランジスタ(T0)が直列に接
続された入力回路において、前記相補形トランジスタ回
路(11)と第1の電源線(VCC)との間に第1のトラ
ンジスタ(T1)が接続され、かつ、前記相補形トラン
ジスタ回路(11)の出力部(out)と第2の電源線
(GND)の間に第2のトランジスタ(T2)が接続され
ることを特徴とする入力回路。 - 【請求項2】 請求項1記載の入力回路において、前記
第1のトランジスタ(T1)がp型の電界効果トランジ
スタから成り、前記第2のトランジスタ(T2)がn型
の電界効果トランジスタから成り、前記第1,第2のト
ランジスタ(T1,T2)の各ゲート(G)が共にスイ
ッチングトランジスタ(T0)のゲート(G)に接続さ
れることを特徴とする入力回路。 - 【請求項3】 請求項1記載の入力回路において、前記
相補形トランジスタ回路(11)の入力部(in)にバ
イポーラトランジスタ(Q)が接続されることを特徴と
する入力回路。 - 【請求項4】 第1の相補形トランジスタ回路(12)
の入力部(in)と第1の電源線(VCC)との間に抵抗
素子(R)とスイッチングトランジスタ(T0)が直列
に接続された入力回路において、前記第1の相補形トラ
ンジスタ回路(12)と第1の電源線(VCC)との間に
第1のトランジスタ(T1)が接続され、かつ、前記第
1の相補形トランジスタ回路(12)の出力部(out)
と第1の電源線(VCC)の間に第2のトランジスタ(T
2)が接続され、前記第2のトランジスタ(T2)のゲ
ート(G)を制御する第2の相補形トランジスタ回路
(13)が第1の電源線(VCC)と第2の電源線(GN
D)との間に接続されることを特徴とする入力回路。 - 【請求項5】 請求項4記載の入力回路において、前記
第1,第2のトランジスタ(T1,T2)がp型の電界
効果トランジスタから成り、前記第1のトランジスタ
(T1)のゲート(G)と第2の相補形トランジスタ回
路(13)の共通ゲート(G)とがスイッチングトラン
ジスタ(T0)のゲート(G)に接続されることを特徴
とする入力回路。 - 【請求項6】 相補形トランジスタ回路(14)の入力
部(in)と第1の電源線(VCC)との間に抵抗素子
(R)とスイッチングトランジスタ(T0)が直列に接
続された入力回路において、前記相補形トランジスタ回
路(14)の入力部(in)と第2の電源線(GND)と
の間にn型の電界効果トランジスタ(TN)が接続さ
れ、前記n型の電界効果トランジスタ(TN)のゲート
(G)がスイッチングトランジスタ(T0)のゲート
(G)に接続されることを特徴とする入力回路。 - 【請求項7】 相補形トランジスタ回路(15)の入力
部(in)と第1の電源線(VCC)との間に抵抗素子
(R)とスイッチングトランジスタ(T0)が直列に接
続された入力回路において、前記相補形トランジスタ回
路(15)と第2の電源線(GND)との間に第1のトラ
ンジスタ(T1)が接続され、かつ、前記相補形トラン
ジスタ回路(15)の出力部(out)と第2の電源線
(GND)との間に第2のトランジスタ(T2)が接続さ
れることを特徴とする入力回路。 - 【請求項8】 請求項7記載の入力回路において、前記
第1,第2のトランジスタ(T1,T2)がn型の電界
効果トランジスタから成り、前記第2のトランジスタ
(T2)のゲート(G)がスイッチングトランジスタ
(T0)のゲート(G)に接続され、前記第1のトラン
ジスタ(T1)のゲート(G)にスイッチングトランジ
スタ(T0)のゲート(G)に供給するゲート制御信号
(SG)の反転信号を供給することを特徴とする入力回
路。 - 【請求項9】 相補形トランジスタ回路(16)の入力
部(in)と第1の電源線(VCC)との間に抵抗素子
(R)とスイッチングトランジスタ(T0)が直列に接
続された入力回路において、前記相補形トランジスタ回
路(16)と第2の電源線(GND)との間に第1のトラ
ンジスタ(T1)が接続され、かつ、前記相補形トラン
ジスタ回路(16)の出力部(out)と第1の電源線
(VCC)との間に第2のトランジスタ(T2)が接続さ
れることを特徴とする入力回路。 - 【請求項10】 請求項9記載の入力回路において、前記
第1のトランジスタ(T1)がn型の電界効果トランジ
スタから成り、前記第2のトランジスタ(T2)がp型
の電界効果トランジスタから成り、前記第1,第2のト
ランジスタ(T1,T2)の各ゲート(G)にスイッチ
ングトランジスタ(T0)のゲート(G)に供給するゲ
ート制御信号(SG)の反転信号を供給することを特徴
とする入力回路。 - 【請求項11】 第1の電源線(VCC)と第2の電源線
(GND)と間に一段以上の相補形トランジスタ回路(C
MOS n〔n=1,2,3…〕)が具備され、前記相補形
トランジスタ回路(CMOS n)の入力部(in)と第1
の電源線(VCC)との間に抵抗素子(R)とスイッチン
グトランジスタ(T0)が直列に接続された入力回路に
おいて、前記相補形トランジスタ回路(CMOS n)と第
1の電源線(VCC)との間又は相補形トランジスタ回路
(CMOS n)と第2の電源線(GND)との間にスイッチ
ング素子(17)が接続され、前記スイッチング素子
(17)が相補形トランジスタ回路(CMOS n)の各段
毎に接続されることを特徴とする入力回路。 - 【請求項12】 請求項1〜11記載の入力回路において、
前記直列に接続された抵抗素子(R)又はスイッチング
トランジスタ(T0)の一端が第1の電源線(VCC)又
は前記相補形トランジスタ回路(11〜16,CMOS
n)の入力部(in)に接続されることを特徴とする入
力回路。 - 【請求項13】 相補形トランジスタ回路(18)の入力
部(in)と第2の電源線(GND)との間に抵抗素子
(R)とスイッチングトランジスタ(T0)が直列に接
続された入力回路において、前記相補形トランジスタ回
路(18)の出力部(out)と第2の電源線(GND)と
の間にn型の電界効果トランジスタ(TN)が接続さ
れ、前記スイッチングトランジスタ(T0)のゲート
(G)とn型の電界効果トランジスタ(TN)のゲート
(G)が接続されることを特徴とする入力回路。 - 【請求項14】 相補形トランジスタ回路(19)の入力
部(in)と第2の電源線(GND)との間に抵抗素子
(R)とスイッチングトランジスタ(T0)が直列に接
続された入力回路において、前記相補形トランジスタ回
路(19)の出力部(out)と第1の電源線(VCC)と
の間にp型の電界効果トランジスタ(TP)が接続さ
れ、かつ、該p型の電界効果トランジスタ(TP)のゲ
ート(G)に前記スイッチングトランジスタ(T0)の
ゲート(G)に供給するゲート制御信号(SG)の反転
信号を供給することを特徴とする入力回路。 - 【請求項15】 請求項1〜12記載の入力回路において、
前記スイッチングトランジスタ(T0)がp型の電界効
果トランジスタから成り、請求項13,14記載の入力回路
において、前記スイッチングトランジスタ(T0)がn
型の電界効果トランジスタから成ることを特徴とする入
力回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4141454A JPH05335930A (ja) | 1992-06-02 | 1992-06-02 | 入力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4141454A JPH05335930A (ja) | 1992-06-02 | 1992-06-02 | 入力回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05335930A true JPH05335930A (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=15292286
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4141454A Withdrawn JPH05335930A (ja) | 1992-06-02 | 1992-06-02 | 入力回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05335930A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0823785A3 (en) * | 1996-08-08 | 1999-07-21 | Nec Corporation | Input circuit |
-
1992
- 1992-06-02 JP JP4141454A patent/JPH05335930A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0823785A3 (en) * | 1996-08-08 | 1999-07-21 | Nec Corporation | Input circuit |
| US6043678A (en) * | 1996-08-08 | 2000-03-28 | Nec Corporation | Input circuit |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100216723B1 (ko) | 출력 회로 | |
| EP0099100B1 (en) | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors | |
| US6825692B1 (en) | Input buffer for multiple differential I/O standards | |
| US5574389A (en) | CMOS 3.3 volt output buffer with 5 volt protection | |
| KR100290725B1 (ko) | 에미터 결합 로직-바이폴라 상보형 금속 산화물 반도체/상보형 금속 산화물 반도체 트랜슬레이터 | |
| JP2003283327A (ja) | レベルシフタ回路及び該レベルシフタ回路を備えた半導体装置 | |
| JPH1188143A (ja) | 半導体回路 | |
| US5880617A (en) | Level conversion circuit and semiconductor integrated circuit | |
| JPH056373B2 (ja) | ||
| JP3436400B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP3340906B2 (ja) | 出力回路 | |
| JP2004015395A (ja) | 電流切替回路 | |
| JP2689871B2 (ja) | 3値入力バッファ回路 | |
| KR100300687B1 (ko) | 반도체집적회로 | |
| JP3497000B2 (ja) | 半導体回路 | |
| JP2003229748A (ja) | アナログスイッチ回路 | |
| JPH05335930A (ja) | 入力回路 | |
| JP2001144558A (ja) | 差動増幅器 | |
| US5661431A (en) | Output circuit in Darlington configuration | |
| JPS6041325A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH05327469A (ja) | Cmosデータ経路とバイポーラ電流増幅を有するbicmos出力バッファ回路 | |
| JP3547852B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JP2002026715A (ja) | レベルシフト回路 | |
| JPH05326863A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS6382019A (ja) | 相補形mos高インピ−ダンス回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990803 |