JPH05341245A - ディスプレイ装置用検査装置 - Google Patents
ディスプレイ装置用検査装置Info
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- JPH05341245A JPH05341245A JP4150785A JP15078592A JPH05341245A JP H05341245 A JPH05341245 A JP H05341245A JP 4150785 A JP4150785 A JP 4150785A JP 15078592 A JP15078592 A JP 15078592A JP H05341245 A JPH05341245 A JP H05341245A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ディスプレイ装置の視角依存性の測定の自動
化を行い、光検出器の移動時間および測定時間の無駄を
なくし、検査の効率化を図る。 【構成】 半球面状の取付部材１０に、光検出器１３を
配置する。被検査物であるＬＣＤ１４の測定点１６に向
け、光源１５から光を照射する。ＬＣＤ１４を透過した
光は、光検出器１３に入射される。その入射された光
は、自動的に処理され、光の強さが算出される。他の光
検出器１３も、順次同様な測定が行われ、処理される。
このようにして、測定点１６を中心とした半球面上での
視角依存性を自動測定することができる。
化を行い、光検出器の移動時間および測定時間の無駄を
なくし、検査の効率化を図る。 【構成】 半球面状の取付部材１０に、光検出器１３を
配置する。被検査物であるＬＣＤ１４の測定点１６に向
け、光源１５から光を照射する。ＬＣＤ１４を透過した
光は、光検出器１３に入射される。その入射された光
は、自動的に処理され、光の強さが算出される。他の光
検出器１３も、順次同様な測定が行われ、処理される。
このようにして、測定点１６を中心とした半球面上での
視角依存性を自動測定することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置などのデ
ィスプレイの検査、特に表示特性の視角依存性を検査す
るためのディスプレイ用検査装置に関する。
ィスプレイの検査、特に表示特性の視角依存性を検査す
るためのディスプレイ用検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図９は、従来の液晶表示装置（以下「Ｌ
ＣＤ」と略称する。）の表示特性の視角依存性を検査す
る検査装置の概略的な断面図である。被検査物であるＬ
ＣＤ１は発光素子ではないため、光源２から光を照射
し、ＬＣＤ１を透過した光をホトマルチプライヤなどの
光検出器３によって検出する。
ＣＤ」と略称する。）の表示特性の視角依存性を検査す
る検査装置の概略的な断面図である。被検査物であるＬ
ＣＤ１は発光素子ではないため、光源２から光を照射
し、ＬＣＤ１を透過した光をホトマルチプライヤなどの
光検出器３によって検出する。
【０００３】図１０は、図９図示の検査装置で、視角依
存性の測定方法を示す概念図である。光検出器３と測定
点４を結ぶ線とＬＣＤ１の交差する角度θを、光検出器
３を三次元的に移動させることによって順次変化させ、
コントラスト比の測定を行う。コントラスト比とは、Ｌ
ＣＤのオン状態の輝度とオフ状態の輝度の比で表され
る。コントラスト比の測定が完了すると、角度θの変化
に伴うコントラスト比の分布によって、視角依存性の良
否を判定する。
存性の測定方法を示す概念図である。光検出器３と測定
点４を結ぶ線とＬＣＤ１の交差する角度θを、光検出器
３を三次元的に移動させることによって順次変化させ、
コントラスト比の測定を行う。コントラスト比とは、Ｌ
ＣＤのオン状態の輝度とオフ状態の輝度の比で表され
る。コントラスト比の測定が完了すると、角度θの変化
に伴うコントラスト比の分布によって、視角依存性の良
否を判定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のディスプレイ装
置用検査装置では、ディスプレイの視角依存性を測定す
る場合、図１０に示すように、光検出器３を三次元的に
順次移動する必要がある。光検出器３の測定点への移動
および位置合わせに多大の時間を要し、問題がある。た
とえば、ディスプレイのコントラスト比を上下左右方向
にそれぞれ±７５度の範囲内で各５度ずつ測定するに
は、合計６２点測定する必要がある。このときの光検出
器３の移動時間に約２分間を要し、全検査時間の約１／
３を占めている。
置用検査装置では、ディスプレイの視角依存性を測定す
る場合、図１０に示すように、光検出器３を三次元的に
順次移動する必要がある。光検出器３の測定点への移動
および位置合わせに多大の時間を要し、問題がある。た
とえば、ディスプレイのコントラスト比を上下左右方向
にそれぞれ±７５度の範囲内で各５度ずつ測定するに
は、合計６２点測定する必要がある。このときの光検出
器３の移動時間に約２分間を要し、全検査時間の約１／
３を占めている。
【０００５】本発明の目的は、被検査物であるディスプ
レイ装置の視角依存性の測定の自動化を行い、光検出器
の移動時間および測定時間の無駄をなくし、検査の効率
化を図ることができるディスプレイ装置用検査装置を提
供することである。
レイ装置の視角依存性の測定の自動化を行い、光検出器
の移動時間および測定時間の無駄をなくし、検査の効率
化を図ることができるディスプレイ装置用検査装置を提
供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、ディスプレイ
装置の表示特性の視角依存性を検査するディスプレイ装
置用検査装置において、被検査物であるディスプレイ装
置を中心とする半球面状に形成される取付部材と、取付
部材の内側に配置される複数の光検出素子と、各検出素
子からの出力を予め定めるプログラムに従って処理し、
ディスプレイ装置の視角依存性を検査する処理回路とを
含むことを特徴とするディスプレイ装置用検査装置であ
る。
装置の表示特性の視角依存性を検査するディスプレイ装
置用検査装置において、被検査物であるディスプレイ装
置を中心とする半球面状に形成される取付部材と、取付
部材の内側に配置される複数の光検出素子と、各検出素
子からの出力を予め定めるプログラムに従って処理し、
ディスプレイ装置の視角依存性を検査する処理回路とを
含むことを特徴とするディスプレイ装置用検査装置であ
る。
【０００７】さらに本発明は、ディスプレイ装置用の表
示特性の視角依存性を検査するディスプレイ装置用検査
装置において、被検査物であるディスプレイ装置を中心
とする半円弧状に形成される取付部材と、取付部材の一
つの直径を軸として取付部材を角変位させる回転手段
と、取付部材の内側に配置される複数の光検出素子と、
回転手段の角変位を制御しながら各検出素子からの出力
を予め定めるプログラムに従って処理し、ディスプレイ
装置の視角依存性を検査する処理回路とを含むことを特
徴とするディスプレイ装置用検査装置である。
示特性の視角依存性を検査するディスプレイ装置用検査
装置において、被検査物であるディスプレイ装置を中心
とする半円弧状に形成される取付部材と、取付部材の一
つの直径を軸として取付部材を角変位させる回転手段
と、取付部材の内側に配置される複数の光検出素子と、
回転手段の角変位を制御しながら各検出素子からの出力
を予め定めるプログラムに従って処理し、ディスプレイ
装置の視角依存性を検査する処理回路とを含むことを特
徴とするディスプレイ装置用検査装置である。
【０００８】
【作用】本発明に従えば、ディスプレイ装置の表示特性
の視角依存性を検査するために、被検査物であるディス
プレイ装置を中心とする半球面状に形成される取付部材
と、取付部材の内側に配置される複数の光検出素子と、
処理回路とを含むディスプレイ装置用検査装置が用いら
れる。処理回路は、各光検出素子からの出力を予め定め
るプログラムに従って処理し、ディスプレイの視角依存
性を検査する。
の視角依存性を検査するために、被検査物であるディス
プレイ装置を中心とする半球面状に形成される取付部材
と、取付部材の内側に配置される複数の光検出素子と、
処理回路とを含むディスプレイ装置用検査装置が用いら
れる。処理回路は、各光検出素子からの出力を予め定め
るプログラムに従って処理し、ディスプレイの視角依存
性を検査する。
【０００９】さらに本発明に従えば、ディスプレイ装置
の表示特性の視角依存性を検査するために、被検査物で
あるディスプレイ装置を中心とする半円弧状に形成され
る取付部材と、回転手段と、取付部材の内側に配置され
る複数の光検出素子と、処理回路とを含むことを特徴と
するディスプレイ装置用検査装置が用いられる。回転手
段は、取付部材の一つの直径を軸として取付部材を角変
位させる。処理回路は、回転手段による取付部材の角変
位を制御しながら、各検出素子からの出力を予め定める
プログラムに従って処理し、ディスプレイ装置の視角依
存性を検査する。
の表示特性の視角依存性を検査するために、被検査物で
あるディスプレイ装置を中心とする半円弧状に形成され
る取付部材と、回転手段と、取付部材の内側に配置され
る複数の光検出素子と、処理回路とを含むことを特徴と
するディスプレイ装置用検査装置が用いられる。回転手
段は、取付部材の一つの直径を軸として取付部材を角変
位させる。処理回路は、回転手段による取付部材の角変
位を制御しながら、各検出素子からの出力を予め定める
プログラムに従って処理し、ディスプレイ装置の視角依
存性を検査する。
【００１０】したがって、作業者が光検出器を三次元的
に移動させて、位置決めする必要はなく、自動的にディ
スプレイ装置の視角依存性を測定することができる。こ
れによって、検査に要する時間を大幅に短縮することが
できる。
に移動させて、位置決めする必要はなく、自動的にディ
スプレイ装置の視角依存性を測定することができる。こ
れによって、検査に要する時間を大幅に短縮することが
できる。
【００１１】
【実施例】図１は、本発明の一実施例によるディスプレ
イ装置用検査装置の概略的な断面図を示す。半球面状の
取付部材１０に、シリコンホトダイオード１１および光
ガイド１２から構成される複数の光検出器１３を配置す
る。光検出器１３は中心角５度毎に配置されているが、
図では省略されている。光検出器１３は、小型であれば
他の素子でも良く、例えばシリコンホトトランジスタで
も良い。被検査物であるＬＣＤ１４は、非発光素子なの
で、裏面側の光源１５から測定点１６に向けて光を照射
する。光源１５からの出射光１７はＬＣＤ１４を透過
し、その透過光１８は、光検出器１３に入射される。取
付部材１０の内面は、透過光１８以外の反射光によるノ
イズを低減するため黒く着色する。測定点１６以外に入
射される妨害光が、検出器１３に入射するのを防ぐため
に、遮蔽板１９をＬＣＤ１４上に配置する。
イ装置用検査装置の概略的な断面図を示す。半球面状の
取付部材１０に、シリコンホトダイオード１１および光
ガイド１２から構成される複数の光検出器１３を配置す
る。光検出器１３は中心角５度毎に配置されているが、
図では省略されている。光検出器１３は、小型であれば
他の素子でも良く、例えばシリコンホトトランジスタで
も良い。被検査物であるＬＣＤ１４は、非発光素子なの
で、裏面側の光源１５から測定点１６に向けて光を照射
する。光源１５からの出射光１７はＬＣＤ１４を透過
し、その透過光１８は、光検出器１３に入射される。取
付部材１０の内面は、透過光１８以外の反射光によるノ
イズを低減するため黒く着色する。測定点１６以外に入
射される妨害光が、検出器１３に入射するのを防ぐため
に、遮蔽板１９をＬＣＤ１４上に配置する。
【００１２】図２は、取付部材１０の光検出器１３の配
置例を示した正面図で、円周方向に４５度毎に、直線状
に配置されている。図３は、図２図示の切断面線ＩＩＩ
−ＩＩＩから見た取付部材１０の断面図である。図４
は、光検出器１３の斜視図である。光ガイド１２は円筒
型のアルミニウム製で、その内径は３ｍｍとする。この
光ガイド１３は、周辺からの反射光によるノイズを除去
するために設け、内径は５ｍｍ以内が望ましい。図５
は、遮蔽板１９の平面図である。ＬＣＤの測定点となる
領域に、開口部２０を設けている。
置例を示した正面図で、円周方向に４５度毎に、直線状
に配置されている。図３は、図２図示の切断面線ＩＩＩ
−ＩＩＩから見た取付部材１０の断面図である。図４
は、光検出器１３の斜視図である。光ガイド１２は円筒
型のアルミニウム製で、その内径は３ｍｍとする。この
光ガイド１３は、周辺からの反射光によるノイズを除去
するために設け、内径は５ｍｍ以内が望ましい。図５
は、遮蔽板１９の平面図である。ＬＣＤの測定点となる
領域に、開口部２０を設けている。
【００１３】図６は、図１図示の検査装置の概略的な電
気的構成を示すブロック図である。光検出器のシリコン
ホトダイオード１１は、ＰＨ１〜ＰＨｎのｎ個配置さ
れ、図１図示の透過光１８を検出する。シリコンホトダ
イオード１１には、透過光１８の強さに応じた電圧値の
起電力が発生する。その出力電圧は、スイッチボックス
であるスキャナ３０に入力される。スキャナ３０は、コ
ンピュータ３１によって制御される。コンピュータ３１
はスキャナ３０へ同期信号を出力し、１つのシリコンホ
トダイオード１１を選択して、その出力を取り込む。選
択されたシリコンホトダイオード１１の出力電圧は、ア
ナログ／デジタル変換回路（以下「Ａ／Ｄコンバータ」
と略称する。）３２へ出力される。Ａ／Ｄコンバータ３
２において、アナログ電圧はデジタル信号に変換され、
コンピュータ３１へ出力される。コンピュータ３１は、
Ａ／Ｄコンバータ３２からのデジタル信号を入力してデ
ータ処理を行い、シリコンホトダイオード１１の検出し
た光の強さを算出する。
気的構成を示すブロック図である。光検出器のシリコン
ホトダイオード１１は、ＰＨ１〜ＰＨｎのｎ個配置さ
れ、図１図示の透過光１８を検出する。シリコンホトダ
イオード１１には、透過光１８の強さに応じた電圧値の
起電力が発生する。その出力電圧は、スイッチボックス
であるスキャナ３０に入力される。スキャナ３０は、コ
ンピュータ３１によって制御される。コンピュータ３１
はスキャナ３０へ同期信号を出力し、１つのシリコンホ
トダイオード１１を選択して、その出力を取り込む。選
択されたシリコンホトダイオード１１の出力電圧は、ア
ナログ／デジタル変換回路（以下「Ａ／Ｄコンバータ」
と略称する。）３２へ出力される。Ａ／Ｄコンバータ３
２において、アナログ電圧はデジタル信号に変換され、
コンピュータ３１へ出力される。コンピュータ３１は、
Ａ／Ｄコンバータ３２からのデジタル信号を入力してデ
ータ処理を行い、シリコンホトダイオード１１の検出し
た光の強さを算出する。
【００１４】以上の処理が終了すると、コンピュータ３
１は、同期信号を出して、次のシリコンホトダイオード
１１を選択し、シリコンホトダイオード１１の検出した
光の強さを順次算出していく。このようにして、図１図
示のすべての検出器１３の測定を行うことができる。さ
らに、測定データに基づいて、測定点１６を中心とした
半球面状でのコントラスト比の分布図を作成し、視角依
存性の良否を判断する。
１は、同期信号を出して、次のシリコンホトダイオード
１１を選択し、シリコンホトダイオード１１の検出した
光の強さを順次算出していく。このようにして、図１図
示のすべての検出器１３の測定を行うことができる。さ
らに、測定データに基づいて、測定点１６を中心とした
半球面状でのコントラスト比の分布図を作成し、視角依
存性の良否を判断する。
【００１５】図７は、本発明の他の実施例の概略的な斜
視図である。本実施例は図１図示の実施例に類似し、対
応する部分には同一の参照符を付す。注目すべきは半円
弧状の取付部材４０を支持台４１に取付け、取付部材４
０をその円弧の直径を回転軸として矢印の方向に回転さ
せるようにしたことである。取付部材４０には、図４図
示のシリコンホトダイオード１１および光ガイド１２で
構成される光検出器１３を、中心角５度毎に３７個直列
に配置する。この検査装置の測定方法は、図１図示の実
施例と同様である。また、測定データの処理方法も、図
６で示された図１図示の実施例と同様である。取付部材
４０上のすべての光検出器１３の測定が完了すると、取
付部材４０の円弧の直径を回転軸として順次自動的に回
転させ、次の角度での測定を行う。これによって、被検
査物であるＬＣＤ１４上の測定点１６を中心とする半球
面状の予め定められた測定位置で、ＬＣＤ１４の透過光
の光の強さを測定できる。
視図である。本実施例は図１図示の実施例に類似し、対
応する部分には同一の参照符を付す。注目すべきは半円
弧状の取付部材４０を支持台４１に取付け、取付部材４
０をその円弧の直径を回転軸として矢印の方向に回転さ
せるようにしたことである。取付部材４０には、図４図
示のシリコンホトダイオード１１および光ガイド１２で
構成される光検出器１３を、中心角５度毎に３７個直列
に配置する。この検査装置の測定方法は、図１図示の実
施例と同様である。また、測定データの処理方法も、図
６で示された図１図示の実施例と同様である。取付部材
４０上のすべての光検出器１３の測定が完了すると、取
付部材４０の円弧の直径を回転軸として順次自動的に回
転させ、次の角度での測定を行う。これによって、被検
査物であるＬＣＤ１４上の測定点１６を中心とする半球
面状の予め定められた測定位置で、ＬＣＤ１４の透過光
の光の強さを測定できる。
【００１６】また、取付部材４０をＬＣＤ１４の測定点
１６の鉛直線を回転軸としての回転運動も可能な構造に
して、取付部材４０の円弧の直径を回転軸とする回転運
動と併用して、測定地点を任意に変更するようにするこ
ともできる。
１６の鉛直線を回転軸としての回転運動も可能な構造に
して、取付部材４０の円弧の直径を回転軸とする回転運
動と併用して、測定地点を任意に変更するようにするこ
ともできる。
【００１７】図１および図７図示の実施例においては、
被測定物に液晶表示装置を用いているけれども、陰極線
管（略称「ＣＲＴ」）や、プラズマディスプレイなどを
ディスプレイ装置を用いてもよいのは勿論である。
被測定物に液晶表示装置を用いているけれども、陰極線
管（略称「ＣＲＴ」）や、プラズマディスプレイなどを
ディスプレイ装置を用いてもよいのは勿論である。
【００１８】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、被検査物
であるディスプレイ装置の表示特性の視角依存性を、自
動的に極めて短時間で測定できる。したがって、検査を
効率よく行うことができ、生産性の向上を図ることがで
きる。
であるディスプレイ装置の表示特性の視角依存性を、自
動的に極めて短時間で測定できる。したがって、検査を
効率よく行うことができ、生産性の向上を図ることがで
きる。
【図１】本発明の一実施例の概略的な断面図である。
【図２】図１図示の取付部材１０の正面図である。
【図３】図１図示の取付部材１０の断面図である。
【図４】図１図示の光検出器１３の斜視図である。
【図５】図１図示の遮蔽板１９の平面図である。
【図６】図１図示の検査装置の概略的な電気的構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図７】本発明の他の実施例の斜視図である。
【図８】図７図示の取付部材４０の断面図である。
【図９】従来の検査装置の概略的な断面図である。
【図１０】図９図示の検査装置の測定方法を示す概念図
である。
である。
１０，４０ 取付部材 １１ シリコンホトダイオード １２ 光ガイド １３ 光検出器 １４ ＬＣＤ １５ 光源 １６ 測定点 １７ 出射光 １８ 透過光 １９ 遮蔽板 ２０ 開口部 ３０ スキャナ ３１ コンピュータ ３２ Ａ／Ｄコンバータ ４１ 支持台
Claims (2)
- 【請求項１】 ディスプレイ装置の表示特性の視角依存
性を検査するディスプレイ装置用検査装置において、 被検査物であるディスプレイ装置を中心とする半球面状
に形成される取付部材と、 取付部材の内側に配置される複数の光検出素子と、 各検出素子からの出力を予め定めるプログラムに従って
処理し、ディスプレイ装置の視角依存性を検査する処理
回路とを含むことを特徴とするディスプレイ装置用検査
装置。 - 【請求項２】 ディスプレイ装置用の表示特性の視角依
存性を検査するディスプレイ装置用検査装置において、 被検査物であるディスプレイ装置を中心とする半円弧状
に形成される取付部材と、 取付部材の一つの直径を軸として取付部材を角変位させ
る回転手段と、 取付部材の内側に配置される複数の光検出素子と、 回転手段の角変位を制御しながら各検出素子からの出力
を予め定めるプログラムに従って処理し、ディスプレイ
装置の視角依存性を検査する処理回路とを含むことを特
徴とするディスプレイ装置用検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4150785A JP2771390B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | ディスプレイ装置用検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4150785A JP2771390B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | ディスプレイ装置用検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05341245A true JPH05341245A (ja) | 1993-12-24 |
| JP2771390B2 JP2771390B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=15504384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4150785A Expired - Fee Related JP2771390B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | ディスプレイ装置用検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2771390B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112689863A (zh) * | 2018-10-22 | 2021-04-20 | 深圳市柔宇科技股份有限公司 | 显示装置和显示控制方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61269036A (ja) * | 1985-05-23 | 1986-11-28 | Sharp Corp | 液晶表示素子評価装置 |
-
1992
- 1992-06-10 JP JP4150785A patent/JP2771390B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61269036A (ja) * | 1985-05-23 | 1986-11-28 | Sharp Corp | 液晶表示素子評価装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112689863A (zh) * | 2018-10-22 | 2021-04-20 | 深圳市柔宇科技股份有限公司 | 显示装置和显示控制方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2771390B2 (ja) | 1998-07-02 |
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