JPH0537330A - Multistage logic circuit - Google Patents
Multistage logic circuitInfo
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- JPH0537330A JPH0537330A JP3193310A JP19331091A JPH0537330A JP H0537330 A JPH0537330 A JP H0537330A JP 3193310 A JP3193310 A JP 3193310A JP 19331091 A JP19331091 A JP 19331091A JP H0537330 A JPH0537330 A JP H0537330A
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- reference voltage
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、温度および電源電圧の変動の影響
を受けにくい多段論理回路を提供することを目的とす
る。
【構成】 各段の論理回路(10、20、30)の差動
出力の中間電圧が平均値検出部(14、24、34)で
検出され、この値が次の段の論理回路(20、30)の
入力バッファ部(21、31)への基準電圧として与え
られる。このため、精度の高い基準電圧発生装置をそれ
ぞれの論理回路に持たせることなく、電圧レベルのバラ
ツキの少ない基準電圧を各論理回路(20、30)に与
えることができる。このため、温度電源電圧の変動に関
わらず、常にノイズマージンが最大になるような論理回
路間のインタフェースを実現することができる。
(57) [Summary] [Object] An object of the present invention is to provide a multi-stage logic circuit which is hardly affected by variations in temperature and power supply voltage. An intermediate voltage of differential outputs of the logic circuits (10, 20, 30) of each stage is detected by an average value detection unit (14, 24, 34), and this value is detected by the logic circuit (20, 30) is applied as a reference voltage to the input buffer section (21, 31). For this reason, it is possible to apply a reference voltage with less variation in voltage level to each logic circuit (20, 30) without providing each logic circuit with a highly accurate reference voltage generator. Therefore, it is possible to realize the interface between the logic circuits that always maximizes the noise margin regardless of the fluctuation of the temperature power supply voltage.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、単相入力・差動出力型
の多段論理回路の入出力インタフェース技術に関するも
のである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an input / output interface technology for a single-phase input / differential output type multi-stage logic circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の単相入力・差動出力型の論理回路
を複数個接続した多段論理回路を、図4に示す。同図よ
り、従来の多段論理回路は、第1論理回路110、第2
論理回路120、および第n論理回路130を接続した
n段の論理回路である。各論理回路には、それぞれ入力
リファレンス電圧発生部111、121、131および
出力レベル調整電圧発生部112、122、132が備
えられている。そして、入力リファレンス電圧発生部1
11、121、131から与えられる基準電圧をしきい
値として、各論理回路で論理判定を行っている。2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a conventional multi-stage logic circuit in which a plurality of single-phase input / differential output type logic circuits are connected. From the figure, the conventional multi-stage logic circuit includes a first logic circuit 110, a second logic circuit
It is an n-stage logic circuit in which a logic circuit 120 and an nth logic circuit 130 are connected. Each logic circuit is provided with an input reference voltage generator 111, 121, 131 and an output level adjustment voltage generator 112, 122, 132, respectively. Then, the input reference voltage generator 1
The logic determination is performed in each logic circuit using the reference voltage given from 11, 121, 131 as a threshold value.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の多段論理回路には、各段の論理回路ごとに入力リ
ファレンス電圧発生部を備えており、それぞれの入力リ
ファレンス電圧発生部の発生電圧がばらつくことがあっ
た。また、それぞれの入力リファレンス電圧発生部で温
度特性および電源電圧変動特性が異なるため論理判定レ
ベルがばらつくことがあった。そして、これらのばらつ
きのために、論理回路間で良好なインタフェースが得ら
れず、ノイズマージンが減少するといった問題があっ
た。By the way, such a conventional multi-stage logic circuit is provided with an input reference voltage generator for each logic circuit of each stage, and the generated voltage of each input reference voltage generator is There were variations. Further, since the temperature characteristics and the power supply voltage fluctuation characteristics are different in each input reference voltage generating section, the logic decision level may vary. Then, due to these variations, there is a problem that a good interface cannot be obtained between the logic circuits and the noise margin is reduced.
【0004】本発明は、このような問題を解決すること
を目的とする。The present invention aims to solve such problems.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の多段論理回路は、各段の論理回路の差動出
力の中間電圧をその次段の論理回路の入力バッファ部に
与える基準電圧とする。In order to solve the above-mentioned problems, the multi-stage logic circuit of the present invention applies the intermediate voltage of the differential output of each stage logic circuit to the input buffer section of the next stage logic circuit. Use as reference voltage.
【0006】[0006]
【作用】本発明の多段論理回路によれば、各段の論理回
路の差動出力の中間電圧がその次段の論理回路の入力バ
ッファ部に基準電圧として与えられる。このため、次段
の入力信号として与えられる差動出力が、温度や電源電
圧の変動などにより変動しても、基準電圧も同様に変動
するために、入力信号の電圧値と基準電圧の電圧値の相
対値は一定となる。According to the multi-stage logic circuit of the present invention, the intermediate voltage of the differential output of each stage logic circuit is applied to the input buffer section of the next stage logic circuit as a reference voltage. Therefore, even if the differential output given as the input signal of the next stage fluctuates due to fluctuations in temperature and power supply voltage, the reference voltage also fluctuates, so the voltage value of the input signal and the voltage value of the reference voltage The relative value of is constant.
【0007】[0007]
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図1を用
いて説明する。図1は、本実施例の多段論理回路の構成
を示す回路図である。同図より、本実施例の多段論理回
路には、単相入力・差動出力型の論理回路である第1論
理回路10、第2論理回路20、および第n論理回路3
0が備えられている。第1論理回路10には、入力信号
を入力リファレンス電圧発生部5で生成された基準電圧
を用いて比較する入力バッファ部11と、論理演算を行
う論理部12と、論理部12からの出力信号を差動出力
信号として出力する出力バッファ部13と、出力バッフ
ァ部13からの差動出力信号の平均値を検出する平均値
検出部14と、出力バッファ部13に与えるレベル調整
用の電圧を発生させる出力レベル調整電圧発生部15と
が備えられている。そして、平均値検出部14で平均化
された差動出力の中間電圧信号が、次段である第2論理
回路20に与えられるのである。次に、第2論理回路2
0には、入力信号を平均値検出部14からの中間電圧信
号と比較する入力バッファ部21と、論理演算を行う論
理部22と、論理部22からの出力信号を差動出力信号
として出力する出力バッファ部23と、出力バッファ部
23からの差動出力信号の平均値を検出する平均値検出
部24と、出力バッファ部23に与えるレベル調整用の
電圧を発生させる出力レベル調整電圧発生部25とが備
えられている。第3論理回路から第n論理回路30につ
いても、同様の回路構成である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of the multi-stage logic circuit of this embodiment. From the figure, in the multi-stage logic circuit of the present embodiment, a first logic circuit 10, a second logic circuit 20, and an nth logic circuit 3 which are single-phase input / differential output type logic circuits.
0 is provided. The first logic circuit 10 includes an input buffer unit 11 that compares an input signal using the reference voltage generated by the input reference voltage generation unit 5, a logic unit 12 that performs a logical operation, and an output signal from the logic unit 12. Output as a differential output signal, an average value detection unit 14 for detecting an average value of the differential output signals from the output buffer unit 13, and a voltage for level adjustment given to the output buffer unit 13. And an output level adjusting voltage generator 15 for controlling the output level. Then, the intermediate voltage signal of the differential output averaged by the average value detector 14 is given to the second logic circuit 20 in the next stage. Next, the second logic circuit 2
At 0, an input buffer unit 21 that compares the input signal with the intermediate voltage signal from the average value detection unit 14, a logic unit 22 that performs a logical operation, and an output signal from the logic unit 22 is output as a differential output signal. The output buffer unit 23, an average value detection unit 24 that detects the average value of the differential output signals from the output buffer unit 23, and an output level adjustment voltage generation unit 25 that generates a voltage for level adjustment given to the output buffer unit 23. And are provided. The third to nth logic circuits 30 have the same circuit configuration.
【0008】次に本実施例の動作について述べる。本実
施例では、第1論理回路10の差動出力の非反転出力が
第2論理回路20の入力バッファ21に入力信号として
与えられている。また、第1論理回路10の差動出力で
ある反転出力および非反転出力の平均値が平均値検出部
14で検出され、この平均電圧が第2論理回路20の入
力バッファ部21に基準電圧として与えられる。ここ
で、第1論理回路10の差動出力が温度や電源電圧の変
動などにより変動すると、第2論理回路20の入力バッ
ファ部21に与えられる入力信号の電圧値と基準電圧信
号の電圧値が共に変動する。これは、入力信号と基準電
圧信号のどちらも、第1論理回路10の差動出力を基に
して作られたものだからである。そのため、これらの電
圧値の相対値は一定となり、論理判定レベルも一定とな
る。したがって、各段の論理回路に精度の高い入力リフ
ァレンス電圧発生部を備える必要がなく、ノイズマージ
ンを大きく取ることが可能となる。Next, the operation of this embodiment will be described. In this embodiment, the non-inverted output of the differential output of the first logic circuit 10 is given to the input buffer 21 of the second logic circuit 20 as an input signal. Further, the average value of the inverted output and the non-inverted output which are the differential output of the first logic circuit 10 is detected by the average value detection unit 14, and this average voltage is used as the reference voltage in the input buffer unit 21 of the second logic circuit 20. Given. Here, when the differential output of the first logic circuit 10 fluctuates due to fluctuations in temperature or power supply voltage, the voltage value of the input signal given to the input buffer unit 21 of the second logic circuit 20 and the voltage value of the reference voltage signal are Both fluctuate. This is because both the input signal and the reference voltage signal are created based on the differential output of the first logic circuit 10. Therefore, the relative values of these voltage values are constant, and the logic judgment level is also constant. Therefore, it is not necessary to provide a highly accurate input reference voltage generator in each stage logic circuit, and a large noise margin can be secured.
【0009】次に、第1論理回路10に備えられた平均
値検出部14の回路構成例について、図2の回路図を用
いて説明する。平均値検出部14には、直列に接続され
た抵抗14aおよび抵抗14bと、一端が接地されたコ
ンデンサ14cとが備えられている。この平均値検出部
14には、出力バッファ部13からの反転出力信号と非
反転出力信号が与えられ、抵抗14a、抵抗14bによ
る抵抗分割でこれらの信号電圧の中間値を取り、コンデ
ンサ14cで安定させた上で出力する。この回路構成例
は平均値検出部24、34にも適用できる。そして、図
1の実施例の平均値検出部14、24、34を、この回
路に置き換えると、図3の回路図になる。Next, a circuit configuration example of the average value detecting section 14 provided in the first logic circuit 10 will be described with reference to the circuit diagram of FIG. The average value detection unit 14 includes a resistor 14a and a resistor 14b connected in series, and a capacitor 14c whose one end is grounded. An inverted output signal and a non-inverted output signal from the output buffer unit 13 are given to the average value detection unit 14, and an intermediate value of these signal voltages is taken by resistance division by the resistors 14a and 14b and stabilized by the capacitor 14c. And then output. This circuit configuration example can also be applied to the average value detection units 24 and 34. Then, when the average value detection units 14, 24, 34 of the embodiment of FIG. 1 are replaced with this circuit, the circuit diagram of FIG. 3 is obtained.
【0010】なお、本実施例は、ECL(Emitter Coup
led Logic )と互換性を有するGaAs ICなどに用
いると効果的である。In this embodiment, the ECL (Emitter Coup
It is effective when used for a GaAs IC that is compatible with led logic).
【0011】[0011]
【発明の効果】本発明の多段論理回路であれば、各段の
論理回路の差動出力の中間電圧がその次段の論理回路の
入力バッファ部への基準電圧として与えられる。このた
め、精度の高い基準電圧発生装置をそれぞれの論理回路
に持たせることなく、電圧レベルのバラツキの少ない基
準電圧を各論理回路に与えることができる。According to the multi-stage logic circuit of the present invention, the intermediate voltage of the differential output of each stage logic circuit is applied as the reference voltage to the input buffer section of the next stage logic circuit. Therefore, it is possible to provide each logic circuit with a reference voltage with less variation in voltage level without providing each logic circuit with a highly accurate reference voltage generator.
【0012】したがって、温度電源電圧の変動に関わら
ず、常にノイズマージンが最大になるような論理回路間
のインタフェースを実現することができる。Therefore, it is possible to realize the interface between the logic circuits which always maximizes the noise margin regardless of the fluctuation of the temperature power supply voltage.
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図1】本実施例の多段論理回路の構成を示す回路図で
ある。FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a multi-stage logic circuit according to an embodiment.
【図2】平均値検出部の構成を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of an average value detection unit.
【図3】本実施例の多段論理回路の構成を示す回路図で
ある。FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of a multi-stage logic circuit of this embodiment.
【図4】従来例の多段論理回路の構成を示す回路図であ
る。FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional multi-stage logic circuit.
5…入力リファレンス電圧発生部 10…第1論理回路 20…第2論理回路 30…第3論理回路 11、21、31…入力バッファ部 12、22、32…論理部 13、23、33…出力バッファ部 14、24、34…平均値検出部 15、25、35…出力レベル調整電圧発生部 5 ... Input reference voltage generating section 10 ... First logic circuit 20 ... Second logic circuit 30 ... Third logic circuit 11, 21, 31 ... Input buffer section 12, 22, 32 ... Logic section 13, 23, 33 ... Output buffer Units 14, 24, 34 ... Average value detecting unit 15, 25, 35 ... Output level adjusting voltage generating unit
Claims (1)
力バッファ部を備え論理演算結果を差動出力する論理回
路を複数個接続してなる多段論理回路において、 各段の論理回路の差動出力の中間電圧をその次段の論理
回路の入力バッファ部に与える基準電圧とすることを特
徴とする多段論理回路。Claim: What is claimed is: 1. A multi-stage logic circuit comprising: an input buffer unit for comparing input signals with a reference voltage; A multi-stage logic circuit, wherein the intermediate voltage of the differential output of the logic circuit is used as a reference voltage to be applied to the input buffer section of the logic circuit at the next stage.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3193310A JPH0537330A (en) | 1991-08-01 | 1991-08-01 | Multistage logic circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3193310A JPH0537330A (en) | 1991-08-01 | 1991-08-01 | Multistage logic circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0537330A true JPH0537330A (en) | 1993-02-12 |
Family
ID=16305784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3193310A Pending JPH0537330A (en) | 1991-08-01 | 1991-08-01 | Multistage logic circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0537330A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7557790B2 (en) | 2003-03-12 | 2009-07-07 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Bus interface technology |
-
1991
- 1991-08-01 JP JP3193310A patent/JPH0537330A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7557790B2 (en) | 2003-03-12 | 2009-07-07 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Bus interface technology |
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