JPH0538529Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0538529Y2 JPH0538529Y2 JP12542790U JP12542790U JPH0538529Y2 JP H0538529 Y2 JPH0538529 Y2 JP H0538529Y2 JP 12542790 U JP12542790 U JP 12542790U JP 12542790 U JP12542790 U JP 12542790U JP H0538529 Y2 JPH0538529 Y2 JP H0538529Y2
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- JP
- Japan
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- core wire
- window
- tube
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- distance
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- Expired - Lifetime
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 3
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 2
- 239000005041 Mylar™ Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
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- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
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- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は蛍光Ｘ線分析装置等に用いられる
FPC型Ｘ線検出器に関する。
FPC型Ｘ線検出器に関する。
（従来の技術）
蛍光Ｘ線分析等で長波長Ｘ線を検出する場合、
比例計数管のＸ線入射窓にはマイラー等の高分子
物質の厚さ0.5μm程度のフイルムが用いられてい
る。従来のこの手段の計数管では、第５図に示す
ように、断面が略正方形でその一面にＸ線入射窓
１が設けられ、管の中心位置に芯線２が張設され
ていて、芯線２から窓１までの距離と、芯線から
管の他の壁面までの距離は等しいようになつてい
た。この構成で、窓１から管内に進入したＸ線は
窓１の内側の近辺で管内ガスを初期電離する。こ
の電離によつて生じた電子は心線２に向かつて加
速され、イオンは窓１の内面のAl蒸着膜に付着
し、電荷の供給を受けて中性化される。芯線２に
向かつて加速された電子は芯線の近くの電界集中
領域で管内ガス分子と衝突してこれをイオン化さ
せなだれ現象を起こして初期電離により生成され
た電子数を増倍する。所で芯線２近辺の領域で生
成されたイオンは芯線近辺に電界が集中している
ので、この領域で芯線から放射方向に加速され芯
線から遠ざかつた領域では始めの放射方向の運動
を略個々そのまゝ維持して進行し、窓１に向かつ
たイオンは加速された状態で窓１内面に入射する
ことになる。このため窓１の材料はイオンエツチ
ングを受けて窓材内面のAl蒸着膜がはがされ、
更に膜の実質が段々薄くなり、この種の計数管は
３箇月程度の寿命しかなかつた。
比例計数管のＸ線入射窓にはマイラー等の高分子
物質の厚さ0.5μm程度のフイルムが用いられてい
る。従来のこの手段の計数管では、第５図に示す
ように、断面が略正方形でその一面にＸ線入射窓
１が設けられ、管の中心位置に芯線２が張設され
ていて、芯線２から窓１までの距離と、芯線から
管の他の壁面までの距離は等しいようになつてい
た。この構成で、窓１から管内に進入したＸ線は
窓１の内側の近辺で管内ガスを初期電離する。こ
の電離によつて生じた電子は心線２に向かつて加
速され、イオンは窓１の内面のAl蒸着膜に付着
し、電荷の供給を受けて中性化される。芯線２に
向かつて加速された電子は芯線の近くの電界集中
領域で管内ガス分子と衝突してこれをイオン化さ
せなだれ現象を起こして初期電離により生成され
た電子数を増倍する。所で芯線２近辺の領域で生
成されたイオンは芯線近辺に電界が集中している
ので、この領域で芯線から放射方向に加速され芯
線から遠ざかつた領域では始めの放射方向の運動
を略個々そのまゝ維持して進行し、窓１に向かつ
たイオンは加速された状態で窓１内面に入射する
ことになる。このため窓１の材料はイオンエツチ
ングを受けて窓材内面のAl蒸着膜がはがされ、
更に膜の実質が段々薄くなり、この種の計数管は
３箇月程度の寿命しかなかつた。
（発明が解決しようとする課題）
本考案は長波長Ｘ線検出用比例計数管の上述し
た窓材のイオンエツチングによる短寿命を改善し
ようとするものである。
た窓材のイオンエツチングによる短寿命を改善し
ようとするものである。
（課題を解決するための手段）
計数管の断面において、芯線の位置を偏心的に
し、芯線からＸ線入射窓まの距離より芯線から管
壁までの距離の方が短いようにした。
し、芯線からＸ線入射窓まの距離より芯線から管
壁までの距離の方が短いようにした。
（作用）
上述したように計数管の断面において、芯線は
管中心より偏心させて張設されているから、電気
力線Ｅは第１図に示すように、大部分が窓より近
い他の管壁に向かい、芯線近辺で生成されたイオ
ンは略々電気力線に沿つて運動し加速されるの
で、生成イオンの大部分は管壁に向かい窓材に入
射するイオン量が従来例より減少し、窓材の長寿
命が実現される。即ち従来はＸ線入射窓が芯線に
対して張る角度内のイオンが略々全部が窓に入射
していたのに対して、本考案では、この角度内の
イオンのうち相当部分が管の側壁側に吸引されて
しまうことになるのである。
管中心より偏心させて張設されているから、電気
力線Ｅは第１図に示すように、大部分が窓より近
い他の管壁に向かい、芯線近辺で生成されたイオ
ンは略々電気力線に沿つて運動し加速されるの
で、生成イオンの大部分は管壁に向かい窓材に入
射するイオン量が従来例より減少し、窓材の長寿
命が実現される。即ち従来はＸ線入射窓が芯線に
対して張る角度内のイオンが略々全部が窓に入射
していたのに対して、本考案では、この角度内の
イオンのうち相当部分が管の側壁側に吸引されて
しまうことになるのである。
（実施例）
第１図に本考案の一実施例を示す。３は計数管
の管体で断面が長辺16mm、短辺13mmの長方形であ
り、その短辺をなす一方の面にＸ線入射窓１が設
けてある。窓１には0.5μmの厚さのマイラーフイ
ルムが張設してあり、このフイルム内面にはAl
が蒸着してあつて、フイルムが管体３と同電位を
保つようにしてある。２は芯線で長方形の断面の
中心より1.5mmだけ窓１から遠い位置に図の紙面
に垂直の方向に張設されている。管内にはArガ
スが封入してある。第２図はこの計数管の正面図
である。
の管体で断面が長辺16mm、短辺13mmの長方形であ
り、その短辺をなす一方の面にＸ線入射窓１が設
けてある。窓１には0.5μmの厚さのマイラーフイ
ルムが張設してあり、このフイルム内面にはAl
が蒸着してあつて、フイルムが管体３と同電位を
保つようにしてある。２は芯線で長方形の断面の
中心より1.5mmだけ窓１から遠い位置に図の紙面
に垂直の方向に張設されている。管内にはArガ
スが封入してある。第２図はこの計数管の正面図
である。
本考案における計数管の断面は長方形に限られ
ない。例えば第３図に示すような円形断面で窓部
を突出させ、円形の断面の中心位置に芯線２を張
設し、芯線から窓１までの距離より芯線から後の
管壁までの距離が短いようにしてもよい。要する
に芯線から管壁までの距離より窓までの距離の方
が長いような管断面形と芯線位置にすればよいの
である。
ない。例えば第３図に示すような円形断面で窓部
を突出させ、円形の断面の中心位置に芯線２を張
設し、芯線から窓１までの距離より芯線から後の
管壁までの距離が短いようにしてもよい。要する
に芯線から管壁までの距離より窓までの距離の方
が長いような管断面形と芯線位置にすればよいの
である。
上述したような形にしても、比例計数管として
のエネルギー分解能の差は現れない。第４図は第
１図の実施例のものと従来例の断面が13×13mmの
正方形の計数管でAlKα線を検出したときのＸ線
検出パルスの高さのヒストグラムで、パルス高さ
は相対値で示してあるが、分布幅は殆ど同じで分
解能に差はなく、本考案のような形にしても性能
の低下は認められない。そして、Ｘ線入射窓に入
射するイオン電流は本実施例が上記従来例野1/2
に低減しており、従つて寿命は２倍程度延びる
る。
のエネルギー分解能の差は現れない。第４図は第
１図の実施例のものと従来例の断面が13×13mmの
正方形の計数管でAlKα線を検出したときのＸ線
検出パルスの高さのヒストグラムで、パルス高さ
は相対値で示してあるが、分布幅は殆ど同じで分
解能に差はなく、本考案のような形にしても性能
の低下は認められない。そして、Ｘ線入射窓に入
射するイオン電流は本実施例が上記従来例野1/2
に低減しており、従つて寿命は２倍程度延びる
る。
（考案の効果）
本考案によれば、Ｘ線入射窓に入射する加速さ
れたイオンの量が減少するため、Ｘ線入射窓のイ
オンエツチングによる被害が低減し、計数管の寿
命が長くなり、その分計数管取り換えの手数が省
け、また経済的である。
れたイオンの量が減少するため、Ｘ線入射窓のイ
オンエツチングによる被害が低減し、計数管の寿
命が長くなり、その分計数管取り換えの手数が省
け、また経済的である。
第１図は本考案Ｘ線検出器の一実施例の断面
図、第２図は同実施例の正面図、第３図は他の実
施例の断面図、第４図は第１図の実施例と従来例
のエネルギー分解能の比較グラフ、第５図は従来
例の断面図である。 １……Ｘ線入射窓、２……芯線、３……管体、
Ｅ……電気力線。
図、第２図は同実施例の正面図、第３図は他の実
施例の断面図、第４図は第１図の実施例と従来例
のエネルギー分解能の比較グラフ、第５図は従来
例の断面図である。 １……Ｘ線入射窓、２……芯線、３……管体、
Ｅ……電気力線。
Claims (1)
- 計数管の断面において、芯線の位置を、芯線か
らＸ線入射窓までの距離より、芯線から管壁の各
点までの距離の方が短いような位置にしてなるＸ
線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12542790U JPH0538529Y2 (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12542790U JPH0538529Y2 (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0481443U JPH0481443U (ja) | 1992-07-15 |
| JPH0538529Y2 true JPH0538529Y2 (ja) | 1993-09-29 |
Family
ID=31873026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12542790U Expired - Lifetime JPH0538529Y2 (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0538529Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5371568B2 (ja) * | 2009-06-18 | 2013-12-18 | 理研計器株式会社 | 光電子検出器 |
-
1990
- 1990-11-27 JP JP12542790U patent/JPH0538529Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0481443U (ja) | 1992-07-15 |
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