JPH054025B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH054025B2 JPH054025B2 JP14873686A JP14873686A JPH054025B2 JP H054025 B2 JPH054025 B2 JP H054025B2 JP 14873686 A JP14873686 A JP 14873686A JP 14873686 A JP14873686 A JP 14873686A JP H054025 B2 JPH054025 B2 JP H054025B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- illumination
- inspection
- lighting
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 30
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 14
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 13
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 claims description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 239000000047 product Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は立体物等の検査対象物を照明して、こ
の対象物の疵や欠陥を検査する外観自動検査の照
明装置に関するものである。
の対象物の疵や欠陥を検査する外観自動検査の照
明装置に関するものである。
従来の技術
生産工程中の外観自動検査はあらゆる製品・半
製品に適用され、製品の良・不良を判別してい
る。この外観検査項目は、それぞれの製品が具備
すべき性能・特性に応じて種々雑多であるが、大
別すると製品の色や汚れなど物体色に関する検査
項目と割れ・打こんなど形状に関する検査項目に
わけられる。
製品に適用され、製品の良・不良を判別してい
る。この外観検査項目は、それぞれの製品が具備
すべき性能・特性に応じて種々雑多であるが、大
別すると製品の色や汚れなど物体色に関する検査
項目と割れ・打こんなど形状に関する検査項目に
わけられる。
このうち、物体色の検査については紙やシート
材の一部のように検査対象物の形状が平面で、拡
散反射特性をもつものについては、検査用照明の
方向性(照射角)に関して大きな問題とならな
い。
材の一部のように検査対象物の形状が平面で、拡
散反射特性をもつものについては、検査用照明の
方向性(照射角)に関して大きな問題とならな
い。
しかし、鏡面性を帯びているものについては、
どんな投光照明を行なつてもこの対象物の画像パ
ターンには必らず正反射成分の輝点がいくつか現
われ、この画像を処理して色や汚れを検出するの
に多くの検査アルゴリズムと時間を要する。そこ
でこの欠点をなくするため、通常は第4図に示す
ように検査対象物のあらゆる方向から光を照射す
る拡散照明を行ない、輝度の発生を防いている。
どんな投光照明を行なつてもこの対象物の画像パ
ターンには必らず正反射成分の輝点がいくつか現
われ、この画像を処理して色や汚れを検出するの
に多くの検査アルゴリズムと時間を要する。そこ
でこの欠点をなくするため、通常は第4図に示す
ように検査対象物のあらゆる方向から光を照射す
る拡散照明を行ない、輝度の発生を防いている。
一方、検査対象物の割れや打こんを検査しよう
とすると上記の拡散照明では検査・判別に有効な
輝度パターンが現われない。そこで、一方向から
光を照射する投光照明方式をとつて割れや打こん
によつて生ずる陰影を強調し、疵検出を容易にし
ている。この投光照明の照射方向は検査対象物に
より、また同じ対象物でも疵の種類に応じて変え
る必要があり、第5図に示すように投光照明装置
を機械的に動かす方法がとられてきた。また、ス
リツトパターンやグリツド(格子)パターンを投
影して、これによる画像を処理することにより、
外観自動検査のアルゴリズムの簡易化と検査スピ
ードの向上をはかろうとするパターン照明も、上
記照明装置とは別に実施されてきた。
とすると上記の拡散照明では検査・判別に有効な
輝度パターンが現われない。そこで、一方向から
光を照射する投光照明方式をとつて割れや打こん
によつて生ずる陰影を強調し、疵検出を容易にし
ている。この投光照明の照射方向は検査対象物に
より、また同じ対象物でも疵の種類に応じて変え
る必要があり、第5図に示すように投光照明装置
を機械的に動かす方法がとられてきた。また、ス
リツトパターンやグリツド(格子)パターンを投
影して、これによる画像を処理することにより、
外観自動検査のアルゴリズムの簡易化と検査スピ
ードの向上をはかろうとするパターン照明も、上
記照明装置とは別に実施されてきた。
発明が解決しようとする問題点
このように、一つの検査対象物に対して多種の
外観検査を実施しようとすると、それぞれの検査
目的に応じて照明装置や撮像装置を必要とし、検
査に要する時間も長くなるなど外観自動検査用照
明装置として実用性に乏しいという問題を有して
いた。
外観検査を実施しようとすると、それぞれの検査
目的に応じて照明装置や撮像装置を必要とし、検
査に要する時間も長くなるなど外観自動検査用照
明装置として実用性に乏しいという問題を有して
いた。
本発明は、このような従来の問題を解消するも
ので、拡散照明、投光照明およびパターン照明を
簡単な構成で電気的に、短時間のうちに切換える
ことができる、外観自動検査用照明装置を実現す
ることを目的としている。
ので、拡散照明、投光照明およびパターン照明を
簡単な構成で電気的に、短時間のうちに切換える
ことができる、外観自動検査用照明装置を実現す
ることを目的としている。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、検査対象
物に照射可能な全立体角に配置した、光源、液晶
シヤツタマトリツクス、偏光板および投影レンズ
からなる複数個の投影光学系ユニツトと、これら
の投影光学系ユニツトと検査対象物との間に配置
した光散乱液晶素子と、これらの液晶シヤツタマ
トリツクスと光散乱液晶素子を制御する液晶駆動
制御部とから構成している。
物に照射可能な全立体角に配置した、光源、液晶
シヤツタマトリツクス、偏光板および投影レンズ
からなる複数個の投影光学系ユニツトと、これら
の投影光学系ユニツトと検査対象物との間に配置
した光散乱液晶素子と、これらの液晶シヤツタマ
トリツクスと光散乱液晶素子を制御する液晶駆動
制御部とから構成している。
作 用
本発明は上記の構成とすることにより、液晶シ
ヤツタマトリツクスと光散乱液晶素子を電気的に
制御して、拡散照明、投光照明、パターン照明お
よびこれらの併存した照明を高速時分割で選択提
示を可能とするものである。
ヤツタマトリツクスと光散乱液晶素子を電気的に
制御して、拡散照明、投光照明、パターン照明お
よびこれらの併存した照明を高速時分割で選択提
示を可能とするものである。
実施例
第1図は本発明の外観自動検査用照明装置の一
実施例を示すもので、光源1から出た光は液晶シ
ヤツタマトリツクス2を経て偏光板3、投影レン
ズ4、光散乱液晶素子5を通過してのち検査対象
物6に照射される。ここで、光源1、液晶シヤツ
タマトリツクス2、偏光板3、投影レンズ4が投
影光学系ユニツト7を構成する。
実施例を示すもので、光源1から出た光は液晶シ
ヤツタマトリツクス2を経て偏光板3、投影レン
ズ4、光散乱液晶素子5を通過してのち検査対象
物6に照射される。ここで、光源1、液晶シヤツ
タマトリツクス2、偏光板3、投影レンズ4が投
影光学系ユニツト7を構成する。
液晶シヤツタマトリツクス2はツイストモード
で動作し、第2図のように21,22,23の各
パターンが独立あるいは同時に、それぞれの偏光
面を90゜変えることができる。このため、液晶シ
ヤツタマトリツクスが動作している時の偏光面と
偏光板3の偏光面とを直交させておけば、液晶シ
ヤツタマトリツクスの各パターンに電圧を印加し
て偏光面を90゜変えた時、光は透過し、そのパタ
ーンに応じた像が検査対象物に照射されることに
なる。
で動作し、第2図のように21,22,23の各
パターンが独立あるいは同時に、それぞれの偏光
面を90゜変えることができる。このため、液晶シ
ヤツタマトリツクスが動作している時の偏光面と
偏光板3の偏光面とを直交させておけば、液晶シ
ヤツタマトリツクスの各パターンに電圧を印加し
て偏光面を90゜変えた時、光は透過し、そのパタ
ーンに応じた像が検査対象物に照射されることに
なる。
したがつて、これらの投影光学系ユニツトを検
査対象物6の周りに2次元的に配置し、第2図の
21あるいは22のどちらかを単独で動作させる
と、検査対象物の表面には上記21あるいは22
の線状パターンが互に重畳されて連続しスリツト
パターンが生ずることになる。もし、第2図の2
1と22を同時に動作させると検査対象物の表面
には十字パターンが重畳されて連続しグリツドパ
ターン(格子パターン)が現われる。
査対象物6の周りに2次元的に配置し、第2図の
21あるいは22のどちらかを単独で動作させる
と、検査対象物の表面には上記21あるいは22
の線状パターンが互に重畳されて連続しスリツト
パターンが生ずることになる。もし、第2図の2
1と22を同時に動作させると検査対象物の表面
には十字パターンが重畳されて連続しグリツドパ
ターン(格子パターン)が現われる。
さらに、一部の投影光学系ユニツトについて、
第2図の21,22,23のすべてを動作させる
と、一定方向からの投光照明が可能になる。
第2図の21,22,23のすべてを動作させる
と、一定方向からの投光照明が可能になる。
このようにして、液晶シヤツタマトリツクスの
動作パターンを電気的に制御することにより、ス
リツトパターンやグリツドパターンなどのパター
ン照明と、一定角度からの投光照明を容易に変更
できる。
動作パターンを電気的に制御することにより、ス
リツトパターンやグリツドパターンなどのパター
ン照明と、一定角度からの投光照明を容易に変更
できる。
しかし、検査対象物が球面でその表面が鏡面性
を帯びている時、検査対象物の画像パターンには
動作している投影光学系の数だけ輝点が生ずるこ
とになる。これをなくするため、投影光学系ユニ
ツト7と検査対象物6の間に光散乱液晶素子5を
挿入し、これに電圧を印加することにより、光散
乱現象を起させる。同時に、すべての投影光学系
ユニツトのすべての液晶マトリツクスパターンを
動作させ、各投影光学系から出た光はすべて光散
乱液晶上で散乱される。これにより検査対象物は
完全な拡散照明で照射されることになる。なお、
投影レンズ4に分布屈折率レンズアレーを用いる
と、液晶シヤツタマトリツクス2から検査対象物
6までの物像間距離を小さくすることができ、照
明装置全体を一体化するのに有力となる。
を帯びている時、検査対象物の画像パターンには
動作している投影光学系の数だけ輝点が生ずるこ
とになる。これをなくするため、投影光学系ユニ
ツト7と検査対象物6の間に光散乱液晶素子5を
挿入し、これに電圧を印加することにより、光散
乱現象を起させる。同時に、すべての投影光学系
ユニツトのすべての液晶マトリツクスパターンを
動作させ、各投影光学系から出た光はすべて光散
乱液晶上で散乱される。これにより検査対象物は
完全な拡散照明で照射されることになる。なお、
投影レンズ4に分布屈折率レンズアレーを用いる
と、液晶シヤツタマトリツクス2から検査対象物
6までの物像間距離を小さくすることができ、照
明装置全体を一体化するのに有力となる。
このほか、これらの複数の液晶シヤツタマトリ
ツクス2のそれぞれと、光散乱液晶素子の印加電
圧をアナログ的に変えることにより照射光量を変
えることができ、また各投影光学系ユニツト7の
動作を個々に制御することにより投光照明と拡散
照明の混合照明が可能となり、検査対象物の必要
とする検査項目にもつとも適合した照射パターン
が選択でき、一つの対象物に対する検査項目の多
くを同時または短時間に実施できる特徴をもつ。
ツクス2のそれぞれと、光散乱液晶素子の印加電
圧をアナログ的に変えることにより照射光量を変
えることができ、また各投影光学系ユニツト7の
動作を個々に制御することにより投光照明と拡散
照明の混合照明が可能となり、検査対象物の必要
とする検査項目にもつとも適合した照射パターン
が選択でき、一つの対象物に対する検査項目の多
くを同時または短時間に実施できる特徴をもつ。
この照明装置はまた、疵の判別結果をフイード
バツクして照明方法の優先順位を変えていく、い
わゆる学習効果をもつた外観検査システムを実現
するうえで有力な装置となる。第3図は、上記の
外観検査システムの全体を示すもので撮像素子9
の画像信号をうけて画像処理判別部14が必要と
定めた照明方法を液晶駆動制御部13に伝え、光
散乱液晶素子5および液晶シヤツタマトリツクス
の双方が動作して検査対象物6の照明方法を順次
変えていく制御の流れを示している。
バツクして照明方法の優先順位を変えていく、い
わゆる学習効果をもつた外観検査システムを実現
するうえで有力な装置となる。第3図は、上記の
外観検査システムの全体を示すもので撮像素子9
の画像信号をうけて画像処理判別部14が必要と
定めた照明方法を液晶駆動制御部13に伝え、光
散乱液晶素子5および液晶シヤツタマトリツクス
の双方が動作して検査対象物6の照明方法を順次
変えていく制御の流れを示している。
発明の効果
本発明による外観自動検査用照明装置は、光
源、液晶シヤツタマトリツクス、偏光板および投
影レンズをもつ投影光学系ユニツトを複数個併置
し、さらにこれらの出射光全体を被う光散乱液晶
素子を設けることにより、拡散照明、投光照明、
パターン照明およびこれらの併存した照明方式を
時分割で選択提示することができ、極めて汎用性
の高い外観検査用照明装置として、その実用的価
値はまことに大きい。
源、液晶シヤツタマトリツクス、偏光板および投
影レンズをもつ投影光学系ユニツトを複数個併置
し、さらにこれらの出射光全体を被う光散乱液晶
素子を設けることにより、拡散照明、投光照明、
パターン照明およびこれらの併存した照明方式を
時分割で選択提示することができ、極めて汎用性
の高い外観検査用照明装置として、その実用的価
値はまことに大きい。
第1図は本発明による外観自動検査用照明装置
の一実施例を示す図、第2図は液晶シヤツタマト
リツクスのパターン分割の一例を示す図、第3図
は本発明による照明装置を備えた外観自動検査装
置のブロツクダイヤグラムの説明図、第4図は従
来の拡散照明方式の説明図、第5図は従来の投光
照明方式の説明図である。 8……撮像素子、9……撮像用レンズ、10…
…拡散照明用光源、12……投光照明装置。
の一実施例を示す図、第2図は液晶シヤツタマト
リツクスのパターン分割の一例を示す図、第3図
は本発明による照明装置を備えた外観自動検査装
置のブロツクダイヤグラムの説明図、第4図は従
来の拡散照明方式の説明図、第5図は従来の投光
照明方式の説明図である。 8……撮像素子、9……撮像用レンズ、10…
…拡散照明用光源、12……投光照明装置。
Claims (1)
- 1 光源、液晶シヤツタマトリツクス、偏光板お
よび投影レンズからなる複数個の投影光学系ユニ
ツトと、前記複数個の投影光学系ユニツトと検査
対象物との間に配置した光散乱液晶素子と、前記
複数個の投影光学系ユニツトと前記光散乱液晶素
子を制御する液晶駆動制御部とから構成され、拡
散照明、投光照明およびパターン照明が電気的に
切換られる機能を有する外観自動検査用照明装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61148736A JPS635248A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 外観自動検査用照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61148736A JPS635248A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 外観自動検査用照明装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS635248A JPS635248A (ja) | 1988-01-11 |
| JPH054025B2 true JPH054025B2 (ja) | 1993-01-19 |
Family
ID=15459462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61148736A Granted JPS635248A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 外観自動検査用照明装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS635248A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3481599B2 (ja) * | 2000-07-14 | 2003-12-22 | 京都電機器株式会社 | 線状照明装置 |
-
1986
- 1986-06-25 JP JP61148736A patent/JPS635248A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS635248A (ja) | 1988-01-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6175645B1 (en) | Optical inspection method and apparatus | |
| US4555635A (en) | Surface flaw inspection apparatus for a convex body | |
| JP2014163771A (ja) | 外観検査装置 | |
| KR20110078635A (ko) | 복수조명을 이용한 스트립의 표면결함검출장치 | |
| JPH11337504A (ja) | ガラス板の欠陥識別検査方法および装置 | |
| JP2015040835A (ja) | 透明板状体の欠点検査装置及び欠点検査方法 | |
| MX2014000972A (es) | Metodo y dispositivo para la deteccion confiable de defectos de material en un material transparente. | |
| US6618136B1 (en) | Method and apparatus for visually inspecting transparent body and translucent body | |
| US6161940A (en) | Large area collimated substage illuminators for gaging applications | |
| JP2016212060A (ja) | 鏡面検査装置 | |
| KR101177163B1 (ko) | 조명용 광원 및 그를 이용한 패턴 검사 장치 | |
| JP2000046532A (ja) | パターン検査装置 | |
| JPH054024B2 (ja) | ||
| JPH054025B2 (ja) | ||
| FI80959C (fi) | Foerfarande och anordning foer inspektion av spegelreflexionsytor. | |
| KR20020065480A (ko) | 외관검사용 투광장치 | |
| JP2003240725A (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
| JP2004212202A (ja) | 透光体の外観検査方法及び装置 | |
| JP3253942B2 (ja) | 外観検査用投光装置 | |
| JP2001228100A (ja) | 透明材料または透明材料で包まれた物体の検査装置及び検査方法 | |
| JPH10185828A (ja) | 透明平面体表面の欠陥検査方法及びその装置 | |
| JPH0352889B2 (ja) | ||
| JP2001281156A (ja) | 外観検査装置用照明装置 | |
| TWI457558B (zh) | 用以檢驗具有顯微特徵之物件的方法及系統、及其照明裝置 | |
| JPH09250908A (ja) | 検査装置 |