JPH0540836A - シングルチツプマイクロコンピユータ - Google Patents
シングルチツプマイクロコンピユータInfo
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- JPH0540836A JPH0540836A JP3193356A JP19335691A JPH0540836A JP H0540836 A JPH0540836 A JP H0540836A JP 3193356 A JP3193356 A JP 3193356A JP 19335691 A JP19335691 A JP 19335691A JP H0540836 A JPH0540836 A JP H0540836A
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- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Storage Device Security (AREA)
- Microcomputers (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】PROM記憶情報のチップ外部への出力の禁止
設定を行なうPROMセルと、このPROMの記憶情報
とチップ外部からの入力情報の一致判定をする比較回路
と、PROMセルによりPROM記憶情報の外部への出
力を禁止した時比較回路の出力信号をチップ外部へ出力
する手段とを有する。 【効果】PROMの読み出し禁止設定後においてもPR
OM記憶情報を知る者であれば、PROMに記憶したプ
ログラム情報のテストが容易に行え、且つプログラム記
憶情報の機密性が保持できるという効果を有する。
設定を行なうPROMセルと、このPROMの記憶情報
とチップ外部からの入力情報の一致判定をする比較回路
と、PROMセルによりPROM記憶情報の外部への出
力を禁止した時比較回路の出力信号をチップ外部へ出力
する手段とを有する。 【効果】PROMの読み出し禁止設定後においてもPR
OM記憶情報を知る者であれば、PROMに記憶したプ
ログラム情報のテストが容易に行え、且つプログラム記
憶情報の機密性が保持できるという効果を有する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、シングルチップマイク
ロコンピュータに関し、特にPROMを内蔵するシング
ルチップマイクロコンピュータに関する。
ロコンピュータに関し、特にPROMを内蔵するシング
ルチップマイクロコンピュータに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、プログラム情報を記憶するPRO
M内蔵のシングルチップマイクロコンピュータは、PR
OMライタにより記憶情報の書き込みを行なう。従って
同じPROMライタを用いれば、第3者が容易にPRO
M記憶情報を読み出せるため、機密保護の点で問題があ
った。
M内蔵のシングルチップマイクロコンピュータは、PR
OMライタにより記憶情報の書き込みを行なう。従って
同じPROMライタを用いれば、第3者が容易にPRO
M記憶情報を読み出せるため、機密保護の点で問題があ
った。
【0003】特に、OTP版(1度のみプログラムの書
き込みが可能なPROMを内蔵した製品)では、メーカ
がユーザーに対するプログラムの書き込みサービスを行
なうことが多く、メーカーはPROMに格納したユーザ
プログラム情報を保証するためのテストと機密情報の保
護を要求される。
き込みが可能なPROMを内蔵した製品)では、メーカ
がユーザーに対するプログラムの書き込みサービスを行
なうことが多く、メーカーはPROMに格納したユーザ
プログラム情報を保証するためのテストと機密情報の保
護を要求される。
【0004】ここで、PROM内蔵シングルチップマイ
クロコンピュータのPROM記憶情報の機密保護機能
(以下セキュリティ機能と記す。)について特開昭62
−194565号公報で、PROM記憶情報を読み出せ
なくする手段が提案されている。
クロコンピュータのPROM記憶情報の機密保護機能
(以下セキュリティ機能と記す。)について特開昭62
−194565号公報で、PROM記憶情報を読み出せ
なくする手段が提案されている。
【0005】上述の特許記載のシングルチップマイクロ
コンピュータは、アドレスデータバスで接続された、C
PU(中央処理装置)とEPROM(Erasable
Programable ROM)とEPROM制御回
路と保護回路と、EPROMセルによるアドレスマッピ
ングした保護ビットと、入出力ポートにより構成されて
いる。
コンピュータは、アドレスデータバスで接続された、C
PU(中央処理装置)とEPROM(Erasable
Programable ROM)とEPROM制御回
路と保護回路と、EPROMセルによるアドレスマッピ
ングした保護ビットと、入出力ポートにより構成されて
いる。
【0006】かかるシングルチップマイクロコンピュー
タでは、PROMライタによりプログラム情報をEPR
OMに書き込んだ後、特定アドレスにマッピングされた
保護ビットに対し、保護回路を動作してデータを書き込
ませており、保護ビットが書き込まれると、その出力信
号によりEPROM制御回路が動作して、EPROMを
制御し、EPROM記憶情報をデータバスに出力するこ
とを禁止している。ここで保護ビットは、EPROMに
より構成しているため、1度データを書き込むと、デー
タの変更が不可能であり、従ってPROMデータの読み
出しも不能になる。
タでは、PROMライタによりプログラム情報をEPR
OMに書き込んだ後、特定アドレスにマッピングされた
保護ビットに対し、保護回路を動作してデータを書き込
ませており、保護ビットが書き込まれると、その出力信
号によりEPROM制御回路が動作して、EPROMを
制御し、EPROM記憶情報をデータバスに出力するこ
とを禁止している。ここで保護ビットは、EPROMに
より構成しているため、1度データを書き込むと、デー
タの変更が不可能であり、従ってPROMデータの読み
出しも不能になる。
【0007】上述のセキュリティ機能を有するOTP版
において、プログラムの書き込みサービスを行なう場
合、書き込みデータのテストが必要であるため、プログ
ラムの書き込み工程後の読み出し禁止工程(保護ビット
への書き込み)は、テスト後の別工程で行なわねばなら
ない。
において、プログラムの書き込みサービスを行なう場
合、書き込みデータのテストが必要であるため、プログ
ラムの書き込み工程後の読み出し禁止工程(保護ビット
への書き込み)は、テスト後の別工程で行なわねばなら
ない。
【0008】従って保護ビットへの書き込み工程が増加
するため、作業効率が悪く、コスト高となる。また、読
み出し禁止設定以後の不具合に関しては、解析が全く不
可能である。
するため、作業効率が悪く、コスト高となる。また、読
み出し禁止設定以後の不具合に関しては、解析が全く不
可能である。
【0009】すなわち、従来のセキュリティ機能を有す
るPROM内蔵のシングルチップマイクロコンピュータ
は、一度読み出し禁止設定を行なうと、PROM記憶情
報をチップ外部へ出力できない構成となっていた。
るPROM内蔵のシングルチップマイクロコンピュータ
は、一度読み出し禁止設定を行なうと、PROM記憶情
報をチップ外部へ出力できない構成となっていた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のセキュ
リティ機能を有するPROM内蔵のシングルチップマイ
クロコンピュータは、一度PROM記憶情報の読み出し
を禁止すると、それ以後、PROM記憶情報のチップ外
部への出力を禁止する構成となっているため、読み出し
の禁止設定以後、たとえ不具合が発生した場合において
もPROM記憶情報のテストが不可能であり、従って解
析が行なえないという問題点があった。
リティ機能を有するPROM内蔵のシングルチップマイ
クロコンピュータは、一度PROM記憶情報の読み出し
を禁止すると、それ以後、PROM記憶情報のチップ外
部への出力を禁止する構成となっているため、読み出し
の禁止設定以後、たとえ不具合が発生した場合において
もPROM記憶情報のテストが不可能であり、従って解
析が行なえないという問題点があった。
【0011】本発明の目的は、PROM記憶情報の機密
性を保護しつつ、プログラム情報のテストが可能なシン
グルチップマイクロコンピュータを提供することにあ
る。
性を保護しつつ、プログラム情報のテストが可能なシン
グルチップマイクロコンピュータを提供することにあ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、PROMとP
ROM記憶情報のチップ外部への出力の禁止設定を行な
うPROMセルと、PROM記憶情報とチップ外部から
の入力情報の一致判定をする比較回路と、PROMセル
によりPROM記憶情報の外部への出力を禁止した時、
比較回路の出力信号をチップ外部へ出力する手段を有し
ている。
ROM記憶情報のチップ外部への出力の禁止設定を行な
うPROMセルと、PROM記憶情報とチップ外部から
の入力情報の一致判定をする比較回路と、PROMセル
によりPROM記憶情報の外部への出力を禁止した時、
比較回路の出力信号をチップ外部へ出力する手段を有し
ている。
【0013】更に、判定部を付加し、PROMアドレス
を比較開始アドレスに初期設定した後、判定部が比較結
果の判定動作を開始し、比較結果が不一致の時その状態
を記憶し、PROMアドレスが比較終了アドレスになっ
た時判定部の出力信号をチップ外部へ出力する手段を有
している。
を比較開始アドレスに初期設定した後、判定部が比較結
果の判定動作を開始し、比較結果が不一致の時その状態
を記憶し、PROMアドレスが比較終了アドレスになっ
た時判定部の出力信号をチップ外部へ出力する手段を有
している。
【0014】
【実施例】図1は、本発明の第1の実施例を示すブロッ
ク図である。本実施例のシングルチップマイクロコンピ
ュータは、PROM動作モードにおいてPROM記憶情
報のチップ外部への出力を禁止している場合、外部から
入力する比較情報とPROMに記憶したプログラム情報
を外部端子へ出力せずに、チップ内部で比較し、判定結
果のみを外部端子へ出力する特徴を有する点で従来と異
なる。以下、図1を参照し、第1の実施例のシングルチ
ップマイクロコンピュータの構成について説明する。
ク図である。本実施例のシングルチップマイクロコンピ
ュータは、PROM動作モードにおいてPROM記憶情
報のチップ外部への出力を禁止している場合、外部から
入力する比較情報とPROMに記憶したプログラム情報
を外部端子へ出力せずに、チップ内部で比較し、判定結
果のみを外部端子へ出力する特徴を有する点で従来と異
なる。以下、図1を参照し、第1の実施例のシングルチ
ップマイクロコンピュータの構成について説明する。
【0015】シングルチップマイクロコンピュータ10
0は、中央処理装置130(以下CPUと記す。)と、
周辺回路140と、PROM部110と内部バス120
とにより構成する。内部バス120はCPU130と周
辺回路140とPROM部110を接続するアドレス・
データバスである。
0は、中央処理装置130(以下CPUと記す。)と、
周辺回路140と、PROM部110と内部バス120
とにより構成する。内部バス120はCPU130と周
辺回路140とPROM部110を接続するアドレス・
データバスである。
【0016】CPU130は、PROM部110に格納
したプログラムを内部バス120を介して読み込んでデ
コードし、シングルチップマイクロコンピュータ100
を制御する。
したプログラムを内部バス120を介して読み込んでデ
コードし、シングルチップマイクロコンピュータ100
を制御する。
【0017】周辺回路140は、CPU130の制御に
より各周辺動作を行なう。PROM部110は、シング
ルチップマイクロコンピュータ100の制御プログラム
を格納し、またモード信号111が“1”の時、R/W
信号112に基づいて、アドレスバス113の入力及び
データバス114の入出力及び判定信号115の出力を
制御する。
より各周辺動作を行なう。PROM部110は、シング
ルチップマイクロコンピュータ100の制御プログラム
を格納し、またモード信号111が“1”の時、R/W
信号112に基づいて、アドレスバス113の入力及び
データバス114の入出力及び判定信号115の出力を
制御する。
【0018】モード端子150は、PROM部110の
動作モードを設定するための外部端子である。モード端
子150に“1”を入力すると、モード信号111は
“1”となり、PROM部110はPROM動作モード
に設定され“0”の時通常動作モードである。
動作モードを設定するための外部端子である。モード端
子150に“1”を入力すると、モード信号111は
“1”となり、PROM部110はPROM動作モード
に設定され“0”の時通常動作モードである。
【0019】R/W信号入力端子160は、PROM部
110がPROM動作モードの時、PROMに対する書
き込み及び読み出しを指定するための外部端子である。
R/W信号入力端子160に“1”を入力すると、R/
W信号112は“1”となり、PROMへの書き込みを
指定し、“0”を入力するとR/W信号112は“0”
となりPROMの読み出しを指定する。
110がPROM動作モードの時、PROMに対する書
き込み及び読み出しを指定するための外部端子である。
R/W信号入力端子160に“1”を入力すると、R/
W信号112は“1”となり、PROMへの書き込みを
指定し、“0”を入力するとR/W信号112は“0”
となりPROMの読み出しを指定する。
【0020】アドレス入力端子170は、PROM動作
モードに設定すると外部からPROM部110に対しア
ドレス情報をアドレスバス113を介して供給する外部
端子である。データ端子180は、PROM動作モード
で読み出しを指定した時、チップ外部からPROM部1
10に対し、プログラムデータ情報をデータバス114
を介して出力し、書き込みを指定した時プログラムデー
タ情報をデータバス114を介して入力する外部端子で
ある。判定信号出力端子190は、PROM部110か
らチップ外部へ判定信号115を出力する外部端子であ
る。
モードに設定すると外部からPROM部110に対しア
ドレス情報をアドレスバス113を介して供給する外部
端子である。データ端子180は、PROM動作モード
で読み出しを指定した時、チップ外部からPROM部1
10に対し、プログラムデータ情報をデータバス114
を介して出力し、書き込みを指定した時プログラムデー
タ情報をデータバス114を介して入力する外部端子で
ある。判定信号出力端子190は、PROM部110か
らチップ外部へ判定信号115を出力する外部端子であ
る。
【0021】PROM動作モード時、PROM部110
は、CPU130の介在なしに動作する。従ってシング
ルチップマイクロコンピュータ100の動作説明は省略
し、PROM動作モード時のPROM部110の構成及
び動作を図2を参照し説明する。
は、CPU130の介在なしに動作する。従ってシング
ルチップマイクロコンピュータ100の動作説明は省略
し、PROM動作モード時のPROM部110の構成及
び動作を図2を参照し説明する。
【0022】図2は第1の実施例のPROM部のブロッ
ク図である。
ク図である。
【0023】PROM部110は、入出力制御部200
と、PROM210と比較部220とにより構成する。
入出力制御部200は、モード信号111が“1”の時
アドレス入力端子160より入力したアドレス情報をア
ドレスバス113とアドレスバス201を介してPRO
M210に供給する。またモード信号111が“1”で
制御信号212が“1”の時、R/W信号112が
“0”であるとデータバス114を出力とし、PROM
210記憶データをPROMデータバス213とデータ
バス114を介してデータ端子170に出力し、R/W
信号112が“1”であるとデータバス114を入力と
し、データ端子170に入力するデータをデータバス1
14とPROMデータバス213を介してPROM21
0に供給する。
と、PROM210と比較部220とにより構成する。
入出力制御部200は、モード信号111が“1”の時
アドレス入力端子160より入力したアドレス情報をア
ドレスバス113とアドレスバス201を介してPRO
M210に供給する。またモード信号111が“1”で
制御信号212が“1”の時、R/W信号112が
“0”であるとデータバス114を出力とし、PROM
210記憶データをPROMデータバス213とデータ
バス114を介してデータ端子170に出力し、R/W
信号112が“1”であるとデータバス114を入力と
し、データ端子170に入力するデータをデータバス1
14とPROMデータバス213を介してPROM21
0に供給する。
【0024】また、モード信号111が“1”で制御信
号212が“0”の時、R/W信号112にかかわら
ず、データバス114を入力に固定し、データ端子18
0に入力するプログラムデータをデータバス114とデ
ータバス202を介して比較部220に供給する。なお
出力制御回路200は、モード信号111が“0”の
時、アドレスバス113とアドレスバス201,データ
バス114とデータバス202とPROMデータバス2
13を切断し各バスをハイインピーダンス状態とする。
PROM210は、モード信号111が“1”の時、R
/W信号112が“0”であると、アドレスバス201
を介して入力するアドレス情報により選択したメモリの
格納データをPROMデータバス213を介して入出力
制御部200と比較部220に出力する。
号212が“0”の時、R/W信号112にかかわら
ず、データバス114を入力に固定し、データ端子18
0に入力するプログラムデータをデータバス114とデ
ータバス202を介して比較部220に供給する。なお
出力制御回路200は、モード信号111が“0”の
時、アドレスバス113とアドレスバス201,データ
バス114とデータバス202とPROMデータバス2
13を切断し各バスをハイインピーダンス状態とする。
PROM210は、モード信号111が“1”の時、R
/W信号112が“0”であると、アドレスバス201
を介して入力するアドレス情報により選択したメモリの
格納データをPROMデータバス213を介して入出力
制御部200と比較部220に出力する。
【0025】R/W信号112が“1”であると、PR
OMデータバス213介して入力するプログラムデータ
をアドレス情報により選択したメモリに格納する。
OMデータバス213介して入力するプログラムデータ
をアドレス情報により選択したメモリに格納する。
【0026】また、PROM210は、制御ビット21
1の内容を制御信号212として入出力制御部200に
出力する。制御ビット211は、PROM210の任意
アドレスの任意ビットである。制御信号212は制御ビ
ット211が“1”の時、“1”となり制御ビット21
1が“0”の時“0”となる。
1の内容を制御信号212として入出力制御部200に
出力する。制御ビット211は、PROM210の任意
アドレスの任意ビットである。制御信号212は制御ビ
ット211が“1”の時、“1”となり制御ビット21
1が“0”の時“0”となる。
【0027】ここで本実施例では、制御ビット211を
PROM210の任意アドレスの任意ビットにより説明
したが、特開昭62−194565号公報に記載されて
いるように、1度状態を設定すると以後状態を変化でき
ない他の回路により構成することも可能である。そこ
で、比較部220の構成について図3を参照して説明す
る。図3は、比較部のブロック図である。
PROM210の任意アドレスの任意ビットにより説明
したが、特開昭62−194565号公報に記載されて
いるように、1度状態を設定すると以後状態を変化でき
ない他の回路により構成することも可能である。そこ
で、比較部220の構成について図3を参照して説明す
る。図3は、比較部のブロック図である。
【0028】比較部220は、比較回路300〜307
と比較出力回路320により構成する。比較回路300
〜307はPROM出力データA0 〜A7 とプログラム
データB0 〜B7 を個々の入力として排他的論理和信号
310〜317を出力する。比較出力回路320は排他
的論理和信号310〜317を入力とし、論理和をと
り、判定信号115を出力する。判定信号115は、P
ROM出力データとプログラムデータの1ビット以上が
不一致の時“1”となり全ビット一致の時“0”とな
る。
と比較出力回路320により構成する。比較回路300
〜307はPROM出力データA0 〜A7 とプログラム
データB0 〜B7 を個々の入力として排他的論理和信号
310〜317を出力する。比較出力回路320は排他
的論理和信号310〜317を入力とし、論理和をと
り、判定信号115を出力する。判定信号115は、P
ROM出力データとプログラムデータの1ビット以上が
不一致の時“1”となり全ビット一致の時“0”とな
る。
【0029】次に第1の実施例のPROM記憶データの
比較動作について説明する。PROM210と制御ビッ
ト211には、あらかじめPROMライタによりプログ
ラム情報の書き込みを行なうため、まずプログラム情報
の書き込み動作について図2を参照して説明する。プロ
グラム情報の書き込み時外部からモード端子150に
“1”を入力し、R/W信号入力端子160に“1”を
入力する。
比較動作について説明する。PROM210と制御ビッ
ト211には、あらかじめPROMライタによりプログ
ラム情報の書き込みを行なうため、まずプログラム情報
の書き込み動作について図2を参照して説明する。プロ
グラム情報の書き込み時外部からモード端子150に
“1”を入力し、R/W信号入力端子160に“1”を
入力する。
【0030】モード信号111が“1”になることによ
り、アドレス入力端子170は、アドレスバス113と
アドレスバス201を介してPROM210に接続され
る。R/W信号112が“1”になることにより、デー
タバス114は入力となりデータ端子180は、データ
バス114とPROMデータバス213を介してPRO
Mに接続される。またPROM210は書き込みモード
となる。
り、アドレス入力端子170は、アドレスバス113と
アドレスバス201を介してPROM210に接続され
る。R/W信号112が“1”になることにより、デー
タバス114は入力となりデータ端子180は、データ
バス114とPROMデータバス213を介してPRO
Mに接続される。またPROM210は書き込みモード
となる。
【0031】まず、開始アドレスをアドレス入力端子1
70により入力し、同時にプログラムデータをデータ端
子180に入力する。PROM210は、開始アドレス
情報によりメモリセルを選択し、PROMデータバス2
13上のプログラムデータを取り込んで記憶する。
70により入力し、同時にプログラムデータをデータ端
子180に入力する。PROM210は、開始アドレス
情報によりメモリセルを選択し、PROMデータバス2
13上のプログラムデータを取り込んで記憶する。
【0032】以降、アドレスを1番地ずつ増加させ、各
アドレスに対応するプログラムデータを終了アドレスに
なるまで順次入力することにより、プログラムを書き込
む。ここで制御ビット211は、(プログラム最終アド
レス+1)アドレスの特定ビットであるとする。
アドレスに対応するプログラムデータを終了アドレスに
なるまで順次入力することにより、プログラムを書き込
む。ここで制御ビット211は、(プログラム最終アド
レス+1)アドレスの特定ビットであるとする。
【0033】次に、(終了アドレス+1)アドレスを書
き込む時、制御ビット211に対応するビットを“0”
として、書き込むことにより、プログラム情報の書き込
みを終了する。従って、PROM記憶情報の読み出しが
禁止される。
き込む時、制御ビット211に対応するビットを“0”
として、書き込むことにより、プログラム情報の書き込
みを終了する。従って、PROM記憶情報の読み出しが
禁止される。
【0034】次に第1の実施例のPROM記憶データの
比較動作について、図4により説明する。図4は、第1
の実施例の比較判定動作を示すタイミングチャートであ
る。ここで比較判定動作を行なうため、あらかじめモー
ド端子150に“1”を入力する。制御ビット211が
“0”であることにより、データバス114は入力とな
り、データ端子180はデータバス114とデータバス
202を介して比較部220に接続される。
比較動作について、図4により説明する。図4は、第1
の実施例の比較判定動作を示すタイミングチャートであ
る。ここで比較判定動作を行なうため、あらかじめモー
ド端子150に“1”を入力する。制御ビット211が
“0”であることにより、データバス114は入力とな
り、データ端子180はデータバス114とデータバス
202を介して比較部220に接続される。
【0035】まず、PROM出力データとプログラムデ
ータが異なる場合の比較判定動作を説明する。チップ外
部よりアドレス入力端子170に比較開始アドレス情報
・アドレス1を入力する。PROM210は、アドレス
1が指すメモリに格納されたデータ・データ1をPRO
Mデータバス213に出力する。
ータが異なる場合の比較判定動作を説明する。チップ外
部よりアドレス入力端子170に比較開始アドレス情報
・アドレス1を入力する。PROM210は、アドレス
1が指すメモリに格納されたデータ・データ1をPRO
Mデータバス213に出力する。
【0036】同時に、データ端子180に比較するプロ
グラムデータ・データ1’を入力する。従ってデータ1
及びデータ1’は各々PROMデータバス213及びデ
ータバス202を介して比較部220に同タイミングで
供給される。比較部220はデータが不一致であること
により判定信号115を“1”にして、判定信号出力端
子190へ出力する。
グラムデータ・データ1’を入力する。従ってデータ1
及びデータ1’は各々PROMデータバス213及びデ
ータバス202を介して比較部220に同タイミングで
供給される。比較部220はデータが不一致であること
により判定信号115を“1”にして、判定信号出力端
子190へ出力する。
【0037】次にPROM出力データとプログラムデー
タが一致している場合の比較判定動作について説明す
る。外部より、アドレス入力端子170に開始アドレス
の次アドレス・アドレス2を入力する。PROM210
は、アドレス2が指すメモリに格納されたデータ・デー
タ2をPROMデータバス213に出力する。同時にデ
ータ端子180に次に比較するプログラムデータ・デー
タ2aを入力する。
タが一致している場合の比較判定動作について説明す
る。外部より、アドレス入力端子170に開始アドレス
の次アドレス・アドレス2を入力する。PROM210
は、アドレス2が指すメモリに格納されたデータ・デー
タ2をPROMデータバス213に出力する。同時にデ
ータ端子180に次に比較するプログラムデータ・デー
タ2aを入力する。
【0038】従って、データ2及びデータ2aは、各々
PROMデータバス213及びデータバス202を介し
て比較部220に同タイミングで供給される。比較部2
20は、データが一致していることにより判定信号11
5を“0”にして、判定信号出力端子190へ出力す
る。
PROMデータバス213及びデータバス202を介し
て比較部220に同タイミングで供給される。比較部2
20は、データが一致していることにより判定信号11
5を“0”にして、判定信号出力端子190へ出力す
る。
【0039】上述した様にチップ外部へPROM記憶情
報を出力せずに、チップ外部からアドレス情報と比較情
報をプログラムの開始アドレスから終了アドレスまで順
次変更して入力し、比較情報の入力タイミングに同期し
て判定信号出力端子190を観測することにより、PR
OM記憶情報を1アドレス毎に比較判定することが可能
である。
報を出力せずに、チップ外部からアドレス情報と比較情
報をプログラムの開始アドレスから終了アドレスまで順
次変更して入力し、比較情報の入力タイミングに同期し
て判定信号出力端子190を観測することにより、PR
OM記憶情報を1アドレス毎に比較判定することが可能
である。
【0040】すなわち、プログラム情報を知る者におい
ては、プログラム書き込み時に、読み出し禁止の設定
(セキュリティの確保)が成された後も、比較情報を外
部から入力することによりチップ内部でプログラム記憶
情報の検証が行なえるため、テストが可能である。また
本実施例では、外部から入力する比較情報毎に、比較結
果情報が得られるため、PROM記憶情報の特定アドレ
スについてのみテストすることが可能である。従って、
テストの柔軟性を有するため、特定領域についてのテス
トでは、特定領域のみテストすることによりテスト時間
を短縮できる。
ては、プログラム書き込み時に、読み出し禁止の設定
(セキュリティの確保)が成された後も、比較情報を外
部から入力することによりチップ内部でプログラム記憶
情報の検証が行なえるため、テストが可能である。また
本実施例では、外部から入力する比較情報毎に、比較結
果情報が得られるため、PROM記憶情報の特定アドレ
スについてのみテストすることが可能である。従って、
テストの柔軟性を有するため、特定領域についてのテス
トでは、特定領域のみテストすることによりテスト時間
を短縮できる。
【0041】第2の実施例1は、第1の実施例に対し、
PROMに記憶したプログラム情報の全情報について比
較した後に、判定結果を外部端子に出力する相違点を有
する。
PROMに記憶したプログラム情報の全情報について比
較した後に、判定結果を外部端子に出力する相違点を有
する。
【0042】図5を参照して第2の実施例の構成及び動
作を説明する。図5は、本発明の第2の実施例のPRO
M部を示すブロック図である。本実施例は、第1の実施
例に対してアドレスデコーダ500と開始信号501と
終了信号502と比較判定部510の判定部520と一
致終了信号523と不一致終了信号524と一致判定端
子530と不一致判定端子540が異なるのみであるた
め、相違点を中心に説明する。
作を説明する。図5は、本発明の第2の実施例のPRO
M部を示すブロック図である。本実施例は、第1の実施
例に対してアドレスデコーダ500と開始信号501と
終了信号502と比較判定部510の判定部520と一
致終了信号523と不一致終了信号524と一致判定端
子530と不一致判定端子540が異なるのみであるた
め、相違点を中心に説明する。
【0043】まず構成について説明する。アドレスデコ
ーダ500は、開始信号501と終了信号502を判定
部520に出力する。開始信号501はプログラム開始
アドレスのデコード時に“1”となり、終了信号502
はプログラム終了アドレスのデコード時に“1”となる
信号である。比較判定部510は、PROM出力データ
とチップ外部から入力するプログラムデータの比較判定
を行なう。
ーダ500は、開始信号501と終了信号502を判定
部520に出力する。開始信号501はプログラム開始
アドレスのデコード時に“1”となり、終了信号502
はプログラム終了アドレスのデコード時に“1”となる
信号である。比較判定部510は、PROM出力データ
とチップ外部から入力するプログラムデータの比較判定
を行なう。
【0044】判定部520は、開始信号501が“1”
になると判定信号115に基づいて判定動作を開始し、
終了信号502が“1”になると、判定動作を終了す
る。
になると判定信号115に基づいて判定動作を開始し、
終了信号502が“1”になると、判定動作を終了す
る。
【0045】また、判定部520は判定結果が一致の時
一致終了信号523を“1”にして一致判定端子530
へ出力し、“不一致の時”不一致終了信号524を
“1”にして不一致判定端子540へ出力する。
一致終了信号523を“1”にして一致判定端子530
へ出力し、“不一致の時”不一致終了信号524を
“1”にして不一致判定端子540へ出力する。
【0046】判定部520の構成について図6を参照し
て説明する。判定部520は、RSフリップフロップ6
00と論理積回路610,620により構成する。RS
フリップフロップ600は、開始信号501をセット入
力・判定信号115をリセット入力とし、出力信号Q6
01を論理積回路610に出力し、出力信号Q602を
論理積回路620に出力する。
て説明する。判定部520は、RSフリップフロップ6
00と論理積回路610,620により構成する。RS
フリップフロップ600は、開始信号501をセット入
力・判定信号115をリセット入力とし、出力信号Q6
01を論理積回路610に出力し、出力信号Q602を
論理積回路620に出力する。
【0047】出力信号Q601は、開始信号501が
“1”の時“1”となり、判定信号115が“1”の時
“0”となる。出力信号Q602は、出力信号Q601
の相補信号である。論理積回路610は、出力信号Q6
01と終了信号502を入力とし、論理積をとり、一致
終了信号523を出力する。
“1”の時“1”となり、判定信号115が“1”の時
“0”となる。出力信号Q602は、出力信号Q601
の相補信号である。論理積回路610は、出力信号Q6
01と終了信号502を入力とし、論理積をとり、一致
終了信号523を出力する。
【0048】一致終了信号523は、終了信号502が
“1”で、出力信号Q601が“1”である時“1”と
なる信号である。論理積回路620は、出力信号Q60
2と終了信号502を入力とし論理積をとり、不一致終
了信号524を出力する。不一致終了信号524は、終
了信号502が“1”で、出力信号Q602が“1”で
ある時“1”となる信号である。
“1”で、出力信号Q601が“1”である時“1”と
なる信号である。論理積回路620は、出力信号Q60
2と終了信号502を入力とし論理積をとり、不一致終
了信号524を出力する。不一致終了信号524は、終
了信号502が“1”で、出力信号Q602が“1”で
ある時“1”となる信号である。
【0049】次に第2の実施の比較判定動作について、
第1の実施例との相違点を中心に図5と図6により説明
する。第2の実施例は比較判定動作において、判定部5
20による判定動作が異なるのみであるため、主に図6
を参照して説明する。
第1の実施例との相違点を中心に図5と図6により説明
する。第2の実施例は比較判定動作において、判定部5
20による判定動作が異なるのみであるため、主に図6
を参照して説明する。
【0050】図6は、判定部520のブロック図であ
る。PROM210の書き込み動作及びPROM210
の初期状態及び入出力制御部200の状態及びモード信
号111及びチップ外部からのアドレス情報・比較情報
の入力動作及び比較部220の比較動作は、第1の実施
例と同一であるため動作説明は省略する。
る。PROM210の書き込み動作及びPROM210
の初期状態及び入出力制御部200の状態及びモード信
号111及びチップ外部からのアドレス情報・比較情報
の入力動作及び比較部220の比較動作は、第1の実施
例と同一であるため動作説明は省略する。
【0051】まず、全アドレスにおいてPROM210
記憶データとプログラムデータが一致する場合について
述べる。アドレスデコーダ500が開始アドレスをデコ
ードすることにより、開始信号501が“1”となる。
従って、RSフリップフロップ600がセットされ、出
力信号Q601が“1”,出力信号Q602が“0”と
なる。この時終了信号502が“0”であることによ
り、一致終了信号523と、不一致終了信号524が
“0”となる。
記憶データとプログラムデータが一致する場合について
述べる。アドレスデコーダ500が開始アドレスをデコ
ードすることにより、開始信号501が“1”となる。
従って、RSフリップフロップ600がセットされ、出
力信号Q601が“1”,出力信号Q602が“0”と
なる。この時終了信号502が“0”であることによ
り、一致終了信号523と、不一致終了信号524が
“0”となる。
【0052】判定信号115は、全アドレスにおいてP
ROM出力データとプログラムデータが一致しているた
め常に“0”であり、RSフリップフロップ600は初
期状態を保持する。アドレスデコーダ500が終了アド
レスをデコードすることにより終了信号502が“1”
になる。
ROM出力データとプログラムデータが一致しているた
め常に“0”であり、RSフリップフロップ600は初
期状態を保持する。アドレスデコーダ500が終了アド
レスをデコードすることにより終了信号502が“1”
になる。
【0053】従って、論理積回路610の一致終了信号
523のみが“1”となる。
523のみが“1”となる。
【0054】次に、PROM210記憶データとプログ
ラムデータが1アドレスについて、異なる場合について
述べる。上述した比較判定動作中において、PROM出
力データとプログラムデータが異なることにより、判定
信号115が“1”となる。
ラムデータが1アドレスについて、異なる場合について
述べる。上述した比較判定動作中において、PROM出
力データとプログラムデータが異なることにより、判定
信号115が“1”となる。
【0055】従って、RSフリップフロップ600はリ
セットされ、出力信号Q601が“0”となり、出力信
号Q602が“1”となる。以後、RSフリップフロッ
プ600は状態を保持する。アドレスデコーダ500が
終了アドレスをデコードすることにより終了信号502
が“1”になる。
セットされ、出力信号Q601が“0”となり、出力信
号Q602が“1”となる。以後、RSフリップフロッ
プ600は状態を保持する。アドレスデコーダ500が
終了アドレスをデコードすることにより終了信号502
が“1”になる。
【0056】従って、論理積回路620の不一致終了信
号524のみが“1”となる。
号524のみが“1”となる。
【0057】上述した様に、不一致の判定結果を記憶
し、PROMに記憶したプログラム情報の全情報につい
て、チップ内部で比較判定後、その判定結果を一致信号
523を一致判定端子530に、また、不一致信号52
4を不一致判定端子540に出力することでプログラム
の検証が可能となる。万が一、プログラム情報を知らな
い者がメモリ記憶情報を知ろうとする場合には入力する
比較情報の全ての組み合わせについて、試みる必要があ
り、その読み出しには、多大な時間を要する。
し、PROMに記憶したプログラム情報の全情報につい
て、チップ内部で比較判定後、その判定結果を一致信号
523を一致判定端子530に、また、不一致信号52
4を不一致判定端子540に出力することでプログラム
の検証が可能となる。万が一、プログラム情報を知らな
い者がメモリ記憶情報を知ろうとする場合には入力する
比較情報の全ての組み合わせについて、試みる必要があ
り、その読み出しには、多大な時間を要する。
【0058】例えば、PROM内容の1語が8ビットで
ある場合、1語は256種の情報を持つことができる。
PROM容量が8語で1語の読み出し時間が100(n
s)であるとすると、PROM記憶情報を解読するまで
に、2568 ×100×10-9(s)必要であり、年間
に換算すると5.8万年となる。
ある場合、1語は256種の情報を持つことができる。
PROM容量が8語で1語の読み出し時間が100(n
s)であるとすると、PROM記憶情報を解読するまで
に、2568 ×100×10-9(s)必要であり、年間
に換算すると5.8万年となる。
【0059】また、シングルチップマイクロコンピュー
タに内蔵するPROM容量は、一般に4K語以上となっ
てきており、年々増加する傾向にある。従って、プログ
ラム情報を知らない者が、メモリ記憶情報を知ろうとし
ても実際には不可能である。
タに内蔵するPROM容量は、一般に4K語以上となっ
てきており、年々増加する傾向にある。従って、プログ
ラム情報を知らない者が、メモリ記憶情報を知ろうとし
ても実際には不可能である。
【0060】以上本実施例は、PROMに記憶したプロ
グラム情報をチップ外部へ出力せずに比較判定できるこ
とによりPROMのテストを可能にし、且つユーザプロ
グラムのセキュリティ機能の向上が可能である。
グラム情報をチップ外部へ出力せずに比較判定できるこ
とによりPROMのテストを可能にし、且つユーザプロ
グラムのセキュリティ機能の向上が可能である。
【0061】なお、OTP版に限らず窓付き版(紫外線
照射により記憶情報の消去可能なPROM内蔵のシング
ルチップマイクロコンピュータ)において、制御ビット
のみ消去してPROM記憶情報を読み出そうとした場合
おいても、制御ビットがPROMセルにより構成されて
いるため記憶情報も同時に消去され、PROM記憶情報
の機密を保護できる。
照射により記憶情報の消去可能なPROM内蔵のシング
ルチップマイクロコンピュータ)において、制御ビット
のみ消去してPROM記憶情報を読み出そうとした場合
おいても、制御ビットがPROMセルにより構成されて
いるため記憶情報も同時に消去され、PROM記憶情報
の機密を保護できる。
【0062】なお、本実施例では、1組の開始・終了の
アドレスペアを設定して説明を行なったが、開始・終了
のアドレスペアを複数設けることによりPROM記憶情
報を複数ブロックに分割し、各アドレスペアに対応した
任意のブロックについてのみ、比較判定させることも可
能であり、この場合、不具合部を特定できるため、解析
が容易になる。
アドレスペアを設定して説明を行なったが、開始・終了
のアドレスペアを複数設けることによりPROM記憶情
報を複数ブロックに分割し、各アドレスペアに対応した
任意のブロックについてのみ、比較判定させることも可
能であり、この場合、不具合部を特定できるため、解析
が容易になる。
【0063】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、従来のセ
キュリティ機能を有するPROM内蔵のシングルチップ
マイクロコンピュータにおいて、比較部を有し比較部に
おいてチップ外部から入力する比較情報とPROM記憶
情報の比較を行ないその判定結果を外部へ出力できるよ
うにしたのでPROMの読み出し禁止設定後においても
PROM記憶情報を知る者であればPROMに記憶した
プログラム情報のテストが容易に行え、且つPROM記
憶情報の機密性が保持できるという効果を有する。
キュリティ機能を有するPROM内蔵のシングルチップ
マイクロコンピュータにおいて、比較部を有し比較部に
おいてチップ外部から入力する比較情報とPROM記憶
情報の比較を行ないその判定結果を外部へ出力できるよ
うにしたのでPROMの読み出し禁止設定後においても
PROM記憶情報を知る者であればPROMに記憶した
プログラム情報のテストが容易に行え、且つPROM記
憶情報の機密性が保持できるという効果を有する。
【図1】本発明の第1の実施例のシングルチップマイク
ロコンピュータのブロック図である。
ロコンピュータのブロック図である。
【図2】第1の実施例のPROM部のブロック図であ
る。
る。
【図3】第1の実施例の比較部のブロック図である。
【図4】第1の実施例の比較判定動作のタイミングチャ
ートである。
ートである。
【図5】第2の実施例のPROM部のブロック図であ
る。
る。
【図6】第2の実施例の判定部のブロック図である。
100 シングルチップマイクロコンピュータ 110 PROM部 111 モード信号 112 R/W信号 113 アドレスバス 114 データバス 115 判定信号 120 バス 130 CPU 140 周辺回路 150 モード端子 160 R/W信号入力端子 170 アドレス入力端子 180 データ端子 190 判定信号出力端子 200 入出力制御部 201 アドレスバス 202 データバス 210 PROM 211 制御ビット 212 制御信号 213 PROMデータバス 220 比較部 300,301,302,303,304,305,3
06,307 比較回路 310,311,312,313,314,315,3
16,317 排他的論理和信号 A0 〜A7 PROM出力データ B0 〜B7 プログラムデータ 380 比較出力回路 500 アドレスデコーダ 501 開始信号 502 終了信号 510 比較判定部 520 判定部 523 一致終了信号 524 不一致終了信号 530 一致判定端子 540 不一致判定端子 600 RSフリップフロップ 601 出力信号Q 602 出力信号Q 610,620 論理積回路
06,307 比較回路 310,311,312,313,314,315,3
16,317 排他的論理和信号 A0 〜A7 PROM出力データ B0 〜B7 プログラムデータ 380 比較出力回路 500 アドレスデコーダ 501 開始信号 502 終了信号 510 比較判定部 520 判定部 523 一致終了信号 524 不一致終了信号 530 一致判定端子 540 不一致判定端子 600 RSフリップフロップ 601 出力信号Q 602 出力信号Q 610,620 論理積回路
Claims (2)
- 【請求項1】 PROMと、前記PROM記憶情報のチ
ップ外部への出力の禁止設定を行なうPROMセルと、
前記PROM記憶情報とチップ外部からの入力情報の一
致判定をする比較回路と、前記PROMセルにより前記
PROM記憶情報の外部への出力を禁止した時、前記比
較回路の出力信号をチップ外部へ出力する手段とを有す
ることを特徴とするシングルチップマイクロコンピュー
タ。 - 【請求項2】 判定部と、PROMアドレスを比較開始
アドレスに初期設定した後、前記判定部が比較結果の判
定動作を開始し、比較結果が不一致の時その状態を記憶
し、PROMアドレスが比較終了アドレスになった時、
判定部の出力信号をチップ外部へ出力すると手段を更に
有することを特徴とする請求項1記載のシングルチップ
マイクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3193356A JPH0540836A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | シングルチツプマイクロコンピユータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3193356A JPH0540836A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | シングルチツプマイクロコンピユータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0540836A true JPH0540836A (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=16306552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3193356A Pending JPH0540836A (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | シングルチツプマイクロコンピユータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0540836A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07105169A (ja) * | 1993-10-06 | 1995-04-21 | Nec Corp | シングルチップマイクロコンピュータ |
| JP2004327036A (ja) * | 2004-08-06 | 2004-11-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法 |
| JP2008034690A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Mitsumi Electric Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
| JP2009032322A (ja) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Pa Net Gijutsu Kenkyusho:Kk | プログラマブルromの記憶内容検査方法およびプログラマブルromの記憶内容検査システム |
| CN109143022A (zh) * | 2018-04-24 | 2019-01-04 | 赛凯诺技术(深圳)有限公司 | 防护单片机芯片被倒插致损的方法和电路 |
-
1991
- 1991-08-02 JP JP3193356A patent/JPH0540836A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07105169A (ja) * | 1993-10-06 | 1995-04-21 | Nec Corp | シングルチップマイクロコンピュータ |
| JP2004327036A (ja) * | 2004-08-06 | 2004-11-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法 |
| JP2008034690A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Mitsumi Electric Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
| JP2009032322A (ja) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Pa Net Gijutsu Kenkyusho:Kk | プログラマブルromの記憶内容検査方法およびプログラマブルromの記憶内容検査システム |
| CN109143022A (zh) * | 2018-04-24 | 2019-01-04 | 赛凯诺技术(深圳)有限公司 | 防护单片机芯片被倒插致损的方法和电路 |
| CN109143022B (zh) * | 2018-04-24 | 2024-06-07 | 赛凯诺技术(深圳)有限公司 | 防护单片机芯片被倒插致损的方法和电路 |
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