JPH054098Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、光デイスクを回転可能に収納したカ
ートリツジを挿入装着することで、光デイスクに
情報信号を記録あるいは再生する光学的記録再生
装置に用いる光学ヘツドの光パワー検出治具に関
する。

従来の技術 光デイスクを用いた光学的記録再生装置は、情
報化社会に新しい記憶装置を提供するものとして
期待されている。データ情報を扱う分野のものに
おいては、光デイスクを直接手で触れることによ
り録再品質が低下すること、あるいは取り扱いや
保管の面等を考慮し、光デイスクを回転可能に収
納したカートリツジを用い、それを光学的記録再
生装置に挿入装着する方式のものが主流になつて
いこうとしている。

光デイスクに対する情報信号の録再品質は、光
デイスクに微小な光ビームに絞つて照射する光学
ヘツドの出射光の光パワーに左右される。

一般的に、再生光パワーが弱すぎると光学ヘツ
ドで読み取つた情報信号の出力が小さくＳ／Ｎ悪
化の原因となり、強すぎると長時間の再生で光デ
イスクの記録材料が光学的に変化していく恐れが
ある。又、情報信号に対応して光変調された記録
光の光パワーが弱いと記録が十分でなく、強すぎ
ると相転位型の記録材料の場合は記録材料の損傷
につながるなど、録再品質の悪化につながる。

このため、光デイスクに照射される光学ヘツド
からの出射光は、光デイスクに許容される一定範
囲内の光パワーに設定する必要がある。ところ
が、かかる装置に用いる光学ヘツドは小型化のた
め光源として半導体レーザを用いる。半導体レー
ザは、その電流−光パワー特性あるいは半導体レ
ーザから出射される光ビームの拡り角は製品ごと
に相当のバラツキがある。又、光学ヘツドを構成
する絞りレンズ等の他の光部部品も光透過率や光
反射率に製造誤差がある。

このため、光学的記録再生装置ごとに光パワー
を調整し、光デイスクに好適な再生光となり記録
光の光パワーになるようにする必要がある。

従来の光パワーの調整を第７図をもとに説明す
る。１は光学ヘツドで、半導体レーザ２から出射
された光は、光学素子（図示せず）を経て絞りレ
ンズ３によつて微小な光ビームに絞られて出射さ
れる。４は半導体レーザ駆動回路で、半導体レー
ザ２に流す電流を制御する。光電変換素子５は、
光学ヘツド１から出射される光ビームを受光する
もので、絞りレンズ３の上部に設置する。６は光
パワー測定器本体部で、光電変換素子５と電気的
に接続され、光電変換素子６で受光した光の光パ
ワー値を例えば表示部７でデジタル表示するよう
にしている。

かかるようにした状態で、半導体レーザ駆動回
路４を動作させると、光学ヘツド１の絞りレンズ
３から光デイスクに照射されるべき光パワーが出
射され、この光ビームを光電変換素子５で受光
し、光パワー測定器本体部６にてその光パワーの
測定値が表示される。

設定すべき光パワーに対し、測定した光パワー
値が小さすぎたり、大きすぎる場合、半導体レー
ザ駆動回路４に設けた、例えば可変ポリウムを調
整し、半導体レーザ２に流す電流を変え、所望す
る光パワーになるようにしていた。

考案が解決しようとする問題点 しかしながら従来、光パワー調整においては、
光学的記録再生装置の構成部品が光学ヘツド１の
上部に組み込まれる以前の段階で光電変換素子５
を設置するなり、光学ヘツド１の構成部品に穴な
どを設け光電変換素子５を設置できるようにする
など、製造工程上あるいは構成部品上の制限があ
つた。又、光電変換素子５の設置前後に半導体レ
ーザ駆動回路４が動作していると、作業者の目に
直接レーザ光が入る恐れがあるなど安全性の問題
があり、これを防ぐためには特別な安全対策が必
要であつた。

本考案は上述した点を鑑み、光学的記録再生装
置に挿入装置することで、安全かつ容易に光学ヘ
ツドからの出射光の光パワーを測定する光パワー
測定治具を提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 本考案は、光デイスクを回転可能に収納した光
デイスクカートリツジとほぼ同じ大きさの略直方
体部材と、光学ヘツドから出射された光ビームを
直接受光する光電変換素子を備え、光学的記録再
生装置に挿入装着可能にした光学ヘツドの光パワ
ー測定治具である。

作 用 本考案は前記した構成により、光学的記録再生
装置に光デイスクを収納したカートリツジと同じ
ように光パワー測定治具を挿入装着することで、
光学ヘツドから出射された光ビームの光パワーを
光電変換素子で測定できるため、光学的記録再生
装置の光パワー調整が容易にかつ安全に出来る。

実施例 第１図ａに本考案の第１の実施例における光学
ヘツドの光パワー検出治具の斜視図を示し、第１
図ｂにその要部断面図を示す。１０は略直方体部
材で後述する光デイスクカートリツジの筐体と
略々同じ大きさにしてある。直方体部材１０には
後述する光学的記録再生装置に挿入装着したと
き、直方体部材１０を位置決めする位置決め穴１
１，１１′、光デイスクを回転する回転駆動体等
が挿入される駆動体挿入穴１２、光学ヘツドが挿
入されるヘツド窓１３、側部切り欠き部１４，１
４′などを設けている。

検出穴１５は前述した光デイスクカートリツジ
と異なるものであることを検出可能とするため設
けた穴である。１６は光電変換素子で、光学ヘツ
ドから出射された光ビームを受光するものであ
る。光電変換素子１６は、太陽電池で構成しても
よいし、フオトダイオードを用いてもよい。１７
は光電変換素子１６を固定保持する保持板で、光
電変換素子１６が太陽電池の場合は接着固定、フ
オトダイオードの場合は保持板１７をプリント板
で作りハンダ付けで固定するのがよいが、保持板
１７を用いず光電変換素子１６を直接直方体部材
１０に固定してもよい。保持板１７は直方体部材
１０に固定している。

光電変換素子１６の固定位置は、次のことを考
慮している。光学的記録再生装置の光学ヘツドが
光デイスクの最内周側へ移送された状態の時、光
学ヘツドの絞りレンズと光電変換素子１６が対向
するようにしている。

又、光電変換素子１６の受光面が、光学ヘツド
の絞りレンズから出射した光ビームの絞り点より
光学ヘツドから離れた所に位置するようにしてお
り、これは光電変換素子１６によつて反射された
光が再び光電変換素子１６に入射するのを防ぐた
めと、絞り点で受光した場合は単位面積当りの光
パワーが強すぎて光電変換素子１６の一部が損傷
するため、これを防ぐためである。

１８は光電変換素子１６とコネクタ１９を電気
的に接続する線で、コネクタ１９は、前述した光
パワー測定器本体部に接続可能にしている。２０
は直方体部材１０に設けた線１８を案内する線案
内溝である。

次に、本考案の光パワー検出治具を用いる光学
的記録再生装置及び光デイスクカートリツジにつ
いて説明する。第２図ａ，ｂに光デイスクカート
リツジの一例の斜視図を示す。

光デイスクカートリツジ５１は、上ハーフ５２
−ａと下ハーフ５２−ｂで構成された略直方体の
筐体５２と、筐体５２の内部に形成された空間に
回転可能に収納された光デイスク５３と、シヤツ
タ５４と、シヤツタ５４と係合しシヤツタ５４を
矢印Ａ方向に移動させるためのスライダ５５と、
スライダ５５を弾性的に常時矢印A′方向に付勢
している引張バネ（図示せず）で構成されてい
る。上ハーフ５２−ａ、下ハーフ５２−ｂには光
学ヘツドが挿入されるヘツド窓５６、光デイスク
５３を回転駆動する回転駆動体が挿入される駆動
体挿入穴５７を設けている。５８，５８′は光デ
イスクカートリツジ５１を光学的記録再生装置に
挿入装着した時、正規の位置に位置決めするため
の位置決め穴である。５９は光デイスクカートリ
ツジであることを検出するための検出穴である。

スライダ５５に設けた突起５５−ａを矢印Ｂ方
向に移動させることで、シヤツタ５４は矢印Ａ方
向に摺動され、第２図ｂに示すようにヘツド窓５
６、駆動体挿入穴５７は開放される。光デイスク
カートリツジの非使用時は、第２図ａで示すよう
にシヤツタ閉の状態にしておくことで、光デイス
ク５３へのゴミ等の付着を防止し、光学的記録再
生装置に挿入装着された時は、シヤツタ開の状態
にすることで光デイスク５３に対する情報信号の
記録再生が可能となる。第３図に光学的記録再生
装置の１例を示す要部側面の断面図を示す。

６０はフロントパネルで、開口６１は光デイス
クカートリツジ５１を挿入するための開口であ
る。６２はカートリツジホルダで光学的記録再生
装置に光デイスクカートリツジ５１が正しく挿入
装着させる主構成部であり、これには、挿入開口
６３をもつパネル６４と、回動可能な扉６５と、
前述したスライダ５５の突起５５−ａと係合し、
シヤツタ５４を開にする係合片６６と、クランプ
案内ピン６７及びアーム用突起６８を設けてい
る。６９はクランプアームで、軸７０のまわりに
回動可能で常時、コイルバネ７１にて時計方向に
回動するようになされている。クランプアーム６
９の先端には、これと係合し、クランプ案内ピン
６７に案内されるクランプ７２を設けている。

７３は光デイスク５３を回転駆動するための駆
動体で、モータ７４と、回転軸７５と、回転軸７
５に一体的に設けたターンテーブル７６と、光デ
イスク５３をセンタリングする上下動可能に設け
たセンタリング体７７と、センタリング体７７を
上方にバネ付勢する圧縮バネ７８と、抜け止め７
９とで構成している。８０は位置決めピンで、光
デイスクカートリツジ１の位置決め穴５８，５
８′あるいは光パワー検出治具の直方体部材１０
に設けた位置決め穴１１，１１′に挿入係合する。

カートリツジホルダ６２は、光デイスクカート
リツジ５１が所定の量だけ挿入されると具体的構
成は省くが、駆動体７３の方向に下がるようにし
ている。

１は光学ヘツドで、半導体レーザ２から出射さ
れた光を図示しない光学部品を経た後、絞りレン
ズ３にて直径1μm程度の微小な光スポツトに絞
り、光デイスクに照射することで情報信号の記録
再生を行なうものであり、光学ヘツドは第７図で
示したものと同じ番号を付した。

又、光学ヘツド１は図示しない移送機構により
矢印ｃ，c′方向に移送され、光デイスクの所望の
径の所を記録再生可能とする。

カバー８１は外部からゴミやホコリが侵入し、
それが光学ヘツド１の絞りレンズ３に付着して光
デイスクに照射する光パワーが低下するのを防
ぐ。８２は光学的記録再生装置に設けた回路部を
示す。ここには、光学ヘツド１の半導体レーザ２
を駆動する半導体レーザ駆動回路８３を有してい
る。その他、焦点制御やトラツキング制御を行な
う制御回路、信号処理回路、マイコン等、装置に
必要な回路をも有する。

８４，８５は検出スイツチで、光デイスクカー
トリツジが挿入装着された時は検出スイツチ８４
のみが働き、光パワー検出治具が挿入装着された
時検出スイツチ８５のみが働くよう設けてあり、
これた検出穴１５，５９の穴位置を異ならしめる
ことで行なう。

検出スイツチ８５が働いた時、回路部８２にて
前述した移送機構を働かせ、光学ヘツド１を光デ
イスクの内周側、すなわち駆動体７３の方向に図
示しないストツパで規制される位置まで移動させ
ると共に、半導体レーザ駆動回路８３を動作さ
せ、半導体レーザ２に電流を流すようにしてい
る。

以上のように構成した本実施例の光パワー検出
治具の動作について説明する。

光パワー検出治具を光学的記録再生装置のフロ
ントパネル６０の開口６１から挿入していくと、
まず直方体部材１０の挿入力で扉６５は反時計方
向に回動され、次にカートリツジホルダ６２にて
案内され、所定の量だけ挿入すうとカートリツジ
ホルダ６２は駆動体７３の方向に下がる。光パワ
ー検出治具が挿入装着された状態を第４図に示
す。直方体部材１０の位置決め穴１１，１１′に
は位置決めピン８０が挿入され直方体部材１０は
位置決めされる。直方体部材１０には駆動体挿入
穴１２、ヘツド窓１３を設けているので、駆動体
７３、光学ヘツド１に衝突したりして装着に支障
を生じない。又、クランプ７２も駆動体挿入穴１
２の中に挿入されるので問題はない。検出スイツ
チ８４は検出穴１５に挿入されるので動作はせ
ず、検出スイツチ８５のみが動作される。このた
め、光学ヘツド１は回路部８２にて内周側へ移送
され、光電変換素子１６と絞りレンズ３が対向す
る。一方、半導体レーザ駆動回路８３も動作し、
半導体レーザ２に電流を流す。このため、光学ヘ
ツド１の絞りレンズ３から出射した光ビームを光
電変換素子１６で受光出来る。コネクタ１９を光
パワー測定器本体部に接続することで光学ヘツド
１から出射された光ビームの光パワーを測定でき
る。

以上のように本実施例によれば、光デイスクカ
ートリツジと略同一の直方体の部材に光電変換素
子を設け、光学的記録再生装置に挿入装着可能と
した光パワー検出治具を構成したので、光学的記
録再生装置の光パワー調整は安全かつ容易に、
又、製造工程や光学ヘツドの上部の部品構成に制
限を加えることなくできる。

第５図は本考案の第２の実施例を示す光パワー
検出治具の斜視図である。

第５図において、直方体部材１０は上ハーフ１
０−ａと下ハーフ１０−ｂで構成され、線１８は
直方体部材１０の内部空間を通して直方体部材１
０の外へ導出されているが、基本的には第１図に
示したものと同じ機能なので同一番号を附す。

直方体部材１０は第２図で示す光デイスクカー
トリツジの筐体５２の上ハーフ５２−ａと下ハー
フ５２−ｂとに、検出穴５９をふさぎこれと異な
る位置に検出穴１５を設ける加工及び線１８の案
内用の加工を施すことで、光パワー検出治具の直
方体部材１０を構成したものである。

光デイスクカートリツジに比し、光パワー検出
治具の必要数量は少ない。第２の実施例は、光デ
イスクカートリツジの筐体の一部を加工するのみ
で光パワー検出治具の直方体部材として用い得る
ようにすることで、光パワー検出治具を安価にで
きる。

第６図は本考案の第３の実施例を示す斜視図で
ある。１０は直方体部材で、１６は光電変換素
子、１９はコネクタ、１８はコネクタ１９と光電
変換素子１６とを電気的に接続する線で、以上は
第１図で示したものと基本的に同じ構成である。
第１図の構成と異なるのは光電変換素子１６を摺
動板８６に固定させた点である。摺動板８６には
長穴８７，８８を設け段付きの案内ピン９０によ
つて直方体部材１０から浮くことなく光学ヘツド
の移送方向と同じ方向に移動できる。案内ピン９
０は直方体部材１０に固定される。取手部８９は
摺動板を移動させる際に用いる。線１８は図示し
ないが摺動板８６に設けた線案内溝に沿つて行な
われる。

考案の効果 以上説明したように、本考案によれば光デイス
クカートリツジを挿入装着して情報信号を記録再
生する光学的記録再生装置の光学ヘツドの光パワ
ー調整を容易にかつ安全に行なうことができる。
又、構成部品や製造工程上の制限も従来のように
は生じない。

更に、市場においての半導体レーザの破損、ゴ
ミやホコリ等による光学ヘツドからの出射光の光
パワーの低下などの点検、確認用にも適するなど
その効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図はａ，ｂはそれぞれ本考案による光学ヘ
ツドの光パワー検出治具の第１の実施例を示す斜
視図と断面図、第２図ａ，ｂは光デイスクカート
リツジを説明した斜視図、第３図は光学的記録再
生装置の一例を示す要部側面の断面図、第４図は
光学的記録再生装置に本考案の光パワー検出治具
を挿入装着した要部側面の断面図、第５図は本考
案の第２の実施例を示す斜視図、第６図は本考案
の第３の実施例を示す斜視図、第７図は従来の光
学ヘツドの光パワー調整の説明図である。 １……光学ヘツド、２……半導体レーザ、４，
８３……半導体レーザ駆動回路、５，１６……光
電変換素子、１０……直方体部材、１５……検出
穴、１９……コネクタ、８６……摺動板。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 光デイスクカートリツジを挿入装着し、光学
   ヘツドで光デイスクに情報信号を記録再生する
   光学的記録再生装置に供し、前記光学的記録再
   生装置に挿入装着可能に少なくとも挿入される
   部分は前記光デイスクカートリツジとほぼ同じ
   大きさの略直方体部材と、前記光学ヘツドから
   出射された光ビームを直接受光する光電変換素
   子と、前記光電変換素子と電気的に接続された
   コネクタとを有する事を特徴とする光学ヘツド
   の光パワー検出治具。 (2) 略直方体部材に光学ヘツドの移送方向と同じ
   方向に可動な摺動板を設け、光電変換素子を前
   記摺動板に設けた事を特徴とする実用新案登録
   請求の範囲第１項記載の光学ヘツドの光パワー
   検出治具。 (3) 光電変換素子の受光面を光学ヘツドから出射
   される光ビームの絞り点よりも光学ヘツドから
   離れた所に位置するように設けた事を特徴とす
   る実用新案登録請求の範囲第１項もしくは第２
   項記載の光学ヘツドの光パワー検出治具。 (4) 光デイスクカートリツジと異なることを判別
   するための検出穴を直方体部材に設けた事を特
   徴とする実用新案登録請求の範囲第１項記載の
   光学ヘツドの光パワー検出治具。