JPH0542343Y2 - - Google Patents
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- JPH0542343Y2 JPH0542343Y2 JP13893887U JP13893887U JPH0542343Y2 JP H0542343 Y2 JPH0542343 Y2 JP H0542343Y2 JP 13893887 U JP13893887 U JP 13893887U JP 13893887 U JP13893887 U JP 13893887U JP H0542343 Y2 JPH0542343 Y2 JP H0542343Y2
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- Japan
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- ceramic
- electrode
- electrode body
- measuring tube
- electromagnetic flowmeter
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- Expired - Lifetime
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- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本考案はセラミツクス製の測定管を有するセラ
ミツクス電磁流量計に関するものである。
ミツクス電磁流量計に関するものである。
更に詳述すれば、セラミツクス製の測定管を有
するセラミツクス電磁流量計の電極部分の改良に
関するものである。
するセラミツクス電磁流量計の電極部分の改良に
関するものである。
〈従来の技術〉
第２図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図である。
の構成説明図である。
図において、１はセラミツクス製の円筒状の測
定管である。測定管１は、この場合は、アルミナ
（Al2O3）が用いられている。２１，２２は測定
管１に対向して配置され導電性粉末を混合して測
定管１と一体に焼成して形成された柱状のサーメ
ツトの電極部である。
定管である。測定管１は、この場合は、アルミナ
（Al2O3）が用いられている。２１，２２は測定
管１に対向して配置され導電性粉末を混合して測
定管１と一体に焼成して形成された柱状のサーメ
ツトの電極部である。
〈考案が解決しようとする問題点〉
このようなセラミツクス電磁流量計において
は、測定管１と電極部２１，２２との熱伝導度及
び熱膨脹係数に差があると、測定管１の内面に熱
衝撃が加えられた場合に、測定管１と電極部２
１，２２との境界及びその近傍に、測定管１の他
の内表面よりも大きな応力が発生する。
は、測定管１と電極部２１，２２との熱伝導度及
び熱膨脹係数に差があると、測定管１の内面に熱
衝撃が加えられた場合に、測定管１と電極部２
１，２２との境界及びその近傍に、測定管１の他
の内表面よりも大きな応力が発生する。
例えば、アルミナ（Al2O3）の測定管１に、白
金とアルミナ（Pt−Al2O3）のサーメツトの電極
部２１，２２を埋め込んだ場合には、 アルミナの熱膨脹係数７〜８×10-6／℃＜ 白金の熱膨脹係数8.9×10-6／℃ アルミナの熱伝導度21（Ｗ／ｍ・ｋ）＜ 白金の熱伝導度72（Ｗ／ｍ・ｋ） であるので、測定管１の内面が急加熱された場合
に、電極部２１，２２が先に膨脹し、測定管１と
電極部２１，２２との境界及びその近傍に大きな
応力が発生する。
金とアルミナ（Pt−Al2O3）のサーメツトの電極
部２１，２２を埋め込んだ場合には、 アルミナの熱膨脹係数７〜８×10-6／℃＜ 白金の熱膨脹係数8.9×10-6／℃ アルミナの熱伝導度21（Ｗ／ｍ・ｋ）＜ 白金の熱伝導度72（Ｗ／ｍ・ｋ） であるので、測定管１の内面が急加熱された場合
に、電極部２１，２２が先に膨脹し、測定管１と
電極部２１，２２との境界及びその近傍に大きな
応力が発生する。
通常、プラント装置、特に、食品用の装置の場
合には、配管の蒸気洗浄がしばしば必要とされる
が、これに対しては、約150℃に耐える必要があ
る。
合には、配管の蒸気洗浄がしばしば必要とされる
が、これに対しては、約150℃に耐える必要があ
る。
第２図従来例においては、測定管１の内面に急
激な熱衝撃が与えられると、例えば、100℃程度
の熱衝撃で、測定管１は即時破壊される。
激な熱衝撃が与えられると、例えば、100℃程度
の熱衝撃で、測定管１は即時破壊される。
以上のことから、耐熱衝撃性の高いセラミツク
ス電磁流量計が得られない問題点があつた。
ス電磁流量計が得られない問題点があつた。
また、強度の高いセラミツクスは、コストも高
いので、測定管１の全部に使用する訳にはいかな
い。
いので、測定管１の全部に使用する訳にはいかな
い。
本考案は、この問題点を、解決するものであ
る。
る。
本考案の目的は耐熱衝撃性が良好で安価なセラ
ミツクス電磁流量計を提供するにある。
ミツクス電磁流量計を提供するにある。
〈問題を解決するための手段〉
この目的を達成するために、本考案は、測定流
体が流れるセラミツクス製の測定管中の電極部に
導電性物質が埋め込まれ焼成されたセラミツクス
電磁流量計において、前記電極部が前記セラミツ
クスの焼成温度より高い融点をもち所要の電気伝
導度を有する導電性物質からなる柱状の固体から
なる電極本体と該電極本体の周囲に同芯閉曲線状
に設けられ該電極本体と前記セラミツクスとの間
の熱膨張係数を有し筒状の固体からなるバツフア
体とを具備したことを特徴とするセラミツクス電
磁流量計を構成したものである。
体が流れるセラミツクス製の測定管中の電極部に
導電性物質が埋め込まれ焼成されたセラミツクス
電磁流量計において、前記電極部が前記セラミツ
クスの焼成温度より高い融点をもち所要の電気伝
導度を有する導電性物質からなる柱状の固体から
なる電極本体と該電極本体の周囲に同芯閉曲線状
に設けられ該電極本体と前記セラミツクスとの間
の熱膨張係数を有し筒状の固体からなるバツフア
体とを具備したことを特徴とするセラミツクス電
磁流量計を構成したものである。
〈作用〉
以上の構成において、測定管の内面が急加熱さ
れた場合に、電極部が先に膨脹し、測定管と電極
部との境界及びその近傍に大きな応力が発生する
恐れがあるが、電極部の周囲には、バツフア体が
設けられているので、測定管が破壊しない。
れた場合に、電極部が先に膨脹し、測定管と電極
部との境界及びその近傍に大きな応力が発生する
恐れがあるが、電極部の周囲には、バツフア体が
設けられているので、測定管が破壊しない。
〈実施例〉
第１図は本考案の一実施例の要部構成説明図
で、Ａは正面図、Ｂは平面図である。
で、Ａは正面図、Ｂは平面図である。
図において、第２図と同一記号は同一機能を表
わす。
わす。
１は耐熱衝撃性の良好な窒化珪素（Si3N4）よ
りなる、セラミツクス製の円筒状の測定管であ
る。
りなる、セラミツクス製の円筒状の測定管であ
る。
窒化珪素（Si3N4）の熱膨脹係数は３〜４×
10-6／℃である。
10-6／℃である。
３は電極本体３１とバツフア体３２とよりなる
電極部である。
電極部である。
電極本体３１はセラミツクスの焼成温度より高
い融点をもち所要の電気伝導度を有する導電性物
質からなる柱状の電極本体である。
い融点をもち所要の電気伝導度を有する導電性物
質からなる柱状の電極本体である。
この場合は、白金（Pt）、タングステンカーバ
イト（WC）、チタン（Ti）や炭化珪素（SiC）が
用いられている。
イト（WC）、チタン（Ti）や炭化珪素（SiC）が
用いられている。
バツフア体３２は、第１、第２、第３バツフア
層３２１，３２２，３３３よりなり、電極本体３
１の周囲に同芯閉曲線状に設けられ、電極本体３
１とセラミツクスとの間の熱膨張係数を有してい
る。
層３２１，３２２，３３３よりなり、電極本体３
１の周囲に同芯閉曲線状に設けられ、電極本体３
１とセラミツクスとの間の熱膨張係数を有してい
る。
例えばタングステンカーバイト（WC）の場
合、ニツケル（Ni）を添加して熱膨張係数をさ
げる（WC−Ni ４〜５×10-6／℃）ことが可能
であるので、ニツケルの含有率を変えたものを、
第１、第２、第３バツフア層３２１，３２２，３
２３に使用することができる。
合、ニツケル（Ni）を添加して熱膨張係数をさ
げる（WC−Ni ４〜５×10-6／℃）ことが可能
であるので、ニツケルの含有率を変えたものを、
第１、第２、第３バツフア層３２１，３２２，３
２３に使用することができる。
この場合は、電極本体３１はタングステンカー
バイト、第１バツフア層３２１はタングステンカ
ーバイトと0.5％ニツケル、第２バツフア層３２
２はタングステンカーバイトと1.0％ニツケル、
第３バツフア層３２３はタングステンカーバイト
と1.5％ニツケルが用いられている。
バイト、第１バツフア層３２１はタングステンカ
ーバイトと0.5％ニツケル、第２バツフア層３２
２はタングステンカーバイトと1.0％ニツケル、
第３バツフア層３２３はタングステンカーバイト
と1.5％ニツケルが用いられている。
以上の構成において、測定管１の内面が急加熱
された場合に、電極本体３１が先に膨脹し、測定
管１と電極本体３１との境界及びその近傍に大き
な応力が発生する恐れがあるが、電極本体３１の
周囲にはバツフア体３２が設けられているので、
測定管１と電極本体３１との間の熱膨張係数が
徐々に変わり、クラツク等が発生しない。
された場合に、電極本体３１が先に膨脹し、測定
管１と電極本体３１との境界及びその近傍に大き
な応力が発生する恐れがあるが、電極本体３１の
周囲にはバツフア体３２が設けられているので、
測定管１と電極本体３１との間の熱膨張係数が
徐々に変わり、クラツク等が発生しない。
この結果、電極本体３１と測定管１との間の熱
膨張係数の差が緩和され、耐熱性を改善すること
ができる。
膨張係数の差が緩和され、耐熱性を改善すること
ができる。
なお、前述の実施例においては、測定管１は窒
化珪素、電極本体３１はタングステンカーバイ
ト、バツフア体３２はタングステンカーバイトと
ニツケルの固定体と説明したが、これに限る事は
ないことは勿論である。
化珪素、電極本体３１はタングステンカーバイ
ト、バツフア体３２はタングステンカーバイトと
ニツケルの固定体と説明したが、これに限る事は
ないことは勿論である。
〈考案の効果〉
以上説明したように、本考案は、測定流体が流
れるセラミツクス製の測定管中の電極部に導電性
物質が埋め込め焼成されたセラミツクス電磁流量
計において、前記電極部が前記セラミツクスの焼
成温度より高い融点をもち所要の電気伝導度を有
する導電性物質からなる柱状の固体からなる電極
本体と該電極本体の周囲に同芯閉曲線状に設けら
れ該電極本体と前記セラミツクスとの間の熱膨張
係数を有し筒状の固体からなるバツフア体とを具
備したことを特徴とするセラミツクス電磁流量計
を構成したので、電極本体と測定管との熱膨張係
数の差が緩和され、耐熱衝撃性を改善することが
できる。
れるセラミツクス製の測定管中の電極部に導電性
物質が埋め込め焼成されたセラミツクス電磁流量
計において、前記電極部が前記セラミツクスの焼
成温度より高い融点をもち所要の電気伝導度を有
する導電性物質からなる柱状の固体からなる電極
本体と該電極本体の周囲に同芯閉曲線状に設けら
れ該電極本体と前記セラミツクスとの間の熱膨張
係数を有し筒状の固体からなるバツフア体とを具
備したことを特徴とするセラミツクス電磁流量計
を構成したので、電極本体と測定管との熱膨張係
数の差が緩和され、耐熱衝撃性を改善することが
できる。
したがつて、本考案によれば、耐熱衝撃性が良
好で安価なセラミツクス電磁流量計を実現するこ
とができる。
好で安価なセラミツクス電磁流量計を実現するこ
とができる。
第１図は本考案の一実施例の要部構成説明図
で、Ａは正面図、Ｂは平面図、第２図は従来より
一般に使用されている従来例の構成説明図であ
る。 １……測定管、２１，２２……電極部、３……
電極、３１……電極本体、３２……バツフア体、
３２１……第１バツフア層、３２２……第２バツ
フア層、３２３……第３バツフア層。
で、Ａは正面図、Ｂは平面図、第２図は従来より
一般に使用されている従来例の構成説明図であ
る。 １……測定管、２１，２２……電極部、３……
電極、３１……電極本体、３２……バツフア体、
３２１……第１バツフア層、３２２……第２バツ
フア層、３２３……第３バツフア層。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 測定流体が流れるセラミツクス製の測定管中の
電極部に導電性物質が埋め込み焼成されたセラミ
ツクス電磁流量計において、 前記電極部が前記セラミツクスの焼成温度より
高い融点をもち所要の電気伝導度を有する導電性
物質からなる柱状の固体からなる電極本体と該電
極本体の周囲に同芯閉曲線状に設けられ該電極本
体と前記セラミツクスとの間の熱膨張係数を有し
筒状の固体からなるバツフア体とを具備したこと
を特徴とするセラミツクス電磁流量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13893887U JPH0542343Y2 (ja) | 1987-09-11 | 1987-09-11 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13893887U JPH0542343Y2 (ja) | 1987-09-11 | 1987-09-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6444420U JPS6444420U (ja) | 1989-03-16 |
| JPH0542343Y2 true JPH0542343Y2 (ja) | 1993-10-26 |
Family
ID=31401735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13893887U Expired - Lifetime JPH0542343Y2 (ja) | 1987-09-11 | 1987-09-11 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0542343Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-09-11 JP JP13893887U patent/JPH0542343Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6444420U (ja) | 1989-03-16 |
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