JPH0541375Y2 - - Google Patents
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- JPH0541375Y2 JPH0541375Y2 JP397787U JP397787U JPH0541375Y2 JP H0541375 Y2 JPH0541375 Y2 JP H0541375Y2 JP 397787 U JP397787 U JP 397787U JP 397787 U JP397787 U JP 397787U JP H0541375 Y2 JPH0541375 Y2 JP H0541375Y2
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- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は、セラミツクス製の測定管を有するセ
ラミツクス電磁流量計に関するものである。
ラミツクス電磁流量計に関するものである。
更に詳述すれば、セラミツクス製の測定管を有
するセラミツクス電磁流量計の電極部分の改良に
関するものである。
するセラミツクス電磁流量計の電極部分の改良に
関するものである。
（従来の技術）
第４図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図である。
の構成説明図である。
図において、１はセラミツクス製の円筒状の測
定管である。２１，２２は測定管１に対向して配
置され導電性粉末を混合し測定管１と一体に焼成
して形成された柱状のサーメツトの電極である。
定管である。２１，２２は測定管１に対向して配
置され導電性粉末を混合し測定管１と一体に焼成
して形成された柱状のサーメツトの電極である。
（考案が解決しようとする問題点）
このような電極においては、
導電性粉末の材質としては、導電性粉末の融点
が、セラミツク製の測定管の焼成温度より高いこ
と、かつ、高耐食性を有することが必要で、たと
えば、アルミナ（Al2O3）、ジルコニア（ZrO2）
等の酸化物セラミツクスに白金（Pt）あるいは
パラジウム（Pd）を混合する組み合わせが適当
である。
が、セラミツク製の測定管の焼成温度より高いこ
と、かつ、高耐食性を有することが必要で、たと
えば、アルミナ（Al2O3）、ジルコニア（ZrO2）
等の酸化物セラミツクスに白金（Pt）あるいは
パラジウム（Pd）を混合する組み合わせが適当
である。
次に、混合する導電性粉末の割合は、シール性
能の信頼性及びコストの面からは導電性が得られ
る範囲内でなるべく少い方が良い。電極部２１，
２２と測定管１との境界でのシール性能からは、
導電性微粉末の含有率は少なければ少いほどよ
い。なぜならば、含有率が増すほど焼成時の収縮
率が小さくなり、周囲の素地セラミツクスとの収
縮率差が大きくなり、シール性の信頼性が低下す
る。このため、導電性が得られる範囲内で含有率
はなるべく少い方がよい。
能の信頼性及びコストの面からは導電性が得られ
る範囲内でなるべく少い方が良い。電極部２１，
２２と測定管１との境界でのシール性能からは、
導電性微粉末の含有率は少なければ少いほどよ
い。なぜならば、含有率が増すほど焼成時の収縮
率が小さくなり、周囲の素地セラミツクスとの収
縮率差が大きくなり、シール性の信頼性が低下す
る。このため、導電性が得られる範囲内で含有率
はなるべく少い方がよい。
すなわち、一体に焼成される際に発生するセラ
ミツク材よりなる測定管１の収縮は第５図に示す
如く、電極２１，２２の半径方向のＸ方向及び電
極２１，２２の軸方向Ｙとがある。電極２１，２
２の導電性微粉末の体積含有率が高いと、セラミ
ツク材よりなる測定管１に比べて殆んど収縮しな
いため、その境界には、収縮Ｙによるせん断応力
が、さらに境界近傍の測定管側には、収縮Ｘによ
り周方向の引張り応力が発生する。このように応
力の発生した状態で、セラミツクスの焼成が進む
ため、境界には、クラツクが発生しやすく、この
クラツクが漏れ孔を形成し、十分な気密性が確保
できない。
ミツク材よりなる測定管１の収縮は第５図に示す
如く、電極２１，２２の半径方向のＸ方向及び電
極２１，２２の軸方向Ｙとがある。電極２１，２
２の導電性微粉末の体積含有率が高いと、セラミ
ツク材よりなる測定管１に比べて殆んど収縮しな
いため、その境界には、収縮Ｙによるせん断応力
が、さらに境界近傍の測定管側には、収縮Ｘによ
り周方向の引張り応力が発生する。このように応
力の発生した状態で、セラミツクスの焼成が進む
ため、境界には、クラツクが発生しやすく、この
クラツクが漏れ孔を形成し、十分な気密性が確保
できない。
また、焼成直後では、漏れ孔を形成するまでの
クラツクには至らなかつたとしても、境界部分に
は、応力が残留していることとなり、その後、使
用中に生じる繰り返し応力、たとえば、熱衝撃等
による熱膨張差により漏れ孔が形成されることが
あり、シール性の信頼性に問題がある。
クラツクには至らなかつたとしても、境界部分に
は、応力が残留していることとなり、その後、使
用中に生じる繰り返し応力、たとえば、熱衝撃等
による熱膨張差により漏れ孔が形成されることが
あり、シール性の信頼性に問題がある。
本考案は、この問題点を解決するものである。
本考案の目的は、電極部の良導電性を確保しつ
つ、シール性について高信頼性を確保し得るセラ
ミツクス電磁流量計を提供するにある。
つ、シール性について高信頼性を確保し得るセラ
ミツクス電磁流量計を提供するにある。
（問題点を解決するための手段）
この目的を達成するために、本考案は、測定流
体が流れるセラミツクス製の測定管中の電極部に
導電性物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電
磁流量計において、前記電極部が所要の体積含有
率の導電性物質が混入されたセラミツクスよりな
る柱状の電極本体と、該電極本体に同心閉曲線状
に設けられ該電極本体より小さい体積含有率の導
電性物質が混入されたセラミツクスよりなる筒状
のバツフア体とを具備したことを特徴とするセラ
ミツクス電磁流量計を構成したものである。
体が流れるセラミツクス製の測定管中の電極部に
導電性物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電
磁流量計において、前記電極部が所要の体積含有
率の導電性物質が混入されたセラミツクスよりな
る柱状の電極本体と、該電極本体に同心閉曲線状
に設けられ該電極本体より小さい体積含有率の導
電性物質が混入されたセラミツクスよりなる筒状
のバツフア体とを具備したことを特徴とするセラ
ミツクス電磁流量計を構成したものである。
（作用）
以上の構成において、電極本体は所要の体積含
有率の導電性物質が混入されたセラミツクスより
なるので、確実な導通性が確保できる。而して、
電極本体の周囲に電極本より小さい体積含有率の
導電性物質が混入されたセラミツクスよりなるバ
フフア体を設けたので、電極本体とバツフア体と
測定管との各々の境界における導電性物質の体積
含有率差が小さくなり、焼成時の収縮量差が小さ
くできる。
有率の導電性物質が混入されたセラミツクスより
なるので、確実な導通性が確保できる。而して、
電極本体の周囲に電極本より小さい体積含有率の
導電性物質が混入されたセラミツクスよりなるバ
フフア体を設けたので、電極本体とバツフア体と
測定管との各々の境界における導電性物質の体積
含有率差が小さくなり、焼成時の収縮量差が小さ
くできる。
以下、実施例に基づき詳細に説明する。
（実施例）
第１図は、本考案の一実施例の要部構成説明図
で、Ａは正面図、Ｂは平面図である。
で、Ａは正面図、Ｂは平面図である。
図において、第４図と同一記号は同一機能を示
す。
す。
以下、第４図と相違部分のみ説明する。
図において、３は電極部である。電極３は柱状
の電極本体３１とバツフア体３２とよりなる。電
極本体３１は所要の体積含有率の導電性物質が混
入されたセラミツクスよりなる。この場合は、体
積含有率が50％の白金又はパラジウムの導電性物
質が混入された、アルミナ（Al2O3）あるいはジ
ルコニア（ZrO2）等の酸化物セラミツクスより
なる。バツフア体３２は、電極本体３１に同心閉
曲線状に設けられ、電極本体３１より小さい体積
含有率の導電性物質が混入されたセラミツクスよ
りなり筒状をなす。この場合は、体積含有率が20
％の白金又はパラジウムの導電性物質が混入され
た酸化物セラミツクスよりなる。
の電極本体３１とバツフア体３２とよりなる。電
極本体３１は所要の体積含有率の導電性物質が混
入されたセラミツクスよりなる。この場合は、体
積含有率が50％の白金又はパラジウムの導電性物
質が混入された、アルミナ（Al2O3）あるいはジ
ルコニア（ZrO2）等の酸化物セラミツクスより
なる。バツフア体３２は、電極本体３１に同心閉
曲線状に設けられ、電極本体３１より小さい体積
含有率の導電性物質が混入されたセラミツクスよ
りなり筒状をなす。この場合は、体積含有率が20
％の白金又はパラジウムの導電性物質が混入され
た酸化物セラミツクスよりなる。
以上の構成において、電極本体３１は、体積含
有率が50％の白金又はパラジウムの導電性物質が
混入されたセラミツクスよりなる。一般に、セラ
ミツクス内に混合される導電性物質の体積含有率
は、大きくなるほど、連続した導電性物質の層は
生成されやすく、20％以上の体積含有率を有すれ
ば、確実な導通が得られる。したがつて、体積含
有率50％では充分であり、かつ、測定流体との接
液インピーダンスも低くし得る。バツフア体３２
は、体積含有率が20％の白金又はパラジウムの導
電性物質が混入された酸化物セラミツクスよりな
るので、焼成時の収縮率差が少くなり、クラツク
等が、測定管１とバツフア体３２と電極本体３１
との境界部分に発生するおそれはなく、シール性
に対する信頼性の高い、かつ、耐衝撃性の高いセ
ラミツクス電磁流量計が得られる。
有率が50％の白金又はパラジウムの導電性物質が
混入されたセラミツクスよりなる。一般に、セラ
ミツクス内に混合される導電性物質の体積含有率
は、大きくなるほど、連続した導電性物質の層は
生成されやすく、20％以上の体積含有率を有すれ
ば、確実な導通が得られる。したがつて、体積含
有率50％では充分であり、かつ、測定流体との接
液インピーダンスも低くし得る。バツフア体３２
は、体積含有率が20％の白金又はパラジウムの導
電性物質が混入された酸化物セラミツクスよりな
るので、焼成時の収縮率差が少くなり、クラツク
等が、測定管１とバツフア体３２と電極本体３１
との境界部分に発生するおそれはなく、シール性
に対する信頼性の高い、かつ、耐衝撃性の高いセ
ラミツクス電磁流量計が得られる。
第２図は本考案の他の実施例の構成説明図であ
る。
る。
本実施例においては、電極本体３１を中心に、
同心円状に、外径方向に体積含有率が40％の白金
又はパラジウムの導電性物質が混入されたアルミ
ナ、あるいは、ジルコニア等の酸化物セラミツク
スよりなる第１バツフア層３３１、その外側に、
30％体積含有率の第２バツフア層３３２、その外
側に、20％体積含有率の第３バツフア層３３３、
その外側に、10％体積含有率の第４バツフア層３
２４よりなるバツフア体３３を構成したものであ
る。
同心円状に、外径方向に体積含有率が40％の白金
又はパラジウムの導電性物質が混入されたアルミ
ナ、あるいは、ジルコニア等の酸化物セラミツク
スよりなる第１バツフア層３３１、その外側に、
30％体積含有率の第２バツフア層３３２、その外
側に、20％体積含有率の第３バツフア層３３３、
その外側に、10％体積含有率の第４バツフア層３
２４よりなるバツフア体３３を構成したものであ
る。
バツフア体３３は、第１、第２、第３、第４バ
ツフア層３３１，３３２，３３３，３３４と体積
含有率が10％づつ順次漸減しており、電極本体３
１と第１バツフア層３３１との体積含有率差は10
％であり、第４バツフア層３３４と測定管１との
体積含有率は10％であるので、焼成時の収縮率差
が少くなり、電極本体３１と第１バツフア層３３
１との境界部分と、第４バツフア層３３４と測定
管１との境界部分に、クラツク等が発生するおそ
れはなく、シール性と耐熱衝撃性の高いセラミツ
クス電磁流量計が得られる。
ツフア層３３１，３３２，３３３，３３４と体積
含有率が10％づつ順次漸減しており、電極本体３
１と第１バツフア層３３１との体積含有率差は10
％であり、第４バツフア層３３４と測定管１との
体積含有率は10％であるので、焼成時の収縮率差
が少くなり、電極本体３１と第１バツフア層３３
１との境界部分と、第４バツフア層３３４と測定
管１との境界部分に、クラツク等が発生するおそ
れはなく、シール性と耐熱衝撃性の高いセラミツ
クス電磁流量計が得られる。
なお、各バツフア層３３１，３３２，３３３，
３３４は体積含有率が10％に限ることはないのは
勿論である。
３３４は体積含有率が10％に限ることはないのは
勿論である。
第３図は本考案の他の実施例の構成説明図であ
る。
る。
本実施例においては、バツフア体３４の内径か
ら外径方向に、電極本体３１のセラミツク濃度か
ら測定管１のセラミツク濃度まで徐々に連続的に
セラミツク濃度を上げるようにしたものである。
ら外径方向に、電極本体３１のセラミツク濃度か
ら測定管１のセラミツク濃度まで徐々に連続的に
セラミツク濃度を上げるようにしたものである。
このようにすれば、第２図実施例の如く、段階
的にバツフア層を構成する必要はなく、安価にで
きると共に、導電性物質の体積含有率差を滑らか
に吸収することができる。
的にバツフア層を構成する必要はなく、安価にで
きると共に、導電性物質の体積含有率差を滑らか
に吸収することができる。
なお、電極本体３１は体積含有率50％よりなる
導電性物質の混入されたセラミツクよりなると説
明したが、これに限ることはなく、導電性を有
し、接液インピーダンスが低く確保できるもので
あればよい。
導電性物質の混入されたセラミツクよりなると説
明したが、これに限ることはなく、導電性を有
し、接液インピーダンスが低く確保できるもので
あればよい。
（考案の効果）
以上説明したように、本考案は、測定流体が流
れるセラミツクス製の測定管中の電極部に導電性
物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電磁流量
計において、前記電極部が所要の体積含有率の導
電性物質が混入されたセラミツクスよりなる柱状
の電極本体と、該電極本体に同心閉曲線状に設け
られ該電極本体より小さい体積含有率の導電性物
質が混入されたセラミツクスよりなる筒状のバツ
フア体とを具備したことを特徴とするセラミツク
ス電磁流量計を構成したので、電極本体は確実な
導通性と、接液インピーダンスが低いものが得ら
れる。一方、バツフア体により電極本体とバツフ
ア体と測定管との各境界における導電性物質の体
積含有率差が小さくなり、焼成時の収縮量差、熱
シヨツク印加時の温度膨張係数差による境界面で
のクラツクの発生を防止することができ、シール
性について確実な信頼性が得られる。
れるセラミツクス製の測定管中の電極部に導電性
物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電磁流量
計において、前記電極部が所要の体積含有率の導
電性物質が混入されたセラミツクスよりなる柱状
の電極本体と、該電極本体に同心閉曲線状に設け
られ該電極本体より小さい体積含有率の導電性物
質が混入されたセラミツクスよりなる筒状のバツ
フア体とを具備したことを特徴とするセラミツク
ス電磁流量計を構成したので、電極本体は確実な
導通性と、接液インピーダンスが低いものが得ら
れる。一方、バツフア体により電極本体とバツフ
ア体と測定管との各境界における導電性物質の体
積含有率差が小さくなり、焼成時の収縮量差、熱
シヨツク印加時の温度膨張係数差による境界面で
のクラツクの発生を防止することができ、シール
性について確実な信頼性が得られる。
以上説明したように、本考案によれば、電極部
の良導電性を確保しつつ、シール性について、高
信頼性を確保し得るセラミツクス電磁流量計を実
現することができる。
の良導電性を確保しつつ、シール性について、高
信頼性を確保し得るセラミツクス電磁流量計を実
現することができる。
第１図は本考案の一実施例の構成説明図で、Ａ
は正面図、Ｂは平面図、第２図は本考案の他の実
施例の構成説明図で、Ａは正面図、Ｂは平面図、
第３図は本考案の別の実施例の構成説明図、第４
図は従来より一般に使用されている従来例の構成
説明図、第５図は第４図の動作説明図である。 １……測定管、３……電極部、３１……電極本
体、３２，３３，３４……バツフア体、３３１…
…第１バツフア層、３３２……第２バツフア層、
３３３……第３バツフア層、３３４……第４バツ
フア層。
は正面図、Ｂは平面図、第２図は本考案の他の実
施例の構成説明図で、Ａは正面図、Ｂは平面図、
第３図は本考案の別の実施例の構成説明図、第４
図は従来より一般に使用されている従来例の構成
説明図、第５図は第４図の動作説明図である。 １……測定管、３……電極部、３１……電極本
体、３２，３３，３４……バツフア体、３３１…
…第１バツフア層、３３２……第２バツフア層、
３３３……第３バツフア層、３３４……第４バツ
フア層。
Claims (1)
- 測定流体が流れるセラミツクス製の測定管中の
電極部に導電性物質が埋め込み焼成されたセラミ
ツクス電磁流量計において、前記電極部が所要の
体積含有率の導電性物質が混入されたセラミツク
スよりなる柱状の電極本体と、該電極本体に同心
閉曲線状に設けられ該電極本体より小さい体積含
有率の導電性物質が混入されたセラミツクスより
なる筒状のバツフア体とを具備したことを特徴と
するセラミツクス電磁流量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP397787U JPH0541375Y2 (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP397787U JPH0541375Y2 (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63111618U JPS63111618U (ja) | 1988-07-18 |
| JPH0541375Y2 true JPH0541375Y2 (ja) | 1993-10-20 |
Family
ID=30784224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP397787U Expired - Lifetime JPH0541375Y2 (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0541375Y2 (ja) |
-
1987
- 1987-01-14 JP JP397787U patent/JPH0541375Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63111618U (ja) | 1988-07-18 |
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