JPH0543416Y2 - - Google Patents
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- JPH0543416Y2 JPH0543416Y2 JP1988074656U JP7465688U JPH0543416Y2 JP H0543416 Y2 JPH0543416 Y2 JP H0543416Y2 JP 1988074656 U JP1988074656 U JP 1988074656U JP 7465688 U JP7465688 U JP 7465688U JP H0543416 Y2 JPH0543416 Y2 JP H0543416Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- camera
- circuit board
- printed circuit
- inspected
- cylindrical body
- Prior art date
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この考案はプリント基板のパターンの導通・短
絡等を検査するプリント基板検査装置に関する。
絡等を検査するプリント基板検査装置に関する。
さらにこの考案はプリント基板上特に2箇所に
設けた画像認識用マークまたはパターンを2個の
光学カメラによつて位置検出し、その後治具に設
けた多数のスプリングプローブによつて被検査プ
リント基板を検査するに当り治具とプリント基板
の位置関係を検出データに基づいて微調整する型
の検査装置に関する。
設けた画像認識用マークまたはパターンを2個の
光学カメラによつて位置検出し、その後治具に設
けた多数のスプリングプローブによつて被検査プ
リント基板を検査するに当り治具とプリント基板
の位置関係を検出データに基づいて微調整する型
の検査装置に関する。
[従来の技術]
従来のプリント基板検査装置は例えば第4図の
様に構成され、例えばアクリルの厚板等に多数の
スプリングプローブ32を取付け正確な位置に保
持されている上側検査治具31、またこの上側検
査治具31に対して正確な再現性をもつて上下移
動できる上下動装置13に取付けたX−Y−θ可
動テーブル1、その上に固定された下側位置規定
用検査治具15を有し、それの系合ピンによつて
被検査プリント基板20を位置決め固定してその
上面に設けられている被検査パターン22をスプ
リングプローブ32によつて検査するものであ
る。
様に構成され、例えばアクリルの厚板等に多数の
スプリングプローブ32を取付け正確な位置に保
持されている上側検査治具31、またこの上側検
査治具31に対して正確な再現性をもつて上下移
動できる上下動装置13に取付けたX−Y−θ可
動テーブル1、その上に固定された下側位置規定
用検査治具15を有し、それの系合ピンによつて
被検査プリント基板20を位置決め固定してその
上面に設けられている被検査パターン22をスプ
リングプローブ32によつて検査するものであ
る。
[考案が解決しようとする課題]
このようなプリント基板検査装置においてはプ
リント基板の配線ワイヤリングの間隔が0.5mm間
隔程度であるから、プリント基板20の下側位置
規定用検査治具15上への取付け誤差が約0.3mm
以上生ずると正しく作られている被検査プリント
基板であつても配線切断あるいはパターン不良と
同様の検査結果が生じる。このため従来は、検査
治具15上の位置決め基準ピン16,16に人が
目視により被検査プリント基板を正確にセツトし
かつそのセツト状態を確認しつつ導通短絡検査を
するということが必要であつた。
リント基板の配線ワイヤリングの間隔が0.5mm間
隔程度であるから、プリント基板20の下側位置
規定用検査治具15上への取付け誤差が約0.3mm
以上生ずると正しく作られている被検査プリント
基板であつても配線切断あるいはパターン不良と
同様の検査結果が生じる。このため従来は、検査
治具15上の位置決め基準ピン16,16に人が
目視により被検査プリント基板を正確にセツトし
かつそのセツト状態を確認しつつ導通短絡検査を
するということが必要であつた。
さらにこのような従来例においては数枚ないし
数十枚の被検査プリント基板の検査を行つた後下
側位置規定用検査治具15の位置及びX−Y−θ
可動テーブル1が上側検査治具31に対して正確
な位置関係にあるかどうかを検査し、それらの位
置関係に狂いが生じている場合には再微調整を行
う必要があつた。このような従来の装置において
は、例えば被検査プリント基板の装着載置が前記
の約0.3mm以上の位置誤差を生じた場合には、プ
リント基板が良品であつても不良品と判定され、
その場合には被検査プリント基板は一度後退し再
び検査位置に載置され再びスプリングプローブ3
2,32……により検査を繰り返して受ける。こ
のためプリント基板の表面のワイヤリングパター
ンはスプリングプローブ等の接触子により検査パ
ターンの表面にいくつもの傷がつけられるという
問題点があつた。
数十枚の被検査プリント基板の検査を行つた後下
側位置規定用検査治具15の位置及びX−Y−θ
可動テーブル1が上側検査治具31に対して正確
な位置関係にあるかどうかを検査し、それらの位
置関係に狂いが生じている場合には再微調整を行
う必要があつた。このような従来の装置において
は、例えば被検査プリント基板の装着載置が前記
の約0.3mm以上の位置誤差を生じた場合には、プ
リント基板が良品であつても不良品と判定され、
その場合には被検査プリント基板は一度後退し再
び検査位置に載置され再びスプリングプローブ3
2,32……により検査を繰り返して受ける。こ
のためプリント基板の表面のワイヤリングパター
ンはスプリングプローブ等の接触子により検査パ
ターンの表面にいくつもの傷がつけられるという
問題点があつた。
さらに第4図において仮想線で示したように複
数の光学カメラ40,40をアーム49,49に
よつてそれぞれ移動可能に上側検査治具31の上
部に設け、この光学カメラ40,40によつて上
側検査治具31に設けた開口部39,39を通し
てその下にある被検査プリント基板20のアライ
ンメント用マーク23,23の位置を検出しそれ
によつて上側検査治具31に対する被検査プリン
ト基板20の位置のずれを検出し、その検出デー
タに基づいてX−Y−θ可動テーブル1を微調整
して被検査プリント基板20の位置のずれを補正
するようにした、可動型のアラインメントカメラ
を用いたプリント基板検査装置もあつた。このよ
うな可動型の光学カメラ40,40は上側検査治
具31に対して相対的に移動可能なアーム49,
49に取付けられているため、その光学カメラ4
0,40の位置自体に誤差を生ずる恐れがあり、
カメラアームにX−Y−θ可動機構を必要とする
ことはもとよりスプリングプローブの配線部が光
学カメラ40,40の光束に干渉する欠点があ
る。また可動アーム49,49によつて取付けら
れている光学カメラ40,40は例えばX−Y−
θ可動テーブル1の上下動を行う上下装置、ある
いは被検査プリント基板20の着脱装置の動きに
よる振動を受けて光学像による認識制度誤差が大
きく、さらに光学カメラ40,40がスプリング
プローブの配線より上を移動するように相当上の
方に設けられているため光学カメラ40,40に
外乱光が入るという欠点があつた。
数の光学カメラ40,40をアーム49,49に
よつてそれぞれ移動可能に上側検査治具31の上
部に設け、この光学カメラ40,40によつて上
側検査治具31に設けた開口部39,39を通し
てその下にある被検査プリント基板20のアライ
ンメント用マーク23,23の位置を検出しそれ
によつて上側検査治具31に対する被検査プリン
ト基板20の位置のずれを検出し、その検出デー
タに基づいてX−Y−θ可動テーブル1を微調整
して被検査プリント基板20の位置のずれを補正
するようにした、可動型のアラインメントカメラ
を用いたプリント基板検査装置もあつた。このよ
うな可動型の光学カメラ40,40は上側検査治
具31に対して相対的に移動可能なアーム49,
49に取付けられているため、その光学カメラ4
0,40の位置自体に誤差を生ずる恐れがあり、
カメラアームにX−Y−θ可動機構を必要とする
ことはもとよりスプリングプローブの配線部が光
学カメラ40,40の光束に干渉する欠点があ
る。また可動アーム49,49によつて取付けら
れている光学カメラ40,40は例えばX−Y−
θ可動テーブル1の上下動を行う上下装置、ある
いは被検査プリント基板20の着脱装置の動きに
よる振動を受けて光学像による認識制度誤差が大
きく、さらに光学カメラ40,40がスプリング
プローブの配線より上を移動するように相当上の
方に設けられているため光学カメラ40,40に
外乱光が入るという欠点があつた。
また他の従来例として光学カメラ40,40を
設けたアーム49′,49′を、上側治具の下で被
検査プリント基板20の上に手入させてプリント
基板20の位置確認をするものもあつた。しかし
この例でも上記従来例と殆ど同様の問題点があつ
た。
設けたアーム49′,49′を、上側治具の下で被
検査プリント基板20の上に手入させてプリント
基板20の位置確認をするものもあつた。しかし
この例でも上記従来例と殆ど同様の問題点があつ
た。
[課題を解決するための手段]
この考案は上述の従来のプリント基板検査装置
における上記の問題点を解決するために、被検査
プリント基板上のアラインメント用マークの光学
的に検出して認識データ出力を出すための光学カ
メラを、上側検査治具に埋込固定して設けた筒状
体に対して、すきまばめにより取付けるようにし
たものである。
における上記の問題点を解決するために、被検査
プリント基板上のアラインメント用マークの光学
的に検出して認識データ出力を出すための光学カ
メラを、上側検査治具に埋込固定して設けた筒状
体に対して、すきまばめにより取付けるようにし
たものである。
即ち本件の第1の考案のプリント基板検査装置
は次の要素を具備して構成される: 所定の多数の位置に被検査プリント基板検査用
スプリングプローブを有するとともにオプトエレ
クトロニクス的に被検査プリント基板の光像を検
出するカメラを所定位置に取付けられる上部治具
板、 上記の上部治具板に固着保持されたカメラ、 被検査プリント基板を上面に載置保持するべき
X−Y−θ可動テーブル、 上記のX−Y−θ可動テーブルを正確な位置再
現性をもつて上部治具板に押圧するべく上昇しま
た下降する上下動装置、 上記の上部治具板上に貫入埋設固着されたカメ
ラ保持用の筒状体であつて、その内面は上記カメ
ラの外筒をすきるばめ関係で保持する寸法に仕上
げられ、その筒面の一部にカメラの外筒に設けた
位置方向規制キーを受けれる溝を有し、その筒状
体上端縁面がカメラの外筒の高さ規制つばに当接
する高さ規制面をなしているところの、カメラ保
持用の筒状体。
は次の要素を具備して構成される: 所定の多数の位置に被検査プリント基板検査用
スプリングプローブを有するとともにオプトエレ
クトロニクス的に被検査プリント基板の光像を検
出するカメラを所定位置に取付けられる上部治具
板、 上記の上部治具板に固着保持されたカメラ、 被検査プリント基板を上面に載置保持するべき
X−Y−θ可動テーブル、 上記のX−Y−θ可動テーブルを正確な位置再
現性をもつて上部治具板に押圧するべく上昇しま
た下降する上下動装置、 上記の上部治具板上に貫入埋設固着されたカメ
ラ保持用の筒状体であつて、その内面は上記カメ
ラの外筒をすきるばめ関係で保持する寸法に仕上
げられ、その筒面の一部にカメラの外筒に設けた
位置方向規制キーを受けれる溝を有し、その筒状
体上端縁面がカメラの外筒の高さ規制つばに当接
する高さ規制面をなしているところの、カメラ保
持用の筒状体。
また本件の第2の考案のプリント基板検査装置
は次の要素を具備して構成される: 所定の多数の位置に被検査プリント基板検査用
スプリングプローブを有するとともにオプトエレ
クトロニクス的に被検査プリント基板の光像を検
出するカメラを所定位置に取付けられる上部治具
板、 被検査プリント基板を上面に載置保持するべき
X−Y−θ可動テーブル、 上記のX−Y−θ可動テーブルを正確な位置再
現性をもつて上部治具板に押圧するべく上昇しま
た下降する上下動装置、 上記の上部治具板上に貫入埋設固着されたカメ
ラ保持用の筒状体であつて、その内面は上記カメ
ラの外筒をすきまばめ関係で保持する寸法に仕上
げられ、その筒面の一部にカメラの外筒に設けた
位置方向規制キーを受けれる溝を有し、その筒状
体上端縁面がカメラの外筒の高さ規制つばに当接
する高さ規制面をなしているところの、カメラ保
持用の筒状体。
は次の要素を具備して構成される: 所定の多数の位置に被検査プリント基板検査用
スプリングプローブを有するとともにオプトエレ
クトロニクス的に被検査プリント基板の光像を検
出するカメラを所定位置に取付けられる上部治具
板、 被検査プリント基板を上面に載置保持するべき
X−Y−θ可動テーブル、 上記のX−Y−θ可動テーブルを正確な位置再
現性をもつて上部治具板に押圧するべく上昇しま
た下降する上下動装置、 上記の上部治具板上に貫入埋設固着されたカメ
ラ保持用の筒状体であつて、その内面は上記カメ
ラの外筒をすきまばめ関係で保持する寸法に仕上
げられ、その筒面の一部にカメラの外筒に設けた
位置方向規制キーを受けれる溝を有し、その筒状
体上端縁面がカメラの外筒の高さ規制つばに当接
する高さ規制面をなしているところの、カメラ保
持用の筒状体。
[作用]
上部治具板31に固定された筒状体34,34
にCCDカメラ等の光学カメラ40,40の鏡胴
41,41がすきまばめによつて正確な再現性を
もつて挿入され、しかもそのカメラレンズ鏡胴4
1,41に設けたキー47,47が上側検査治具
31に固着した筒状体34,34の溝341,3
41に挿入されこれによつて光学カメラ40,4
0の軸周りの角度位置が正確に規定される。
にCCDカメラ等の光学カメラ40,40の鏡胴
41,41がすきまばめによつて正確な再現性を
もつて挿入され、しかもそのカメラレンズ鏡胴4
1,41に設けたキー47,47が上側検査治具
31に固着した筒状体34,34の溝341,3
41に挿入されこれによつて光学カメラ40,4
0の軸周りの角度位置が正確に規定される。
[実施例]
この考案の実施例を第1図ないし第3図に従つ
て説明する。
て説明する。
上側検査治具31は装置基台のフレーム等に強
固にかつ正確に保持されたアクリルの厚板等に多
数のスプリングプローブ32,32を取付けたも
のである。また後述するようにこの上部検査治具
31に対して正確な再現性をもつて上下移動でき
る上下動装置が設けられ、それに取付けたX−Y
−θ可動テーブル1の上に下側位置規定用検査治
具15を固定しさらにそれによつて被検査プリン
ト基板20を固定するように構成してある。この
上側検査治具31には少なくとも2個の筒状体3
4,34が、その下端部をたとえばテーパー状に
研削した後上側検査治具31に設けた穴に圧貫入
されさらにその下端に接着剤を塗布して強固に固
定されている。
固にかつ正確に保持されたアクリルの厚板等に多
数のスプリングプローブ32,32を取付けたも
のである。また後述するようにこの上部検査治具
31に対して正確な再現性をもつて上下移動でき
る上下動装置が設けられ、それに取付けたX−Y
−θ可動テーブル1の上に下側位置規定用検査治
具15を固定しさらにそれによつて被検査プリン
ト基板20を固定するように構成してある。この
上側検査治具31には少なくとも2個の筒状体3
4,34が、その下端部をたとえばテーパー状に
研削した後上側検査治具31に設けた穴に圧貫入
されさらにその下端に接着剤を塗布して強固に固
定されている。
第2図Bは上記の筒状体34の構造を示す。図
示のように筒状体34は下部349をわずかにテ
ーパー状に先細りとしまた上部にはキー溝341
が設けられこのキー溝の下部には連通溝342を
経て丸穴部343が設けられて、正確なキー溝の
寸法を常に保持しつつ、光学カメラ40のレンズ
鏡胴41が無理なく着脱できるようにしてある。
筒状体の内面345は精密に仕上げられている。
この筒状体34にはCCDカメラ等の光学カメラ
40の下部に設けられたレンズ鏡胴41がすきま
ばめの関係で挿入されるように、光学カメラの外
径が選ばれている。光学カメラ40のレンズ鏡胴
41の上部には光学カメラ40の高さ方向の位置
決めをするつば状体48が設けられまたつば状体
48の下面の一部にはレンズ鏡胴41から突出す
る形でキー47が設けられ、このキー47は前述
のキー溝341にすきまばめの関係で挿入される
ように幅を選ばれている。それによつてキー47
がキー溝341にはまることによつて光学カメラ
40はその光軸のまわりでの角度方向位置を正確
に規制される。また鏡胴41の下面には照明光を
伝送する光フアイバーの出力端(必要に応じて小
レンズを含む)45が対物レンズ49を取り巻く
形で多数設けられ、光フアイバーケーブル42を
通して送られてくる照明光によつて被検査プリン
ト基板20の上のマーク23を照射する。筒状体
34の上面348は上記つば48の下面と当接し
て光学カメラ40の高さ方向の位置決めを行う。
示のように筒状体34は下部349をわずかにテ
ーパー状に先細りとしまた上部にはキー溝341
が設けられこのキー溝の下部には連通溝342を
経て丸穴部343が設けられて、正確なキー溝の
寸法を常に保持しつつ、光学カメラ40のレンズ
鏡胴41が無理なく着脱できるようにしてある。
筒状体の内面345は精密に仕上げられている。
この筒状体34にはCCDカメラ等の光学カメラ
40の下部に設けられたレンズ鏡胴41がすきま
ばめの関係で挿入されるように、光学カメラの外
径が選ばれている。光学カメラ40のレンズ鏡胴
41の上部には光学カメラ40の高さ方向の位置
決めをするつば状体48が設けられまたつば状体
48の下面の一部にはレンズ鏡胴41から突出す
る形でキー47が設けられ、このキー47は前述
のキー溝341にすきまばめの関係で挿入される
ように幅を選ばれている。それによつてキー47
がキー溝341にはまることによつて光学カメラ
40はその光軸のまわりでの角度方向位置を正確
に規制される。また鏡胴41の下面には照明光を
伝送する光フアイバーの出力端(必要に応じて小
レンズを含む)45が対物レンズ49を取り巻く
形で多数設けられ、光フアイバーケーブル42を
通して送られてくる照明光によつて被検査プリン
ト基板20の上のマーク23を照射する。筒状体
34の上面348は上記つば48の下面と当接し
て光学カメラ40の高さ方向の位置決めを行う。
第3図はこの考案のプリント基板検査装置の全
体のブロツクダイアグラムであり光学カメラ4
0,40からケーブル42,42によつて取り出
された検出データは信号ケーブル44,44を経
て画像処理コントローラ101に与えられる。画
像処理コントローラ101はその2つの光学カメ
ラからの入力データをデータ処理して、被検査プ
リント基板20上のマーク23,23が光学カメ
ラの視野の中心からずれている場合、そのずれ量
及びずれ方向に基づいてX−Y−θ可動テーブル
1を駆動するX−Y−θテーブルコントローラ1
02に必要な調整用の出力を与える。この出力に
よりX−Y−θ可動テーブル1は下側検査治具1
5をX方向、Y方向及びθ方向に微調整して被検
査プリント基板20をあるべき正しい位置に置
く。このようにして被検査プリント基板20が正
確な位置に載置された後、エアーシリンダ13等
の上下装置によつて正確な再現性をもつてX−Y
−θ可動テーブル1を上昇し被検査プリント基板
20の被検査パターンに上側検査治具31に設け
られた多数の検査プローブ32,32……の尖端
を当接させる。各スプリングプローブ32,32
……から得られた電気的信号は導通短絡検査器1
03に導かれ公知の手法によつて被検査プリント
基板20の導通短絡検査を行う。
体のブロツクダイアグラムであり光学カメラ4
0,40からケーブル42,42によつて取り出
された検出データは信号ケーブル44,44を経
て画像処理コントローラ101に与えられる。画
像処理コントローラ101はその2つの光学カメ
ラからの入力データをデータ処理して、被検査プ
リント基板20上のマーク23,23が光学カメ
ラの視野の中心からずれている場合、そのずれ量
及びずれ方向に基づいてX−Y−θ可動テーブル
1を駆動するX−Y−θテーブルコントローラ1
02に必要な調整用の出力を与える。この出力に
よりX−Y−θ可動テーブル1は下側検査治具1
5をX方向、Y方向及びθ方向に微調整して被検
査プリント基板20をあるべき正しい位置に置
く。このようにして被検査プリント基板20が正
確な位置に載置された後、エアーシリンダ13等
の上下装置によつて正確な再現性をもつてX−Y
−θ可動テーブル1を上昇し被検査プリント基板
20の被検査パターンに上側検査治具31に設け
られた多数の検査プローブ32,32……の尖端
を当接させる。各スプリングプローブ32,32
……から得られた電気的信号は導通短絡検査器1
03に導かれ公知の手法によつて被検査プリント
基板20の導通短絡検査を行う。
[考案の効果]
この考案のプリント基板検査装置においてはプ
リント基板20の装着位置を検出するための2つ
またはそれ以上の光学カメラ40,40を、上側
検査治具31の面に強固にかつ高い精度をもつて
固着した筒状体34に、光学カメラ40,40の
レンズ鏡胴41,41をすきまばめによつて精度
よく取付けかつキー47をキー溝341に挿入し
た。このためこのカメラの光軸は振動等によつて
変化を生じることがなく、また多数回の被検査プ
リント基板の装着取り出しを重ねてもそれらの振
動によつてカメラの位置(3次元的)あるいはそ
の光軸の方向、あるいは光軸まわりの方向が変化
してマーカー23,23を検出したデータが誤差
を生じるようなことはない。
リント基板20の装着位置を検出するための2つ
またはそれ以上の光学カメラ40,40を、上側
検査治具31の面に強固にかつ高い精度をもつて
固着した筒状体34に、光学カメラ40,40の
レンズ鏡胴41,41をすきまばめによつて精度
よく取付けかつキー47をキー溝341に挿入し
た。このためこのカメラの光軸は振動等によつて
変化を生じることがなく、また多数回の被検査プ
リント基板の装着取り出しを重ねてもそれらの振
動によつてカメラの位置(3次元的)あるいはそ
の光軸の方向、あるいは光軸まわりの方向が変化
してマーカー23,23を検出したデータが誤差
を生じるようなことはない。
また光学カメラのレンズ鏡胴41の先端及びそ
の下面に設けられた照明用光フアイバー出力端4
5が上側検査治具31の下面近くに存在するた
め、光学カメラ40,40の視野内にスプリング
プローブ32,32の配線が存在することによる
無用の反射光の照射を受けることがなく、また照
明も適性強力な照明が鏡胴の下端部から行われ
て、外乱光に対して充分の強度で照明するため、
外乱光による誤り検出データを生じる恐れも全く
ない。
の下面に設けられた照明用光フアイバー出力端4
5が上側検査治具31の下面近くに存在するた
め、光学カメラ40,40の視野内にスプリング
プローブ32,32の配線が存在することによる
無用の反射光の照射を受けることがなく、また照
明も適性強力な照明が鏡胴の下端部から行われ
て、外乱光に対して充分の強度で照明するため、
外乱光による誤り検出データを生じる恐れも全く
ない。
また光学カメラ40,40は筒状体34を介し
て直接的に上側検査治具31に固着されるため、
従来のX−Y可動アームに光学カメラを取付けて
いた場合のような可動アームが不要となり、複雑
な機構が省略されてコストダウンされると共に、
X−Y可動アームの停止位置誤差による検出デー
タの誤差が入り込む恐れがなくなる。
て直接的に上側検査治具31に固着されるため、
従来のX−Y可動アームに光学カメラを取付けて
いた場合のような可動アームが不要となり、複雑
な機構が省略されてコストダウンされると共に、
X−Y可動アームの停止位置誤差による検出デー
タの誤差が入り込む恐れがなくなる。
光学カメラの対物レンズは上側検査治具31の
下面付近に装着することができるため、スプリン
グプローブ33,33と同様アラインメントマー
ク23,23との距離はわずかに10mm前後と身近
くすることができこのため誤差の位置検出ができ
る。
下面付近に装着することができるため、スプリン
グプローブ33,33と同様アラインメントマー
ク23,23との距離はわずかに10mm前後と身近
くすることができこのため誤差の位置検出ができ
る。
この装置によれば極めて正確に固定された光学
カメラ40,40により被検査プリント基板20
の取付け位置は正確に検出され、そのため従来の
プリント基板検査装置におけるように光学カメラ
による検出誤差のためにプリント基板の装着位置
が不正確に認識される恐れがない。したがつて良
品の被検査プリント基板であれば一度の検査でそ
のプリントパターン上にスプリングプローブの先
端が接触できる。このため従来装置の場合に多か
つた、被検査プリント基板の装着しなおしによる
複数回のスプリングプローブ接触による無用な多
数の接触傷の発生を防ぐことができ、検査時間も
著しく短縮できる。
カメラ40,40により被検査プリント基板20
の取付け位置は正確に検出され、そのため従来の
プリント基板検査装置におけるように光学カメラ
による検出誤差のためにプリント基板の装着位置
が不正確に認識される恐れがない。したがつて良
品の被検査プリント基板であれば一度の検査でそ
のプリントパターン上にスプリングプローブの先
端が接触できる。このため従来装置の場合に多か
つた、被検査プリント基板の装着しなおしによる
複数回のスプリングプローブ接触による無用な多
数の接触傷の発生を防ぐことができ、検査時間も
著しく短縮できる。
さらに光学カメラを有せず目視及び手作業によ
る被検査プリント基板の位置調整をするような原
始的方法に比べて著しく検査能率が向上する。
る被検査プリント基板の位置調整をするような原
始的方法に比べて著しく検査能率が向上する。
第1図はこの考案を実施したプリント基板検査
装置の斜面図である。第2図A及び第2図Bはそ
れぞれこの考案のプリント基板検査装置の光学カ
メラ及びこれを上側検査治具に固着するための筒
状体の斜面図である。第3図は上記実施例の電気
的回路配置を関連部品と共に示すブロツクダイア
グラムである。第4図は従来のプリント基板検査
装置の例を示す斜面図である。
装置の斜面図である。第2図A及び第2図Bはそ
れぞれこの考案のプリント基板検査装置の光学カ
メラ及びこれを上側検査治具に固着するための筒
状体の斜面図である。第3図は上記実施例の電気
的回路配置を関連部品と共に示すブロツクダイア
グラムである。第4図は従来のプリント基板検査
装置の例を示す斜面図である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 所定の多数の位置に被検査プリント基板検査
用スプリングプローブを有するとともにオプト
エレクトロニクス的に被検査プリント基板の光
像を検出するカメラを所定位置に取付けられる
上部治具板、 上記の上部治具板に固着保持されたカメラ、 被検査プリント基板を上面に載置保持するべ
きX−Y−θ可動テーブル、 上記のX−Y−θ可動テーブルを正確な位置
再現性をもつて上部治具板に押圧するべく上昇
しまた下降する上下動装置、 上記の上部治具板上に貫入埋設固着されたカ
メラ保持用の筒状体であつて、その内面は上記
カメラの外筒をすきまばめ関係で保持する寸法
に仕上げられ、その筒面の一部にカメラのレン
ズ鏡胴に設けた位置方向規制キーを受けれる溝
を有し、その筒状体上端縁面がカメラのレンズ
鏡胴の高さ規制つばに当接する高さ規制面をな
しているところの、カメラ保持用の筒状体、 を具備してなるプリント基板検査装置。 (2) 所定の多数の位置に被検査プリント基板検査
用スプリングプローブを有するとともにオプト
エレクトロニクス的に被検査プリント基板の光
像を検出するカメラを所定位置に取付けられる
上部治具板、 被検査プリント基板を上面に載置保持するべ
きX−Y−θ可動テーブル、 上記のX−Y−θ可動テーブルを正確な位置
再現性をもつて上部治具板に押圧するべく上昇
しまた下降する上下動装置、 上記の上部治具板上に貫入埋設固着されたカ
メラ保持用の筒状体であつて、その内面は上記
カメラの外筒をすきまばめ関係で保持する寸法
に仕上げられ、その筒面の一部にカメラのレン
ズ鏡胴に設けた位置方向規制キーを受けれる溝
を有し、その筒状体上端縁面がカメラのレンズ
鏡胴の高さ規制つばに当接する高さ規制面をな
しているところの、カメラ保持用の筒状体、 を具備してなるプリント基板検査装置。 (3) 第1請求項又は第2請求項において、カメラ
のレンズ鏡胴の下面に被検査プリント基板を照
射するための光を伝送する光フアイバーの出力
端部を、対物レンズ開口部の周囲に環状に配置
したことを特徴とするプリント基板検査装置。 (4) 第1請求項又は第2請求項において、前記筒
状体のキー受入溝の下側にはさらに弾力付与用
の細幅の連通溝及びその下の拡大丸穴部を設け
たことを特徴とするプリント基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988074656U JPH0543416Y2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988074656U JPH0543416Y2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01180780U JPH01180780U (ja) | 1989-12-26 |
| JPH0543416Y2 true JPH0543416Y2 (ja) | 1993-11-01 |
Family
ID=31299758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988074656U Expired - Lifetime JPH0543416Y2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0543416Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-06-03 JP JP1988074656U patent/JPH0543416Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01180780U (ja) | 1989-12-26 |
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