JPH0543573Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【0001】

【産業上の利用分野】 本考案は、Ｘ線増倍管
と、このＸ線増倍管の出口スクリーンの後方で、
像情報を運ぶ光ビームのビーム通路内に配された
ビーム伝送系と、テレビジヨン撮像管と、出口ス
クリーンの全体の像情報を有する副ビームを該副
ビームのビーム通路内に配された測定フイールド
選択装置を有する輝度制御装置を制御するのに向
けるために、ビーム通路内に配された光抽出装置
と、測定フイールド選択装置によつて決められた
測定フイールド内の光束を測定する光検出器とを
有するＸ線検査装置に関するものである。

【0002】

【従来の技術】 このような検査装置は欧州特許
第0038666号より既知で、この欧州特許に記載さ
れた装置では、光抽出装置より取出された信号
は、像映システムの輝度を制御するのに用いられ
たが、測定フイールド（測定範囲）は装置の使用
者によつて直接読取られることができない。英国
特許第1237007号には、光抽出装置によつて抽出
した光を用いて出口側スクリーンの輝度をフイル
ムを装填したカメラの映像周波数に適合させるよ
うにしたこの種の装置が記載されている。更に、
光ビーム内においてテレビジヨン撮像管の前方に
配置した絞りを出口側スクリーンの輝度変化に適
合させるようにしている。

【0003】

【考案が解決しようとする課題】 本考案の目的
は、輝度制御のため出口スクリーンの任意の一部
を選択することができ、この選択された一部を、
出口スクリーンの像が投影されるテレビジヨン回
路またはハードコピー装置に対する像形成に悪影
響を及ぼすことなく像映システムにより移すこと
のできるＸ線検査装置を供することにある。

【0004】

【課題を解決するための手段】 上記の目的を達
成するために、本考案は、冒頭に記載した種類の
Ｘ線検査装置において、測定フイールド選択装置
によつて決められた測定フイールドの像を、テレ
ビジヨン撮像管で撮像されまた出口スクリーンの
像を表するモニタ上に表示さるべきＸ線増倍管の
出口スクリーン上に投射するための光源が、像を
運ぶ光ビームのビーム通路の外側に配されたこと
を特徴とするものである。 出口スクリーン上に像映され選択された測定フイ
ールドはかくしてテレビジヨン撮像管を経て例え
ばこれと接続されたモニタ上に表示される。その
結果、Ｘ線技師は、検査を中断することなしに、
選択された測定フイールドが像の最も関心のある
部分を含んでいるかどうかを連続的に観察するこ
とができる。

【0005】 本考案の好適な実施例では光抽出装置
がプリズム、半透明にできるミラー、または一束
の光フアイバを備える。かかる光学素子は比較的
小さい遮光面を有し、従つて結像ビームの光度の
一部だけ受光するに過ぎない。かかる光学素子を
光路において結像ビームが平行になる区域に配置
したことにより光抽出装置は小さいにも拘らず出
口側スクリーン全体の映像を発生することができ
る。

【0006】 本考案の好適な実施例では、測定フイ
ールド選択装置が光抽出装置によつて偏向した光
ビームに対し直角に変位できるよう配設した測定
フイールド絞り板を備える。この場合、測定フイ
ールドの選択および選択された測定フイールドの
制御のため測定フイールド絞り板の移動によつて
制御できる測定装置を設けることができ、この測
定装置は例えば簡単なポテンシヨンメータとする
ことができる。

【0007】 本考案の他の好適な実施例では、米国
特許第3839634号から既知のコリメータ−測定フ
イールド選択装置を光路において光学素子の後に
配設する。この場合光学素子は結像ビームの外側
に配置されるから、コリメータの構成および幾何
学的配置に著しく大きい自由度があり、しかも結
像の形成に悪影響を受けることがない。同様にこ
の場合にも選択された測定フイールドを検査中に
出口側スクリーン上に投影することができる。 放射線写真用には、一般に、測定フイールドを結
像させるための光源をスイツチオフすることが望
ましい。これにより光源からの光が、ホトダイオ
ードであるのが好ましい光検出器によつて受光さ
れるのが防止される。選択された測定フイールド
を基準として使用した場合、例えばＸ線写真を作
製するために使用されるＸ線パルスの幅を適切に
選択することにより露光を適正露光に調整するこ
とができる。

【0008】

【実施例】 図面により本考案を説明する。 図１に示した本考案のＸ線検査装置の実施例は電
源２を有するＸ線管１を備え、このＸ線管から発
生したＸ線ビーム３によつて支持台４上に配置し
た対象物５を照射することができる。対象物から
の像情報を運ぶＸ線ビームを、入口側スクリーン
７、電子光学系８および出口側スクリーン９を有
するＸ線像増倍管６に入射させる。出口側スクリ
ーン９から生ずる像情報を運ぶ光ビーム１０は光
学結像系１１によりフイルムを装填したカメラ１
２およびテレビジヨン撮像管１３上に結像させ
る。光学結像系１１は、普通のように、出口側ス
クリーン９と合致する対物焦点面を有する第１レ
ンズ１４と、テレビジヨン撮像管１３のターゲツ
ト・プレート１６と合致する像焦点面を有する第
２レンズ１５と、ビーム分割（像分配）装置１７
とを備える。このビーム分割装置は例えば半透明
および／または回動自在ミラーで、レンズ１４お
よび１５の間に配置され、これを介してカメラ１
２上にも光ビームを投影することができる。例え
ば、入口側スクリーン７からの光電子を出口側ス
クリーン９上に結像する電子ビーム１８に対する
電磁界の擾乱作用を除去するため、Ｘ線像増倍管
６は、例えば米国特許第4220890号に記載された
ように漂遊放射線グリツドおよび磁気遮蔽の両方
の機能を満足できる細条状入口グリツドを有する
ハウジング１９内に収納する。 第１レンズ１４をこのように配設した場合、出口
側スクリーン９から生じ出口窓２１を介して放射
される光ビーム１０からレンズ１４および１５の
間において平行光ビームが形成される。レンズ１
４および１５の間に光抽出装置２２を配設し、こ
の光抽出装置２２により結像光ビームの一部２３
を結像光ビームの通路外に偏向させる。本例では
光抽出装置２２はプリズムの形態とし、このプリ
ズムにより結像光ビームからの光束の例えば0.1
〜１％を遮光するようにする。先に述べたよう
に、代りに、光抽出装置２２を、45°の角度で配
置され且つ半透明とすることのできるミラー、ま
たは結合レンズと一緒の光フアイバの束で構成す
ることもできる。プリズム２２により光ビーム２
３を測定フイールド選択装置２４に指向させ、測
定フイールド選択装置２４からリード線２５を介
してＸ線管１に対する給電制御装置２６を制御す
ることができる。また制御装置２６は撮像管１３
からリード線２７を介して導出した信号によつて
も制御できる。撮像管１３にはリード線２８を介
してテレビジヨン・モニタ２９が接続される。

【0009】 図２には光学結像系１１の第１レンズ
１４、第２レンズ１５およびビーム分割装置１７
を示す。像情報を運ぶ光ビーム１０（第１０図）
はレンズ１４のコリメータ作用により平行光ビー
ム３０となり、この平行光ビームは光路３１から
ビーム分割装置１７およびカメラ１２のレンズ３
２を経て記録手段例えばカメラ１２のフイルム上
に出口側スクリーン９の像を形成し、また光路３
１からレンズ１５を経て撮像管１３のターゲツ
ト・プレート１６上に出口側スクリーン９の像を
形成する。Ｘ線像増倍管６の出口側スクリーン９
は通常は、電子像を蛍光像に変換する蛍光スクリ
ーンである。この場合このようなスクリーンは、
これを像に対する対物面と考えても差支えないよ
うな構造に適切に構成される。その場合出口窓２
１は光学的に透明な偏平平坦平行板となされ、行
路長の変更は別にしてそれ自体は像を擾乱しな
い。これは光フアイバ出口窓を有するＸ線像増倍
管にも当てはまる。またこの場合、増強された像
に対し何等問題は起らない。測定フイールドの光
学的照射は、出口側スクリーン９が充分拡散した
態様で光を反射してかかる反射により光学結像系
１１に対する適切な対物を形成できるようにすべ
きことが望まれる。この要件は普通の形態のスク
リーンによつて充分満足される。図２は、場合に
よりレンズ３３を有するプリズム２２と、光ビー
ム２３の光路に配設した測定フイールド選択装置
を構成する測定フイールド・デイスク４１と、こ
の測定フイールド・デイスクの選択された測定フ
イールド絞り開口４２の後に配設したレンズ４３
と、半透明ミラー４４と、引出しリード線２５に
接続した光検出器４５と、光源４６を示す。駆動
モータ４７および駆動プーリ４８により測定フイ
ールド・デイスク４１を軸４９の周りで回転する
ことができ、この軸４９の周りには位置測定装置
５０が配設される。遮光部材５１，５２，５３に
より出口側スクリーン９からの光が光検出器４５
に入射するのを阻止する。レンズ３３は測定フイ
ールド・デイスク４１の区域内に出口側スクリー
ンの映像を形成し、このスクリーン内に選択され
た測定フイールド絞り開口４２が所望の測定フイ
ールドを選択する。この測定フイールド内への入
射光は、レンズ４３とミラー４４によつて光検出
器４５に合焦される。ホトダイオードで構成する
のが好ましい光検出器４５からの信号は記録すべ
き映像の露光のタイミング調整に使用することが
できる。測定フイールド・デイスク４１を回転す
ることにより異なる測定フイールド絞り開口を光
ビーム２３内に配置することができる。光源４６
により、選択された測定フイールド絞り開口を既
に述べた態様で出口側スクリーン上に投影するこ
とができる。出口側スクリーンから、選択された
測定フイールドもテレビジヨン・モニタ２９上に
表示する。この測定フイールド６０は、テレビジ
ヨン・モニタ２９上において、出口側スクリーン
全体の映像６１内に高輝度領域として現われる。
映像の記録の間測定フイールドは最早や点検され
る必要がなく、従つて光源４６はスイツチオフす
ることができる。 必要に応じ、測定フイールドの境界輪郭を、適当
な測定フイールド絞り開口の近くに配設した交換
可能かまたは変位可能な輪郭マスク６５を使用し
て照射することができる。その結果、境界輪郭の
照射による映像の擾乱が防止される。測定フイー
ルドの輪郭を照射するのに必要な光の量は極めて
小さい。 他の同様な方法においては測定フイールド・デイ
スクの代りに、米国特許第3839634号に記載され
た種類のコリメータ−測定フイールド選択装置６
６を光ビーム２３内に配置することができるが、
その場合には光ビーム２３はビーム１４および１
５間の光ビーム３０と同じ光路を有するようにす
る必要がある。従つてこの場合にはレンズ３３は
存在しない。このようなコリメータ−測定フイー
ルド選択装置を回転または傾斜させることによつ
て、この場合にも所望の測定フイールドを調整
し、この測定フイールドを再びテレビジヨン・モ
ニタ上に表示させることができる。調整可能な絞
りを使用した場合に起るコリメータ−測定フイー
ルド選択装置の映像に対する好ましくない影響は
その場合防止される。

【0010】

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案のＸ線検査装置の実施例を示す略
線図である。

【図２】図１における測定フイールド選択装置の
一例を詳細に示す略線図である。

【符号の説明】

１……Ｘ線管 ２……電源 ３……Ｘ線ビーム ４……支持台 ５……対象物 ６……Ｘ線増倍管 ７……入口側スクリーン ８……電子・光学系 ９……出口側スクリーン １０……光ビーム １１……光学結像系 １２……カメラ １３……テレビジヨン撮像管 １４……第１レンズ １５……第２レンズ １６……ターゲツト・プレート １７……ビーム分割装置 １８……電子ビーム １９……ハウジング ２０……細条状入口グリツド ２１……出口窓 ２２……光抽出装置 ２３……光ビーム ２４……測定フイールド選択装置 ２６……給電制御装置 ２９……テレビジヨン・モニタ ３０……平行光ビーム ３１……光路 ３２……カメラのレンズ ３３……レンズ ４１……測定フイールド・デイスク ４２……選択された測定フイールド絞り開口 ４３……レンズ ４４……半透明ミラー ４５……光検出器 ４６……光源 ４７……駆動モータ ４８……駆動プーリ ４９……軸 ５０……位置測定装置 ５１，５２，５３……遮光部材 ６０……測定フイールド ６１……映像 ６５……輪郭マスク ６６……コリメータ−測定フイールド選択装置。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ線増倍管６と、このＸ線増倍管
   ６の出口スクリーン９の後方で、像情報を運ぶ光
   ビーム１０のビーム通路３０内に配されたビーム
   伝送系１１と、テレビジヨン撮像管１３と、出口
   スクリーン９の全体の像情報を有する副ビーム２
   ３を該副ビーム２３のビーム通路内に配された測
   定フイールド選択装置４１を有する輝度制御装置
   ２４，２６を制御するのに向けるために、ビーム
   通路３０内に配された光抽出装置２２と、測定フ
   イールド選択装置４１によつて決められた測定フ
   イールド内の光束を測定する光検出器４５とを有
   するＸ線検査装置において、測定フイールド選択
   装置４１によつて決められた測定フイールドの像
   ６０を、テレビジヨン撮像管で撮像されまた出口
   スクリーン９の像を表示するモニタ２９上に表示
   さるべきＸ線増倍管６の出口スクリーン９上に投
   射するための光源４６が、像を運ぶ光ビーム１０
   のビーム通路３０の外側に配されたことを特徴と
   するＸ線検査装置。