JPH054372U - 光デイスクカートリツジ - Google Patents

光デイスクカートリツジ

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Publication number
JPH054372U
JPH054372U JP5823491U JP5823491U JPH054372U JP H054372 U JPH054372 U JP H054372U JP 5823491 U JP5823491 U JP 5823491U JP 5823491 U JP5823491 U JP 5823491U JP H054372 U JPH054372 U JP H054372U
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JP
Japan
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shell
optical disk
optical disc
contact
cartridge
Prior art date
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Pending
Application number
JP5823491U
Other languages
English (en)
Inventor
光広 梶原
義伸 石井
久雄 有宗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP5823491U priority Critical patent/JPH054372U/ja
Publication of JPH054372U publication Critical patent/JPH054372U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 帯電しやすい光ディスクカートリッジのシェ
ルから光ディスクに電荷が移行することを防止する。 【構成】 シェル1a,1bの内壁面の少なくとも光デ
ィスクと接触する部分に高抵抗の絶縁層6a〜7bを形
成した。 【効果】 シェルの内壁面に光ディスクが接触しても絶
縁層によって光ディスクへの電荷の移行が防止され、光
ディスクの帯電による塵埃の吸着が起きにくくなって、
塵埃に起因する読み出しや書き込みの障害が防止され
る。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は光ディスクカートリッジの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】
光ディスクカートリッジは偏平なシェル内に光ディスクを回転可能に収容した ものであり、シェル内面の内周部に光ディスク支持用のリブ部を形成し、内蔵さ れた光ディスク内周部の非記録領域の部分をこのリブ部で支持するようにしてあ る。光ディスクがカートリッジ内部で傾斜した場合には光ディスクの外周部分も シェル内面に接触することになるが、光ディスクの表面は記録領域から外周部の 非記録領域にかけて保護コート層で覆われているので、記録層がカートリッジの シェル内面に直接触れることはない。
【0003】 図4は光ディスクを内蔵した一般的な光ディスクカートリッジの断面を示した 図である。1は光ディスクカートリッジ、1a及び1bは光ディスクカートリッ ジ1の主要部を構成している偏平なケース状のシェル、2は光ディスク、3a及 び3bはシェル1a,1bの内面中央部に環状あるいはU字状に形成されている リブ部、4bはシェル1bの開口部、5は光ディスク2に形成されている保護コ ート層である。Aは記録層(図示せず)が設けられている光ディスク2の記録領域 を示しており、これより内側と外側はそれぞれ非記録領域となっている。
【0004】 このような構成であって、光ディスク2の記録層がカートリッジ1のシェル1 a,1bの内面に直接触れるようなことはないが、カートリッジ1は一般にポリ カーボネートやABSなどの合成樹脂成形品であるため静電気を帯びやすい。こ のため、リブ部3a,3bとの接触部分や傾いた時の外周部での接触により電荷 が移行して光ディスク2が帯電した状態になりやすく、塵埃が光ディスク2に吸 着されて読み出しや書き込みの際の障害の原因となることがあった。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
この考案はこのような問題点に着目し、シェルに接触することによる光ディス クへの電荷の移行を防止することを課題としてなされたものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上述の課題を解決するために、この考案では、シェル内壁面の少なくとも光デ ィスクと接触する可能性のある部分に、シェルとは異なる材料からなり、且つ電 気的絶縁性の優れた絶縁層を形成している。 また、シェル内壁面の少なくとも光ディスクの保護コート層と接触する可能性 のある部分に上記保護コート層と同じ材料からなる保護層を形成している。
【0007】
【作用】
シェル内壁面の絶縁層によって接触時における光ディスクへの電荷の移行が防 止され、帯電による塵埃吸着が大幅に低減される。 また、光ディスクの保護コート層とシェル内壁面の保護層とが同材質の場合に は、相互の接触や摩擦によって生ずる電位差が小さくなり、光ディスクが帯電し にくくなって塵埃吸着が大幅に低減される。
【0008】
【実施例】
次に、図示の実施例について説明する。図は各シェルの内面を示したもので図 4と同一の部分は同一の参照符号で示してあり、図1及び図2は請求項1に、ま た図3は請求項2にそれぞれ対応する実施例である。 図1に示す第1の実施例おいて、斜線で示した6a及び6bはシェル1a及び 1bの内周部に形成された絶縁層、同じく斜線で示した7a及び7bはシェル1 a及び1bの外周部に形成された絶縁層である。絶縁層6a,6bは各リブ部3 a,3bを含むような範囲で、また絶縁層7a,7bは光ディスクの外周部に対 応する一定の範囲で設けられており、例えば3.5インチタイプの場合、絶縁層 6a,6bは半径約20mmの大きさで形成され、絶縁層7a,7bは幅5〜7mm 程度に形成される。なお、4aはシェル1aの開口部である。
【0009】 これらの絶縁層6a,6b,7a,7bの材料は1×1010Ω・cm以上の抵抗 値を有する電気的絶縁性の優れたものであることが望ましく、例えばSi34、 BaTiO3、ZrTiO3のようなセラミックス、あるいはNa2O・CaO・5 SiO2のようなガラスの層をスパッタリングや蒸着、接着等の方法により0.5 mm以下の厚さで形成するのである。なお、高抵抗絶縁物を樹脂系の紙にコーティ ングした高抵抗紙を貼り付けることによってもこれらの絶縁層を形成することが できる。
【0010】 この実施例は上述のように構成されており、高抵抗の絶縁層6a〜7bによっ てカートリッジ1のシェル1a,1bと光ディスク2が接触している部分あるい は接触する可能性のある部分の間が絶縁されているので、シェル1a,1bが帯 電してもその電荷が光ディスク2に移動することが防止される。その結果、光デ ィスク2の帯電も防止され、静電気で光ディスク2に塵埃が吸着されることもな くなり、塵埃が原因で読み出しや書き込みに支障が生ずることが防止されるので ある。
【0011】 図2は内周部と外周部とに区分せず、絶縁層8a及び8bをシェル1a,1b の内面全体に形成した第2の実施例である。これにより、シェル1a,1bと光 ディスク2間の絶縁はより確実となるほか、内周部と外周部とに区分する必要が ないので絶縁層の形成工程が簡略化される利点がある。
【0012】 表1は以上の各実施例と絶縁層を設けない従来例との比較例であり、シェルを 12,000Vに帯電させた場合のシェル内に内蔵されている光ディスクの帯電 量を示したものである(単位:V)。この表から従来品に比べて実施例では帯電量 が大幅に低減されていることがわかる。
【表1】
【0013】 次に図3について述べる。図において、斜線で示した9a及び9bはシェル1 a及び1bの内面に形成された保護層であり、この例では保護層9a,9bは各 リブ部3a,3bのやや外側から光ディスク2の最外周に対応する範囲で設けら れている。保護層9a,9bは図1で説明した保護コート層5と同じ材料を用い て形成されるのであり、一般に保護コート層5にはアクリル系の紫外線硬化樹脂 が使用されるので、この場合にはこれに対応して保護層9a,9bも同じアクリ ル系の紫外線硬化樹脂が使用され、所定の範囲に塗布した後、紫外線を照射して 硬化させることによって形成される。硬化後の硬度は鉛筆硬度で2H相当、動摩 擦係数は約0.5である。
【0014】 この実施例では、光ディスク2の保護コート層5とシェル内面の保護層9a, 9bとが同材質であり、しかも硬度が高く動摩擦係数が小さいため、相互の接触 や摩擦によって生ずる電位差が小さくなる。従って、光ディスク2が帯電しにく くなって静電気による塵埃の吸着が少なくなり、塵埃が原因で読み出しや書き込 みに支障が生ずることが防止されるのである。
【0015】 表2はこの実施例と保護層を設けない従来例との比較例であり、光ディスク表 面の灰付着の面積比率を示したものである(単位:%)。ここで、灰付着の確認は 次のようにして行った。まず、シェルと光ディスクとをイオナイザーにより除電 して電位差を0Vとした。次いで、カートリッジに光ディスクを内蔵した状態で 光ディスク面に水平及び垂直方向にそれぞれ4回/秒の割合で振動させ、シェル と光ディスクを接触させ、その後に光ディスク面を灰に対して約10mmの距離に 接近させて灰を吸着する様子を確認した。 この表から従来品に比べて実施例では帯電量が大幅に低減されるため、灰付着 が生じていないことがわかる。なお、このときの光ディスクの帯電量は従来品に 比して半分以下であった。
【表2】
【0016】
【考案の効果】
上述の実施例から明らかなように、この考案は、シェル内壁面の少なくとも光 ディスクと接触する部分にシェルの材料とは異なる電気的絶縁性の優れた絶縁層 を形成したものである。従って、帯電しやすいシェルの内壁面に光ディスクが接 触しても絶縁層によって光ディスクへの電荷の移行が防止され、光ディスクの帯 電による塵埃の吸着が起きにくくなって、塵埃に起因する読み出しや書き込みの 障害が防止される。
【0017】 また、シェル内壁面の少なくとも光ディスクの保護コート層と接触する可能性 のある部分にこの保護コート層と同じ材料からなる保護層を形成したものでは、 相互に接触する層が同材質であるために接触や摩擦によって生ずる電位差が小さ くなる。従って、光ディスクが帯電しにくくなり、光ディスクに吸着された塵埃 に起因する読み出しや書き込みの障害が防止されるのである。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の第1の実施例におけるシェルの内面
を示す平面図である。
【図2】第2の実施例におけるシェルの内面を示す平面
図である。
【図3】別の実施例におけるシェルの内面を示す平面図
である。
【図4】一般的な光ディスクカートリッジの断面図であ
る。
【符号の説明】
1 光ディスクカートリッジ 1a,1b シェル 2 光ディスク 3a,3b リブ部 5 保護コート層 6a,6b,7a,7b,8a,8b 絶縁層 9a,9b 保護層

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 偏平なシェル内に光ディスクを回転可能
    に収容した光ディスクカートリッジにおいて、シェル内
    壁面の少なくとも光ディスクと接触する部分に、シェル
    とは異なる材料からなり、且つ電気的絶縁性の優れた絶
    縁層を形成してなる光ディスクカートリッジ。
  2. 【請求項2】 偏平なシェル内に光ディスクを回転可能
    に収容した光ディスクカートリッジにおいて、シェル内
    壁面の少なくとも光ディスクの保護コート層と接触する
    部分に、上記保護コート層と同じ材料からなる保護層を
    形成してなる光ディスクカートリッジ。
JP5823491U 1991-06-28 1991-06-28 光デイスクカートリツジ Pending JPH054372U (ja)

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JP5823491U JPH054372U (ja) 1991-06-28 1991-06-28 光デイスクカートリツジ

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61135108A (ja) * 1984-12-05 1986-06-23 株式会社村田製作所 電気二重層コンデンサ
JPH03108173A (ja) * 1989-09-21 1991-05-08 Seiko Epson Corp 光記録媒体用カートリッジ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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