JPH0544099B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の技術分野） 本発明は光デイスク及び光磁気デイスク等の記
録媒体の記録再生に使用されるトラツキング制御
装置に関し、特に２ビーム法によつて記録媒体の
情報ビツト列からのビーム反射光の変化に基づい
てトラツキング制御を行なうようにしたトラツキ
ング制御装置に関する。

（発明の背景） 従来、光デイスク装置あるいは光磁気デイスク
装置におけるトラツキング制御方法としては、記
録再生用の主ビームの他にトラツキング用の２本
の副ビームを記録媒体に照射し、その反射光の変
化に基づいてトラツキング制御を行なうようにし
た所謂２ビーム法が知られている。

更に２ビーム法によるトラツキング制御は次の
２種類に分けられる。

１つの方法は、光デイスクや光磁気デイスクに
予め同心円またはスパイラル状のトラツク溝を設
けておき、このトラツク溝による２ビーム法の反
射光または回析光等の反射情報に基づいてトラツ
キング制御する方法である。

他の方法は、光デイスクや光磁気デイスクには
トラツク溝を設けず、記録時に正確な同心円また
はスパイラル状に情報ビツトを書込んでビツト列
によるトラツクを形成し、再生時にビツト列でな
るトラツクからの２ビーム法による反射光情報に
基づいてトラツキング制御する方法である。

尚、トラツキング制御に利用する情報ビツト列
の記録方式は、光デイスクにあつては、レーザ光
の照射で物理的にビツト（凹凸ピツト）を形成
し、一方、光磁気デイスクにあつては、デイスク
表面の垂直磁化膜を上向きまたは下向きに垂直磁
化することでビツトを形成する。従つて、光デイ
スクにあつては２ビーム法により反射率の変化が
検出され、一方、光磁気デイスクにあつては、垂
直磁化方向によるビーム偏光面の回転（カー回転
またはフアラデイ回転）として反射情報が得られ
る。

第８図はトラツク溝を設けない情報ビツト列を
トラツクとして利用する場合のデイスク記録状態
を模式的に示したもので、１は光デイスクまたは
光磁気デイスク等の記録媒体であり、記録媒体１
の表面に凹凸ピツトまたは垂直磁化の方向として
記録したビツト２が形成され、ビツト２の配列方
向が破線で示すトラツク３となる。このような記
録ビツトをもつ記録媒体を対象とした２ビーム法
にあつては、記録再生用の主ビームBmの他に、
２本の副ビームBs１，Bs２を使用し、副ビーム
Bs１，Bs２によるビツト２からの反射情報に基
づいて主ビームBmがトラツク中心に位置するよ
うにトラツキング制御する。

第９図は従来の２ビーム法によるトラツキング
制御回路を示したもので、光源４からの光はレン
ズ５、回析格子６、ビームスプリツタ７及び反射
鏡８を介して対物レンズ９より３本のビームとし
て記録媒体１のトラツク３に照射される。トラツ
ク３を形成するビツトからの反射ビームはビーム
スプリツタ７で直角方向に偏光され、主ビーム
Bmの反射光は検出器Dmで受光され、再生信号
として外部に取り出される。一方、副ビームBs
１，Bs２の反射光は検出器Ds１，Ds２で受光さ
れ、差動アンプ１１に与えられる。

いま３本のビームが第８図の状態にあつたとす
ると、副ビームBs１とBs２はビツト中心から均
等にずれているため、検出器Ds１とDs２の出力
は等しい。ここで、ビツト２はデイスク回転によ
り３本のビームBm，Bs１，Bs２に対して相対
的に移動するため、検出器Ds１，Ds２の出力は
ビツト２の有無によつて変化し、その周波数は例
えば1MHz〜10MHz程度である。

これに対し差動アンプ１１、サーボアンプ１２
及び回転駆動モータ１３の応答周波数が10〜20K
Hzであるため、ビツト２の有無による高周波成分
の影響は受けない。従つて、副ビームBs１とBs
２はビツト列の移動による反射光の平均値を検出
するために使用される。

一方、動作中に、外乱等によつてトラツクと照
射ビームが相対的に位置ずれ（トラツに直角な方
向のずれ）を起こすと、副ビームBs１，Bs２で
検出される平均反射光量の差が差動アンプ１１で
トラツキング誤差として検出され、サーボアンプ
１２で増幅された後に駆動モータ１３に印加さ
れ、反射鏡８の回転駆動で副ビームBs１，Bs２
で検出される平均反射光量の差が常に零となるよ
うに、換言すれば主ビームBmが常にトラツクの
中心にくるようにトラツキング制御する。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、トラツク溝を設けずに記録時の
ビツト列をトラツクとして利用した場合には、光
デイスクにおける凹凸ピツト等でなるビツト列お
よび光磁気デイスクにおける垂直磁化によるビツ
ト列ともに各ビツトのトラツク方向および垂直方
向（幅方向）の大きさが一定せず、ビツトの大き
さによつても平均反射光量が変化する。

即ち、再生専用のビデオデイスクやコンパクト
デイスクのように予めビツトが記録されている場
合、記録時におけるレーザビームのパワー等を制
御してビツトの幅を揃えるようにすれば問題ない
が、ビツト幅を一定に保つ制御を行なうために記
録装置が複雑化し、また、再記録可能な光デイス
クや光磁気デイスクにあつても再記録の際にビツ
ト幅を一定に保つための装置構成が複雑化し、デ
イスクや記録再生装置のコストが高価になる。

次に、ビツトの大きさが変わることによる２ビ
ーム法によるトラツキング制御への影響を第１０
図を参照して説明する。

第１０図はビツトが大きい場合（同図ａ）と小
さい場合（同図ｂ）のトラツキング誤差信号の関
係を示す。

周知のように、記録周波数が低い場合には、記
録ビームの記録媒体への照射時間は長く、逆に記
録周波数が高い場合には、記録ビームの記録媒体
への照射時間は短くなる。

一方、記録媒体には一般に蓄熱作用があり、記
録ビームを長時間照射すると熱の蓄積によりビツ
トが長さ方向にも幅方向にも大きくなり、逆に記
録ビームが短時間照射された場合には熱の蓄積が
少ないためビツトは長さ方向にも幅方向にも小さ
くなるという記録特性を示す。

従つて、記録されたビツトは周波数が低いと第
１０図ａに示すように記録されたビツトの幅は大
きく、周波数が高くなるに従つて第１０図ｂに示
すようにビツトの幅が小さくなる。ここで、従来
の２ビーム法により得られるトラツキング誤差信
号は、副ビームBs１とBs２の平均反射光量の差
として求めているため、トラツク直角方向となる
副ビームBs１とBs２の間隔Wsを一定とした場
合、第１０図ｃに示すように、周波数が低いとき
のトラツキング誤差信号TEl（実線）と周波数が
高いときのトラツキング誤差信号TEh（破線）の
間にはTEl＞TEhの関係があり、トラツキング誤
差の検出感度は周波数が高くなるに従つて低下
し、その結果、一定感度でトラツキング誤差を検
出できないという問題があつた。

更に、光磁気デイスクにあつては、上向き又は
下向きに垂直磁化することでビツト列を形成して
いるため、ビツトの有無による反射率の差が少な
く、トラツキング誤差信号のＳ／Ｎ比が悪いとい
う問題もあつた。

（発明の目的） 本発明は、このような従来の問題点に鑑みてな
されたもので、記録されたビツトの状態に依存せ
ずに、常に一定の感度でトラツキング誤差を検出
できるようにしたトラツキング制御装置を提供す
ることを目的とする。

（発明の概要） この目的を達成するため本発明にあつては、２
ビーム法による記録媒体の記録情報のビツト列か
らの反射光の変化に基づいてトラツキング制御す
るトラツキング制御装置において、ビツトをビー
ムが次々と通過することで生ずるビーム反射光の
交流成分の振幅を検出（包絡線検波）し、２本の
副ビームの振幅検出信号の差としてトラツキング
誤差を検出すると共に、このトラツキング誤差を
主ビームの振幅検出信号または副ビームの振幅加
算信号で割つて正規化したトラツキング誤差を求
め、ビツトの状態に依存することなく常にトラツ
キング誤差の検出感度を一定に保つようにしたも
のである。

（実施例） 第１図は本発明の一実施例を示した回路ブロツ
ク図である。

まず構成を説明すると、Dmは主ビームBmの
反射光を電気信号に変換する検出器、Ds１，Ds
２は２本の副ビームBs１，Bs２の反射光を電気
信号に変換する検出器である。１４ａ，１４ｂ，
１４ｃは増幅器であり、各検出器Ds１，Dm及び
Ds２からのビツトの有無を表わす検出信号を増
幅する。１５ａ，１５ｂ，１５ｃはハイパスフイ
ルタであり、増幅器１４ａ〜１４ｃからの各出力
信号に含まれるビツトの有無に応じた交流成分の
みを取り出す。１６ａ，１６ｂ，１６ｃは整流回
路であり、ハイパスフイルタ１５ａ〜１５ｃのそ
れぞれより出力されるビツトの有無による交流成
分の振幅変化、即ち交流成分を包絡線検波した信
号を出力する。１１は作動アンプであり、副ビー
ムの振幅検出信号を出力する整流回路１６ａと１
６ｃの出力を入力接続し、２つの副ビームによる
振幅検出信号の差としてトラツキング誤差信号を
検出する。１７は割算器であり、作動アンプ１１
の出力を分子入力端子Ａに接続し、また主ビーム
の振幅検出信号を出力する整流回路１６ｂの出力
を分母入力端子Ｂに接続している。このため、割
算器１７はＡ／Ｂとなる割算出力を生じ、この割
算によつて作動アンプ１１からのトラツキング誤
差信号の正規化が行なわれる。

１９はスイツチであり、目標トラツク位置にア
クセスしたタイミングでオンし、割算器１７から
の正規化されたトラツキング誤差信号をサーボア
ンプ１２に供給し、トラツキング誤差信号が零と
なるように、即ち主ビームがビツト列でなるトラ
ツク中心に一致するように反射鏡をモータにより
回転制御する。一方、ピーク検出回路１８、アン
ドゲート２０、インバータ２２及びフリツプフロ
ツプ２１でなる回路部は、スイツチ１９のオンに
よりトラツキングの開始タイミングを決定する回
路であり、目標トラツク位置へのアクセスで主ビ
ームが目標トラツクの中心位置に達すると整流回
路１６ｂの出力が最大になることから、この整流
回路１６ｂのピーク値をピーク検出回路１８で検
出し、トラツキングオン・オフ信号２３がトラツ
キングオンによりＨレベルとなつていることを条
件にフリツプフロツプ２１のセツトでスイツチ１
９をオンしてトラツキング制御を開始させるよう
にしている。尚、主ビームの検出信号を増幅する
増幅器１４ｂの出力は再生信号として外部に取り
出されている。

次に、第２図のタイミングチヤートを参照し
て、第１図の実施例によるトラツキング制御の動
作を説明する。

今、第２図ａに示すように記録媒体に記録され
ているビツト列が図示のように大きいビツトから
小さいビツトに変化し、再び大きいビツトに変化
する記録状態にあるものとする。このような記録
媒体のビツト列に対し、２ビーム法による主ビー
ムBm及び副ビームBs１，Bs２が照射され、ト
ラツク中心に対し主ビームBmがδだけ外れ、２
本の副ビームの内の副ビームBs１がトラツク中
心に近づいた状態にあるものとする。尚、説明の
都合上、主ビームBm及び副ビームBs１，Bs２
の光強度は等しいものとする。

このような第２図ａに示すビームの照射状態で
デイスクの回転によりビツト列がビームに対し移
動したとすると、第２図ｂ，ｃ及びｄに示す主ビ
ーム及び副ビームの各検出器Ds１，Dm及びDs
２の検出出力が得られる。即ち、第２図ｃのメイ
ンビームBmの検出出力の振幅が最も大きく、ト
ラツクずれδにより副ビームBs１がトラツク中
心側に寄つていることから、次に第２図ｂの副ビ
ームBs１の検出出力が大きく、トラツクから外
れた第２図ｄの副ビームBs２の出力が最も小さ
くなる。また、各ビームの検出出力はビツトの有
無に応じた周波数の交流成分となり、ビツトが大
きい場所では交流周波数が低いと共に振幅が大き
く、一方、ビツトが小さくなると周波数が高く且
つ振幅が小さくなる。このようなビーム反射光の
検出信号が得られるのは、第１０図に示したよう
に記録時のビツトの幅の違いと公知の化学理論と
して知られた光学系の周波数特性（MTF効果）
との合成された結果として得られる。尚、第１０
図の説明では、ビツトの幅が狭くなることでトラ
ツキング誤差の検出感度が低下する問題点を指摘
したが、第２図の場合にはビツトの幅が狭くなる
ことに加えてビツトの長さが小さくなることによ
る光学系の性能低下、即ちMTF効果によつてビ
ツトの記録周波数の違いによる再生信号の振幅変
動が強調されることを同時に表わしている。

このように、検出器Ds１，Dm及びDs２で検
出されたビーム反射光の再生信号はハイパスフイ
ルタ１５ａ〜１５ｃに与えられてビツトの有無に
よる交流成分が取り出され、次段の整流回路１６
ａ〜１６ｃにおいて交流成分の振幅変化の検出、
即ち包絡線検波が行なわれ、第２図ｅ，ｆ，及び
ｇに示す振幅検出信号が得られる。

ここで、第２図ｅ〜ｇに示す振幅検出信号は、
ビツトに対する各ビームの照射面積の違いから信
号レベルが異なつているが、ビツト幅に対する３
本のビームBm，Bs１，Bs２のビーム照射面積
及び形状が等しく且つ光学系のMTF効果も同じ
であるため、ビツトの記録周波数に依存したビツ
トの大きさによる信号変化の割合は各振幅検出信
号とも等しくなる。

整流回路１６ａ〜１６ｃで得られた各ビームの
振幅検出信号の内、副ビームに対応した整流回路
１６ａと１６ｃの出力は作動アンプ１１に与えら
れ、両信号の差として第２図ｈに示すトラツキン
グ誤差信号が作動アンプ１１から出力される。こ
のトラツキング誤差信号にはビツトの大きさに依
存した誤差信号のレベル変化が含まれており、作
動アンプ１１からのトラツキング誤差信号をその
ままトラツキング制御に使用した場合には、ビツ
トの大きさによりトラツキング誤差の検出感度が
異なることになる。

そこで本発明にあつては、作動アンプ１１で検
出したトラツキング誤差信号を割算部１７の分子
入力端子Ａに入力すると共に、割算器１７の分母
入力端子Ｂに整流回路１６ｂからの主ビームの振
幅検出信号を入力とし、主ビームの振幅検出信号
でトラツキング誤差信号を割ることによりトラツ
キング誤差信号の正規化を行なう。即ち、第２図
ｈの作動アンプ１１で得られたトラツキング誤差
信号についてもビツトが大きいときと小さいとき
のトラツキング誤差信号のレベル変化は第２図ｆ
に示した主ビームの振幅検出信号のレベル変化の
割合と同じであり、主ビームの振幅検出信号でト
ラツキング誤差信号を割ることで第２図ｉに示す
一定の信号レベルVeをもつた正規化されたトラ
ツキング誤差信号を割算部１７の出力として得る
ことができる。即ち、割算部１７の出力（Ａ／
Ｂ）はビツト周波数に依存せず、この割算器１７
の出力Veが第２図ａに示したトラツキング誤差
δに比例している。

次に、第２図のタイミングチヤートに示したト
ラツキング制御を開始させるための動作を説明す
る。

通常、記録媒体にはビツト列、つまりトラツク
が多数記録されており、トラツキング制御を行な
つていない状態では外乱等によつて照射ビームが
次々とトラツクを横切つた状態にある。

第３図は照射ビームが３本のトラツクを横切つ
たときの各部の信号波形を示す。即ち、第３図ａ
は副ビームBs１の検出信号、同図ｂは主ビーム
Bmの検出信号、同図ｃは副ビームBs２の検出信
号、同図ｄは作動アンプ１１の出力信号、同図ｅ
は割算器１７の分母入力端子Ｂに対する入力信
号、及び同図ｆは割算器１７の出力信号を示す。

この第３図のタイミングチヤートに示すよう
に、トラツキング制御開始前に照射ビームが３本
のトラツクを横切つた場合には、第１０図に示し
たように副ビームBs１とBs２は主ビームBmに
対して対称に間隔Wsだけ離れているため、照射
ビームが特定のトラツクから次のトラツクに移る
までを１周期とすると、各ビームBs１，Bm，
Bs2による振幅検出信号（包絡線検波信号）は第
３図ａ〜ｃに示すように一定の位相差をもつてい
る。これらの振幅検出信号（包絡線検波信号）の
内、主ビームによる検出信号のピークは主ビーム
Bmがトラツクの中心に合致したことを示してお
り、第１図の実施例におけるピーク検出回路１８
によつて主ビームによる検出信号のピークを検出
し、トラツキング制御を起動すれば、トラツキン
グ誤差が零の状態から安定にトラツキング制御に
移行することができる。

このトラツキング制御の開始動作は、第１図の
実施例におけるピーク検出回路１８、アンドゲー
ト２０、インバータ２２及びフリツプフロツプ２
１で行なわれる。即ち、トラツキング制御を開始
する前にあつては、トラツキングオン・オフ信号
２３がＬレベルにあり、インバータ２２によりフ
リツプフロツプ２１のリセツト端子がＨレベルに
あることからＱ出力はＬレベルとなり、スイツチ
１９が開いてトラツキング制御を解除している。
次に、トラツキング制御を開始するためトラツキ
ングオン・オフ信号２３がＨレベルとなると、イ
ンバータ２２の出力がＬレベルに反転してフリツ
プフロツプ２１のリセツトが解除される。この状
態でピーク検出回路１８が照射ビームのトラツク
移動に伴う整流回路１６ｂからの振幅検出信号
（包絡線検波信号）のピーク値を検出するとＨレ
ベル出力を生じ、アンドゲート２０が許容状態と
なることでフリツプフロツプ２１をセツトし、Ｑ
＝Ｈレベル出力をもつてスイツチ１９をオンし、
割算器１７の出力をサーボアンプ１２に供給する
ことでトラツキング制御を起動する。

次に、第１図の実施例における割算器１７の分
母入力端子Ｂ側にはダイオードＤ１，Ｄ２及び規
定電圧源Vfでなるバイアス回路が設けられてお
り、このバイアス回路の動作を説明すると次の通
りである。

まず、第３図のタイミングチヤートに示したよ
うにトラツキング制御を掛けていない場合、整流
回路１６ｂからの主ビームの振幅検出信号（包絡
線検波信号）はトラツクとトラツクの間ではほと
んど零となる（第３図ｂ）。このため、割算器１
７の分母入力信号レベルが照射ビームのトラツク
移動状態で零となるために、割算器１７が飽和状
態になるか最悪の場合は発振状態に陥つてしま
う。従つて、照射ビームがトラツクを横切るとき
のトラツキング誤差信号（第３図ｄ）が乱される
ため、このトラツキング誤差信号をモニターしな
がら行なうアクセス制御の際のトラツクジヤンプ
が不安定となる。

そこで、第１図の実施例にあつては、トラツキ
ング誤差信号の正規化に使用する第３図ｂの主ビ
ームの振幅検出信号（包絡線検波信号）がトラツ
クとトラツクの間で、ある一定電圧Vfより低く
なつても、バイアス回路の働きによつて割算器１
７の分母入力端子Ｂには第３図ｅに示すような信
号が入力されるようにしてあり、その結果、第３
図ｆに示す正規化されたトラツキング誤差信号は
破線で示す従来のトラツキング誤差信号（第３図
ｄの信号）に比べてトラツク中心を横切るときの
直線性が良好となり、トラツキング誤差信号の感
度を広い範囲に亘つて一定値に近づけることがで
きるという副次的効果が得られる。

更に詳細に説明するならば、割算器１７を通る
前のトラツキング誤差信号は第３図ｄに示す信号
であり、近似的には、例えば正弦波とみなすこと
ができ、主ビームがトラツクに合致しているとき
と合致する前後では誤差信号の傾斜、換言すれば
誤差検出感度が異なつている。このため、トラツ
キングサーボの動作点によつてサーボ回路の利得
が変化し、動作が不安定になる結果を招く。この
欠点はサーボ回路が定常的に作動している場合に
は問題とはならないが、必ずしも理想的な状態で
サーボ回路をスタートすることができない場合、
例えばトラツクジヤンプの直後にサーボ回路をオ
ンする場合には、トラツキング誤差の検出感度が
異なることでサーボ系の整定時間に差が生じ、ひ
いてはトラツクジヤンプの要する時間が長くなる
という問題を生ずる。

これに対し、トラツキング誤差を正規化する割
算器１７を使用した本発明にあつては、第３図ｆ
に示すように破線で示す割算器を使用しない場合
に比べ主ビームがトラツクに合致する信号レベル
が零となる前後の広い範囲で直線性が得られ、こ
の結果、トラツキング誤差の検出感度が一定値に
近づき、トラツクジヤンプ直後にサーボ回路をオ
ンして過渡応答があつたとしても、主ビームをト
ラツクに合致させるための整定時間に差を生ずる
ことがなく、トラツクジヤンプに要する時間を短
くすることができる。

第４図は本発明の他の実施例を示した回路ブロ
ツク図であり、第１図の実施例と異なる点は、主
ビームの信号処理系において、ハイパスフイルタ
１５ｂと整流回路１６ｂを省略し、新たに加算器
２４を設け、加算器２４で整流回路１６ａと１６
ｃの加算信号を得て割算器１７の分母入力端子Ｂ
に印加している点にある。

第５図は第４図の実施例における整流回路１６
ａ，１６ｃ及び加算器２４の出力を示しており、
２本の副ビームについての振幅検出信号（包絡線
検波信号）を加算した第５図ｃの加算器２４の出
力は、第３図ｂに示した主ビームBmの振幅検出
信号（包絡線検波信号）と同様、主ビームBmが
トラツク中心と合致したときに最大となる。

従つて、第１図の実施例に示したと同様に、ピ
ーク検出回路１８によつて加算器２４の加算出力
のピーク値を検出してスイツチ１９をオンするこ
とで、安定にトラツキング制御を起動することが
できる。

但し、第３図ｂの信号と比較して第５図ｃの加
算信号は、ピーク付近の傾斜が緩やかなため、第
３図ｆに示すようなトラツキング誤差信号の直線
性を改善する効果は少なくなるが、実用上は差し
支えない。むしろ加算器２４が新たに必要になる
もののハイパスフイルタ及び整流回路を省略する
ことができ、結果的に回路規模を小さくできると
いう実用上の効果が得られる。

尚、第１図及び第４図の実施例で示したダイオ
ードＤ１，Ｄ２及び定電圧源Vfは割算器１７が
飽和状態あるいは発振状態に陥ることを避けるた
めに設けているが、例えば割算器自体で最高利得
が決まつている場合には必ずしも設ける必要はな
い。また、包絡線検波を行なう整流回路は半波整
流回路と全波整流回路の２種類があるが、本発明
にあつては、いずれの整流回路を使用してもよ
い。更に、第１図及び第４図の実施例にあつて
は、１台の割算器１７を使用しているが、他の実
施例として第６図及び第７図に示すように２台の
割算器１７ａ，１７ｂを使用しても同様な回路機
能を実現することができる。

即ち、第６図は第１図の実施例について２台の
割算器１７ａ，１７ｂを使用したもので、整流回
路１６ａ，１６ｃ毎に割算器１７ａ，１７ｂを設
けて分子入力端子に接続し、整流回路１６ｂの出
力を各割算器１７ａ，１７ｂの分母入力端子Ｂに
共通接続する。このように、トラツキング誤差信
号を得る前の副ビーム振幅検出信号（包絡線検波
信号）を割算器１７ａ，１７ｂで正規化した後に
作動アンプ１１に入力し、正規化されたトラツキ
ング誤差信号を検出する。

第７図は第４図の実施例について２台の割算器
１７ａ，１７ｂを使用したもので、第６図の場合
と同様、副ビームの整流回路１６ａ，１６ｃの出
力を割算器１７ａ，１７ｂの分子入力端子Ａに接
続し、また加算器２４の出力を分母入力端子Ｂに
共通接続し、副ビームの振幅検出信号（包絡線検
波信号）を割算器１７ａ，１７ｂで正規化した後
に作動アンプ１１に入力してトラツキング誤差信
号を検出する。

（発明の効果） 以上説明してきたように本発明によれば、記録
ビツト列を対象とした２ビーム法によるトラツキ
ング制御装置において、２本の副ビームの包絡線
検波で得られた振幅検出信号の差で与えられるト
ラツキング誤差信号を主ビームによる包絡線検波
信号あるいは２個の副ビームによる包絡線検波信
号の加算信号で正規化しているため、記録周波数
の相違によるビツトの大小及び光学系の周波数特
性（MTF）に依存せず、常に一定の感度を有す
るトラツキング誤差信号を得ることができる。ま
た、ビツト列の大小のみならず、装置の動作中に
積極的手段あるいは外乱等によつて光源の強度が
変化しても、トラツキング誤差信号の感度を一定
に保つことができる。更に、本発明のトラツキン
グ制御装置は記録された情報ビツト列をトラツク
として利用する２ビーム法を例にとるものであつ
たが、予めトラツク溝を形成しているプリグルー
プ記録媒体のトラツキング制御に適用しても効果
的なトラツキング制御を行なうことができる。即
ち、公知のプリグループ記録媒体を使用した２ビ
ームトラツキング制御装置においては、グループ
の回析による見かけ上の反射率の変化を利用して
いるが、この場合、未記録部分と記録部分では形
成されたビツトによつて更に反射率が異なり、ビ
ツトを形成することによる反射率の変化が大きい
場合には良好なトラツキング誤差信号及びトラツ
キング制御を起動するための性能が得られない。
従つて、従来のプリグループ記録媒体のトツキン
グ制御装置と本発明のトラツキング制御装置を並
列的に使用し、未記録領域ではプリグループ記録
媒体に使用され従来のトラツキング制御を行な
い、一方、記録領域については本発明によるトラ
ツキング制御を行なうように切換えれば、従来の
プリグループ記録媒体の２ビーム法によるトラツ
キング制御装置の欠点を除去することができる。
勿論、従来装置との併用において、本発明と共通
している回路部は共用化し、来装置がもたない本
発明のハイパスフイルタ及び整流回路についての
み切換えるようにすればよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示した回路ブロツ
ク図、第２図は第１図の動作を示したタイミング
チヤート、第３図はトラツキング制御開始前の動
作を示したタイミングチヤート、第４図は本発明
の他の実施例を示した回路ブロツク図、第５図は
第４図の動作を示したタイミングチヤート、第
６，７図は本発明の他の実施例を示した回路ブロ
ツク図、第８図は２ビーム法の原理を示した説明
図、第９図は従来装置の回路説明図、第１０図は
ビツトの大小によりトラツキング誤差の検出感度
が変動する状態を示した説明図である。 １１：差動アンプ、１２：サーボアンプ、１４
ａ，１４ｂ，１４ｃ：増幅器、１５ａ，１５ｂ，
１５ｃ：ハイパスフイルタ、１６ａ，１６ｂ，１
６ｃ：整流回路、１７，１７ａ，１７ｂ：割算
器、１８：ピーク検出回路、１９：スイツチ、２
０：アンドゲート、２１：フリツプフロツプ、２
２：インバータ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 記録再生用の主ビームの他に２本の副ビーム
   を記録媒体に照射し、該記録媒体の記録情報のビ
   ツト列によるビーム反射光の変化に基づいてトラ
   ツキング制御するトラツキング制御装置に於い
   て、 前記ビツトをビームが順次通過することで生ず
   るビーム反射光の交流成分の振幅を前記主ビーム
   及び副ビームのそれぞれについて検出する検出手
   段と、前記副ビームの振幅検出信号の差に応じた
   トラツキング誤差信号を検出するトラツキング誤
   差検出手段と、該トラツキング誤差信号を前記主
   ビームの振幅検出信号または副ビームの振幅加算
   信号で割つて正規化する正規化手段とを設け、ト
   ラツキング誤祖の検出感度を常に一定に保つよう
   にしたことを特徴とするトラツキング制御装置。