JPH0545397A - 配線基板の解析用シート及び解析方法 - Google Patents
配線基板の解析用シート及び解析方法Info
- Publication number
- JPH0545397A JPH0545397A JP3200336A JP20033691A JPH0545397A JP H0545397 A JPH0545397 A JP H0545397A JP 3200336 A JP3200336 A JP 3200336A JP 20033691 A JP20033691 A JP 20033691A JP H0545397 A JPH0545397 A JP H0545397A
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- Japan
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- wiring board
- straight line
- measurement points
- measurement point
- measurement
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 配線基板上の複数の測定点の中から所要の測
定点を探し出す手段として用いられる配線基板の解析用
シートに関し、特に配線基板上の複数の測定点の中から
所要の測定点を短時間で探し出すことを可能にする配線
基板の解析用シートの提供を目的とする。 【構成】 互いに平行な複数の仮想直線（Xi;i＝1,2,3,
・・・）と、この仮想直線(Xi)に直交且つ互いに平行な
複数の仮想直線（Yj;j＝1,2,3,・・・) とにより方形陣
状に区画される配線基板上に点在する測定点を表示面に
図示し、配線基板上の複数の測定点の中から所要の測定
点を探し出す手段として用いられる配線基板の解析用シ
ートを、測定点M を図示した表示面に、配線基板上にお
ける測定点との位置関係を対応させて仮想直線Xiと仮想
直線Yjとを図示し、測定点M の中で直線Xiと直線Yjとの
交点C から外れたそれぞれの測定点Maと、この測定点Ma
の近傍の交点C の中で測定点M と重畳しない交点Caとを
それぞれ１対１で対応させる直線L を図示するように構
成する。
定点を探し出す手段として用いられる配線基板の解析用
シートに関し、特に配線基板上の複数の測定点の中から
所要の測定点を短時間で探し出すことを可能にする配線
基板の解析用シートの提供を目的とする。 【構成】 互いに平行な複数の仮想直線（Xi;i＝1,2,3,
・・・）と、この仮想直線(Xi)に直交且つ互いに平行な
複数の仮想直線（Yj;j＝1,2,3,・・・) とにより方形陣
状に区画される配線基板上に点在する測定点を表示面に
図示し、配線基板上の複数の測定点の中から所要の測定
点を探し出す手段として用いられる配線基板の解析用シ
ートを、測定点M を図示した表示面に、配線基板上にお
ける測定点との位置関係を対応させて仮想直線Xiと仮想
直線Yjとを図示し、測定点M の中で直線Xiと直線Yjとの
交点C から外れたそれぞれの測定点Maと、この測定点Ma
の近傍の交点C の中で測定点M と重畳しない交点Caとを
それぞれ１対１で対応させる直線L を図示するように構
成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、配線基板上に点在する
測定点を表示面に図示し、配線基板上の複数の測定点の
中から所要の測定点を探し出す手段として用いられる配
線基板の解析用シート、特に配線基板上の複数の測定点
の中から所要の測定点を短時間で探し出すことを可能に
する配線基板の解析用シートに関する。
測定点を表示面に図示し、配線基板上の複数の測定点の
中から所要の測定点を探し出す手段として用いられる配
線基板の解析用シート、特に配線基板上の複数の測定点
の中から所要の測定点を短時間で探し出すことを可能に
する配線基板の解析用シートに関する。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来の配線基板の解析用シートに
ついて図３を参照して説明する。図２は、従来の配線基
板の解析用シートを模式的に示す要部平面図である。
ついて図３を参照して説明する。図２は、従来の配線基
板の解析用シートを模式的に示す要部平面図である。
【０００３】従来の配線基板の解析用シートは、図２に
示す如く配線基板（図示せず）上に点在する多くの測定
点Ｍを表示面に図示し、そして、この紙面上に図示され
た測定点Ｍに一連の識別番号Nk(k;1,2,3, ・・・) を付
与していた。
示す如く配線基板（図示せず）上に点在する多くの測定
点Ｍを表示面に図示し、そして、この紙面上に図示され
た測定点Ｍに一連の識別番号Nk(k;1,2,3, ・・・) を付
与していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】したがって、配線基板
の測定点Ｍ間の導通状態等の電気的な特性値を試験する
配線基板試験装置（図示せず）は、それぞれの測定点Ｍ
に関わる試験結果を識別番号Nk(k;1,2,3, ・・・) に対
応させて出力していた。
の測定点Ｍ間の導通状態等の電気的な特性値を試験する
配線基板試験装置（図示せず）は、それぞれの測定点Ｍ
に関わる試験結果を識別番号Nk(k;1,2,3, ・・・) に対
応させて出力していた。
【０００５】かかる試験等から、配線基板上の多くの測
定点Ｍの中のある測定点Ｍ’を特定して更に綿密な検査
を行なうことが必要となることは少なくない。如上の測
定点の特定、すなわち配線基板上の多くの測定点Ｍの中
から所要の測定点Ｍ’の探し出しは、配線基板試験装置
が出力した識別番号Nkと同じ番号の測定点Ｍ’を表示シ
ート上で探し出した後に、表示シート上におけるその位
置関係から配線基板上の測定点を目視により特定してい
た。
定点Ｍの中のある測定点Ｍ’を特定して更に綿密な検査
を行なうことが必要となることは少なくない。如上の測
定点の特定、すなわち配線基板上の多くの測定点Ｍの中
から所要の測定点Ｍ’の探し出しは、配線基板試験装置
が出力した識別番号Nkと同じ番号の測定点Ｍ’を表示シ
ート上で探し出した後に、表示シート上におけるその位
置関係から配線基板上の測定点を目視により特定してい
た。
【０００６】このように従来の表示シートは、この表示
シート上における位置関係を表示する機能を持たない識
別番号Nkを測定点Ｍに付与し記入していたため、特定の
識別番号Nkを表示シート上で探し出すには多くの時間が
必要となる問題があった。
シート上における位置関係を表示する機能を持たない識
別番号Nkを測定点Ｍに付与し記入していたため、特定の
識別番号Nkを表示シート上で探し出すには多くの時間が
必要となる問題があった。
【０００７】本発明は、このような問題を解消するため
になされたものであって、その目的は配線基板上の複数
の測定点の中から所要の測定点を短時間で探し出すこと
を可能にする配線基板の解析用シートの提供にある。
になされたものであって、その目的は配線基板上の複数
の測定点の中から所要の測定点を短時間で探し出すこと
を可能にする配線基板の解析用シートの提供にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】図１に示すように前記目
的は、互いに平行な複数の仮想直線（Xi;i＝1,2,3,・・
・）と、この仮想直線(Xi)に直交且つ互いに平行な複数
の仮想直線（Yj;j＝1,2,3,・・・) とにより方形陣状に
区画される配線基板上に点在する測定点を表示面に図示
し、配線基板上の複数の測定点の中から所要の測定点を
探し出す手段として用いられる配線基板の解析用シート
において、測定点Ｍを図示した表示面に、配線基板上に
おける測定点との位置関係を対応させて仮想直線Xiと仮
想直線Yjとを図示し、測定点Ｍの中で直線Xiと直線Yjと
の交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maと、この測定点
Maの近傍の交点Ｃの中で測定点とならない交点Caとを１
対１で対応させる直線Ｌを図示することを特徴とする配
線基板の解析用シートにより達成される。
的は、互いに平行な複数の仮想直線（Xi;i＝1,2,3,・・
・）と、この仮想直線(Xi)に直交且つ互いに平行な複数
の仮想直線（Yj;j＝1,2,3,・・・) とにより方形陣状に
区画される配線基板上に点在する測定点を表示面に図示
し、配線基板上の複数の測定点の中から所要の測定点を
探し出す手段として用いられる配線基板の解析用シート
において、測定点Ｍを図示した表示面に、配線基板上に
おける測定点との位置関係を対応させて仮想直線Xiと仮
想直線Yjとを図示し、測定点Ｍの中で直線Xiと直線Yjと
の交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maと、この測定点
Maの近傍の交点Ｃの中で測定点とならない交点Caとを１
対１で対応させる直線Ｌを図示することを特徴とする配
線基板の解析用シートにより達成される。
【０００９】
【作用】図１に示すように本発明の配線基板の解析用シ
ートは、測定点Ｍを図示した表示面に配線基板上におけ
る測定点との位置関係を対応させて仮想直線Xiと仮想直
線Yjとを図示するとともに、測定点Ｍの中で直線Xiと直
線Yjとの交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maと、この
測定点Maの近傍の交点Ｃの中で測定点Ｍと重畳しない交
点Caとをそれぞれ１対１で対応させる直線を図示してい
る。
ートは、測定点Ｍを図示した表示面に配線基板上におけ
る測定点との位置関係を対応させて仮想直線Xiと仮想直
線Yjとを図示するとともに、測定点Ｍの中で直線Xiと直
線Yjとの交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maと、この
測定点Maの近傍の交点Ｃの中で測定点Ｍと重畳しない交
点Caとをそれぞれ１対１で対応させる直線を図示してい
る。
【００１０】したがって、前述した配線基板試験装置
が、測定点Ｍの中で直線Xiと直線Yjとの交点Ｃにある測
定点Ｍに関わる試験結果をこの交点Ｃの座標値とともに
出力し、そして、交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Ma
に関わる試験結果をこの測定点Maが直線Ｌにより連結し
た交点Caの座標値とともに出力するようにして構成して
おけば、それぞれの測定点は配線基板試験装置が測定結
果とともに出力した座標値を見ることに直ちに探し出せ
ることとなる。
が、測定点Ｍの中で直線Xiと直線Yjとの交点Ｃにある測
定点Ｍに関わる試験結果をこの交点Ｃの座標値とともに
出力し、そして、交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Ma
に関わる試験結果をこの測定点Maが直線Ｌにより連結し
た交点Caの座標値とともに出力するようにして構成して
おけば、それぞれの測定点は配線基板試験装置が測定結
果とともに出力した座標値を見ることに直ちに探し出せ
ることとなる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例の配線基板の解析用
シートについて図１を参照して説明する。図１は、本発
明の一実施例の配線基板の解析用シートを模式的に示す
要部平面図である。なお、本明細書においては、同一部
品、同一材料等に対しては全図をとおして同じ符号を付
与してある。
シートについて図１を参照して説明する。図１は、本発
明の一実施例の配線基板の解析用シートを模式的に示す
要部平面図である。なお、本明細書においては、同一部
品、同一材料等に対しては全図をとおして同じ符号を付
与してある。
【００１２】本発明の一実施例の配線基板の解析用シー
トは、配線基板（図示せず）上の測定点を表示面に図示
した従来の配線基板の解析用シート（図２参照）に、配
線基板上における測定点との位置関係を対応させて仮想
直線Xi(i＝1,2,3,・・・）と、この仮想直線Xiに直交且
つ互いに平行な複数の仮想直線Yj(j＝1,2,3,・・・)と
を図示するとともに、測定点Ｍの中で直線Xiと直線Yjと
の交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maと、これらの測
定点Maの近傍の交点Ｃの中で測定点Ｍと位置関係が重畳
しない交点Ca( この交点Caは測定点Maの周囲に存在する
測定点Ｍと位置関係が重畳しない交点Ｃの中から任意に
選択できる) とを１対１で対応させる直線Ｌを図示する
ものである。
トは、配線基板（図示せず）上の測定点を表示面に図示
した従来の配線基板の解析用シート（図２参照）に、配
線基板上における測定点との位置関係を対応させて仮想
直線Xi(i＝1,2,3,・・・）と、この仮想直線Xiに直交且
つ互いに平行な複数の仮想直線Yj(j＝1,2,3,・・・)と
を図示するとともに、測定点Ｍの中で直線Xiと直線Yjと
の交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maと、これらの測
定点Maの近傍の交点Ｃの中で測定点Ｍと位置関係が重畳
しない交点Ca( この交点Caは測定点Maの周囲に存在する
測定点Ｍと位置関係が重畳しない交点Ｃの中から任意に
選択できる) とを１対１で対応させる直線Ｌを図示する
ものである。
【００１３】したがって、前述した配線基板試験装置
が、測定点Ｍの中で仮想直線Xiと仮想直線Yjとの交点Ｃ
にある測定点Mcに関わる試験結果をこの交点Ｃの座標値
とともに出力し、そして、測定点Ｍの中で直線Xiと直線
Yjとの交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maに関わる試
験結果をこの測定点Maが直線Ｌにより連結した交点Caの
座標値とともに出力するようにして構成しておけば、そ
れぞれ測定点は座標値を見ることにより直ちに探し出せ
ることとなる。
が、測定点Ｍの中で仮想直線Xiと仮想直線Yjとの交点Ｃ
にある測定点Mcに関わる試験結果をこの交点Ｃの座標値
とともに出力し、そして、測定点Ｍの中で直線Xiと直線
Yjとの交点Ｃから外れたそれぞれの測定点Maに関わる試
験結果をこの測定点Maが直線Ｌにより連結した交点Caの
座標値とともに出力するようにして構成しておけば、そ
れぞれ測定点は座標値を見ることにより直ちに探し出せ
ることとなる。
【００１４】かくして、配線基板上に点在する多くの測
定点から所要の測定点を短時間で特定できることとな
る。次に、前述した解析用シートを活用した配線基板の
解析方法の一実施例について図２を参照して説明する。
図２は、配線基板の解析方法の一実施例を説明するため
の模式図である。
定点から所要の測定点を短時間で特定できることとな
る。次に、前述した解析用シートを活用した配線基板の
解析方法の一実施例について図２を参照して説明する。
図２は、配線基板の解析方法の一実施例を説明するため
の模式図である。
【００１５】この一実施例の試験システムは、照準格子
状交点に一端を固定したプローブピン11a を有するプロ
ーブヘッド11、貫通孔12a にプローブピン11a を挿通さ
せて屈曲するプローブ位置変換治具12、プローブピン11
a に接続した試験機13及びこの試験機13に接続した出力
装置14とを含んで構成したものである。
状交点に一端を固定したプローブピン11a を有するプロ
ーブヘッド11、貫通孔12a にプローブピン11a を挿通さ
せて屈曲するプローブ位置変換治具12、プローブピン11
a に接続した試験機13及びこの試験機13に接続した出力
装置14とを含んで構成したものである。
【００１６】また、照準格子状交点に一端を固定したプ
ローブピン11aは、プローブ位置変換治具12の貫通孔12a
を挿通してそれぞれ所定の方向に屈曲し、その先端が
測定すべき配線基板10の測定点10aに接触するように構
成されている。
ローブピン11aは、プローブ位置変換治具12の貫通孔12a
を挿通してそれぞれ所定の方向に屈曲し、その先端が
測定すべき配線基板10の測定点10aに接触するように構
成されている。
【００１７】したがって、試験機13が配線基板10の電気
的特性値を測定し、この試験結果とともに照準格子状交
点を出力装置14を介して出力させれば、この出力された
照準格子状交点と前述した解析用シートを使用すれは、
配線基板10のそれぞれの測定点10a の特定が容易とな
る。
的特性値を測定し、この試験結果とともに照準格子状交
点を出力装置14を介して出力させれば、この出力された
照準格子状交点と前述した解析用シートを使用すれは、
配線基板10のそれぞれの測定点10a の特定が容易とな
る。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、配線基板
上の複数の測定点の中から所要の測定点を短時間で探し
出すことを可能にする。
上の複数の測定点の中から所要の測定点を短時間で探し
出すことを可能にする。
【図１】は、本発明の一実施例の配線基板の解析用シー
トを模式的に示す要部平面図、
トを模式的に示す要部平面図、
【図２】は、配線基板の解析方法の一実施例を説明する
ための模式図、
ための模式図、
【図３】は、従来の配線基板の解析用シートを模式的に
示す要部平面図、
示す要部平面図、
ＣとCaは、交点、 Ｌは、直線、 ＭとＭ’及びMaは、測定点、 Nkは、識別番号、 Xiは、仮想直線、 Yjは、仮想直線、 10は、配線基板、 10a は、測定点、 11は、プローブヘッド、 11a は、プローブピン、 12は、プローブ位置変換治具、 12a は、貫通孔、 13は、試験機、 14は、出力装置をそれぞれ示す。
Claims (2)
- 【請求項１】 互いに平行な複数の仮想直線（Xi;i＝1,
2,3,・・・）と、この仮想直線(Xi)に直交且つ互いに平
行な複数の仮想直線（Yj;j＝1,2,3,・・・)とにより方
形陣状に区画される配線基板上に点在する測定点を表示
面に図示し、配線基板上の複数の測定点の中から所要の
測定点を探し出す手段として用いられる配線基板の解析
用シートにおいて、 測定点(M) を図示した表示面に、配線基板上における測
定点との位置関係を対応させて仮想直線(Xi)と仮想直線
(Yj)とを図示し、 測定点(M) の中で前記直線(Xi)と前記直線(Yj)との交点
(C) から外れたそれぞれの測定点(Ma)と、この測定点(M
a)の近傍の交点(C) の中で測定点(M) と重畳しない交点
(Ca)とをそれぞれ１対１で対応させる直線(L) を図示す
ることを特徴とする配線基板の解析用シート。 - 【請求項２】 照準格子状交点に一端を固定且つプロー
ブ位置変換治具(12)の貫通孔(12a) を挿通したプローブ
ヘッド(11)のプローブピン(11a) の先端を配線基板(10)
の測定点(10a) に接触し、このプローブピン(11a) に接
続した試験装置(13)により配線基板(10)を試験する方法
において、 試験装置(13)が出力装置(14)を介して配線基板(10)の試
験結果とともに出力した前記標準格子状交点の座標位置
並びに前記請求項１記載の解析シートとに基づいて、配
線基板(10)上の測定点(10a) を特定することを特徴とす
る配線基板の解析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3200336A JP2900649B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 配線基板の解析用シート及び解析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3200336A JP2900649B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 配線基板の解析用シート及び解析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0545397A true JPH0545397A (ja) | 1993-02-23 |
| JP2900649B2 JP2900649B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=16422601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3200336A Expired - Fee Related JP2900649B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | 配線基板の解析用シート及び解析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2900649B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63157675U (ja) * | 1987-04-03 | 1988-10-17 |
-
1991
- 1991-08-09 JP JP3200336A patent/JP2900649B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63157675U (ja) * | 1987-04-03 | 1988-10-17 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2900649B2 (ja) | 1999-06-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990216 |
|
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