JPH0545960Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0545960Y2 JPH0545960Y2 JP13147286U JP13147286U JPH0545960Y2 JP H0545960 Y2 JPH0545960 Y2 JP H0545960Y2 JP 13147286 U JP13147286 U JP 13147286U JP 13147286 U JP13147286 U JP 13147286U JP H0545960 Y2 JPH0545960 Y2 JP H0545960Y2
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- JP
- Japan
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- phase
- phase difference
- reference waveform
- waveform
- load
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本考案は、サーボ弁を用いた油圧式アクチユエ
ータからなる複数のジヤツキにより、被試験体に
複数種類の負荷を与えて疲労破壊試験等を行なう
油圧式多負荷試験装置に関する。
ータからなる複数のジヤツキにより、被試験体に
複数種類の負荷を与えて疲労破壊試験等を行なう
油圧式多負荷試験装置に関する。
［従来の技術］
従来の油圧式多負荷試験装置の構成例を第２図
に示す。構造物の被試験体１に油圧式アクチユエ
ータを用いたジヤツキ２，３，４が複数取り付け
られている。これらマルチジヤツキのサーボ弁は
それぞれ制御装置６，７，８によつて制御される
が、荷重制御の場合は各荷重検出器からの荷重信
号をフイードバツクさせてクローズドループ制御
系を構成し、命令信号に追従するように制御され
る。各制御装置６，７，８へは、波形発生装置１
１，１２，１３からの命令信号が入力する。各波
形発生装置１１，１２，１３はそれぞれ試験条件
に合わせて設定された振幅、周波数、位相、平均
値をもつた負荷パターン波形を出力する。各波形
発生装置１１，１２，１３における位相等の設定
は波形発生制御装置１０によつて行なわれる。
に示す。構造物の被試験体１に油圧式アクチユエ
ータを用いたジヤツキ２，３，４が複数取り付け
られている。これらマルチジヤツキのサーボ弁は
それぞれ制御装置６，７，８によつて制御される
が、荷重制御の場合は各荷重検出器からの荷重信
号をフイードバツクさせてクローズドループ制御
系を構成し、命令信号に追従するように制御され
る。各制御装置６，７，８へは、波形発生装置１
１，１２，１３からの命令信号が入力する。各波
形発生装置１１，１２，１３はそれぞれ試験条件
に合わせて設定された振幅、周波数、位相、平均
値をもつた負荷パターン波形を出力する。各波形
発生装置１１，１２，１３における位相等の設定
は波形発生制御装置１０によつて行なわれる。
［考案が解決しようとする問題点］
上記サーボ弁を用いた油圧式アクチユエータ等
では、荷重又は変位の閉ループのサーボシステム
を構成するため、入出力特性の位相ずれが必ず生
じ、試験周波数が高くなるほど位相差が大きくな
る欠点がある。また、油圧式アクチユエータはア
クチユエータの容量とサーボ弁の組合せによりサ
ーボ系の応答が異なり、位相特性、振幅特性が異
なつてしまう。そのため、特性の異なる複数の油
圧式アクチユエータを用いる油圧式多負荷試験装
置による試験では、数Hz以上の周波数で複数ジヤ
ツキを加振する場合、機械的な位相遅れの影響で
各アクチユエータの動きが少しずつ異なり位相が
ずれてしまうという問題点があつた。第３図はこ
の様子を示すもので、位相ずれの結果、設定波形
の設定位相差φsとフイードバツク信号における
位相差φfが一致しなくなつている。このように、
任意の位相で複数のジヤツキを用いて試験をする
場合には、各ジヤツキの位相を所望の位相に合わ
せることが非常に困難であるという問題点があつ
た。
では、荷重又は変位の閉ループのサーボシステム
を構成するため、入出力特性の位相ずれが必ず生
じ、試験周波数が高くなるほど位相差が大きくな
る欠点がある。また、油圧式アクチユエータはア
クチユエータの容量とサーボ弁の組合せによりサ
ーボ系の応答が異なり、位相特性、振幅特性が異
なつてしまう。そのため、特性の異なる複数の油
圧式アクチユエータを用いる油圧式多負荷試験装
置による試験では、数Hz以上の周波数で複数ジヤ
ツキを加振する場合、機械的な位相遅れの影響で
各アクチユエータの動きが少しずつ異なり位相が
ずれてしまうという問題点があつた。第３図はこ
の様子を示すもので、位相ずれの結果、設定波形
の設定位相差φsとフイードバツク信号における
位相差φfが一致しなくなつている。このように、
任意の位相で複数のジヤツキを用いて試験をする
場合には、各ジヤツキの位相を所望の位相に合わ
せることが非常に困難であるという問題点があつ
た。
［問題点を解決するための手段］
上記問題点を解決するために本考案は次のよう
な油圧式多負荷試験装置を提供する。
な油圧式多負荷試験装置を提供する。
すなわち、本考案にかかる油圧式多負荷試験装
置は、サーボ弁を用いた油圧式アクチユエータか
らなる複数のジヤツキと、これら複数のジヤツキ
にそれぞれ所定の設定位相をもつ負荷パターン波
形を与える波形発生装置とを備え、複数のジヤツ
キにより被試験体に負荷を与えて疲労破壊試験等
の試験を行なう油圧式多負荷試験装置において、
位相零の基準波形を出力する基準波形発生回路
と、該基準波形発生回路から出力される基準波形
と各ジヤツキのサーボ系におけるフイードバツク
信号とが入力し、基準波形に対するフイードバツ
ク信号の位相差を検出する位相差検出回路と、該
位相差検出回路によつて検出されたフイードバツ
ク信号の位相差と波形発生装置において設定した
設定位相の基準波形に対する位相差とを比較演算
し、両者が一致するように設定位相を補正する位
相演算回路とを設けたことを特徴とする。
置は、サーボ弁を用いた油圧式アクチユエータか
らなる複数のジヤツキと、これら複数のジヤツキ
にそれぞれ所定の設定位相をもつ負荷パターン波
形を与える波形発生装置とを備え、複数のジヤツ
キにより被試験体に負荷を与えて疲労破壊試験等
の試験を行なう油圧式多負荷試験装置において、
位相零の基準波形を出力する基準波形発生回路
と、該基準波形発生回路から出力される基準波形
と各ジヤツキのサーボ系におけるフイードバツク
信号とが入力し、基準波形に対するフイードバツ
ク信号の位相差を検出する位相差検出回路と、該
位相差検出回路によつて検出されたフイードバツ
ク信号の位相差と波形発生装置において設定した
設定位相の基準波形に対する位相差とを比較演算
し、両者が一致するように設定位相を補正する位
相演算回路とを設けたことを特徴とする。
［作用］
サーボ系におけるフイードバツク信号の基準波
形に対する位相差が検出され、該位相差と設定波
形における位相差とが比較され、その相違する分
だけ補正した信号を設定信号として出力するの
で、実際に制御する信号の位相が設定位相どおり
になる。
形に対する位相差が検出され、該位相差と設定波
形における位相差とが比較され、その相違する分
だけ補正した信号を設定信号として出力するの
で、実際に制御する信号の位相が設定位相どおり
になる。
［実施例］
第１図は本発明の１実施例の構成を示す図で、
第２図ど同符号のものは従来例と同じものを示す
が、被試験体１については図示を省略する。実施
例装置には位相零の基準波形を出力する基準波形
発生回路１６が別設されている。また、各油圧ア
クチユエータ駆動系において、基準波形発生回路
１６から出力される基準波形とサーボ弁制御装置
６，７，８へ帰還されるフイードバツク信号とが
入力し、フイードバツク信号の位相差を検出する
位相差検出回路２１，２２，２３がそれぞれ設け
られている。各位相差検出回路２１，２２，２３
から出力される位相差検出信号は、それぞれ波形
発生装置１７，１８，１９へ入力される。各波形
発生装置１７，１８，１９には、フイードバツク
信号における検出された位相差と、あらかじめ波
形発生制御装置１０により設定された基準波形に
対する設定位相差とを比較演算し、検出位相差と
設定位相差とが異なる場合にその異なる差値分だ
け設定信号を補正する位相演算回路が内蔵されて
いる。すなわち、試験中の設定信号ｆ（φ）にお
ける設定位相φに対して実際のフイードバツク信
号の位相がφ−φ0の時、位相差−φ0分を補正し
てｆ（φ＋φ0）の設定信号を出力する。したがつ
て、この設定信号によつてアクチユエータを駆動
すれば、実際に制御している波形の位相があらか
じめ定めた位相φとなり、駆動系の機械的要素の
影響を補償することができる。
第２図ど同符号のものは従来例と同じものを示す
が、被試験体１については図示を省略する。実施
例装置には位相零の基準波形を出力する基準波形
発生回路１６が別設されている。また、各油圧ア
クチユエータ駆動系において、基準波形発生回路
１６から出力される基準波形とサーボ弁制御装置
６，７，８へ帰還されるフイードバツク信号とが
入力し、フイードバツク信号の位相差を検出する
位相差検出回路２１，２２，２３がそれぞれ設け
られている。各位相差検出回路２１，２２，２３
から出力される位相差検出信号は、それぞれ波形
発生装置１７，１８，１９へ入力される。各波形
発生装置１７，１８，１９には、フイードバツク
信号における検出された位相差と、あらかじめ波
形発生制御装置１０により設定された基準波形に
対する設定位相差とを比較演算し、検出位相差と
設定位相差とが異なる場合にその異なる差値分だ
け設定信号を補正する位相演算回路が内蔵されて
いる。すなわち、試験中の設定信号ｆ（φ）にお
ける設定位相φに対して実際のフイードバツク信
号の位相がφ−φ0の時、位相差−φ0分を補正し
てｆ（φ＋φ0）の設定信号を出力する。したがつ
て、この設定信号によつてアクチユエータを駆動
すれば、実際に制御している波形の位相があらか
じめ定めた位相φとなり、駆動系の機械的要素の
影響を補償することができる。
［考案の効果］
上記説明から明らかなように、本考案にかかる
油圧式多負荷試験装置は、機械的要素等で影響で
各アクチユエータの周波数特性が異なつていても
設定位相どおりに制御でき、任意位相で試験を行
なうことができるので、試験精度を向上すること
ができるようになつた。
油圧式多負荷試験装置は、機械的要素等で影響で
各アクチユエータの周波数特性が異なつていても
設定位相どおりに制御でき、任意位相で試験を行
なうことができるので、試験精度を向上すること
ができるようになつた。
第１図は本考案の１実施例の構成を示す図、第
２図は従来装置の構成を示す図、第３図は従来装
置の問題点を説明する図である。 １６……基準波形発生装置、１７，１８，１９
……波形発生装置（位相演算回路内蔵）、２１，
２２，２３……位相差検出回路。
２図は従来装置の構成を示す図、第３図は従来装
置の問題点を説明する図である。 １６……基準波形発生装置、１７，１８，１９
……波形発生装置（位相演算回路内蔵）、２１，
２２，２３……位相差検出回路。
Claims (1)
- サーボ弁を用いた油圧式アクチユエータからな
る複数のジヤツキと、これら複数のジヤツキにそ
れぞれ所定の設定位相をもつ負荷パターン波形を
与える波形発生装置とを備え、複数のジヤツキに
より被試験体に負荷を与えて疲労破壊試験等の試
験を行なう油圧式多負荷試験装置において、位相
零の基準波形を出力する基準波形発生回路と、該
基準波形発生回路から出力される基準波形と各ジ
ヤツキのサーボ系におけるフイードバツク信号と
が入力し、基準波形に対するフイールドバツク信
号の位相差を検出する位相差検出回路と、該位相
差検出回路によつて検出されたフイードバツク信
号の位相差と波形発生装置において設定した設定
位相の基準波形に対する位相差とを比較演算し、
両者が一致するように設定位相を補正する位相演
算回路とを設けたことを特徴とする油圧式多負荷
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13147286U JPH0545960Y2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13147286U JPH0545960Y2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6338040U JPS6338040U (ja) | 1988-03-11 |
| JPH0545960Y2 true JPH0545960Y2 (ja) | 1993-11-30 |
Family
ID=31029948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13147286U Expired - Lifetime JPH0545960Y2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0545960Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6039918B2 (ja) * | 2012-05-22 | 2016-12-07 | 株式会社鷺宮製作所 | 試験装置および試験装置の制御方法 |
-
1986
- 1986-08-28 JP JP13147286U patent/JPH0545960Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6338040U (ja) | 1988-03-11 |
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