JPH0547852U - ホール電圧測定装置 - Google Patents

ホール電圧測定装置

Info

Publication number
JPH0547852U
JPH0547852U JP098789U JP9878991U JPH0547852U JP H0547852 U JPH0547852 U JP H0547852U JP 098789 U JP098789 U JP 098789U JP 9878991 U JP9878991 U JP 9878991U JP H0547852 U JPH0547852 U JP H0547852U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hall voltage
variable
sample
galvanometer
connection point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP098789U
Other languages
English (en)
Inventor
和彦 舘野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP098789U priority Critical patent/JPH0547852U/ja
Publication of JPH0547852U publication Critical patent/JPH0547852U/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来、電圧計で、困難であった高抵抗半導体
のホール電圧測定を正確に、しかも容易に測定ができる
ことを実現することを目的にする。 【構成】本装置は、試料の一方の対角線の両端間に接続
された定電流源と、この定電流源に並列接続されてい
て、可変抵抗を含んだ複数の直列接続された抵抗と、一
端が前記可変抵抗の可変接続点に接続されたガルバノメ
ータの他端に選択的に接続するスイッチと、を具備し、
ガルバノメータの検出値をもとに、試料の他方の対角線
の一端、または、他端の電位と、前記可変抵抗の可変接
続点の電位を平衡させ、平衡時における可変接続点の位
置と、可変抵抗に流れる電流とをもとにホール電圧を求
めることを特徴とするホール電圧測定装置である。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、ホール電圧により、半導体の物性、例えば、電子密度など、を解明 するために用いられるホール電圧測定装置において、特に高抵抗の半導体のホー ル電圧を容易に測定できるようにしたホール電圧測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来例を以下に示す。 図3はホール電圧測定装置の従来例である。 図において、1はガラス、または、石英で構成された基板、2は、基板1の上 に真空蒸着させた物性を知るための試料、3は試料2に接続された電極で、基板 1に、例えばインジウムを蒸着させたもの、4は、電極3により試料2の一方の 対角線の両端に接続された定電流源、5は電極3により試料2の他方の対角線の 両端に接続されたホール電圧を測定するための電圧計である。 このような構成では、試料が高抵抗の場合、電極間のわずかなずれにより不平 衡電圧が生じてしまい、この不平衡電圧に微小なホール電圧が隠れてしまうため 、ホール電圧を測定することは、不可能であるという問題点があった。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
本考案の目的は、従来、電圧計において、困難であった高抵抗半導体のホール 電圧測定を正確に、しかも容易に測定ができるホール電圧測定装置を実現するこ とにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本考案は、試料の物性を解明するためにホール電圧を測定するホール電圧測定 装置において、 試料の一方の対角線の両端間に接続された定電流源と、 この定電流源に並列接続されていて、可変抵抗を含んだ複数の直列接続された 抵抗と、 一端が前記可変抵抗の可変接続点に接続されたガルバノメータと、 このガルバノメータの他端に選択的に接続する選択手段と、 を具備し、ガルバノメータの検出値をもとに、試料の他方の対角線の一端、また は、他端の電位と、前記可変抵抗の可変接続点の電位を平衡させ、平衡時におけ る可変接続点の位置と、可変抵抗に流れる電流とをもとにホール電圧を求めるこ とを特徴とするホール電圧測定装置である。
【0005】
【作用】
このような本考案では、可変抵抗と、ガルバノメータとで、電位を平衡させる ことを利用して、従来、電圧計において、困難であった高抵抗半導体のホール電 圧測定を正確に、しかも容易に測定ができる。
【0006】
【実施例】
以下図面を用いて本考案を説明する。 図1は本考案の一実施例を示した構成図である。 図において、4は、長方形状となった試料2の一方の対抗する角に設けた電極 3間に定電流を供給するための定電流源、R1、R2、R3は、定電流源に並列 接続されている抵抗で、R2が、可変抵抗である。そして、抵抗R1、可変抵抗 R2、抵抗R3という順番で、直列に接続されている。6は、一端が定電流源4 と、電極3とに、接続された電流計で、他端に抵抗R1が接続されている。7は ガルバノメータで、一端は、可変抵抗R2に接続されて、他端には、選択手段と して、スイッチSWが接続されている。スイッチSWは、ガルバノメータ7を試 料2の対角線の一端、または、他端に選択的に接続する。
【0007】 このような装置による測定手順を以下で説明する。 図2は図1の測定手順のフローチャートである。 試料に磁界をかけないとき、スイッチSWをS1側にする。そして、電流を流 し、ガルバノメータ7をゼロにするように可変抵抗R2を変化させて、不平衡電 圧をなくすように調整をする。次に、磁界をかけて、また、ガルバノメータ7が ゼロになるように、可変抵抗R2を変化させる。その可変抵抗の変化分ΔR21を 式(1)を使って、V1を導き出す。但し、電流Iは、電流計6の値である。 V1=IΔR21 (1) 次に、スイッチSWをS2側にし、S1側のときと同じ手順をして、式(2)よ り、V2を導く、 V2=IΔR12 (2) 以上の式(1),(2)より、ホール電圧VHは、以下のようになる。 VH=V1+V2 (3)
【0008】
【考案の効果】
本考案によれば、ホール電圧を電圧計で、直接測定することなくん可変抵抗の 変化分と、電流計の検出値とから、測定している。これによって、従来、電圧計 で、困難であった高抵抗半導体のホール電圧測定を正確に、しかも容易に測定が できるという効果がある。
【0009】 尚、上記の実施例について、長方形の試料の場合について示したが、本考案は これに限定されるものではない。試料が円形の場合でも成り立つ、要するに、試 料に対角に接続される電極どうしが、対角線で直角の関係にあればよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本考案の一実施例を示した構成図である。
【図2】 図1の測定手順のフローチャートである。
【図3】 ホール電圧測定装置の従来例を示した図であ
る。
【符号の説明】
2 試料 4 定電流源 7 ガルバノメータ R1 抵抗 R2 可変抵抗 R3 抵抗 SW スイッチ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料の物性を解明するためにホール電圧
    を測定するホール電圧測定装置において、 試料の一方の対角線の両端間に接続された定電流源と、 この定電流源に並列接続されていて、可変抵抗を含んだ
    複数の直列接続された抵抗と、 一端が前記可変抵抗の可変接続点に接続されたガルバノ
    メータと、 このガルバノメータの他端に選択的に接続する選択手段
    と、 を具備し、ガルバノメータの検出値をもとに、試料の他
    方の対角線の一端、または、他端の電位と、前記可変抵
    抗の可変接続点の電位を平衡させ、平衡時における可変
    接続点の位置と、可変抵抗に流れる電流とをもとにホー
    ル電圧を求めることを特徴とするホール電圧測定装置。
JP098789U 1991-11-29 1991-11-29 ホール電圧測定装置 Withdrawn JPH0547852U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP098789U JPH0547852U (ja) 1991-11-29 1991-11-29 ホール電圧測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP098789U JPH0547852U (ja) 1991-11-29 1991-11-29 ホール電圧測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0547852U true JPH0547852U (ja) 1993-06-25

Family

ID=14229140

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP098789U Withdrawn JPH0547852U (ja) 1991-11-29 1991-11-29 ホール電圧測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0547852U (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3398664B2 (ja) 磁気抵抗センサの信号を評価する方法及びこの方法を実施する装置
EP2847564A1 (en) Method and device for sensing isotropic stress and providing a compensation for the piezo-hall effect
JPH08273952A (ja) 平面電流検出器
CN103278783A (zh) 磁场传感器和霍尔器件
Bera et al. A modified Schering bridge for measurement of the dielectric parameters of a material and the capacitance of a capacitive transducer
US2508424A (en) Measuring of voltage by voltage opposition
JPH0547852U (ja) ホール電圧測定装置
US3350635A (en) Solar cell and test circuit
US4322679A (en) Alternating current comparator bridge for resistance measurement
JP2009069005A (ja) 磁界校正方法
JPH04109174A (ja) インピーダンス測定装置
RU2664868C1 (ru) Способ балансировки магниторезистивного датчика
Rietveld et al. Accurate high-ohmic resistance measurement techniques up to 1 PΩ
JP3080590B2 (ja) 半導体ウエハの抵抗測定方法
US3422347A (en) Comparator circuit having a hall generator for measurement of d.c. magnetic fields
US3495169A (en) Modified kelvin bridge with yoke circuit resistance for residual resistance compensation
SU1663588A1 (ru) Устройство дл регистрации термомагнитных характеристик
CN223742717U (zh) 一种非晶丝传感器频响特性测试装置
JPH09232647A (ja) ホール素子駆動回路
SU430338A1 (ru) Устройство для измерения электрическихпараметров полупроводниковыхматериалов
SU1628011A1 (ru) Устройство дл измерени удельного сопротивлени полупроводниковых материалов
SU1406545A1 (ru) Устройство дл измерени величины и направлени магнитных полей
US3436660A (en) Method and apparatus for determining the symmetry factor of a transistor
Satrapinski et al. Testing the new generation of low-frequency current comparators
SU394735A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19960208