JPH0548131Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0548131Y2 JPH0548131Y2 JP1988074534U JP7453488U JPH0548131Y2 JP H0548131 Y2 JPH0548131 Y2 JP H0548131Y2 JP 1988074534 U JP1988074534 U JP 1988074534U JP 7453488 U JP7453488 U JP 7453488U JP H0548131 Y2 JPH0548131 Y2 JP H0548131Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- test probe
- measurement
- contact
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は、ICやリレー等の電子部品の電子的
特性の測定を行うため、測定試料の端子等に接触
させて使用するテストプローブに関するものであ
る。
特性の測定を行うため、測定試料の端子等に接触
させて使用するテストプローブに関するものであ
る。
（従来技術）
従来、この種のテストプローブは例えば第６図
に示すように、測定端子２２とそれに連結された
リード線２６とからなつており、測定端子２２は
針状のものを複数個束ねて構成され、その針の先
端が測定試料２７の測定部位２８と接触するよう
にされている（第７図参照）。また、テストプロ
ーブを支持台２９に固定するための本体支持部２
１の後方には、針状の先端端子２２と測定部位２
８との接触性をよくするため弾力を与えるスプリ
ング２３が設けられており、測定時に測定端子２
２と連結された軸２４が本体支持部２１内を摺動
することにより、その接触に弾力を持たせること
ができるようにされている。
に示すように、測定端子２２とそれに連結された
リード線２６とからなつており、測定端子２２は
針状のものを複数個束ねて構成され、その針の先
端が測定試料２７の測定部位２８と接触するよう
にされている（第７図参照）。また、テストプロ
ーブを支持台２９に固定するための本体支持部２
１の後方には、針状の先端端子２２と測定部位２
８との接触性をよくするため弾力を与えるスプリ
ング２３が設けられており、測定時に測定端子２
２と連結された軸２４が本体支持部２１内を摺動
することにより、その接触に弾力を持たせること
ができるようにされている。
（考案が解決しようとする課題）
しかし、上記のような構造のテストプローブに
おいては、測定試料の測定部位に皮膜、ゴミ等の
絶縁物が付着していた場合、スプリングを用いて
いかに強く測定端子を測定部位に接触させたとし
ても、付着した絶縁物のため正確な測定を行うこ
とができず、本来なら合格品であるにもかかわら
ずこれを不良品としてしまうという欠点がある。
おいては、測定試料の測定部位に皮膜、ゴミ等の
絶縁物が付着していた場合、スプリングを用いて
いかに強く測定端子を測定部位に接触させたとし
ても、付着した絶縁物のため正確な測定を行うこ
とができず、本来なら合格品であるにもかかわら
ずこれを不良品としてしまうという欠点がある。
また、測定試料と測定端子との接触性を良くす
るため、テストプローブの後部にスプリングを設
けているが、測定時にこのスプリングの伸縮によ
つてその後方に連結されたリード線が揺れ動くた
め、長時間使用の際にはリード線が切断してしま
うという欠点がある。
るため、テストプローブの後部にスプリングを設
けているが、測定時にこのスプリングの伸縮によ
つてその後方に連結されたリード線が揺れ動くた
め、長時間使用の際にはリード線が切断してしま
うという欠点がある。
（課題を解決するための手段）
本考案は、上記のような問題点を解決すること
を目的とするものであり、その手段として測定端
子を相互に弾性を持つて平行面で接触する板バネ
によつて作られた一対の端子片で構成し、端子片
の各平行接触面に、その長手方向（縦方向）に向
かつて複数のスリツトを設けるようにしたもので
ある。
を目的とするものであり、その手段として測定端
子を相互に弾性を持つて平行面で接触する板バネ
によつて作られた一対の端子片で構成し、端子片
の各平行接触面に、その長手方向（縦方向）に向
かつて複数のスリツトを設けるようにしたもので
ある。
（実施例）
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図は本考案に係るテストプローブの正面
図、第２図は第１図の左側面図、第３図は分解し
た一方の端子片５ａの底面図である。
図、第２図は第１図の左側面図、第３図は分解し
た一方の端子片５ａの底面図である。
第１図，第２図に示すように、テストプローブ
１は測定端子２とそれに連結された２本のリード
線４ａ，４ｂとから成つている。測定試料と接触
する測定端子２は、板バネによつて作られ相互に
弾性をもつて接触する一対の端子片５ａ，５ｂと
からなつており、これら端子片５ａ，５ｂはその
後端部で段付きの連結カバー６によつて連結され
て、そこが同時に本体支持部３にもなつている。
この一対の端子片５ａ，５ｂは、第３図に示すよ
うに相互の接触面７に長手方向に向かつて細かい
複数のスリツト８がそれぞれ設けられている。
１は測定端子２とそれに連結された２本のリード
線４ａ，４ｂとから成つている。測定試料と接触
する測定端子２は、板バネによつて作られ相互に
弾性をもつて接触する一対の端子片５ａ，５ｂと
からなつており、これら端子片５ａ，５ｂはその
後端部で段付きの連結カバー６によつて連結され
て、そこが同時に本体支持部３にもなつている。
この一対の端子片５ａ，５ｂは、第３図に示すよ
うに相互の接触面７に長手方向に向かつて細かい
複数のスリツト８がそれぞれ設けられている。
次に本実施例の作用について説明する。
第５図に示すように、テストプローブ１の本体
支持部３をテストプローブ支持台９に取り付け、
複数のテストプローブ１を測定状態にセツトす
る。こうしてセツトされたテストプローブ１の端
子片５ａ，５ｂ間に測定試料１０の端子等の測定
部位１１を摺動挿入して接触させる。
支持部３をテストプローブ支持台９に取り付け、
複数のテストプローブ１を測定状態にセツトす
る。こうしてセツトされたテストプローブ１の端
子片５ａ，５ｂ間に測定試料１０の端子等の測定
部位１１を摺動挿入して接触させる。
その際、第４図、第５図に示すように、測定試
料１０の測定部位１１をテストプローブ１の一対
の端子片５ａ，５ｂ間に摺動挿入させて接触させ
ることにより、端子片５ａ，５ｂの各接触面７に
設けられたスリツト８によつて測定試料２７の測
定部位２８に付着した皮膜、ゴミ等の絶縁物が自
動的に除去されてしまう。
料１０の測定部位１１をテストプローブ１の一対
の端子片５ａ，５ｂ間に摺動挿入させて接触させ
ることにより、端子片５ａ，５ｂの各接触面７に
設けられたスリツト８によつて測定試料２７の測
定部位２８に付着した皮膜、ゴミ等の絶縁物が自
動的に除去されてしまう。
尚、上記の実施例では、本体支持部３として連
結カバー６を用いてこれをテストプローブ支持台
９に取付けるようにしたが、必ずしもこれに限定
されるものではなく、連結カバーを省略し、端子
片５ａ，５ｂの各後端部を直接テストプローブ支
持台９に取付けて固定するようにしても良い。ま
た、上記実施例では、一対の端子片５ａ，５ｂを
別個の２個の端子片で構成したが、これに限定さ
れるものではなく、これを根元で一体に連結され
た１個の端子片を用い、その先端を中割れ状にし
たものでも良い。
結カバー６を用いてこれをテストプローブ支持台
９に取付けるようにしたが、必ずしもこれに限定
されるものではなく、連結カバーを省略し、端子
片５ａ，５ｂの各後端部を直接テストプローブ支
持台９に取付けて固定するようにしても良い。ま
た、上記実施例では、一対の端子片５ａ，５ｂを
別個の２個の端子片で構成したが、これに限定さ
れるものではなく、これを根元で一体に連結され
た１個の端子片を用い、その先端を中割れ状にし
たものでも良い。
（考案の効果）
本考案は、上記のように測定端子を相互に平行
面で接触する板バネによつて作られた一対の端子
片で構成したので、広い範囲で確実に測定試料を
接触保持することができ、誤差のない正確な測定
データを得ることができるという優れた効果を有
する。
面で接触する板バネによつて作られた一対の端子
片で構成したので、広い範囲で確実に測定試料を
接触保持することができ、誤差のない正確な測定
データを得ることができるという優れた効果を有
する。
また、測定端子片の各平行接触面に、その長手
方向（縦方向）に向かつて複数のスリツトを設け
たので、試料の端子等を挿入する際に摺動性を維
持しながら挿入でき、容易に挟持することができ
ると共に、同時にスリツトにより付着した被膜、
ゴミ等の絶縁物を自動的に除去することができる
という優れた効果を有する。
方向（縦方向）に向かつて複数のスリツトを設け
たので、試料の端子等を挿入する際に摺動性を維
持しながら挿入でき、容易に挟持することができ
ると共に、同時にスリツトにより付着した被膜、
ゴミ等の絶縁物を自動的に除去することができる
という優れた効果を有する。
第１図は本考案に係るテストプローブの正面
図、第２図は第１図の左側面図、第３図は分解し
た端子片の一片５ａの底面図、第４図は測定時の
テストプローブの状態を示す状態図、第５図は測
定試料を測定中の状態を示す全体図、第６図は従
来のテストプローブを示す正面図、第７図は従来
のテストプローブにより測定試料を測定中の状態
を示す全体図である。 １……テストプローブ、２……測定端子、４
ａ，４ｂ……リード線、５ａ，５ｂ……端子片、
７……接触面、８……スリツト。
図、第２図は第１図の左側面図、第３図は分解し
た端子片の一片５ａの底面図、第４図は測定時の
テストプローブの状態を示す状態図、第５図は測
定試料を測定中の状態を示す全体図、第６図は従
来のテストプローブを示す正面図、第７図は従来
のテストプローブにより測定試料を測定中の状態
を示す全体図である。 １……テストプローブ、２……測定端子、４
ａ，４ｂ……リード線、５ａ，５ｂ……端子片、
７……接触面、８……スリツト。
Claims (1)
- 測定端子とそれに連結されたリード線とからな
るテストプローブにおいて、前記測定端子を相互
に弾性を持つて平行面で接触する板バネによつて
作られた一対の端子片で構成し、該端子片の各平
行接触面に、その長手方向に向かつて複数のスリ
ツトを設けたことを特徴とするテストプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988074534U JPH0548131Y2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988074534U JPH0548131Y2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01180773U JPH01180773U (ja) | 1989-12-26 |
| JPH0548131Y2 true JPH0548131Y2 (ja) | 1993-12-20 |
Family
ID=31299644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988074534U Expired - Lifetime JPH0548131Y2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0548131Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH075418Y2 (ja) * | 1990-12-28 | 1995-02-08 | 株式会社関電工 | 電極測定用テスター |
| JP5658718B2 (ja) * | 2012-08-20 | 2015-01-28 | オルガン針株式会社 | 充放電用プローブの先端形状 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5910625Y2 (ja) * | 1979-03-30 | 1984-04-03 | 日本電気株式会社 | ４端子接続子 |
| JPS5826669U (ja) * | 1981-08-12 | 1983-02-21 | クラリオン株式会社 | リ−ド線のない電子部品用テスタ−棒 |
| JPS6194774U (ja) * | 1984-11-28 | 1986-06-18 |
-
1988
- 1988-06-03 JP JP1988074534U patent/JPH0548131Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01180773U (ja) | 1989-12-26 |
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