JPH0548412B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0548412B2 JPH0548412B2 JP61092384A JP9238486A JPH0548412B2 JP H0548412 B2 JPH0548412 B2 JP H0548412B2 JP 61092384 A JP61092384 A JP 61092384A JP 9238486 A JP9238486 A JP 9238486A JP H0548412 B2 JPH0548412 B2 JP H0548412B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- drying
- infrared
- temperature
- heater
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、水処理等の環境保全、化学工業、食
品工業、薬品工業などの分野で取り扱う物質中の
水分を測定する方法に関するものである。
品工業、薬品工業などの分野で取り扱う物質中の
水分を測定する方法に関するものである。
水処理等の環境保全、化学工業、食品工業、薬
品工業などの分野においては、プロセスの制御あ
るいは品質管理を行うために、取り扱う物質中の
水分を精度良く、迅速に測定することが重要であ
る。
品工業などの分野においては、プロセスの制御あ
るいは品質管理を行うために、取り扱う物質中の
水分を精度良く、迅速に測定することが重要であ
る。
このような水分測定を行う従来の方法として
は、超音波減衰法、赤外線吸収法、誘電率法、電
気抵抗法、カールフイツシヤー法、あるいは赤外
線乾燥法などが知られていた。
は、超音波減衰法、赤外線吸収法、誘電率法、電
気抵抗法、カールフイツシヤー法、あるいは赤外
線乾燥法などが知られていた。
前記従来の水分測定方法のうち、超音波減衰
法、赤外線吸収法、誘電率法、電気抵抗法は、電
気的測定法であつて測定に要する時間は極めて短
かい。しかしながら、これらはいずれも直接に水
分を測定する方法ではないので、試料に含まれる
固体の状態が変化するとデータの信頼性が低下す
ることが知られている。
法、赤外線吸収法、誘電率法、電気抵抗法は、電
気的測定法であつて測定に要する時間は極めて短
かい。しかしながら、これらはいずれも直接に水
分を測定する方法ではないので、試料に含まれる
固体の状態が変化するとデータの信頼性が低下す
ることが知られている。
カールフイツシヤー法は化学的測定法であり、
微量の水分の測定に適するが、操作が複雑で時間
がかかるという欠点をもつている。
微量の水分の測定に適するが、操作が複雑で時間
がかかるという欠点をもつている。
赤外線乾燥法は、加熱乾燥前後の重量を秤量す
ることによつて水分を測定する方法であり、最も
信頼性が高い方法であるが、測定に要する時間が
長いことが欠点とされている。
ることによつて水分を測定する方法であり、最も
信頼性が高い方法であるが、測定に要する時間が
長いことが欠点とされている。
本発明は、従来の赤外線乾燥法を改良し、試料
中の水分を迅速かつ正確に測定し、プロセス制御
あるいは品質管理に有利に適用することができる
水分測定方法を提供しようとするものである。
中の水分を迅速かつ正確に測定し、プロセス制御
あるいは品質管理に有利に適用することができる
水分測定方法を提供しようとするものである。
本発明は、水分を含む試料に赤外線を照射する
と同時に高温空気を送気して乾燥し、乾燥前後の
前記試料の重量変化から試料の水分を測定するこ
とを特徴とする水分測定方法である。
と同時に高温空気を送気して乾燥し、乾燥前後の
前記試料の重量変化から試料の水分を測定するこ
とを特徴とする水分測定方法である。
次に本発明の作用について説明する。
本発明における基本的な構成は、第１図に示す
ように、赤外線ヒータ１、エアヒータ２、試料皿
３を保持する試料皿用台４からなり、試料皿３に
水分を含む試料Ｓを入れ、赤外線ヒータ１とエア
ヒータ２を併用し、赤外線による輻射加熱と高温
空気の送気による伝熱加熱及び強制対流で試料Ｓ
を加熱乾燥し、乾燥前後の試料Ｓの重量変化、即
ち乾燥前の試料Ｓの重量W1と乾燥後の試料Ｓの
重量W2から、試料Ｓの水分＝W1−W2／W1×100％ を得ることができるものである。
ように、赤外線ヒータ１、エアヒータ２、試料皿
３を保持する試料皿用台４からなり、試料皿３に
水分を含む試料Ｓを入れ、赤外線ヒータ１とエア
ヒータ２を併用し、赤外線による輻射加熱と高温
空気の送気による伝熱加熱及び強制対流で試料Ｓ
を加熱乾燥し、乾燥前後の試料Ｓの重量変化、即
ち乾燥前の試料Ｓの重量W1と乾燥後の試料Ｓの
重量W2から、試料Ｓの水分＝W1−W2／W1×100％ を得ることができるものである。
赤外線ヒータ１としては、赤外線シースヒー
タ、赤外線ランプ、セラミツクスヒータなどを使
用することができ、また遠赤外線領域の波長を輻
射する遠赤外線ヒータを使用してもよい。また、
これらの赤外線ヒータの形状も種々あるが、エア
ヒータ２と併用できるものでえあればどのような
形状でもよい。
タ、赤外線ランプ、セラミツクスヒータなどを使
用することができ、また遠赤外線領域の波長を輻
射する遠赤外線ヒータを使用してもよい。また、
これらの赤外線ヒータの形状も種々あるが、エア
ヒータ２と併用できるものでえあればどのような
形状でもよい。
また、エアヒータ２は、エア配管５を介してエ
アポンプ６に連なり、通常空気量１〜100／
minのものを使用する。
アポンプ６に連なり、通常空気量１〜100／
minのものを使用する。
なお、試料Ｓの乾燥時に試料Ｓが焦げつくのを
防ぐために、赤外線又は高温空気の温度を制御す
ることが好ましく、その場合の温度制御方法とし
ては、図示例のように、試料Ｓの表面付近の温度
を感知するための熱電対あるいはサーミスタ等の
温度センサ７をもつた温度調節器８によつて赤外
線ヒータ１又はエアヒータ２の出力を制御し、設
定温度に対して追従性の良い温度制御を行なうこ
とが好ましいが、赤外線ヒータ１よりもエアヒー
タ２のほうが応答速度が速いので、温度調節器８
にてエアヒータ２の出力を制御するほうが良い。
この時のエアヒータ２からのエアの温度は、通常
エアヒータ単独で試料Ｓの表面付近の温度が100
℃以上で250℃以下になるように調節する。
防ぐために、赤外線又は高温空気の温度を制御す
ることが好ましく、その場合の温度制御方法とし
ては、図示例のように、試料Ｓの表面付近の温度
を感知するための熱電対あるいはサーミスタ等の
温度センサ７をもつた温度調節器８によつて赤外
線ヒータ１又はエアヒータ２の出力を制御し、設
定温度に対して追従性の良い温度制御を行なうこ
とが好ましいが、赤外線ヒータ１よりもエアヒー
タ２のほうが応答速度が速いので、温度調節器８
にてエアヒータ２の出力を制御するほうが良い。
この時のエアヒータ２からのエアの温度は、通常
エアヒータ単独で試料Ｓの表面付近の温度が100
℃以上で250℃以下になるように調節する。
次に本発明の実施例を示す。
環境保全の分野で取り扱う下水混合生汚泥の
5.321ｇを試料として試料皿に入れ、本発明によ
り通気可能な赤外線シースヒータとエアヒータを
併用して、温度160℃で乾燥し、乾燥時間と試料
重量との関係を求めたところ、第２図のように、
乾燥時間９分で試料重量は0.144ｇとなり、水分
として97.3％と測定された。この測定値は、従来
の110℃で恒温乾燥法で乾燥時間10時間で測定し
た汚泥水分97.4％と良く一致した。
5.321ｇを試料として試料皿に入れ、本発明によ
り通気可能な赤外線シースヒータとエアヒータを
併用して、温度160℃で乾燥し、乾燥時間と試料
重量との関係を求めたところ、第２図のように、
乾燥時間９分で試料重量は0.144ｇとなり、水分
として97.3％と測定された。この測定値は、従来
の110℃で恒温乾燥法で乾燥時間10時間で測定し
た汚泥水分97.4％と良く一致した。
一方、赤外線ランプのみを用いた従来の赤外線
乾燥法によつて同じ試料を乾燥したところ、第２
図に示すように、乾燥温度140℃、乾燥時間20分
で試料重量は0.144ｇとなつた。
乾燥法によつて同じ試料を乾燥したところ、第２
図に示すように、乾燥温度140℃、乾燥時間20分
で試料重量は0.144ｇとなつた。
このように、本発明方法によれば、従来の赤外
線乾燥法に比べて乾燥時間が短かい、即ち測定時
間が短かいことが分かる。これは、従来の赤外線
乾燥法が主に輻射で乾燥しているのに対し、本発
明では輻射と同時に高温エアの送気によつて、試
料周囲の温度が低下することなく、試料の周囲に
滞留している水蒸気が効率よく取り除かれるため
であると考えられる。
線乾燥法に比べて乾燥時間が短かい、即ち測定時
間が短かいことが分かる。これは、従来の赤外線
乾燥法が主に輻射で乾燥しているのに対し、本発
明では輻射と同時に高温エアの送気によつて、試
料周囲の温度が低下することなく、試料の周囲に
滞留している水蒸気が効率よく取り除かれるため
であると考えられる。
以上述べたように、本発明によれば、赤外線に
よる輻射加熱と同時に高温空気の送気による伝熱
加熱及び強制対流で試料を乾燥しており、乾燥が
効率よく短時間で行われることから、環境保全、
化学工業、食品工業、薬品工業などの各分野で取
り扱う物質の水分を精度良く、迅速に測定するこ
とができ、本発明をプロセスの制御あるい品質管
理に適用することによつて、省エネルギー化、省
資源化あるいは省力化等の有益なる効果を奏する
ものである。
よる輻射加熱と同時に高温空気の送気による伝熱
加熱及び強制対流で試料を乾燥しており、乾燥が
効率よく短時間で行われることから、環境保全、
化学工業、食品工業、薬品工業などの各分野で取
り扱う物質の水分を精度良く、迅速に測定するこ
とができ、本発明をプロセスの制御あるい品質管
理に適用することによつて、省エネルギー化、省
資源化あるいは省力化等の有益なる効果を奏する
ものである。
第１図は本発明の基本的構成の説明図で、第２
図は本発明と従来法の実施例における乾燥時間と
試料重量との関係を示す線図である。 １……赤外線ヒータ、２……エアヒータ、３…
…試料皿、４……試料皿用台、５……エア配管、
６……エアポンプ、７……温度センサ、８……温
度調節器、Ｓ……試料。
図は本発明と従来法の実施例における乾燥時間と
試料重量との関係を示す線図である。 １……赤外線ヒータ、２……エアヒータ、３…
…試料皿、４……試料皿用台、５……エア配管、
６……エアポンプ、７……温度センサ、８……温
度調節器、Ｓ……試料。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 水分を含む試料に赤外線を照射すると同時に
高温空気を送気して乾燥し、乾燥前後の前記試料
の重量変化から試料の水分を測定することを特徴
とする水分測定方法。 ２ 前記試料の乾燥を、前記赤外線又は高温空気
の温度を制御して行うものである特許請求の範囲
第１項記載の水分測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9238486A JPS62250331A (ja) | 1986-04-23 | 1986-04-23 | 水分測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9238486A JPS62250331A (ja) | 1986-04-23 | 1986-04-23 | 水分測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62250331A JPS62250331A (ja) | 1987-10-31 |
| JPH0548412B2 true JPH0548412B2 (ja) | 1993-07-21 |
Family
ID=14052929
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9238486A Granted JPS62250331A (ja) | 1986-04-23 | 1986-04-23 | 水分測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62250331A (ja) |
-
1986
- 1986-04-23 JP JP9238486A patent/JPS62250331A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62250331A (ja) | 1987-10-31 |
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