JPH0550808B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0550808B2 JPH0550808B2 JP59204597A JP20459784A JPH0550808B2 JP H0550808 B2 JPH0550808 B2 JP H0550808B2 JP 59204597 A JP59204597 A JP 59204597A JP 20459784 A JP20459784 A JP 20459784A JP H0550808 B2 JPH0550808 B2 JP H0550808B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connector
- sample introduction
- connectors
- ion source
- retainer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 13
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0422—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for gaseous samples
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は混合物試料の定性・定量分析などを行
なうために使用されるガスクロマトグラフ質量分
析計(GC−MS)に関するものである。
なうために使用されるガスクロマトグラフ質量分
析計(GC−MS)に関するものである。
(従来の技術)
ガスクロマトグラフ質量分析計はガスクロマト
グラフと質量分析計とを直結したものであるが、
広い応用分野に対応するため、質量分析計の試料
導入部は通常少なくとも3個設けられている。そ
れらの試料導入部は、例えば標準試料導入系、ガ
スクロマトグラフのパツクドカラムからセパレー
タやスプリツターを経由して導入されるパツクド
カラム導入系、及びガスクロマトグラフのキヤピ
ラリーカラムから導入されるキヤピラリーカラム
導入系のそれぞれの導入部である。
グラフと質量分析計とを直結したものであるが、
広い応用分野に対応するため、質量分析計の試料
導入部は通常少なくとも3個設けられている。そ
れらの試料導入部は、例えば標準試料導入系、ガ
スクロマトグラフのパツクドカラムからセパレー
タやスプリツターを経由して導入されるパツクド
カラム導入系、及びガスクロマトグラフのキヤピ
ラリーカラムから導入されるキヤピラリーカラム
導入系のそれぞれの導入部である。
各試料導入系の試料導入部とイオン源の間は管
状の接続器により接続されているが、従来のガス
クロマトグラフ質量分析計では各試料導入系の経
路ごとに独立した接続器が使用されている。
状の接続器により接続されているが、従来のガス
クロマトグラフ質量分析計では各試料導入系の経
路ごとに独立した接続器が使用されている。
(発明が解決しようとする問題点)
イオン源交換時などの保守の際には各接続器を
1個ずつ脱着する必要があるため作業が複雑とな
り、また部品を紛失する可能性も高い。
1個ずつ脱着する必要があるため作業が複雑とな
り、また部品を紛失する可能性も高い。
そこで、仮に複数個の接続器を相互に全く自由
度のない状態で一体化したとすれば、イオン源と
それぞれの試料導入部が高い位置精度で組み立て
られている必要がある。
度のない状態で一体化したとすれば、イオン源と
それぞれの試料導入部が高い位置精度で組み立て
られている必要がある。
本発明はガスクロマトグラフ質量分析計におけ
るイオン源と試料導入部の間を接続する接続器の
脱着の作業性を向上させるとともに、部品紛失の
防止を図ることを目的とするものである。
るイオン源と試料導入部の間を接続する接続器の
脱着の作業性を向上させるとともに、部品紛失の
防止を図ることを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明の質量分析計は、複数個の試料導入系を
備え、それらの試料導入系の試料導入部とイオン
源との間に配置される接続器は試料導入部とイオ
ン源とに球面などの曲面で接触をし、伸縮可能
で、伸ばす方向にバネ力が与えられている管状の
接続器であるが、少なくとも2個の接続器が相互
に緩く拘束されて一体構造をなし、かつ一体化さ
れた接続器を同時に収縮させることができる保持
手段が設けられていることを特徴とするものであ
る。
備え、それらの試料導入系の試料導入部とイオン
源との間に配置される接続器は試料導入部とイオ
ン源とに球面などの曲面で接触をし、伸縮可能
で、伸ばす方向にバネ力が与えられている管状の
接続器であるが、少なくとも2個の接続器が相互
に緩く拘束されて一体構造をなし、かつ一体化さ
れた接続器を同時に収縮させることができる保持
手段が設けられていることを特徴とするものであ
る。
(作用)
複数の接続器が一体化され保持手段により複数
個の接続器が同時に収縮させられることにより、
同時に脱着される。
個の接続器が同時に収縮させられることにより、
同時に脱着される。
また、各接続器はイオン源及び試料導入部と曲
面接触をし、バネ力により伸びる方向に押されて
いるとともに、一体化された複数の接続器が緩く
拘束されているだけであるので、イオン源と試料
導入部の位置誤差を吸収して密着性よく接続す
る。
面接触をし、バネ力により伸びる方向に押されて
いるとともに、一体化された複数の接続器が緩く
拘束されているだけであるので、イオン源と試料
導入部の位置誤差を吸収して密着性よく接続す
る。
(実施例)
第1図は3経路の試料導入系をイオン源に接続
する実施例を表わす。2は真空室外から真空室内
へ試料を導入する試料導入部ガラス管で、3本が
平行に設けられている。これらのガラス管2は、
例えばそれぞれ標準試料導入用、パツクドカラム
からの試料導入用、及びキヤピラリーカラムから
の試料導入用である。各ガラス管2の先端は凸状
に球面加工されている。
する実施例を表わす。2は真空室外から真空室内
へ試料を導入する試料導入部ガラス管で、3本が
平行に設けられている。これらのガラス管2は、
例えばそれぞれ標準試料導入用、パツクドカラム
からの試料導入用、及びキヤピラリーカラムから
の試料導入用である。各ガラス管2の先端は凸状
に球面加工されている。
4はイオン源のイオン化室で、3個の試料導入
口6を有し、各試料導入口6は試料導入部ガラス
管2の対応するそれぞれに対向した位置に設けら
れており、凹状に球面加工されている。
口6を有し、各試料導入口6は試料導入部ガラス
管2の対応するそれぞれに対向した位置に設けら
れており、凹状に球面加工されている。
各対応する試料導入口6と試料導入部ガラス管
2の管にはそれぞれ接続器8が設けられている。
接続器8は気密を保つて摺動する伸縮可能な二重
管構造をしており、イオン化室4の試料導入口6
と接続される端部10ではその試料導入口6と密
着するように凸状に球面加工され、一方、試料導
入部ガラス管2と接続される端部12ではそのガ
ラス管2の先端と密着するように凹状に球面加工
されている。両端部10,12は軸径よりも太く
なつており、端部近くに設けられた鍔14,16
との間に後述の保持器18が取りつけられるよう
になつている。
2の管にはそれぞれ接続器8が設けられている。
接続器8は気密を保つて摺動する伸縮可能な二重
管構造をしており、イオン化室4の試料導入口6
と接続される端部10ではその試料導入口6と密
着するように凸状に球面加工され、一方、試料導
入部ガラス管2と接続される端部12ではそのガ
ラス管2の先端と密着するように凹状に球面加工
されている。両端部10,12は軸径よりも太く
なつており、端部近くに設けられた鍔14,16
との間に後述の保持器18が取りつけられるよう
になつている。
保持器18は板バネにより構成され、第3図に
示されるように3個の接続器8に取りつけるため
の3組の穴20,22が設けられている。各穴2
0,22はそれらが嵌め込まれる接続器8の径よ
りも大きく開けられており、接続器8に取りつけ
られた状態で接続器8を緩く拘束するようになつ
ている。各組の穴20,22相互の間にはそれぞ
れの穴20,22よりも深い切込み24,26が
設けられている。
示されるように3個の接続器8に取りつけるため
の3組の穴20,22が設けられている。各穴2
0,22はそれらが嵌め込まれる接続器8の径よ
りも大きく開けられており、接続器8に取りつけ
られた状態で接続器8を緩く拘束するようになつ
ている。各組の穴20,22相互の間にはそれぞ
れの穴20,22よりも深い切込み24,26が
設けられている。
保持器18は第2図に示されるようにU字型に
折り曲げられた状態で接続器8に取りつけられ、
3個の接続器8を一体的に結合する。第1図に示
されるように3個の接続器8が保持器18により
イオン化室4と各試料導入部ガラス管2との間に
取りつけられた状態において、各接続器8は保持
器18の切込み24,26により伸縮方向に対し
て自由度をもつている。また、接続器8とイオン
化室4との間、及び接続器8と試料導入部ガラス
管2との間の接続は球面接触により行なわれてい
るので、仮にイオン化室4と試料導入部ガラス管
2の組立て精度が低い場合であつても球面接触に
より十分な密着性が確保されている。
折り曲げられた状態で接続器8に取りつけられ、
3個の接続器8を一体的に結合する。第1図に示
されるように3個の接続器8が保持器18により
イオン化室4と各試料導入部ガラス管2との間に
取りつけられた状態において、各接続器8は保持
器18の切込み24,26により伸縮方向に対し
て自由度をもつている。また、接続器8とイオン
化室4との間、及び接続器8と試料導入部ガラス
管2との間の接続は球面接触により行なわれてい
るので、仮にイオン化室4と試料導入部ガラス管
2の組立て精度が低い場合であつても球面接触に
より十分な密着性が確保されている。
接続器8をイオン化室4と試料導入部ガラス管
2から取り出す場合、保持器18をつまんで更に
折り曲げることにより3個の接続器8は同時に収
縮し取り外すことができる。
2から取り出す場合、保持器18をつまんで更に
折り曲げることにより3個の接続器8は同時に収
縮し取り外すことができる。
(実施例 2)
第4図は第2の実施例を表わし、3個の接続器
30は第1図における接続器8と同様の二重管構
造と先端の球面構造をもつている。
30は第1図における接続器8と同様の二重管構
造と先端の球面構造をもつている。
接続器30は両端部に鍔32,34又は36,
38を有し、鍔32,34の間に又は両端部間に
コイルバネ40が圧縮された状態で設けられるこ
とにより、接続器30を伸ばす方向に押してい
る。コイルバネ40は3個の接続器30が一体化
されるように適当個所において相互に接合されて
いる。42はコイルバネ36の接合部である。3
個のコイルバネ36が接合された状態において、
3個の接続器のうち中央の接続器の鍔36,38
は両側の接続器の鍔32,34よりも外側に位置
し、かつ中央の接続器を収縮させたとき鍔36,
38が鍔32,34に当るようにそれぞれの鍔の
大きさが設定されている。
38を有し、鍔32,34の間に又は両端部間に
コイルバネ40が圧縮された状態で設けられるこ
とにより、接続器30を伸ばす方向に押してい
る。コイルバネ40は3個の接続器30が一体化
されるように適当個所において相互に接合されて
いる。42はコイルバネ36の接合部である。3
個のコイルバネ36が接合された状態において、
3個の接続器のうち中央の接続器の鍔36,38
は両側の接続器の鍔32,34よりも外側に位置
し、かつ中央の接続器を収縮させたとき鍔36,
38が鍔32,34に当るようにそれぞれの鍔の
大きさが設定されている。
本実施例の場合、各接続器30はコイルバネ4
0の接合により一体化されているだけであるので
相当の自由度をもち、接続器30自体の構造と相
俟つて第1図と同様に球面接触によりイオン化室
4と試料導入部ガラス管2との間の接続を密着性
よく保つことができる。そして、接続器30を脱
着させるときは、中央の接続器30の両鍔36,
38をつまんでその接続器30を収縮させると、
鍔36,38の収縮方向への移動とともに鍔3
2,34も移動して両側の接続器30も同時に収
縮し、3個の接続器30が同時に脱着される。
0の接合により一体化されているだけであるので
相当の自由度をもち、接続器30自体の構造と相
俟つて第1図と同様に球面接触によりイオン化室
4と試料導入部ガラス管2との間の接続を密着性
よく保つことができる。そして、接続器30を脱
着させるときは、中央の接続器30の両鍔36,
38をつまんでその接続器30を収縮させると、
鍔36,38の収縮方向への移動とともに鍔3
2,34も移動して両側の接続器30も同時に収
縮し、3個の接続器30が同時に脱着される。
(実施例 3)
第5図は第3の実施例を表わす。第1図の実施
例では保持器がバネを兼ねていたのに対し、本実
施例ではバネ40と、3個の接続器8を一体化さ
せる保持器50は別体として構成されている。3
個の接続器8は第1図のものと同じである。
例では保持器がバネを兼ねていたのに対し、本実
施例ではバネ40と、3個の接続器8を一体化さ
せる保持器50は別体として構成されている。3
個の接続器8は第1図のものと同じである。
保持器50は蝶番状をなして接続器8の伸縮方
向に開閉することができる。保持器50を接続器
8に取りつけるための穴52,54はそれぞれが
取りつけられる位置の接続器8の径より大きく開
けられており、接続器8に自由度を与えている。
向に開閉することができる。保持器50を接続器
8に取りつけるための穴52,54はそれぞれが
取りつけられる位置の接続器8の径より大きく開
けられており、接続器8に自由度を与えている。
本実施例における接続器8自体の機能は第1図
のものと全く同じであるので説明は省略する。接
続器8を脱着する場合は保持器50を指で挟んで
接続器8を収縮させると、3個の接続器8が同時
に収縮し一度に脱着することができる。
のものと全く同じであるので説明は省略する。接
続器8を脱着する場合は保持器50を指で挟んで
接続器8を収縮させると、3個の接続器8が同時
に収縮し一度に脱着することができる。
(発明の効果)
本発明によれば一体化された複数の接続器を同
時に脱着することができ、保守の際などの作業性
が向上する。しかも接続器自体においても一体化
構造においても相当の自由度をもつているので、
イオン化室と試料導入系の組立ての位置精度に例
えば0.1mm程度の誤差があつたとしても十分な密
着性を保つて接続することができる。
時に脱着することができ、保守の際などの作業性
が向上する。しかも接続器自体においても一体化
構造においても相当の自由度をもつているので、
イオン化室と試料導入系の組立ての位置精度に例
えば0.1mm程度の誤差があつたとしても十分な密
着性を保つて接続することができる。
第1図は実施例を示す一部切欠き平面図、第2
図は同実施例における接続器と保持器を示す側面
図、第3図は広げた状態の保持器を示す平面図、
第4図及び第5図はそれぞれ他の実施例を示す一
部切欠き平面図、第6図は第5図における保持器
と接続器を示す側面図である。 2……試料導入部ガラス管、4……イオン源の
イオン化室、8,30……接続器、18,50…
…保持器、32,34,36,38……鍔、40
……コイルバネ。
図は同実施例における接続器と保持器を示す側面
図、第3図は広げた状態の保持器を示す平面図、
第4図及び第5図はそれぞれ他の実施例を示す一
部切欠き平面図、第6図は第5図における保持器
と接続器を示す側面図である。 2……試料導入部ガラス管、4……イオン源の
イオン化室、8,30……接続器、18,50…
…保持器、32,34,36,38……鍔、40
……コイルバネ。
Claims (1)
- 1 複数の試料導入系を備え、各試料導入系の試
料導入部とイオン源との間に配置される接続器は
試料導入部とイオン源とに接触をし、伸縮可能
で、伸びる方向にバネ力が与えられている管状の
接続器であり、少なくとも2個の接続器が相互に
緩く拘束されて一体構造をなし、かつ一体化され
た接続器を同時に収縮させることができる保持手
段が設けられている質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204597A JPS6182647A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204597A JPS6182647A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6182647A JPS6182647A (ja) | 1986-04-26 |
| JPH0550808B2 true JPH0550808B2 (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=16493097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59204597A Granted JPS6182647A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6182647A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6410914B1 (en) | 1999-03-05 | 2002-06-25 | Bruker Daltonics Inc. | Ionization chamber for atmospheric pressure ionization mass spectrometry |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP59204597A patent/JPS6182647A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6182647A (ja) | 1986-04-26 |
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