JPS6182647A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計Info
- Publication number
- JPS6182647A JPS6182647A JP59204597A JP20459784A JPS6182647A JP S6182647 A JPS6182647 A JP S6182647A JP 59204597 A JP59204597 A JP 59204597A JP 20459784 A JP20459784 A JP 20459784A JP S6182647 A JPS6182647 A JP S6182647A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connector
- sample introduction
- connectors
- ion source
- mass spectrometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0422—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for gaseous samples
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は混合物試料の定性・定量分析などを行なうため
に使用されるガスクロマトグラフ質量分析計(GO−M
S)に関するものである。
に使用されるガスクロマトグラフ質量分析計(GO−M
S)に関するものである。
(従来の技術)
ガスクロマトグラフ質量分析計はガスクロマトグラフと
質量分析計とを直結したものであるが、広い応用分野に
対応するため、質量分析計の試料導入部は通常少なくと
も3個設けられている。それらの試料導入部は、例えば
標準試料導入系、ガスクロマトグラフのバツクドカラム
からセパレータやスプリッターを経由して導入されるバ
ツクドカラム導入系、及びガスクロマトグラフのキャピ
ラリーカラムから導入されるキャピラリーカラム導入系
のそれぞれの導入部である。
質量分析計とを直結したものであるが、広い応用分野に
対応するため、質量分析計の試料導入部は通常少なくと
も3個設けられている。それらの試料導入部は、例えば
標準試料導入系、ガスクロマトグラフのバツクドカラム
からセパレータやスプリッターを経由して導入されるバ
ツクドカラム導入系、及びガスクロマトグラフのキャピ
ラリーカラムから導入されるキャピラリーカラム導入系
のそれぞれの導入部である。
各試料導入系の試料導入部とイオン源の間は管状の接続
器により接続されているが、従来のガスクロマトグラフ
質量分析計では各試料導入系の経路ごとに独立した接続
器が使用されている。
器により接続されているが、従来のガスクロマトグラフ
質量分析計では各試料導入系の経路ごとに独立した接続
器が使用されている。
(発明が解決しようとする問題点)
イオン源交換時などの保守の際には各接続器を1個ずつ
肌着する必要があるため作業が複雑となり、また部品を
紛失する可能性も高い。
肌着する必要があるため作業が複雑となり、また部品を
紛失する可能性も高い。
そこで、仮に複数個の接続器を相互に全く自由度のない
状態で一体化したとすれば、イオン源とそれぞれの試料
導入部が高い位置精度で組み立てられている必要がある
。
状態で一体化したとすれば、イオン源とそれぞれの試料
導入部が高い位置精度で組み立てられている必要がある
。
本発明はガスクロマトグラフ質量分析計におけるイオン
源と試料導入部の間を接続する接続器の脱着の作業性を
向上させるとともに、部品紛失の防止を図ることを目的
とするものである。
源と試料導入部の間を接続する接続器の脱着の作業性を
向上させるとともに、部品紛失の防止を図ることを目的
とするものである。
(問題点を解決するための手段)
本発明の質量分析計は、複数個の試料導入系を備え、そ
れらの試料導入系の試料導入部とイオン源との間に配置
される接続器は試料導入部とイオン源とに球面などの曲
面で接触をし、伸縮可能で、伸ばす方向にバネ力が与え
られている管状の接続器であるが、少なくとも2個の接
続器が相互に緩く拘束されて一体構造をなし、かつ一体
化された接続器を同時に収縮させることができる保持手
段が設けられていることを特徴とするものである。
れらの試料導入系の試料導入部とイオン源との間に配置
される接続器は試料導入部とイオン源とに球面などの曲
面で接触をし、伸縮可能で、伸ばす方向にバネ力が与え
られている管状の接続器であるが、少なくとも2個の接
続器が相互に緩く拘束されて一体構造をなし、かつ一体
化された接続器を同時に収縮させることができる保持手
段が設けられていることを特徴とするものである。
(作用)
複数の接続器が一体化され保持手段により複数個の接続
器が同時に収縮させられることにより。
器が同時に収縮させられることにより。
同時に脱着される。
また、各接続器はイオン源及び試料導入部と曲面接触を
し、バネ力により伸びる方向に押されているとともに、
一体化された複数の接続器が緩く拘束されているだけで
あるので、イオン源と試料導入部の位置誤差を吸収して
密着性よく接続する。
し、バネ力により伸びる方向に押されているとともに、
一体化された複数の接続器が緩く拘束されているだけで
あるので、イオン源と試料導入部の位置誤差を吸収して
密着性よく接続する。
(実施例)
第1図は3経路の試料導入系をイオン源に接続する実施
例を表わす。2は真空室外から真空室内へ試料を導入す
る試料導入部ガラス管で、3本が平行に設けられている
。これらのガラス管2は、例えばそれぞれ標準試料導入
用、バツクドカラムからの試料導入用、及びキャピラリ
ーカラムからの試料導入用である。各ガラス管2の先端
は凸状に球面加工されている。
例を表わす。2は真空室外から真空室内へ試料を導入す
る試料導入部ガラス管で、3本が平行に設けられている
。これらのガラス管2は、例えばそれぞれ標準試料導入
用、バツクドカラムからの試料導入用、及びキャピラリ
ーカラムからの試料導入用である。各ガラス管2の先端
は凸状に球面加工されている。
4はイオン源のイオン化室で、3個の試料導入口6を有
し、各試料導入口6は試料導入部ガラス管2の対応する
それぞれに対向した位置に設けられており、凹状に球面
加工されている。
し、各試料導入口6は試料導入部ガラス管2の対応する
それぞれに対向した位置に設けられており、凹状に球面
加工されている。
各対応する試?’)導入口6と試料導入部ガラス管2の
間にはそれぞれ接続器8が設けられている。
間にはそれぞれ接続器8が設けられている。
接続器8は気密を保って摺動する伸縮可能な二重管構造
をしており、イオン化室4の試料導入口6と接続される
端部10ではその試料導入口6と密着するように凸状に
球面加工され、一方、試料導入部ガラス管2と接続され
る端部12ではそのガラス管2の先端と密着するように
凹状に球面加工されている。両端部1.0.12は軸径
よりも太くなっており、端部近くに設けられた鍔14.
16との間に後述の保持器18が取りつけられるように
なっている。
をしており、イオン化室4の試料導入口6と接続される
端部10ではその試料導入口6と密着するように凸状に
球面加工され、一方、試料導入部ガラス管2と接続され
る端部12ではそのガラス管2の先端と密着するように
凹状に球面加工されている。両端部1.0.12は軸径
よりも太くなっており、端部近くに設けられた鍔14.
16との間に後述の保持器18が取りつけられるように
なっている。
保持器18は仮バネにより構成され、第3図に示される
ように3個の接続器8に取りつけるための3組の穴20
.22が設けられている。各穴20.22はそれらが嵌
め込まれる接続器8の径よりも大きく開けられており、
接続器8に取りつけられた状態で接続器8を緩く拘束す
るようになっている。各組の穴20.22相互の間には
それぞれの穴20.22よりも深い切込み24.26が
設けられている。
ように3個の接続器8に取りつけるための3組の穴20
.22が設けられている。各穴20.22はそれらが嵌
め込まれる接続器8の径よりも大きく開けられており、
接続器8に取りつけられた状態で接続器8を緩く拘束す
るようになっている。各組の穴20.22相互の間には
それぞれの穴20.22よりも深い切込み24.26が
設けられている。
保持器18は第2図に示されるようにU字型に折り曲げ
られた状態で接続器8に取りつけられ、3個の接続器8
を一体的に結合する。第1図に示されるように3個の接
続器8が保持器18によりイオン化室4と各試料導入部
ガラス管2との間に取りつけられた状態において、各接
続器8は保持器18の切込み24.26により伸縮方向
に対して自由度をもっている。また、接続器8とイオン
化室4との間、及び接続器8と試料導入部ガラス管2と
の間の接続は球面接触により行なわれているので、仮に
イオン化室4と試料導入部ガラス管2の組立て精度が低
い場合であっても球面接触により十分な密;n性が確保
されている。
られた状態で接続器8に取りつけられ、3個の接続器8
を一体的に結合する。第1図に示されるように3個の接
続器8が保持器18によりイオン化室4と各試料導入部
ガラス管2との間に取りつけられた状態において、各接
続器8は保持器18の切込み24.26により伸縮方向
に対して自由度をもっている。また、接続器8とイオン
化室4との間、及び接続器8と試料導入部ガラス管2と
の間の接続は球面接触により行なわれているので、仮に
イオン化室4と試料導入部ガラス管2の組立て精度が低
い場合であっても球面接触により十分な密;n性が確保
されている。
接続器8をイオン化室4と試料導入部ガラス管2から取
り外す場合、保持器18をつまんで更に折り曲げること
により3個の接続器8は同時に収縮し取り外すことがで
きる。
り外す場合、保持器18をつまんで更に折り曲げること
により3個の接続器8は同時に収縮し取り外すことがで
きる。
(実施例2)
第4図は第2の実施例を表わし、3個の接続器30は第
1図における接続器8と同様の二重管構造と先端の球面
構造をもっている。
1図における接続器8と同様の二重管構造と先端の球面
構造をもっている。
接続器30は両端部に鍔32.34又は36゜38を有
し、鍔32.34の間に又は両端部間にコイルバネ40
が圧縮された状態で設けられることにより、接続器30
を伸ばす方向に押している。
し、鍔32.34の間に又は両端部間にコイルバネ40
が圧縮された状態で設けられることにより、接続器30
を伸ばす方向に押している。
コイルバネ40は3個の接続器30が一体化されろよう
に適当個所において相互に接合されている642はコイ
ルバネ36の接合部である。3個のコイルバネ36が接
合された状態において、3個の接続器のうちの中央の接
続器の鍔36.38は両側の接続器の鍔32.34より
も外側に位置し、かつ中央の接続器を収縮させたとき鍔
36.38が鍔32.34に当るようにそれぞれの鍔の
大きさが設定されている。
に適当個所において相互に接合されている642はコイ
ルバネ36の接合部である。3個のコイルバネ36が接
合された状態において、3個の接続器のうちの中央の接
続器の鍔36.38は両側の接続器の鍔32.34より
も外側に位置し、かつ中央の接続器を収縮させたとき鍔
36.38が鍔32.34に当るようにそれぞれの鍔の
大きさが設定されている。
本実施例の場合、各接続器30はコイルバネ40の接合
により一体化されているだけであるので相当の自由度を
もち、接続器30自体の構造と相俟って第1図と同様に
球面接触によりイオン化室4と試料導入部ガラス管2と
の間の接続を密着性よく保つことができる。そして、接
続器30を脱着させるときは、中央の接続器30の両鍔
36゜38をつまんでその接続器30を収縮させると、
鍔36.38の収縮方向への移動とともに鍔32゜34
も移動して両側の接続器30も同時に収縮し、3個の接
続器30が同時に脱着される。
により一体化されているだけであるので相当の自由度を
もち、接続器30自体の構造と相俟って第1図と同様に
球面接触によりイオン化室4と試料導入部ガラス管2と
の間の接続を密着性よく保つことができる。そして、接
続器30を脱着させるときは、中央の接続器30の両鍔
36゜38をつまんでその接続器30を収縮させると、
鍔36.38の収縮方向への移動とともに鍔32゜34
も移動して両側の接続器30も同時に収縮し、3個の接
続器30が同時に脱着される。
(実施例3)
第5図は第3の実施例を表わす。第1図の実施例では保
持器がバネを兼ねていたのに対し、本実施例ではバネ4
0と、3個の接続器8を一体化させる保持器50は別体
として構成されている。3個の接続器8は第り図のもの
と同じである。
持器がバネを兼ねていたのに対し、本実施例ではバネ4
0と、3個の接続器8を一体化させる保持器50は別体
として構成されている。3個の接続器8は第り図のもの
と同じである。
保持器50は蝶番状をなして接続器8の伸縮方向に開閉
することができる。保持器50を接続器8に取りつける
ための穴52.54はそれぞれが取りつけられる位置の
接続器8の径より大きく開けられており、接続器8に自
由度を与えている。
することができる。保持器50を接続器8に取りつける
ための穴52.54はそれぞれが取りつけられる位置の
接続器8の径より大きく開けられており、接続器8に自
由度を与えている。
本実施例における接続器8自体の機能は第1図のものと
全く同じであるので説明は省略する。接続器8を脱着す
る場合は保持器50を指で挟んで接続器8を収縮させる
と、3個の接続器8が同時に収縮し一度に脱着すること
ができる。
全く同じであるので説明は省略する。接続器8を脱着す
る場合は保持器50を指で挟んで接続器8を収縮させる
と、3個の接続器8が同時に収縮し一度に脱着すること
ができる。
(発明の効果)
本発明によれば一体化された複数の接続器を同時に脱着
することができ、保守の際などの作業性が向上する。し
かも接続器自体においても一体化構造においても相当の
自由度をもっているので、イオン化室と試料導入系の組
立ての位置精度に例えばO,Imm程度の誤差があった
としても十分な密着性を保って接続することができる。
することができ、保守の際などの作業性が向上する。し
かも接続器自体においても一体化構造においても相当の
自由度をもっているので、イオン化室と試料導入系の組
立ての位置精度に例えばO,Imm程度の誤差があった
としても十分な密着性を保って接続することができる。
第1図は実施例を示す一部切欠き平面図、第2図は同実
施例における接続器と保持器を示す側面図、第3図は広
げた状態の保持器を示す平面図、第4図及び第5図はそ
れぞれ他の実施例を示す一部切欠き平面図、第6図は第
5図における保持器と接続器を示す側面図である。 2・・・・・・試料導入部ガラス管、 4・・・・・イオン源のイオン化室、 8.30・・・・・・接続器、 18.50・・・
・・・保持器。 32.34,36.18・・・・・・鍔、40・・・・
・・コイルバネ。
施例における接続器と保持器を示す側面図、第3図は広
げた状態の保持器を示す平面図、第4図及び第5図はそ
れぞれ他の実施例を示す一部切欠き平面図、第6図は第
5図における保持器と接続器を示す側面図である。 2・・・・・・試料導入部ガラス管、 4・・・・・イオン源のイオン化室、 8.30・・・・・・接続器、 18.50・・・
・・・保持器。 32.34,36.18・・・・・・鍔、40・・・・
・・コイルバネ。
Claims (1)
- (1)複数の試料導入系を備え、各試料導入系の試料導
入部とイオン源との間に配置される接続器は試料導入部
とイオン源とに接触をし、伸縮可能で、伸びる方向にバ
ネ力が与えられている管状の接続器であり、少なくとも
2個の接続器が相互に緩く拘束されて一体構造をなし、
かつ一体化された接続器を同時に収縮させることができ
る保持手段が設けられている質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204597A JPS6182647A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204597A JPS6182647A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6182647A true JPS6182647A (ja) | 1986-04-26 |
| JPH0550808B2 JPH0550808B2 (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=16493097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59204597A Granted JPS6182647A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6182647A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000052735A1 (en) * | 1999-03-05 | 2000-09-08 | Bruker Daltronics, Inc. | Ionization chamber for atmospheric pressure ionization mass spectrometry |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP59204597A patent/JPS6182647A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000052735A1 (en) * | 1999-03-05 | 2000-09-08 | Bruker Daltronics, Inc. | Ionization chamber for atmospheric pressure ionization mass spectrometry |
| US6410914B1 (en) | 1999-03-05 | 2002-06-25 | Bruker Daltonics Inc. | Ionization chamber for atmospheric pressure ionization mass spectrometry |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0550808B2 (ja) | 1993-07-30 |
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