JPH0551944B2 - - Google Patents
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- JPH0551944B2 JPH0551944B2 JP1225105A JP22510589A JPH0551944B2 JP H0551944 B2 JPH0551944 B2 JP H0551944B2 JP 1225105 A JP1225105 A JP 1225105A JP 22510589 A JP22510589 A JP 22510589A JP H0551944 B2 JPH0551944 B2 JP H0551944B2
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Description
本発明は、被観測物体の輪郭、形状の認識に最
適な２値化画像データを得るための２値化処理方
法に関するものである。
適な２値化画像データを得るための２値化処理方
法に関するものである。
従来において用いられているこの種の物体認識
装置としては、予め実験的にカメラによつて標準
試料としての物体を撮像して得られたカメラの出
力を２値化して良品判定基準となる２値化レベル
を得ておき、検査対象物を撮像して得られたカメ
ラの出力を２値化して、上記の予め得られている
良品判定基準としての２値化レベルと対比し、２
値化画像中の画素数、その分布状況（ヒストグラ
ム）によつて良品または不良品の判定を行なつて
いる。 しかし、良品、不良品の区別が２値化レベルと
してはつきり現われるのは、むしろきわめて特殊
な場合であつて、あいまいなレベルであることが
通常であり、良品判定基準としての２値化レベル
を一律に決定することは難しい。また、一旦これ
を決定したとしても、検査当日の天候などにより
部屋の明るさが変化したり、検査対象物の表面の
状態が微妙に相違しているなど、検査環境に変化
があると、良品を不良品と判定してしまうことが
ある。 特に奥行のあるものの場合には、複数の特徴点
のいずれかがカメラの焦点から外れてしまうため
に、再現性のよい画像を得ることができず、信頼
性が低下する。 そこで、複数台のカメラによつて各特徴点ごと
に各別に判定を行うことが考えられるが、その操
作はきわめて繁雑なものである。 また、例えば特開昭62−47788号公報に開示さ
れているものでは、カメラによつてエツジ部をぼ
かした像に対応するビデオ信号を得るようにして
おり、基準物体から得た標準データと、被観測物
体から得た測定データとを比較することによつて
行つている。しかし、この従来技術においても、
常に標準データを環境の変化等に対応して求めな
ければならず、その判断はきわめて難しいもので
ある。 また、イメージセンサの出力を２つの基準レベ
ルによ２値化回路を介して２値化画像データに変
換し、前記画像データの差画像から算出されたレ
ンズ焦点補正量によつて焦点を補正する技術が、
例えば特開昭55−137784号公報、特開昭61−
20468号公報、特開昭50−129016号公報等に開示
されている。
装置としては、予め実験的にカメラによつて標準
試料としての物体を撮像して得られたカメラの出
力を２値化して良品判定基準となる２値化レベル
を得ておき、検査対象物を撮像して得られたカメ
ラの出力を２値化して、上記の予め得られている
良品判定基準としての２値化レベルと対比し、２
値化画像中の画素数、その分布状況（ヒストグラ
ム）によつて良品または不良品の判定を行なつて
いる。 しかし、良品、不良品の区別が２値化レベルと
してはつきり現われるのは、むしろきわめて特殊
な場合であつて、あいまいなレベルであることが
通常であり、良品判定基準としての２値化レベル
を一律に決定することは難しい。また、一旦これ
を決定したとしても、検査当日の天候などにより
部屋の明るさが変化したり、検査対象物の表面の
状態が微妙に相違しているなど、検査環境に変化
があると、良品を不良品と判定してしまうことが
ある。 特に奥行のあるものの場合には、複数の特徴点
のいずれかがカメラの焦点から外れてしまうため
に、再現性のよい画像を得ることができず、信頼
性が低下する。 そこで、複数台のカメラによつて各特徴点ごと
に各別に判定を行うことが考えられるが、その操
作はきわめて繁雑なものである。 また、例えば特開昭62−47788号公報に開示さ
れているものでは、カメラによつてエツジ部をぼ
かした像に対応するビデオ信号を得るようにして
おり、基準物体から得た標準データと、被観測物
体から得た測定データとを比較することによつて
行つている。しかし、この従来技術においても、
常に標準データを環境の変化等に対応して求めな
ければならず、その判断はきわめて難しいもので
ある。 また、イメージセンサの出力を２つの基準レベ
ルによ２値化回路を介して２値化画像データに変
換し、前記画像データの差画像から算出されたレ
ンズ焦点補正量によつて焦点を補正する技術が、
例えば特開昭55−137784号公報、特開昭61−
20468号公報、特開昭50−129016号公報等に開示
されている。
しかし、この従来技術は、いずれも特定の１つ
の面に正確にピントを合わせて鮮明な画像を容易
に得るようにしたものであるが、正確にピントの
合つた画像は他の部分が極端に不鮮明になり、そ
のため必ずしも被観測物体の形状のすべての部分
を認識するのに最適な画像ではない場合がある。
例えば、階段形状の１つの面に正確にピントを合
わせた画像では、ピントから外れた他の部分の形
状が認識できなくなる。それよりも特定の１つの
面には正確にピントは合つていないが、他の面の
形状も含めて他のすべての部分も十分に認識でき
る焦点距離に設定した方が、被観測物体の輪郭形
状の認識にとつては望ましい場合がある。 そこで、本発明は、このような階段形状または
奥行のあるような複雑な被観測物体の輪郭形状を
適正に認識するのに最適な２値化画像を、簡単に
得ることを可能とする画像処理装置における２値
化処理方法を提供することを目的とするものであ
る。
の面に正確にピントを合わせて鮮明な画像を容易
に得るようにしたものであるが、正確にピントの
合つた画像は他の部分が極端に不鮮明になり、そ
のため必ずしも被観測物体の形状のすべての部分
を認識するのに最適な画像ではない場合がある。
例えば、階段形状の１つの面に正確にピントを合
わせた画像では、ピントから外れた他の部分の形
状が認識できなくなる。それよりも特定の１つの
面には正確にピントは合つていないが、他の面の
形状も含めて他のすべての部分も十分に認識でき
る焦点距離に設定した方が、被観測物体の輪郭形
状の認識にとつては望ましい場合がある。 そこで、本発明は、このような階段形状または
奥行のあるような複雑な被観測物体の輪郭形状を
適正に認識するのに最適な２値化画像を、簡単に
得ることを可能とする画像処理装置における２値
化処理方法を提供することを目的とするものであ
る。
上記目的を達成するために、本発明の画像処理
装置における２値化処理方法は、 撮像手段６により被観測物体１をある焦点距
離で撮像して信号を出力し、 ２値化基準レベルがＱである第１の２値化回
路１０を介して上記撮像信号を２値化画像デー
タとして出力し、 ２値化基準レベルが上記Ｑよりも一定レベル
だけ異なるＱ−Δqである第２の２値化回路１
１を介して上記撮像信号を２値化画像データと
して出力し、 上記第１の２値化回路からの２値化画像デー
タと上記第２の２値化回路からの２値化画像デ
ータの排他的論理和をとつて差画素数Ｋを検知
し、 上記差画素数Ｋに対応して上記撮像手段の焦
点距離を予め定められた量だけ変更し、 この変更された焦点距離のもとで上記工程
〜を実行して新たな差画素数Ｋを検知し、 上記工程における差画素数Ｋと上記工程
における新たな差画素数Ｋとの差Δkを算出し、 上記Δkが予め定められた基準値K0になるま
で上記工程，を実行し、 上記Δkが予め定められた基準値K0以下にな
つたときの焦点距離における２値化画像データ
を適性とする ことを特徴とするものである。
装置における２値化処理方法は、 撮像手段６により被観測物体１をある焦点距
離で撮像して信号を出力し、 ２値化基準レベルがＱである第１の２値化回
路１０を介して上記撮像信号を２値化画像デー
タとして出力し、 ２値化基準レベルが上記Ｑよりも一定レベル
だけ異なるＱ−Δqである第２の２値化回路１
１を介して上記撮像信号を２値化画像データと
して出力し、 上記第１の２値化回路からの２値化画像デー
タと上記第２の２値化回路からの２値化画像デ
ータの排他的論理和をとつて差画素数Ｋを検知
し、 上記差画素数Ｋに対応して上記撮像手段の焦
点距離を予め定められた量だけ変更し、 この変更された焦点距離のもとで上記工程
〜を実行して新たな差画素数Ｋを検知し、 上記工程における差画素数Ｋと上記工程
における新たな差画素数Ｋとの差Δkを算出し、 上記Δkが予め定められた基準値K0になるま
で上記工程，を実行し、 上記Δkが予め定められた基準値K0以下にな
つたときの焦点距離における２値化画像データ
を適性とする ことを特徴とするものである。
第１図は、本発明の画像処理装置における２値
化処理方法を実施するための装置の全体構成を示
す。 被観測物体１は、キヤリア２上に位置決めして
固定されており、前工程３から後工程４へ搬送さ
れる途中で、本発明による２値化処理が行われ、
物体の形状の認識が行われる。キヤリア２がこの
認識位置に到達したことは、センサ５により検出
される。この認識位置の真上に、焦点合せ機構６
ａを備えた撮像手段の一例としてのビデオカメラ
６が、物体１を撮像可能に配設してある。ビデオ
カメラ６およびセンサ５は、認識装置本体７に内
蔵してある制御回路により制御されるものであ
る。認識後の最終判定は、端子８より出力信号と
して後工程４へ送出される。装置本体７にはデイ
スプレー７ａが備わつており、撮像により得られ
た２値化画像データに基づく２値化画像を表示す
るようになつている。 ビデオカメラ６は、第２図ｉ−i′線に沿つて走
査され、物体１を撮像し、光電変換後の出力電圧
を制御回路へ出力する。この物体１は、複雑な形
状を有するもので、ビデオカメラ６から異なる距
離の平面１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄに４個の穴１
ｅ，１ｆ，１ｇ，１ｈを開設してある。したがつ
て、第２図ｂに示すように、穴１ｅ，１ｆ，１
ｇ，１ｈを特徴点とし、この穴を中心とする領域
を観測領域ｊ１，ｊ２，ｊ３，ｊ４に指定してい
る。線ｉ−i′上には、１ｅ，１ｆを含む観測領域
ｊ１，ｊ２が存在しており、下記の観測方法に従
つて各観測領域を順次観測するものである。 第３図は、この穴１ｅ，１ｆに注目し、断面ｉ
−i′を１ライン分の出力電圧として示している。
上記したように、穴１ｅ，１ｆが開設してある面
１ａ，１ｂは、ビデオカメラ６から異なつた距離
にあるので、一度にカメラの焦点を一致させるこ
とができない。特に、接写より詳細に撮像する場
合には、レンズ系の焦点深度が浅くなり、この傾
向が大きくなる。 そこで、面１ａに焦点を合わせると、穴１ｅは
シヤープに撮像できるが、穴１ｆはぼけの状態に
なる。このため、これらの画像を２値化し、穴径
を計測しようとすると、観測領域ｊ１の２つの基
準レベルQ1とQ1−Δqとから、正確に穴１ｅの径
を求めることができるが、観測領域ｊ２では、基
準レベルQ2の設定そのものが難しく、穴１ｆの
径を正確に求めることができない。 このような状態の穴１ｆに対して、２値化の基
準レベルQ2、および変化量Δqだけ異なるQ2−
Δqの場合の２値化画像データを、第４図ａ，ｂ
に示している。そして、第４図ｃには、これら２
つの２値化画像データの排他的論理和を計算して
得た差画像データを示している。 なお、穴１ｅのように焦点が一致している場合
には、変化量Δqに対してほとんどその２値化画
像データは変化せず、したがつて差画像データは
得られない。穴１ｆのようにぼけた場合には、変
化量Δqに対してかなりの２値化画像データに変
化が生じ、この変化に対して差画像データが第４
図ｃのように得られることになる。 この差画像データの差画素数をＫとすると、次
のような関係がある。 Ｋ＝f1（Δq） …(1) そこで、差画素数Ｋに対して、レンズ系焦点補
正量Δmを考えると、次のような関係がある。 Δm＝f2(K) …(2) 一般に、(1)，(2)式の関数f1，f2は非線形である
が、微小変化量Δqについて考える時、線形とし
て(3)式のように考えてもよい。 Δm≒α・Ｋ …(3) ここでαは比例係数であり、(3)式をテーブル化
して用いることができる。 したがつて、各観測領域ごとに、基準レベルＱ
と、これと僅かに差のあるＱ−Δqとの２つのレ
ベルを設定し、これらから得られる差画素数Ｋよ
り、レンズ系焦点補正量Δmを求めことができ
る。このΔmをビデオカメラ６の焦点合せ機構６
ａへ指示して、焦点距離を変更することができ
る。この変更された焦点距離により上記と同様に
して新しい差画素数Ｋを検知し、元の差画素数Ｋ
と新しい差画素数Ｋとの差Δkを算出し、このΔk
が予め定められた基準値K0以下になつたときの
焦点距離における２値化画像データを適正なもの
とする。このようにして被観測物体１の観測領域
ごとに、Δkが基準値K0以下になつた焦点距離に
おける２値化画像データを得るものである。 次に、第５図により本発明の方法を具体的に説
明する。 まず、観測に先立つて、各観測領域までの焦点
距離を標準的な観測物体に対して予め測定してお
く。また、焦点距離の補正を焦点距離の増加また
は減少の方向で行う場合には、適正な焦点距離よ
りも短くまたは長く設定し、少しぼけが生ずるよ
うに設定しておく。これにより、焦点距離の補正
の方向が一方向の制御だけでよくなる。 そこで、各観測領域ごとに、ビデオカメラ６
により当該観測領域の物体１を当該焦点距離で撮
像して信号を出力する。この信号を、２値化基
準レベルがＱである第１の２値化回路１０を介し
て“１”か“０”かの２値化画像データａとして
出力し、同時に、２値化基準レベルが上記Ｑよ
りも一定レベルだけ異なるＱ−Δqである第２の
２値化回路１１を介して２値化画像データｂとし
て出力する。両２値化画像データａ，ｂは、論
理演算回路１２で排他的論理和をとり、カウンタ
１３によりカウントして差画素数Ｋを検知する。 差画素数Ｋに対応する焦点補正量Δmは、テー
ブル化されて記憶してあるので、このテーブルか
ら、上記差画素数Ｋに対応する焦点補正量Δm
を得て、焦点合せ機構６ａに供給して焦点距離を
Δmだけ増加または減少させる。この変更され
た焦点距離のもとで上記工程〜を実行して新
たな差画素数Ｋを検知する。 そこで、元の差画素数Ｋと新たな差画素数Ｋ
との差Δkを算出する。通常の場合、新たなＫ＜
元のＫとなる。そこで補正の収束条件として、そ
の差Δk＝（元のＫ）−（新たなＫ）を求め、上記
Δkが予め定められた基準値K0になるまで上記工
程，を実行する。そして、上記Δkが予め
定められた基準値K0以下になつたときの焦点距
離における２値化画像データを適性と判断すよう
に処理しているのである。 この基準値K0は被観測物体１の形状に応じて
適宜の値に予め設定する。例えば、穴が浅く物体
の１つの面にピントが合えば十分にすべての部分
認識できるものであれば、K0は小さくてよく、
また階段状などの段差が大きい物体であれば、
K0は大きく設定することになる。 すべての観測領域ｊ１〜ｊ４について、上記の
ようにして適正な２値化画像データを得た後、最
初の初期焦点距離へ再設定し、次の被観測物体が
搬送されるのを待機する。 なお、上記の実施例では各観測領域に穴を有す
るる物体を示しているが、物体の中心部に突起を
有する形状の場合の２値化処理には、特に優れた
方法であり、迅速に適正な２値化画像データを得
ることができる。
化処理方法を実施するための装置の全体構成を示
す。 被観測物体１は、キヤリア２上に位置決めして
固定されており、前工程３から後工程４へ搬送さ
れる途中で、本発明による２値化処理が行われ、
物体の形状の認識が行われる。キヤリア２がこの
認識位置に到達したことは、センサ５により検出
される。この認識位置の真上に、焦点合せ機構６
ａを備えた撮像手段の一例としてのビデオカメラ
６が、物体１を撮像可能に配設してある。ビデオ
カメラ６およびセンサ５は、認識装置本体７に内
蔵してある制御回路により制御されるものであ
る。認識後の最終判定は、端子８より出力信号と
して後工程４へ送出される。装置本体７にはデイ
スプレー７ａが備わつており、撮像により得られ
た２値化画像データに基づく２値化画像を表示す
るようになつている。 ビデオカメラ６は、第２図ｉ−i′線に沿つて走
査され、物体１を撮像し、光電変換後の出力電圧
を制御回路へ出力する。この物体１は、複雑な形
状を有するもので、ビデオカメラ６から異なる距
離の平面１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄに４個の穴１
ｅ，１ｆ，１ｇ，１ｈを開設してある。したがつ
て、第２図ｂに示すように、穴１ｅ，１ｆ，１
ｇ，１ｈを特徴点とし、この穴を中心とする領域
を観測領域ｊ１，ｊ２，ｊ３，ｊ４に指定してい
る。線ｉ−i′上には、１ｅ，１ｆを含む観測領域
ｊ１，ｊ２が存在しており、下記の観測方法に従
つて各観測領域を順次観測するものである。 第３図は、この穴１ｅ，１ｆに注目し、断面ｉ
−i′を１ライン分の出力電圧として示している。
上記したように、穴１ｅ，１ｆが開設してある面
１ａ，１ｂは、ビデオカメラ６から異なつた距離
にあるので、一度にカメラの焦点を一致させるこ
とができない。特に、接写より詳細に撮像する場
合には、レンズ系の焦点深度が浅くなり、この傾
向が大きくなる。 そこで、面１ａに焦点を合わせると、穴１ｅは
シヤープに撮像できるが、穴１ｆはぼけの状態に
なる。このため、これらの画像を２値化し、穴径
を計測しようとすると、観測領域ｊ１の２つの基
準レベルQ1とQ1−Δqとから、正確に穴１ｅの径
を求めることができるが、観測領域ｊ２では、基
準レベルQ2の設定そのものが難しく、穴１ｆの
径を正確に求めることができない。 このような状態の穴１ｆに対して、２値化の基
準レベルQ2、および変化量Δqだけ異なるQ2−
Δqの場合の２値化画像データを、第４図ａ，ｂ
に示している。そして、第４図ｃには、これら２
つの２値化画像データの排他的論理和を計算して
得た差画像データを示している。 なお、穴１ｅのように焦点が一致している場合
には、変化量Δqに対してほとんどその２値化画
像データは変化せず、したがつて差画像データは
得られない。穴１ｆのようにぼけた場合には、変
化量Δqに対してかなりの２値化画像データに変
化が生じ、この変化に対して差画像データが第４
図ｃのように得られることになる。 この差画像データの差画素数をＫとすると、次
のような関係がある。 Ｋ＝f1（Δq） …(1) そこで、差画素数Ｋに対して、レンズ系焦点補
正量Δmを考えると、次のような関係がある。 Δm＝f2(K) …(2) 一般に、(1)，(2)式の関数f1，f2は非線形である
が、微小変化量Δqについて考える時、線形とし
て(3)式のように考えてもよい。 Δm≒α・Ｋ …(3) ここでαは比例係数であり、(3)式をテーブル化
して用いることができる。 したがつて、各観測領域ごとに、基準レベルＱ
と、これと僅かに差のあるＱ−Δqとの２つのレ
ベルを設定し、これらから得られる差画素数Ｋよ
り、レンズ系焦点補正量Δmを求めことができ
る。このΔmをビデオカメラ６の焦点合せ機構６
ａへ指示して、焦点距離を変更することができ
る。この変更された焦点距離により上記と同様に
して新しい差画素数Ｋを検知し、元の差画素数Ｋ
と新しい差画素数Ｋとの差Δkを算出し、このΔk
が予め定められた基準値K0以下になつたときの
焦点距離における２値化画像データを適正なもの
とする。このようにして被観測物体１の観測領域
ごとに、Δkが基準値K0以下になつた焦点距離に
おける２値化画像データを得るものである。 次に、第５図により本発明の方法を具体的に説
明する。 まず、観測に先立つて、各観測領域までの焦点
距離を標準的な観測物体に対して予め測定してお
く。また、焦点距離の補正を焦点距離の増加また
は減少の方向で行う場合には、適正な焦点距離よ
りも短くまたは長く設定し、少しぼけが生ずるよ
うに設定しておく。これにより、焦点距離の補正
の方向が一方向の制御だけでよくなる。 そこで、各観測領域ごとに、ビデオカメラ６
により当該観測領域の物体１を当該焦点距離で撮
像して信号を出力する。この信号を、２値化基
準レベルがＱである第１の２値化回路１０を介し
て“１”か“０”かの２値化画像データａとして
出力し、同時に、２値化基準レベルが上記Ｑよ
りも一定レベルだけ異なるＱ−Δqである第２の
２値化回路１１を介して２値化画像データｂとし
て出力する。両２値化画像データａ，ｂは、論
理演算回路１２で排他的論理和をとり、カウンタ
１３によりカウントして差画素数Ｋを検知する。 差画素数Ｋに対応する焦点補正量Δmは、テー
ブル化されて記憶してあるので、このテーブルか
ら、上記差画素数Ｋに対応する焦点補正量Δm
を得て、焦点合せ機構６ａに供給して焦点距離を
Δmだけ増加または減少させる。この変更され
た焦点距離のもとで上記工程〜を実行して新
たな差画素数Ｋを検知する。 そこで、元の差画素数Ｋと新たな差画素数Ｋ
との差Δkを算出する。通常の場合、新たなＫ＜
元のＫとなる。そこで補正の収束条件として、そ
の差Δk＝（元のＫ）−（新たなＫ）を求め、上記
Δkが予め定められた基準値K0になるまで上記工
程，を実行する。そして、上記Δkが予め
定められた基準値K0以下になつたときの焦点距
離における２値化画像データを適性と判断すよう
に処理しているのである。 この基準値K0は被観測物体１の形状に応じて
適宜の値に予め設定する。例えば、穴が浅く物体
の１つの面にピントが合えば十分にすべての部分
認識できるものであれば、K0は小さくてよく、
また階段状などの段差が大きい物体であれば、
K0は大きく設定することになる。 すべての観測領域ｊ１〜ｊ４について、上記の
ようにして適正な２値化画像データを得た後、最
初の初期焦点距離へ再設定し、次の被観測物体が
搬送されるのを待機する。 なお、上記の実施例では各観測領域に穴を有す
るる物体を示しているが、物体の中心部に突起を
有する形状の場合の２値化処理には、特に優れた
方法であり、迅速に適正な２値化画像データを得
ることができる。
以上説明したような本発明の２値化処理方法に
よれば、階段状または奥行のある被観測物体の形
状、輪郭を認識するのに最適な２値化画像データ
を簡単にかつ適正に得ることができるから、この
データにより、被観測物体の良品の判定が即座に
でき、精度のよい判定結果が得られて信頼性が向
上する。
よれば、階段状または奥行のある被観測物体の形
状、輪郭を認識するのに最適な２値化画像データ
を簡単にかつ適正に得ることができるから、この
データにより、被観測物体の良品の判定が即座に
でき、精度のよい判定結果が得られて信頼性が向
上する。
図面は本発明の２値化処理方法を説明するため
の説明図であり、第１図は本発明の方法を実施す
る装置の全体構成を示す斜視図、第２図ａ，ｂは
観測領域を説明する平面図、第３図は２つの観測
領域を同じ焦点距離のカメラで撮像した出力電圧
波形図、第４図ａは焦点が合つていない場合にお
ける２値化の基準レベルＱでの２値化波形図、第
４図ｂは同上における基準レベルＱ−Δqでの２
値化出力波形図、第４図ｃは上記２つの２値化出
力の排他的論理和の２値化出力波形図、第５図は
レンズ焦点補正量を算出する基本構成図である。 １…被観測物体、６…撮像手段（ビデオカメ
ラ）、１０，１１…２値化回路、Ｑ，Ｑ−Δq…２
値化基準レベル、Δm…焦点補正量。
の説明図であり、第１図は本発明の方法を実施す
る装置の全体構成を示す斜視図、第２図ａ，ｂは
観測領域を説明する平面図、第３図は２つの観測
領域を同じ焦点距離のカメラで撮像した出力電圧
波形図、第４図ａは焦点が合つていない場合にお
ける２値化の基準レベルＱでの２値化波形図、第
４図ｂは同上における基準レベルＱ−Δqでの２
値化出力波形図、第４図ｃは上記２つの２値化出
力の排他的論理和の２値化出力波形図、第５図は
レンズ焦点補正量を算出する基本構成図である。 １…被観測物体、６…撮像手段（ビデオカメ
ラ）、１０，１１…２値化回路、Ｑ，Ｑ−Δq…２
値化基準レベル、Δm…焦点補正量。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 撮像手段６により被観測物体１をある焦
点距離で撮像して信号を出力し、 ２値化基準レベルがＱである第１の２値化回
路１０を介して上記撮像信号を２値化画像デー
タとして出力し、 ２値化基準レベルが上記Ｑよりも一定レベル
だけ異なるＱ−Δqである第２の２値化回路１
１を介して上記撮像信号を２値化画像データと
して出力し、 上記第１の２値化回路からの２値化画像デー
タと上記第２の２値化回路からの２値化画像デ
ータの排他的論理和をとつて差画素数Ｋを検知
し、 上記差画素数Ｋに対応して上記撮像手段の焦
点距離を予め定められた量だけ変更し、 この変更された焦点距離のもとで上記工程
〜を実行して新たな差画素数Ｋを検知し、 上記工程における差画素数Ｋと上記工程
における新たな差画素数Ｋとの差Δkを算出し、 上記Δkが予め定められた基準値K0になるま
で上記工程，を実行し、 上記Δkが予め定められた基準値K0以下にな
つたときの焦点距離における２値化画像データ
を適性とする ことを特徴とする画像処理装置における２値化処
理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1225105A JPH0388079A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 画像処理装置における２値化処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1225105A JPH0388079A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 画像処理装置における２値化処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0388079A JPH0388079A (ja) | 1991-04-12 |
| JPH0551944B2 true JPH0551944B2 (ja) | 1993-08-04 |
Family
ID=16824062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1225105A Granted JPH0388079A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 画像処理装置における２値化処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0388079A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0538509U (ja) * | 1991-10-25 | 1993-05-25 | 株式会社ミツトヨ | 光学式寸法測定装置 |
| JPH0733168U (ja) * | 1993-12-03 | 1995-06-20 | 秀夫 荒木 | 立食用取り皿 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5410458B2 (ja) * | 1974-03-29 | 1979-05-07 | ||
| JPS55137784A (en) * | 1979-04-16 | 1980-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | Focus adjustment system in image pickup device using image sensor |
| JPS6120468A (ja) * | 1984-07-06 | 1986-01-29 | Takenaka Syst Kiki Kk | イメ−ジセンサ−式受光器のピント調整方法並びにその装置 |
| JPS62251708A (ja) * | 1986-04-25 | 1987-11-02 | Fujitsu Ltd | 自動焦点装置 |
-
1989
- 1989-08-31 JP JP1225105A patent/JPH0388079A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0388079A (ja) | 1991-04-12 |
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