JPS5815041B2 - 検査方法及び装置 - Google Patents

検査方法及び装置

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JPS5815041B2
JPS5815041B2 JP15589277A JP15589277A JPS5815041B2 JP S5815041 B2 JPS5815041 B2 JP S5815041B2 JP 15589277 A JP15589277 A JP 15589277A JP 15589277 A JP15589277 A JP 15589277A JP S5815041 B2 JPS5815041 B2 JP S5815041B2
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signal
calibration
standard
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JP15589277A
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肇 吉田
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Hajime Industries Ltd
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Hajime Industries Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、物体の形状等の検査方法及び装置、特に、被
検査物体の周囲の条件の変動、検査装置自体の機能の変
動等に拘わらず、常に被検査物体を正確に検査し得る物
体の検査方法及び装置に関するものである。
従来の斯種物体の検査装置に於ては、先ず、例えば第1
図に示す如く、検査台T上に標準となる物体、即ち標準
体1を置き、これに光源2より光を照射し、テレビカメ
ラ3でこの標準体1を撮像し、それよりの画像信号を、
A−D(アナログ−デジタル)変換器41及び画像信号
の特徴抽出器又は回路42等を有する画像信号処理装置
又は回路4に供給して処理し、これよりの出力情報又は
信号を、標準情報信号として、例えばコンピュータ43
に記憶せしめる。
次に、被検査物体を検査台Tの標準体1の位置に置き(
従って、この被検査物体も符号1で示す)、これをテレ
ビカメラ3で撮像し、その画像信号を、画像信号処理回
路4で同様に処理し、これよりの出力情報をコンピュー
タ43に送り、そこで以前に記憶した標準体の情報と比
較し、被検査物体が標準体と同一か否か、即ちその良否
を検査している。
斯る従来の検査装置に於ては、各被検査物体の検査を通
じて、被検査物体1に照射される光源2よりの光の光量
が、標準体の撮像時に標準体に照射される光源2よりの
光の光量と異っていたり、更には、テレビカメラ等の電
気回路系のドリフト等により、被検査物体1を撮像して
得られるテレビカメラ3よりの画像信号は、仮え被検査
物体が標準体と同一であっても、標準体の画像信号と異
ったものとなるので、両者は異っていると判定される、
誤判定が生ずる恐れがある。
所で、光源2の経時変化や、被検査物体1の周囲光の変
動が生じ、被検査物体1に当る光の量が、無視し得ない
程度に変化するのが、通常である。
更に、カメラ等の電気回路系にも、屡々ドリフトが生ず
る。
従って、従来の装置によっては、上述の誤判定が、屡々
生ずると云う、斯の種の装置にとっては、重大な欠点を
回避し得ない。
従って、本発明の主目的は、上述した従来の欠点を一掃
した、物体の検査方法及び装置を提供せんとするにある
。
本本明の他の目的は、仮え各被検査物体の検査毎に、光
源の光量ば標準体の撮像時の光量に対して変化して、又
、同様に標準体の撮像時に対し、被検査物の周囲光が変
化しても、更にはカメラ、や関連する増巾器等の電気回
路系等に温変変化、その他の原因によるドリフト等が生
じたとしても、これ等を全て自動的且つ正確に補正し、
精密な検査を行い得る物体の検査方法及び装置を、安価
に提供せんとするものである。
本発明による検査方法の特徴とするところは、撮像体及
びそれよりの画像信号を処理して物体の検査をする方法
に於て、上記撮像体の標準体及び被検査物体に対する視
野内に検査の条件の基準となる較正体を配置して、該較
正体及び上記標準体又は被検査物体を同時に上記撮像体
により撮像し、該撮像体よりの撮像信号のうち上記較正
体に対応する信号を検出し、該検出信号により上記撮像
体よりの画像信号を補正するようになしたことに存する
。
又、本発明による検査装置の特徴とするところは、撮像
体と、それよりの画像信号を処理するA−り変換器、特
徴抽出回路及びコンピュータ等を。
有する画像信号処理装置とを有し、物体の検査を行う検
査装置に於て、上記撮像体の標準体及び被検査物体に対
する視野内に検査の条件の基準となる較正体を配置して
、該較正体及び上記標準体又は被検査物体を同時に上記
撮像体により撮像し、。
該撮像体よりの画像信号を較正信号形成回路に供給し、
これにより上記画像信号のうち上記較正体に対応する信
号を検出し、該検出信号及び上記画像信号を補正回路に
供給し、ここで上記撮像体よりの画像信号を上記検出信
号で補正するようにな。
したことに存する。
以下、本発明の−f11を第2乃至第5図を参照して説
明する。
尚、第2乃至第5図に於て、第1図と同一符号は、互に
同一要素を示すものとする。
籾で、本発明に於ては、例えばテレビカメラ3の如き撮
像体により、標準体1を撮像する際に、テレビカメラ3
の視野内に、第2図の例に於ては、台T上の標準体1の
近傍に、例えば白い紙の如き較正体5を配置し、この較
正体5を後の検査に於けるテレビカメラ3の視野の明る
さの基準とする。
この較正体5及び標準体1を、テレビカメラ3で撮像ス
ると、テレビカメラ3のスクリーンS上の撮像パターン
は、例えば第3図に示す如くなる。
・こ5で1′は標準体1の像であり、5′は較正体5の
像である。
又、この時のテレビカメラ3よりの画像信号は、例えば
第4図の実線カーブAの如き波形となる。
この第4図の波形図に於て、横軸の1“及び5“は、夫
々標準体1の画像1′及び較正体5の画像5′の略々中
心位置に対応し、A1及びB1は、夫々画像1′及び5
′のレベルを夫々示す。
テレビカメラ3よりの第4図の実線カーブAの如き画像
信号が、従来と同様に、画像信号処理装置4により処理
され、コンピュータ43に、続く検査に於ける基準又は
標準情報信号として記憶される。
本発明による被検査物体の検査に於ては、較正体5を、
標準体1を撮像した時と同一条件に置き、標準体1の代
りに、それと同一位置に被検査物体を置き(従って、被
検査物体も、図に於ては符号1で示す)、テレビカメラ
3で、較正体5及び被検査物体1を同時に撮(像)映す
る。
従って、テレビカメラ3のスクリーンS上の画像は、第
3図に示すと全く同様となる。
この場合、被検査物体1と標準体1とが同一であり、更
にテレビカメラ3の視野内の明るさが、標準体の撮映時
と同一で、更にカメラ3等の電気回路系等の機能も同一
ならば、カメラ3よりの画像信号は、第4図の実線カー
ブAの波形となるので、コンピュータ43による検査に
於ける誤判定の問題は全く生じない。
然し乍ら、実際問題としては、前述した如く、光源2よ
りの光量の変化、カメラ3等の電気回路系の機能の変化
(ドリフトの増大)等により、仮え被検査物体が標準体
と同一で、同一個所に置かれて撮映されたとしても、カ
メラ3よりの画像信号は、例えば第4図の点線カーブB
で示す如く、標準体を撮映した場合の画像信号Aと異っ
たものとなる。
従って、この画像信号Bを、そのま5画像信号処理装置
4を介してコンピュータ43で検査すると、この被検査
物体は、不良品と判定されてしまう。
斯る場合に、誤判定を回避し得る本発明の画像信号処理
装置4の一例を、第5図を参照して詳紐に説明する。
この第5図に示す本発明の例に於ては、カメラ3の出力
画像信号を、従来と同様に、A−D変換器41に供給す
ると共に、較正体5に対応する信号より較正信号を検出
形成する較正信号形成回路44にも供給する。
A−D変換器41よりのデジタル画像信号と、較正信号
形成回路44よりの較正体5の画像5′の、例えばレベ
ルに対応する較正信号とを、補正回路45へ供給する。
この補正回路45は、A−D変換器41よりのデジタル
画像信号を、較正信号形成回路44より較正信号で、次
の如く補正する。
即ち、標準体を撮映した時の画像信号は、第4図の実線
カーブAの如くであり、標準体1及び較正体5に対応す
る画像信号のレベルは、夫々A1及びB1であったもの
が、標準体と同一の被検査物体1を撮映した時の画像信
号は、上述の原因により、第4図の点線カーブBの如く
なり、被検査物体1及び較正体5に対応する画像信号の
レベルは、夫々A2及びB2に変化しているので、この
レベル変化を実線カーブAのレベル、即ちレベルB2を
レベルB1に戻し、画像信号B全体を画像信号Aに戻す
(この場合、レベルA2はレベルA1に戻される:補正
を、この補正回路45は行う。
従って、この補正回路45の出力は、被検査物体1の撮
映時の条件を、標準体1の撮映時の条件と同一となす働
きをなす。
本発明の第5図の例では、この補正回路45の出力を特
徴抽出回路42に供給し、その出力情報信号をコンピュ
ータ43で標準体の情報信号と比較検査しているので、
標準体と同一の被検査物体を撮映した場合、その画像信
号が上述の如き原因により、第4図のカーブBで示す如
く、標準体の画像信号Aと異っていても、前者は較正信
号形成回路44及び補正回路45の作用により後者と同
一となされるので、両者は同一である、と判定され得る
ものである。
本発明による検査方法及び装置は、被検査物体が標準体
と真に相違している時のみ(この場合、当然のこと乍ら
、被検査物体に対応する画像信号そのものが標準体のそ
れと相違する)、被検査物体を否と判定し、上述の如き
従来の装置の如く、被検査物体以外に起因する誤判定を
することはない0 尚、第5図に示す本発明の例は、補正回路45をA−D
変換器41の後段に設けた場合であるが、補正回路45
の接続位置は、A−D変換器の後段に限定する必要はな
く、その他の位置でもよい。
第6図は本発明の他の例の主要部、即ち画像信号処理装
置4の他の例を示すブロック線図で、同図に於て、第5
図と同一符号は互に同一素子を示すものである。
初で、この第6図に示す本発明の例に於ては、カメラ3
よりの出力信号を、先ず較正信号形成回路44及び補正
回路45に供給し、更に較正信号形成回路44の出力信
号を補正回路45に供給し、前例と同様に、補正回路4
5に於て、カメラ3よりの画像信号を正規化する。
即ち、較正体5へ照射される光量の変化や、カメラ3等
の電気回路系のドリフト等の影響を除いた画像信号を作
り、これを、従来と同様に、’A−D変換器41、特徴
抽出回路42及びコンピュータ43で処理し、検査を行
う。
従って、本発明のこの例によっても、従来の欠点は回避
され得るものである。
上述した如く、本発明によれば、被検査物体への光量の
変化や、カメラ等の電気回路系等に起因して、カメラよ
りの被検査物体に対応する画像信号が、標準体を撮映し
た時の条件と異る如く変化したとしても、単に較正体を
カメラの標準体又は被検査物体に対する視野内に配し、
この較正体に対応するカメラよりの撮像信号に基づき、
較正信号形成回路により較正信号を作り、これを用いて
、カメラよりの撮像信号をコンピュータ等で比較処理す
る前に、補正回路で補正することにより、上述の画像信
号の変化を自動的に補正し、上述の如き原因による誤判
定を回避し得る。
従って、本発明に於ては、光量変動の少ない高価な光源
を使用する必要もなく、光源より被検査物体への光量の
変化を防ぐ厳重な防光設備を設ける必要もなく、更に自
身に変動の少ない高価なカメラを必要としないので、こ
の種装置の価格を大巾に減少し得ると共に、精度を改善
すると云う、犬なる効果がある。
尚、図示の例では、較正体5を台T上の一部に置いたが
、較正体5の位置は、カメラ3の視野内に於て、標準体
又は被検査物体の撮映を妨害しない位置で、しかも、標
準体及び被検査物体の撮映中、それらに対して不変に保
持するならば、どこでもよい。
更に、較正体5は白い紙に限定する必要はなく、上述の
目的を達成し得る範囲内で、例えば灰色、黄色等でもよ
く、更にその材質に関しても、特別の制限は不要で、そ
の色を不変に保ち得るものならば、なんでもよいし、そ
の形状に就いても、特別の限定のないことも、明らかで
あろう。
更に、図示の例では補正を装置のハードウェアで行って
いるが、同様の補正をコンピュータのソフトウェアで行
うこともできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の検査装置の一例の路線的ブロック線図、
第2図は本発明の検査装置の一例の系統的ブロック線図
、第3図は本発明のテレビカメラのスクリーンの正面図
、第4図は本発明のテレビカメラの画像信号を示す波形
図、第5図は第2図に示す本発明の系統図の要部のブロ
ック線図、第6図は本発明の他の例の要部のブロック線
図である。 図に於て、1は標準体又は被検査物体、2は光源、3は
テレビカメラ、4は画像信号処理装置、5は較正体、4
1はA−D変換器、42は特徴抽・出回路、43はコン
ピュータ、44は較正信号形成回路、45は補正回路、
Sはカメラのスクリーン、1′は被検査物体の画像、5
′は較正体の画像を夫々示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 撮像体及びそれよりの画像信号を処理して物体の検
    査をする方法に於て、上記撮像体の標準体及び被検査物
    体に対する視野内に検査の条件の基準となる較正体を配
    置して、該較正体及び上記標準体又は被検査物体を同時
    に上記撮像体により撮像し、該撮像体よりの撮像信号の
    うち上記較正体に対応する信号を検出し、該検出信号に
    より上記撮像体よりの画像信号を補正するようになした
    ことを特徴とする検査方法。 2 撮像体と、それよりの画像信号を処理するA−り変
    換器、特徴抽出回路及びコンピュータ等を有する画像信
    号処理装置とを有し、物体の検査を行う検査装置に於て
    、上記撮像体の標準体及び被検査物体に対する視野内に
    検査の条件の基準となる較正体を配置して、該較正体及
    び上記標準体又は被検査物体を同時に上記撮像体により
    撮像し、該撮像体よりの画像信号を較正信号形成回路に
    供給し、これにより上記画像信号のうち上記較正体に対
    応する信号を検出し、該検出信号及び上記画像信号を補
    正回路に供給し、ここで上記撮像体よりの画像信号を上
    記検出信号で補正するようになしたことを特徴とする検
    査装置。
JP15589277A 1977-12-24 1977-12-24 検査方法及び装置 Expired JPS5815041B2 (ja)

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JPH0619335B2 (ja) * 1985-01-25 1994-03-16 シグマツクス株式会社 物体認識装置
JPH038751U (ja) * 1989-06-15 1991-01-28
EP2100092B1 (de) * 2006-12-15 2010-06-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und vorrichtung zur dickenmessung
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JP5037733B2 (ja) * 2012-01-11 2012-10-03 シグマツクス株式会社 射出成形機監視装置

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