JPH0388079A - 画像処理装置における2値化処理方法 - Google Patents
画像処理装置における2値化処理方法Info
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- JPH0388079A JPH0388079A JP1225105A JP22510589A JPH0388079A JP H0388079 A JPH0388079 A JP H0388079A JP 1225105 A JP1225105 A JP 1225105A JP 22510589 A JP22510589 A JP 22510589A JP H0388079 A JPH0388079 A JP H0388079A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
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- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Input (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複雑な外形形状の被観測物体を、ビデオカメ
ラを用いて撮像し、物体の有無や物体の欠陥の有無等を
判定する物体の認識方法に関するものである。
ラを用いて撮像し、物体の有無や物体の欠陥の有無等を
判定する物体の認識方法に関するものである。
[従来の技術]
従来用いられているこの種の物体認識装置としては、予
め実験的にカメラによって標準試料としての物体を撮像
して得られたカメラの出力を2値化し、判定基準となる
2値化レベルを得ておき、検査対象物を撮像して得られ
たカメラの出力を2値化して、上記の予め得られている
良品判定基準としての2値化レベルと対比し、2値化画
像中の画素数、その分布状況によって良品または不良品
の判定を行なっている。複雑な外形形状の物体に対して
は、特徴点を幾つか設定し、その領域毎に上記のような
判定を行なって全体としての形状の判定をしている。
め実験的にカメラによって標準試料としての物体を撮像
して得られたカメラの出力を2値化し、判定基準となる
2値化レベルを得ておき、検査対象物を撮像して得られ
たカメラの出力を2値化して、上記の予め得られている
良品判定基準としての2値化レベルと対比し、2値化画
像中の画素数、その分布状況によって良品または不良品
の判定を行なっている。複雑な外形形状の物体に対して
は、特徴点を幾つか設定し、その領域毎に上記のような
判定を行なって全体としての形状の判定をしている。
しかし良品、不良品の区別が、2値化レベルとしてはっ
きり現われるのは、むしろ極めて特殊な場合であって、
あいまいなレベルにあることが通常であり、良品判定基
準としての2値化レベルを一律に決定することは難しい
。また−旦これを決。
きり現われるのは、むしろ極めて特殊な場合であって、
あいまいなレベルにあることが通常であり、良品判定基
準としての2値化レベルを一律に決定することは難しい
。また−旦これを決。
定したとしても、検査当日の天候などにより部屋の明る
さが左右したり、検査対象物の表面の状態が微妙に相違
しているなど、検査環境に変化があるので、良品を不良
品と判定してしまうことがある。
さが左右したり、検査対象物の表面の状態が微妙に相違
しているなど、検査環境に変化があるので、良品を不良
品と判定してしまうことがある。
特に形状が複雑であったり、奥行のあるものの場合には
、複数の特徴点のいずれかがカメラの焦点から外れてし
まうために、再現性のよい画像を取得することができず
、信頼性が低下する。そこで複数台のカメラによって各
特徴点毎に各別に判定を行なうことが考えられるが、そ
の操作は極めて繁雑なものである。
、複数の特徴点のいずれかがカメラの焦点から外れてし
まうために、再現性のよい画像を取得することができず
、信頼性が低下する。そこで複数台のカメラによって各
特徴点毎に各別に判定を行なうことが考えられるが、そ
の操作は極めて繁雑なものである。
また、例えば特開昭62−47788号公報に開示され
ているものでは、カメラによってエツジ部をぼかした像
に対応するビデオ信号を得るようにしており、基準物体
から得た標準データと、被観測物体から得た測定データ
とを比較することによって行なっている。
ているものでは、カメラによってエツジ部をぼかした像
に対応するビデオ信号を得るようにしており、基準物体
から得た標準データと、被観測物体から得た測定データ
とを比較することによって行なっている。
[解決しようとする課題]
しかしこの従来技術においても、常に標準データを環境
の変化等に対応して求めなければならず、その判断は極
めて難しいものである。
の変化等に対応して求めなければならず、その判断は極
めて難しいものである。
そこで本発明の目的は、複雑な形状の物体でも、複数の
特徴点毎の観測を容易にし、各特徴点毎の適合焦点画像
を容易に得ることを可能とする物体の認識方法を提供す
ることにある。
特徴点毎の観測を容易にし、各特徴点毎の適合焦点画像
を容易に得ることを可能とする物体の認識方法を提供す
ることにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明の物体の認識方法は
、複雑な形状を有する被観測物体に対して、複数の特徴
点を観測領域として指定し、各観測領域毎に2値化の基
準レベルを異にする2つの基準レベルを設定し、各観測
領域毎にビデオカメラによって撮像し、各観測領域毎の
ビデオカメラの出力を当該観測領域の2つの基準レベル
による2値化回路を介して2値化画像データに変換し、
画像データの差画像から適#焦点のためのレンズ焦点補
正量を算出し、レンズ焦点補正量によってビデオカメラ
の焦点を補正して適せ焦点画像を得るようにしている。
、複雑な形状を有する被観測物体に対して、複数の特徴
点を観測領域として指定し、各観測領域毎に2値化の基
準レベルを異にする2つの基準レベルを設定し、各観測
領域毎にビデオカメラによって撮像し、各観測領域毎の
ビデオカメラの出力を当該観測領域の2つの基準レベル
による2値化回路を介して2値化画像データに変換し、
画像データの差画像から適#焦点のためのレンズ焦点補
正量を算出し、レンズ焦点補正量によってビデオカメラ
の焦点を補正して適せ焦点画像を得るようにしている。
[実施例]
第1図は本発明の物体の認識方法を実施するための装置
の全体構成を示す斜視図であって、被観測物体1は、キ
ャリア2上に位置決めして固定されており、前工程3か
ら後工程4へ搬送される途中で、本発明による物体の認
識が行なわれる。キャリア2がこの認識位置に到達した
ことは、センサ5により検出される。この認識位置の真
上に、焦点合せ機構6aを備えたビデオカメラ6が、物
体1を撮像可能に配設しである。ビデオカメラ6および
センサ5は、認識装置本体7に内蔵しである制御回路に
より制御されるものである。認識後の最終判定は、端子
8より出力信号として後工程4へ送出される。装置本体
7にはデイスプレー7aが備わっており、撮像により得
られた2値化画像データに基づく2値化画像を表示する
ようになっている。
の全体構成を示す斜視図であって、被観測物体1は、キ
ャリア2上に位置決めして固定されており、前工程3か
ら後工程4へ搬送される途中で、本発明による物体の認
識が行なわれる。キャリア2がこの認識位置に到達した
ことは、センサ5により検出される。この認識位置の真
上に、焦点合せ機構6aを備えたビデオカメラ6が、物
体1を撮像可能に配設しである。ビデオカメラ6および
センサ5は、認識装置本体7に内蔵しである制御回路に
より制御されるものである。認識後の最終判定は、端子
8より出力信号として後工程4へ送出される。装置本体
7にはデイスプレー7aが備わっており、撮像により得
られた2値化画像データに基づく2値化画像を表示する
ようになっている。
ビデオカメラ6は第2図1−i−線に沿って走査され、
物体1を撮像し、光電変換後の出力電圧を制御回路へ出
力する。この物体1は、複雑な形状を有するもので、ビ
デオカメラ6から異なる距離の平面1a、ib、lc、
ldに4個の穴1e。
物体1を撮像し、光電変換後の出力電圧を制御回路へ出
力する。この物体1は、複雑な形状を有するもので、ビ
デオカメラ6から異なる距離の平面1a、ib、lc、
ldに4個の穴1e。
if、Ig、lhを開設しである。したがって第2図(
b)に示すように、穴1 e 、 1 f + 1
g rlhを特徴点とし、この穴を中心とする領域を
観測領域jl、j2.j3.j4に指定している。
b)に示すように、穴1 e 、 1 f + 1
g rlhを特徴点とし、この穴を中心とする領域を
観測領域jl、j2.j3.j4に指定している。
線1−i−上には、穴1e、lfを含む観測領域jl、
j2が存在しており、下記の観測方法に従って各観測領
域を順次観測するものである。
j2が存在しており、下記の観測方法に従って各観測領
域を順次観測するものである。
第3図は、この穴1e、lfに注目し、断面1−i−を
1ライン分の出力電圧として示している。
1ライン分の出力電圧として示している。
上記したように穴1e、lfが開設しである面1a、l
bは、ビデオカメラ6から異なった距離にあるので、−
度にカメラの焦点を一致させることができない。特に接
写により詳細に撮像する場合には、レンズ系の焦点深度
が浅くなり、この傾向が大きくなる。そこでいま面1a
に焦点を合わせると、穴1eはシャープに撮像できるが
、穴1fはぼけの状態になる。このために、これらの画
像を2値化し、穴径を計測しようとすると、観測領域j
tの2つの基準レベルQ1とQl−Δqとから、正確に
穴1eの径を求めることができるが、観測領域j2では
、基準レベルQ2の設定そのものが難しく、穴1fの径
を正確に求めることができない。
bは、ビデオカメラ6から異なった距離にあるので、−
度にカメラの焦点を一致させることができない。特に接
写により詳細に撮像する場合には、レンズ系の焦点深度
が浅くなり、この傾向が大きくなる。そこでいま面1a
に焦点を合わせると、穴1eはシャープに撮像できるが
、穴1fはぼけの状態になる。このために、これらの画
像を2値化し、穴径を計測しようとすると、観測領域j
tの2つの基準レベルQ1とQl−Δqとから、正確に
穴1eの径を求めることができるが、観測領域j2では
、基準レベルQ2の設定そのものが難しく、穴1fの径
を正確に求めることができない。
このような状態の穴1fに対して、2値化の基準レベル
Q2、および変化量Δqだけ異なるQ2Δqの場合の2
値化画像を、第4図(a)。
Q2、および変化量Δqだけ異なるQ2Δqの場合の2
値化画像を、第4図(a)。
(b)に示している。そして第4図(C)には、これら
2つの2値化画像の排他的論理和を計算して得た差画像
を示している。なお、穴1eのように焦点が一致してい
る場合には、変化量Δqに対して殆どその2値化画像は
変化せず、したがって差画像は得られない。穴1fのよ
うにぼけた場合には、変化量Δqに対してかなりの2値
化画像に変化が生じ、この変化に対して差画像が第4図
(C)のように得られることになる。
2つの2値化画像の排他的論理和を計算して得た差画像
を示している。なお、穴1eのように焦点が一致してい
る場合には、変化量Δqに対して殆どその2値化画像は
変化せず、したがって差画像は得られない。穴1fのよ
うにぼけた場合には、変化量Δqに対してかなりの2値
化画像に変化が生じ、この変化に対して差画像が第4図
(C)のように得られることになる。
この差画像の画素数をKとすると、次のような関係があ
る。
る。
K−fl (Δq) (1)そこで、着
側素数Kに対して、レンズ系焦点補正量Δmを考えると
、次のような関係がある。
側素数Kに対して、レンズ系焦点補正量Δmを考えると
、次のような関係がある。
Δm=f2 (K) ・・ (2)従って、各観
測領域毎に、基準レベルQとQ−Δqとの2つのレベル
を設定し、これらから得られる着側素数により、レンズ
系焦点補正量Δmを求めることができる。このΔmをビ
デオカメラ6の焦点合せ機構6aへ指示し、適正焦点距
離を得ることができる。このようにして被観測物体1の
観測領域毎に適正焦点を設定し、特徴点の正確な2値化
画像を得ることができる。
測領域毎に、基準レベルQとQ−Δqとの2つのレベル
を設定し、これらから得られる着側素数により、レンズ
系焦点補正量Δmを求めることができる。このΔmをビ
デオカメラ6の焦点合せ機構6aへ指示し、適正焦点距
離を得ることができる。このようにして被観測物体1の
観測領域毎に適正焦点を設定し、特徴点の正確な2値化
画像を得ることができる。
第5図は、このような物体の認識方法によるレンズ焦点
補正量Δmを算出する基本構成図を示している。各観測
領域毎にビデオカメラ6の出力は、2値化の基準レベル
を異にする2つの基準レベルQとQ−Δqによる2値化
回路10.11に供給されて2値化画像データに変換さ
れる。この画像データは、“1″か“0”かの2値化信
号a、 bとして出力される。この信号a、bは論理
演算回路12で排他的論理和が得られ、その着側−素数
Kがカウンタ13によりカウントされる。
補正量Δmを算出する基本構成図を示している。各観測
領域毎にビデオカメラ6の出力は、2値化の基準レベル
を異にする2つの基準レベルQとQ−Δqによる2値化
回路10.11に供給されて2値化画像データに変換さ
れる。この画像データは、“1″か“0”かの2値化信
号a、 bとして出力される。この信号a、bは論理
演算回路12で排他的論理和が得られ、その着側−素数
Kがカウンタ13によりカウントされる。
観測に先立って、各観測領域までの焦点距離を標準的な
観測物体に対して予めIJ定しておく。また焦点距離の
補正を焦点距離の増加または減少の方向で行なう場合に
は、適正な焦点距離よりも短くまたは長く設定し、少し
ぼけが生ずるように設定しておく。これにより焦点距離
の補正の方向が一方向の制御だけでよくなる。
観測物体に対して予めIJ定しておく。また焦点距離の
補正を焦点距離の増加または減少の方向で行なう場合に
は、適正な焦点距離よりも短くまたは長く設定し、少し
ぼけが生ずるように設定しておく。これにより焦点距離
の補正の方向が一方向の制御だけでよくなる。
一般に、(1)、(2)式の関数fl、f2は非線形で
あるが、微小変化量Δqについて考える時、線形として
(3)式のように考えてもよい。
あるが、微小変化量Δqについて考える時、線形として
(3)式のように考えてもよい。
Δm=α・K・ (3)
ここでαは比例係数であり、(3)式をテーブル化して
用いる。
用いる。
上記のようにカウンタ13によってカウントされた着側
素数Kによって、テーブル化された(3)式から焦点補
正量Δmが得られ、これが焦点合せ機構6aに供給され
て焦点距離をΔmだけ増加または減少させ、新しいKの
値が求められる。通常の場合、新K<Kとなる。そこで
補正の収束条件として、その差Δに−に御所Kを求め、
Δkが基準値KO以下であれば、適正焦点に達したとし
、この焦点距離で撮像して適正焦点画像を得る。
素数Kによって、テーブル化された(3)式から焦点補
正量Δmが得られ、これが焦点合せ機構6aに供給され
て焦点距離をΔmだけ増加または減少させ、新しいKの
値が求められる。通常の場合、新K<Kとなる。そこで
補正の収束条件として、その差Δに−に御所Kを求め、
Δkが基準値KO以下であれば、適正焦点に達したとし
、この焦点距離で撮像して適正焦点画像を得る。
すべての観測領域j1〜j4について、上記のようにし
て焦点を適正に合わせて適正な2値化画像を得た後、最
初の初期焦点距離へ再設定し、次の被観測物体が搬送さ
れるのを待機する。
て焦点を適正に合わせて適正な2値化画像を得た後、最
初の初期焦点距離へ再設定し、次の被観測物体が搬送さ
れるのを待機する。
[効果コ
以上に説明したような本発明の・方法によって、複雑な
形状を有する物体に対しても、複数の特徴点毎の観fi
l領域において、自動的に焦点距離の補正ができ、各領
域毎の適正焦点画像が自動的に効率良く得られ、全体と
して精度の良い観測結果が得られ、信頼性が向上する。
形状を有する物体に対しても、複数の特徴点毎の観fi
l領域において、自動的に焦点距離の補正ができ、各領
域毎の適正焦点画像が自動的に効率良く得られ、全体と
して精度の良い観測結果が得られ、信頼性が向上する。
図面は本発明の認識方法を説明するための説明図であり
、第1図は本発明の方法を実施する装置の全体構成を示
す斜視図、第2図(a)、(b)は観測領域を説明する
平面図、第3図は2つの観測領域を同じ焦点距離のカメ
ラで撮像した出力電圧波形図、第4図(a)は焦点が合
っていない場合における2値化の基準レベルQでの2値
化波形図、第4図(b)は同上における基準レベルQ−
Δqでの2値化出力波形図、第4図(c)は上記2つの
2値化出力の排他的論理和の2値化出力波形図、第5図
はレンズ焦点補正量を算出する基本構成図である。 1・ ・被観測物体、 6#◆・ビデオカメラ、 10.11・・・2値化回路、 Q、Q−Δq・・・基準レベル、 jl −j4 ・観測領域、 Δm・・・レンズ焦点補正量。 以 上 出 願 人 株式会社 精 工 合 成 理 人 弁理士 松田和子 J1〜J今一・・l湧j噛域
、第1図は本発明の方法を実施する装置の全体構成を示
す斜視図、第2図(a)、(b)は観測領域を説明する
平面図、第3図は2つの観測領域を同じ焦点距離のカメ
ラで撮像した出力電圧波形図、第4図(a)は焦点が合
っていない場合における2値化の基準レベルQでの2値
化波形図、第4図(b)は同上における基準レベルQ−
Δqでの2値化出力波形図、第4図(c)は上記2つの
2値化出力の排他的論理和の2値化出力波形図、第5図
はレンズ焦点補正量を算出する基本構成図である。 1・ ・被観測物体、 6#◆・ビデオカメラ、 10.11・・・2値化回路、 Q、Q−Δq・・・基準レベル、 jl −j4 ・観測領域、 Δm・・・レンズ焦点補正量。 以 上 出 願 人 株式会社 精 工 合 成 理 人 弁理士 松田和子 J1〜J今一・・l湧j噛域
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複雑な形状を有する被観測物体に対して、複数の特徴点
を観測領域として指定し、 上記各観測領域毎に2値化の基準レベルを異にする2つ
の基準レベルを設定し、 上記各観測領域毎にビデオカメラによって撮像し、 上記各観測領域毎の上記ビデオカメラの出力を当該観測
領域の2つの基準レベルによる2値化回路を介して2値
化画像データに変換し、 上記画像データの差画像から適正焦点のためのレンズ焦
点補正量を算出し、 上記レンズ焦点補正量によって上記ビデオカメラの焦点
を補正して適正焦点画像を得る ことを特徴とする物体の認識方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1225105A JPH0388079A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 画像処理装置における2値化処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1225105A JPH0388079A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 画像処理装置における2値化処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0388079A true JPH0388079A (ja) | 1991-04-12 |
| JPH0551944B2 JPH0551944B2 (ja) | 1993-08-04 |
Family
ID=16824062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1225105A Granted JPH0388079A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 画像処理装置における2値化処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0388079A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0538509U (ja) * | 1991-10-25 | 1993-05-25 | 株式会社ミツトヨ | 光学式寸法測定装置 |
| JPH0733168U (ja) * | 1993-12-03 | 1995-06-20 | 秀夫 荒木 | 立食用取り皿 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50129016A (ja) * | 1974-03-29 | 1975-10-11 | ||
| JPS55137784A (en) * | 1979-04-16 | 1980-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | Focus adjustment system in image pickup device using image sensor |
| JPS6120468A (ja) * | 1984-07-06 | 1986-01-29 | Takenaka Syst Kiki Kk | イメ−ジセンサ−式受光器のピント調整方法並びにその装置 |
| JPS62251708A (ja) * | 1986-04-25 | 1987-11-02 | Fujitsu Ltd | 自動焦点装置 |
-
1989
- 1989-08-31 JP JP1225105A patent/JPH0388079A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50129016A (ja) * | 1974-03-29 | 1975-10-11 | ||
| JPS55137784A (en) * | 1979-04-16 | 1980-10-27 | Omron Tateisi Electronics Co | Focus adjustment system in image pickup device using image sensor |
| JPS6120468A (ja) * | 1984-07-06 | 1986-01-29 | Takenaka Syst Kiki Kk | イメ−ジセンサ−式受光器のピント調整方法並びにその装置 |
| JPS62251708A (ja) * | 1986-04-25 | 1987-11-02 | Fujitsu Ltd | 自動焦点装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0538509U (ja) * | 1991-10-25 | 1993-05-25 | 株式会社ミツトヨ | 光学式寸法測定装置 |
| JPH0733168U (ja) * | 1993-12-03 | 1995-06-20 | 秀夫 荒木 | 立食用取り皿 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0551944B2 (ja) | 1993-08-04 |
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