JPH0551948U - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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JPH0551948U
JPH0551948U JP10400091U JP10400091U JPH0551948U JP H0551948 U JPH0551948 U JP H0551948U JP 10400091 U JP10400091 U JP 10400091U JP 10400091 U JP10400091 U JP 10400091U JP H0551948 U JPH0551948 U JP H0551948U
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浩哉 桐村
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ECRスパッタ装置の比較的低温で薄膜を形
成できるという利点と、マグネトロンスパッタ装置の高
速成膜できる利点を活用し、良質の薄膜を高速で形成で
きる薄膜形成装置を提供する。 【構成】 スパッタターゲット6を電界とこれに交わる
磁界によってスパッタリングし、該スパッタ粒子を基板
3へ放出するためのマグネトロンスパッタ部5と、外周
に磁石体44を配置したプラズマ室41にガスとマイク
ロ波を導入してマイクロ波プラズマを形成し、基板3へ
向け照射するためのマイクロ波プラズマ発生部4とを備
え、マグネトロンスパッタ部5の磁界の発生手段がプラ
ズマ室41の外周に隣合わせて間隔をおいて多重に配置
したリング状磁石体44、51からなり、該多重の磁石
体のうちプラズマ室41に最も近い内側の磁石体44が
マイクロ波プラズマ発生部4の磁石体44を兼ねてお
り、スパッタターゲット6が基板3へ向けて磁石体4
4、51による磁界中に配置される薄膜形成装置。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は各種半導体デバイスの製造、基板上への超伝導膜の形成、機械部品等 への耐食性、耐摩耗性膜の形成等に利用する薄膜形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
この種の薄膜形成装置としては、ECR(電子サイクロトロン共鳴)を利用し て得られる高活性マイクロ波プラズマと、固体ターゲットを原料とするスパッタ 法を組み合わせたECRスパッタ装置、高周波電流又は直流による電界とこれに 交わる磁界中に固体ターゲットを配置してスパッタするマグネトロンスパッタ装 置等が知られている。
【0003】 前記ECRスパッタ装置では、通常、外周に磁石体を配置したプラズマ室に原 料ガスとマイクロ波を導入することで高活性のプラズマを形成し、薄膜を形成す べき目的物へ向け照射する一方、プラズマ室からのプラズマ流を囲むように配置 し、バイアス電圧を印加した円筒状のスパッタターゲットを、プラズマ中の一部 イオンでスパッタリングし、そのスパッタ粒子をプラズマ流中で目的物へ飛行さ せ、供給する。
【0004】 このECRスパッタ装置は、目的物表面での薄膜形成が比較的低温で行われ、 その結果、平滑性に優れる、緻密で内部応力の低い薄膜が形成される等の利点が ある。 また、マグネトロンスパッタ装置では、電界と磁界の作用で電子がサイクロト ロン運動するため、高密度のプラズマが形成され、ターゲットのスパッタリング が円滑に行われるので、高速成膜が可能であるという利点がある。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
しかし、ECRスパッタ装置では、スパッタターゲットの面が互いに対向して おり、目的物に向いていないため、スパッタ粒子が円滑に目的物へ到達し難く、 従って成膜速度が遅いうえ、目的物表面全体に均一に到達せず、膜の均一性が悪 くなるという問題がある。
【0006】 そこで本考案は、ECRスパッタ装置の利点、すなわち比較的低温で薄膜を形 成できるという利点と、マグネトロンスパッタ装置の高速成膜できる利点を活用 し、良質の薄膜を高速で形成できる薄膜形成装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本考案は前記目的に従い、スパッタターゲットを電界とこれに交わる磁界によ ってスパッタリングし、該スパッタ粒子を薄膜を形成すべき目的物へ放出するた めのマグネトロンスパッタ部と、外周に磁石体を配置したプラズマ室にガスとマ イクロ波を導入してマイクロ波プラズマを形成し、前記目的物へ向け照射するた めのマイクロ波プラズマ発生部とを備え、前記マグネトロンスパッタ部の磁界の 発生手段が前記プラズマ室の外周に隣合わせて間隔をおいて多重に配置した磁石 体からなり、該多重の磁石体のうち前記プラズマ室に最も近い内側の磁石体が前 記マイクロ波プラズマ発生部の磁石体を兼ねており、前記スパッタターゲットが 前記目的物へ向けて前記多重配置の磁石体による磁界中に配置されることを特徴 とする薄膜形成装置を提供するものである。
【0008】 前記マグネトロンスパッタ部の多重配置の各磁石体は、代表例としてリング形 状のものを挙げることができる。 また、スパッタ部の磁石体のホルダの一部又は全部が前記マイクロ波プラズマ 発生部におけるプラズマ室を兼ねていてもよい。 各磁石体は、電磁石でも永久磁石でもよい。マグネトロンスパッタ部における 電界は交流によるもの、直流によるもの、いずれでもよい。
【0009】 さらに、マグネトロンスパッタ部で発生する高エネルギー粒子がプラズマ室か らのプラズマ流に混入することをできるだけ防止するために、スパッタ部のスパ ッタ粒子放出部分に電子トラップ用アノードを臨ませることも考えられる。
【0010】
【作用】
本考案薄膜形成装置によると、マグネトロンスパッタ部おいては、そこに存在 するガスが電界と磁界の作用でプラズマ化され、該プラズマ中のイオンによりス パッタターゲットが円滑にスパッタリングされ、薄膜を形成すべき目的物へ向け スパッタ粒子が放出される。
【0011】 一方、マイクロ波プラズマ発生部では、プラズマ室に低圧のガスとマイクロ波 が導入され、磁界の作用も加わって電子サイクロトロン共鳴のもとにマイクロ波 プラズマが形成され、薄膜を形成すべき目的物へ向けプラズマ流が発生する。 スパッタ部から放出されたスパッタ粒子はそのプラズマ流の中を飛行し、目的 物表面に供給され、該表面に所望の薄膜を形成する。
【0012】
【実施例】
以下、本考案の実施例を図面を参照して説明する。図1は一実施例の概略断面 図であり、図2は図1の装置中の要部の配置関係を平面視で示す図である。 この薄膜形成装置は、成膜室1を有し、その内部は排気系11により所定の成 膜真空度に維持できる。成膜室1中には基板ホルダ2が設置してあり、このホル ダには表面に薄膜を形成すべき基板3が支持される。
【0013】 ホルダ2の下方にはマイクロ波プラズマ発生部4が設けてあり、その周囲にマ グネトロンスパッタ部5が設けてある。 プラズマ発生部4は、プラズマ室41、このプラズマ室にマイクロ波を導入す る導波管42、ガスを導入するガス導入管43、プラズマ室41の外周を囲繞す るリング状マグネット44(プラズマ室内に基板方向の磁界が875ガウスを含 む)を備えている。導波管42から室41への入り口にはセラミック窓421が 設けてある。
【0014】 一方、スパッタ部5は、前記マグネット44と、このマグネットの外側に所定 の間隔をおいて重ね配置したリング状マグネット51と、これら両マグネットの ホルダ52とを備えている。 二重マグネット44、51のうち、内側のマグネット44は上部にS極、下部 にN極を有し、外側のマグネット51は上部にN極を、下部にS極を有する。両 マグネットの上端は同じ高さ位置に揃えてある。
【0015】 マグネットホルダ52は内側マグネット44の内周に沿って円筒状に立ち上が り、両マグネット44、51の上端面及びその間の間隙を覆い、さらに外側マグ ネット51の外周に沿って円筒状に下がり、そのあと水平にフランジ状に外側へ 延びている。 両マグネット44、51の間隙には温度コントロール用の水Wを流すことがで きる。
【0016】 ホルダ52は絶縁部53を介して成膜室1の下端部に接続されている。 ホルダ52の上面522は、スパッタターゲット6の支持面を兼ねており、タ ーゲットはここに支持されて、基板3に向けられる。 また、ホルダ52にはアースシールド板54が被せられ、この板体は、全体が 平面視で二重リング形状をしており、ターゲット6が基板3に臨むことができる 窓541(二重リングの間)を残してホルダ52及びその上のターゲット6に被 せられ、その一部542はプラズマ室41中へ、その周壁に沿って円筒状に下降 し、プラズマ室41の内周壁を形成している。
【0017】 さらに、シールド板54の窓541に臨む位置に二重リング状にアノード7が 配置されている。 成膜室1及びアースシールド板54は接地され、マグネットホルダ52には高 周波電源55が接続され、アノード7には正電圧印加電源71が接続される。 なお、プラズマ室41、マグネット44、51、ターゲット6を平面から見た 位置関係は図2に示すとおりである。図2において、破線はターゲット6を、一 点鎖線はマグネット44、51を示している。
【0018】 以上説明した薄膜形成装置によると、基板ホルダ2に基板3が取り付けられる とともに、マグネットホルダ52の上面522にリング状のスパッタターゲット 6が配置され、アースシールド板54の窓541を介して基板3に向けられる。 この状態で成膜室1内が排気系11にて10-5〜10-4Torr程度の所定成膜 真空度に維持される。
【0019】 さらに、マイクロ波プラズマ発生部4では、プラズマ室41中へ、形成すべき 薄膜に応じた不活性ガス及び(又は)反応性ガスが真空度10-5〜10-4Tor r程度が維持されるように低圧で導入されるとともに、導波管42より2.45 GHzのマイクロ波が導入される。 かくして、マグネット44の磁界作用のもとにプラズマ室41中にはECR効 果によりプラズマが形成され、プラズマ室41から基板3へ向けプラズマ流Pが 発生、持続する。
【0020】 一方、マグネトロンスパッタ部5において、マグネットホルダ乃至ターゲット ホルダ52に電源55から高周波電圧が印加され、これによる電界と直交する方 向に両マグネット44、51による磁界が作用して比較的高密度のプラズマが発 生し、該プラズマ中のイオンによりターゲット6が効率良く円滑にスパッタリン グされ、スパッタ粒子Sがシールド板の窓541から放出され、前記プラズマ流 中を飛行して基板3表面全体に均一に到達する。かくして該表面全体にわたり、 所望の薄膜が比較的低温で均一に高速形成される。
【0021】 マグネトロンスパッタ部5で発生する高エネルギー電子は正電圧を印加された アノード7にトラップされ、この高エネルギー電子が多量にプラズマ流に混入す れば生じる弊害が一層確実に防止される。
【0022】
【考案の効果】 本考案薄膜形成装置によると、次の利点がある。 ECRマイクロ波プラズマによる低エネルギーのイオン照射と、マグネトロ ンスパッタとを併用することができ、従ってイオンアシストとマグネトロンスパ ッタとで低温且つ高速成膜が可能である。また、低温成膜が可能であるから、高 品質の膜を形成できる。 ECRによるマイクロ波プラズマ発生部を用いるため、低い成膜ガス圧で、 薄膜を形成すべき目的物へ到達するプラズマ流を持続でき、従ってそれだけ高純 度の膜を形成できる。 スパッタ粒子は、目的物へ向け放出され、マイクロ波プラズマ発生部へ混入 する恐れは無いに等しいので、それだけ高品質の薄膜を形成できる。 ECR条件に必要な磁界を、マグネトロンスパッタに用いる磁石体によって 得ることができるので、以上の利点があるにもかかわず、小型安価に製作するこ とができる。 マイクロ波プラズマ発生部とマグネトロンスパッタ部とは一部磁石体を併用 している点を除いて互いに独立しているため、個々の制御が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例の概略断面図である。
【図2】図1の装置中の要部の配置関係を平面視で示す
図である。
【符号の説明】
1 成膜室 11 排気系 2 基板ホルダ 3 基板 4 マイクロ波プラズマ発生部 41 プラズマ室 42 マイクロ波導波管 421 セラミック窓 43 ガス導入管 44 マグネット 5 マグネトロンスパッタ部 51 マグネット 52 マグネットホルダ 53 絶縁部材 54 アースシールド板 541 シールド板の窓 55 高周波電源 6 スパッタターゲット 7 アノード 71 正電圧印加電源

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 スパッタターゲットを電界とこれに交わ
    る磁界によってスパッタリングし、該スパッタ粒子を薄
    膜を形成すべき目的物へ放出するためのマグネトロンス
    パッタ部と、外周に磁石体を配置したプラズマ室にガス
    とマイクロ波を導入してマイクロ波プラズマを形成し、
    前記目的物へ向け照射するためのマイクロ波プラズマ発
    生部とを備え、前記マグネトロンスパッタ部の磁界の発
    生手段が前記プラズマ室の外周に隣合わせて間隔をおい
    て多重に配置した磁石体からなり、該多重の磁石体のう
    ち前記プラズマ室に最も近い内側の磁石体が前記マイク
    ロ波プラズマ発生部の磁石体を兼ねており、前記スパッ
    タターゲットが前記目的物へ向けて前記多重配置の磁石
    体による磁界中に配置されることを特徴とする薄膜形成
    装置。
  2. 【請求項2】 前記マグネトロンスパッタ部における多
    重配置の各磁石体がリング状磁石体である請求項1記載
    の薄膜形成装置。
  3. 【請求項3】 前記マグネトロンスパッタ部のスパッタ
    粒子放出部分に電子トラップ用アノードを臨ませた請求
    項1又は2記載の薄膜形成装置。
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JPS58210167A (ja) * 1982-05-21 1983-12-07 エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン マグネトロン形カソ−ドスパツタ装置
JPS6270569A (ja) * 1985-09-25 1987-04-01 Hitachi Ltd スパッタリング方法及びその装置

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