JPH0559507B2 - - Google Patents
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- JPH0559507B2 JPH0559507B2 JP61045761A JP4576186A JPH0559507B2 JP H0559507 B2 JPH0559507 B2 JP H0559507B2 JP 61045761 A JP61045761 A JP 61045761A JP 4576186 A JP4576186 A JP 4576186A JP H0559507 B2 JPH0559507 B2 JP H0559507B2
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- memory device
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Description
【発明の詳細な説明】
＜技術分野＞
本発明は光学的な情報記録媒体にレーザ光等の
光ビームを照射して情報の記録、再生又は消去を
行なう光メモリ装置において、アナログ再生信号
からデイジタル情報信号を検出する信号検出回路
に関する。
光ビームを照射して情報の記録、再生又は消去を
行なう光メモリ装置において、アナログ再生信号
からデイジタル情報信号を検出する信号検出回路
に関する。
＜従来技術＞
従来の光メモリ装置の信号検出回路の１つとし
て光磁気デイスクメモリ装置における信号検出回
路を例に挙げて説明する。光磁気デイスクメモリ
装置は膜面に垂直な方向に磁化容易軸を持つ磁性
膜を記録媒体とし、これにレーザビームを照射し
て記録・再生又は消去を行なう光メモリ装置であ
る。
て光磁気デイスクメモリ装置における信号検出回
路を例に挙げて説明する。光磁気デイスクメモリ
装置は膜面に垂直な方向に磁化容易軸を持つ磁性
膜を記録媒体とし、これにレーザビームを照射し
て記録・再生又は消去を行なう光メモリ装置であ
る。
この光磁気デイスクメモリ装置の記録・再生方
法に関してまず説明する。
法に関してまず説明する。
記録時はまず1μｍφ程度に集光したレーザビ
ームを記録信号に応じて強度変調し光磁気デイス
クの磁性膜面に照射すると、磁性膜の温度が局所
的に上昇する。その温度上昇した部分では保磁力
が減少するため同時に外部より補助磁場を印加す
ると磁化の向きが反転して情報が記録される。
ームを記録信号に応じて強度変調し光磁気デイス
クの磁性膜面に照射すると、磁性膜の温度が局所
的に上昇する。その温度上昇した部分では保磁力
が減少するため同時に外部より補助磁場を印加す
ると磁化の向きが反転して情報が記録される。
再生時は、記録された磁性膜面に記録時よりも
弱い光量のレーザの直線偏光を照射する。すると
反射光は磁性膜の磁気光学効果（カー効果）によ
り偏光面の傾きを生じる。この傾きを検光子で検
波して光の強弱に変え、それを光検出器で検出し
て情報が再生される。
弱い光量のレーザの直線偏光を照射する。すると
反射光は磁性膜の磁気光学効果（カー効果）によ
り偏光面の傾きを生じる。この傾きを検光子で検
波して光の強弱に変え、それを光検出器で検出し
て情報が再生される。
第５図に光磁気デイスク装置の情報再生装置の
ブロツク図、第６図に信号検出回路、第７図に第
６図における信号波形を示す。尚、第５図、第６
図及び第７図に示す同一符号は同じものを示す。
ブロツク図、第６図に信号検出回路、第７図に第
６図における信号波形を示す。尚、第５図、第６
図及び第７図に示す同一符号は同じものを示す。
第５図において、光学ヘツド２１で再生された
アナログ信号は増幅器２２及び波形処理回路２３
を介して再生信号１０１となり、信号検出回路２
４においてデイジタル情報信号２０５が検出され
る。デイジタル情報信号２０５はPLL及び同期
検出回路２５に導びかれる。導入されたデイジタ
ル情報信号２０５を基にしてPLLは位相の同期
したクロツク信号を発生し、同期検出回路はセク
タマーク等のセクタ単位の同期検出を行なう。
アナログ信号は増幅器２２及び波形処理回路２３
を介して再生信号１０１となり、信号検出回路２
４においてデイジタル情報信号２０５が検出され
る。デイジタル情報信号２０５はPLL及び同期
検出回路２５に導びかれる。導入されたデイジタ
ル情報信号２０５を基にしてPLLは位相の同期
したクロツク信号を発生し、同期検出回路はセク
タマーク等のセクタ単位の同期検出を行なう。
従来、第５図に示す信号検出回路２４は第６図
に示す構成のものであつた。即ち再生信号１０１
は比較器１の片側に入力として導びかれると共に
比較電圧発生回路３１（破線で囲まれた部分）に
導びかれる。この例では比較電圧発生回路３１と
してローパスフイルタ３２を用いたものを示す。
比較電圧発生回路３１で出力として得られた比較
電圧２０４は比較器１のもう片側の入力に導びか
れ、該比較器１の出力としてデイジタル情報信号
２０５が得られる。
に示す構成のものであつた。即ち再生信号１０１
は比較器１の片側に入力として導びかれると共に
比較電圧発生回路３１（破線で囲まれた部分）に
導びかれる。この例では比較電圧発生回路３１と
してローパスフイルタ３２を用いたものを示す。
比較電圧発生回路３１で出力として得られた比較
電圧２０４は比較器１のもう片側の入力に導びか
れ、該比較器１の出力としてデイジタル情報信号
２０５が得られる。
第７図に第６図における波形を示す。再生信号
１０１は第７図に示すように記録済領域のみにお
いて記録マークに対応した信号が得られる。この
再生信号１０１のDC成分を破線で示す。比較電
圧発生回路３１におけるローパスフイルタ３２の
出力すなわち比較電圧２０４は再生信号１０１の
DC成分に対して過渡応答特性を示した波形とな
る。従つて再生信号１０１と比較電圧２０４を比
較して得られたデイジタル情報信号２０５は、第
７図に示すように未記録領域においてランダム的
なノイズ信号となり、記録済領域の開始直後は比
較電圧２０４の過渡特性によりデユーテイーのず
れた信号となる。
１０１は第７図に示すように記録済領域のみにお
いて記録マークに対応した信号が得られる。この
再生信号１０１のDC成分を破線で示す。比較電
圧発生回路３１におけるローパスフイルタ３２の
出力すなわち比較電圧２０４は再生信号１０１の
DC成分に対して過渡応答特性を示した波形とな
る。従つて再生信号１０１と比較電圧２０４を比
較して得られたデイジタル情報信号２０５は、第
７図に示すように未記録領域においてランダム的
なノイズ信号となり、記録済領域の開始直後は比
較電圧２０４の過渡特性によりデユーテイーのず
れた信号となる。
以上に示したデイジタル情報信号２０５を第５
図に示したPLL及び同期検出回路に入力する場
合、未記録領域で発生するランダム的なノイズ信
号及び記録領域開始直後のデユーテイーのずれた
信号は、PLLの引き込み動作及びセクタマーク
等の同期検出に対し信頼性を劣化させた。つまり
ランダム的なノイズ信号についてはPLLがノイ
ズ信号に応答する傾向があり、また同期検出回路
が誤つて同期検出する場合がある。デユーテイー
のずれた信号については、PLLの引き込み応答
性を劣化させ、同期検出回路に対しては検出が行
なわれない場合がある。従つてPLLの引き込み
動作及び同期検出に対し信頼性のあるデイジタル
情報信号を検出する信号検出回路が望まれた。
図に示したPLL及び同期検出回路に入力する場
合、未記録領域で発生するランダム的なノイズ信
号及び記録領域開始直後のデユーテイーのずれた
信号は、PLLの引き込み動作及びセクタマーク
等の同期検出に対し信頼性を劣化させた。つまり
ランダム的なノイズ信号についてはPLLがノイ
ズ信号に応答する傾向があり、また同期検出回路
が誤つて同期検出する場合がある。デユーテイー
のずれた信号については、PLLの引き込み応答
性を劣化させ、同期検出回路に対しては検出が行
なわれない場合がある。従つてPLLの引き込み
動作及び同期検出に対し信頼性のあるデイジタル
情報信号を検出する信号検出回路が望まれた。
尚、この例では光メモリ装置として光磁気デイ
スクメモリ装置を例に挙げたが追記型の光デイス
クメモリ装置等においても上記の問題点は同様な
ものである。
スクメモリ装置を例に挙げたが追記型の光デイス
クメモリ装置等においても上記の問題点は同様な
ものである。
＜発明の目的＞
本発明の目的は上述の従来技術の問題点に鑑
み、PLLの引き込み動作及びセクタマーク等に
おける同期検出に対し、信頼性の得られるデイジ
タル情報信号を検出する信号検出回路を提供する
ことにある。
み、PLLの引き込み動作及びセクタマーク等に
おける同期検出に対し、信頼性の得られるデイジ
タル情報信号を検出する信号検出回路を提供する
ことにある。
＜実施例＞
以下に本発明に係る光メモリ装置の信号検出回
路の実施例を光磁気デイスクメモリ装置の信号検
出回路を例に挙げて説明する。
路の実施例を光磁気デイスクメモリ装置の信号検
出回路を例に挙げて説明する。
第１図は本発明の実施例による信号検出回路の
第１の実施例を示す図、第２図は第１図における
波形を示す図である。
第１の実施例を示す図、第２図は第１図における
波形を示す図である。
第１図において再生信号１０１は比較器１の片
側の入力と、加算器２へ導びかれる。一方電圧v0
を可変抵抗４で分圧した電圧と接地電圧をスイツ
チング回路５においてタイミング信号１０６に基
づいて切り換えた信号１０２が加算器２へ導びか
れる。この加算器２において再生信号１０１に信
号１０２が付加される。加算器２の出力信号１０
３は比較電圧発生回路３１に導びかれる。比較電
圧発生回路３１としてローパスフイルタ３を用い
る。ここで得られた比較電圧１０４は比較器１の
もう片側の入力に導びかれ、デイジタル情報信号
１０５が検出される。
側の入力と、加算器２へ導びかれる。一方電圧v0
を可変抵抗４で分圧した電圧と接地電圧をスイツ
チング回路５においてタイミング信号１０６に基
づいて切り換えた信号１０２が加算器２へ導びか
れる。この加算器２において再生信号１０１に信
号１０２が付加される。加算器２の出力信号１０
３は比較電圧発生回路３１に導びかれる。比較電
圧発生回路３１としてローパスフイルタ３を用い
る。ここで得られた比較電圧１０４は比較器１の
もう片側の入力に導びかれ、デイジタル情報信号
１０５が検出される。
第２図に第１図における信号波形を示す。再生
信号１０１に対してタイミング信号１０６に基づ
いて信号１０２が付加される。即ち未記録領域の
みにおいて再生信号１０１にあるレベルを付加す
る。DC成分に注目すると、第２図に示すように
再生信号１０１のDC成分に信号１０２を付加す
ると信号１０３のDC成分（破線で示す）が得ら
れる。従つてこれをローパスフイルタ３を介して
出力した比較電圧１０４と再生信号１０１を比較
して検出されたデイジタル情報信号１０５は、未
記録部においてランダム的なノイズ信号の発生を
回避でき、記録済領域の開始直後においてデユー
テイーの改善が可能となる。尚、この例では再生
信号１０１に信号１０２を付加したが、比較電圧
１０４に信号１０２を付加する場合は未記録部に
おけるランダム的なノイズ信号の発生のみが回避
できる。
信号１０１に対してタイミング信号１０６に基づ
いて信号１０２が付加される。即ち未記録領域の
みにおいて再生信号１０１にあるレベルを付加す
る。DC成分に注目すると、第２図に示すように
再生信号１０１のDC成分に信号１０２を付加す
ると信号１０３のDC成分（破線で示す）が得ら
れる。従つてこれをローパスフイルタ３を介して
出力した比較電圧１０４と再生信号１０１を比較
して検出されたデイジタル情報信号１０５は、未
記録部においてランダム的なノイズ信号の発生を
回避でき、記録済領域の開始直後においてデユー
テイーの改善が可能となる。尚、この例では再生
信号１０１に信号１０２を付加したが、比較電圧
１０４に信号１０２を付加する場合は未記録部に
おけるランダム的なノイズ信号の発生のみが回避
できる。
次に第２の実施例について第３図を用いて説明
する。
する。
再生信号１０１は比較器１の片側の入力と第２
の比較電圧発生回路３１（破線で囲まれた部分）
に導びかれる。まずこの第２の比較電圧発生回路
３１について説明する。再生信号１０１は正方向
のピークホールド回路１１及び負方向のピークホ
ールド回路１２に導びかれ、それぞれの出力信号
１１１及び１１２は加算器１３、掛算器１４（1/
２倍）を介して出力される。即ちこの回路は再生
信号１０１の包絡線を検出し、包絡線の中心レベ
ルを第２の比較電圧として出力する第２の比較電
圧発生回路である。さてv0を可変抵抗１４で分圧
した電圧と接地電圧をスイツチング回路１５にお
いて、タイミング信号１０６に基づいて切り換え
ると信号１１４が得られる。この信号１１４と信
号１１３を加算器１６において加えた信号１１５
はローパスフイルタ１７を介して出力し、第１の
比較電圧１１６が得られる。比較器１において再
生信号１０１と第１の比較電圧１１６を比較しデ
イジタル情報信号１０５が検出される。
の比較電圧発生回路３１（破線で囲まれた部分）
に導びかれる。まずこの第２の比較電圧発生回路
３１について説明する。再生信号１０１は正方向
のピークホールド回路１１及び負方向のピークホ
ールド回路１２に導びかれ、それぞれの出力信号
１１１及び１１２は加算器１３、掛算器１４（1/
２倍）を介して出力される。即ちこの回路は再生
信号１０１の包絡線を検出し、包絡線の中心レベ
ルを第２の比較電圧として出力する第２の比較電
圧発生回路である。さてv0を可変抵抗１４で分圧
した電圧と接地電圧をスイツチング回路１５にお
いて、タイミング信号１０６に基づいて切り換え
ると信号１１４が得られる。この信号１１４と信
号１１３を加算器１６において加えた信号１１５
はローパスフイルタ１７を介して出力し、第１の
比較電圧１１６が得られる。比較器１において再
生信号１０１と第１の比較電圧１１６を比較しデ
イジタル情報信号１０５が検出される。
第４図を用いて第３図における信号波形を説明
する。再生信号１０１に対して第２の比較電圧１
１３のDC成分を第４図に示す。これに対して、
タイミング信号１０６に基づいて信号１１４が第
２の比較電圧１１３に付加される。従つて第３図
に示す加算器１６の出力信号１１５のDC成分
（破線で示す波形）に対して、第１の比較電圧１
１６が得られる。再生信号１０１と第１の比較電
圧１１６を比較するとデイジタル情報信号１０５
が得られる。このデイジタル情報信号１０５は第
２図に示した例と同様に未記録領域においてラン
ダム的なノイズの発生を回避でき、記録済領域の
開始直後においてデユーテイーの改善が可能とな
る。尚この例では信号１１４を第２の比較電圧１
１３に付加したが、第２の比較電圧１１３ではな
く再生信号１０１に付加しこれを第２の比較電圧
発生回路３１に入力し、第２の比較電圧と再生信
号を比較しても同様な効果が得られる。又、信号
１１４を第２の比較電圧１１３ではなくローパス
フイルタ１７の出力信号に付加しても、未記録部
におけるランダム的なノイズの発生のみは回避で
きる。
する。再生信号１０１に対して第２の比較電圧１
１３のDC成分を第４図に示す。これに対して、
タイミング信号１０６に基づいて信号１１４が第
２の比較電圧１１３に付加される。従つて第３図
に示す加算器１６の出力信号１１５のDC成分
（破線で示す波形）に対して、第１の比較電圧１
１６が得られる。再生信号１０１と第１の比較電
圧１１６を比較するとデイジタル情報信号１０５
が得られる。このデイジタル情報信号１０５は第
２図に示した例と同様に未記録領域においてラン
ダム的なノイズの発生を回避でき、記録済領域の
開始直後においてデユーテイーの改善が可能とな
る。尚この例では信号１１４を第２の比較電圧１
１３に付加したが、第２の比較電圧１１３ではな
く再生信号１０１に付加しこれを第２の比較電圧
発生回路３１に入力し、第２の比較電圧と再生信
号を比較しても同様な効果が得られる。又、信号
１１４を第２の比較電圧１１３ではなくローパス
フイルタ１７の出力信号に付加しても、未記録部
におけるランダム的なノイズの発生のみは回避で
きる。
以上に示した様に再生信号又は第２の比較電圧
発生回路の出力又は比較器に入力される比較電圧
に未記録部においてあるレベルの電圧を付加し、
これによつて得られた比較電圧を用いてデイジタ
ル情報信号を検出すれば、未記録部におけるラン
ダム的なノイズ信号の発生を回避でき、記録部開
始直後のデユーテイーが改善できる。従つてこの
デイジタル情報信号に基づくPLLの引き込み動
作及び同期検出回路における同期検出の信頼性を
向上させることが可能となる。
発生回路の出力又は比較器に入力される比較電圧
に未記録部においてあるレベルの電圧を付加し、
これによつて得られた比較電圧を用いてデイジタ
ル情報信号を検出すれば、未記録部におけるラン
ダム的なノイズ信号の発生を回避でき、記録部開
始直後のデユーテイーが改善できる。従つてこの
デイジタル情報信号に基づくPLLの引き込み動
作及び同期検出回路における同期検出の信頼性を
向上させることが可能となる。
尚、以上２つの実施例では光メモリ装置として
光磁気デイスクメモリ装置を例に挙げ、その信号
発生回路の実施例を示したが、光磁気デイスクメ
モリ装置に限らず追記型光デイスクメモリ、光カ
ード等においても適用可能である。
光磁気デイスクメモリ装置を例に挙げ、その信号
発生回路の実施例を示したが、光磁気デイスクメ
モリ装置に限らず追記型光デイスクメモリ、光カ
ード等においても適用可能である。
＜発明の効果＞
以上の本発明によれば再生信号又は比較電圧発
生回路の所定の位置又は比較電圧に未記録部にお
いてあるレベルの電圧を付加し、これによつて得
られた比較電圧を用いてデイジタル情報信号を検
出すれば、未記録部におけるランダム的なノイズ
信号の発生を回避でき、記録部開始直後のデユー
テイが改善できる。従つてこのデイジタル情報信
号に基づくPLLの引き込み動作及び同期検出回
路の同期検出の信頼性を向上させることができ
る。
生回路の所定の位置又は比較電圧に未記録部にお
いてあるレベルの電圧を付加し、これによつて得
られた比較電圧を用いてデイジタル情報信号を検
出すれば、未記録部におけるランダム的なノイズ
信号の発生を回避でき、記録部開始直後のデユー
テイが改善できる。従つてこのデイジタル情報信
号に基づくPLLの引き込み動作及び同期検出回
路の同期検出の信頼性を向上させることができ
る。
第１図は本発明の実施例による光磁気デイスク
メモリ装置の信号検出回路の第１の実施例を示す
構成図、第２図は第１図における信号波形図、第
３図は本発明の実施例による光磁気デイスクメモ
リ装置の信号検出回路の第２の実施例を示す構成
図、第４図は第３図における信号波形図、第５図
は情報再生装置のブロツク図、第６図は従来の信
号検出回路を示す回路図、第７図は第６図におけ
る信号波形図である。 図中、１……比較器、２，１３，１６……加算
器、３，１７，３２……ローパスフイルタ、４，
１４……可変抵抗、５，１５……スイツチング回
路、１１……正方向のピークホールド回路、１２
……負方向のピークホールド回路、１４……掛算
器、２１……光学ヘツド、２２……増幅器、２３
……波形処理回路、２４……信号検出回路、２５
……PLL及び同期検出回路、３１……比較電圧
発生回路。
メモリ装置の信号検出回路の第１の実施例を示す
構成図、第２図は第１図における信号波形図、第
３図は本発明の実施例による光磁気デイスクメモ
リ装置の信号検出回路の第２の実施例を示す構成
図、第４図は第３図における信号波形図、第５図
は情報再生装置のブロツク図、第６図は従来の信
号検出回路を示す回路図、第７図は第６図におけ
る信号波形図である。 図中、１……比較器、２，１３，１６……加算
器、３，１７，３２……ローパスフイルタ、４，
１４……可変抵抗、５，１５……スイツチング回
路、１１……正方向のピークホールド回路、１２
……負方向のピークホールド回路、１４……掛算
器、２１……光学ヘツド、２２……増幅器、２３
……波形処理回路、２４……信号検出回路、２５
……PLL及び同期検出回路、３１……比較電圧
発生回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光学的な情報記録媒体にレーザ光等の光ビー
ムを照射して情報の記録、再生又は消去を行う光
メモリ装置の信号検出回路において、 上記情報記録媒体からの再生によつて得られた
再生信号に、情報記録媒体の記録済領域の始まり
に対応したタイミング信号の立ち上がりに従つて
一定レベルから接地レベルに切り替わる電圧を加
える加算器と、 上記加算器の出力から直流分を取り出すことで
比較電圧を作り出す比較電圧発生回路と、 上記情報記録媒体からの再生によつて得られた
再生信号と、上記比較信号発生回路から出力され
る比較電圧とを、比較することでデイジタル情報
信号を出力する比較器とを具備したことを特徴と
する光メモリ装置の信号検出回路。 ２ 光学的な情報記録媒体にレーザ光等の光ビー
ムを照射して情報の記録、再生又は消去を行う光
メモリ装置の信号検出回路において、 上記情報記録媒体からの再生によつて得られた
再生信号から直流分を取り出すことで比較電圧を
作り出す比較電圧発生回路と、 該比較電圧発生回路の出力に、情報記録媒体の
記録済領域の始まりに対応したタイミング信号の
立ち上がりに従つて一定レベルから接地レベルに
切り替わる電圧を加える加算器と、 上記情報記録媒体からの再生によつて得られた
再生信号と、加算器から出力される比較電圧と
を、比較することでデイジタル情報信号を出力す
る比較器とを具備したことを特徴とする光メモリ
装置の信号検出回路。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4576186A JPS62202360A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 光メモリ装置の信号検出回路 |
| US07/012,087 US4924447A (en) | 1986-02-07 | 1987-02-06 | Optical memory device for recording, reproducing or erasing information onto a recording medium, including a recorded region detecting circuit. |
| DE8787101642T DE3770283D1 (de) | 1986-02-07 | 1987-02-06 | Optisches speichergeraet. |
| EP87101642A EP0232867B1 (en) | 1986-02-07 | 1987-02-06 | Optical memory device |
| US07/440,261 US4999824A (en) | 1986-02-07 | 1989-11-22 | Magneto-optical memory device |
| US07/564,799 US5134607A (en) | 1986-02-07 | 1990-08-09 | Optical memory system for generating a timing control signal for detecting a recorded region through a playback signal |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4576186A JPS62202360A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 光メモリ装置の信号検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62202360A JPS62202360A (ja) | 1987-09-07 |
| JPH0559507B2 true JPH0559507B2 (ja) | 1993-08-31 |
Family
ID=12728275
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4576186A Granted JPS62202360A (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-28 | 光メモリ装置の信号検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62202360A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2633417B2 (ja) * | 1991-08-02 | 1997-07-23 | シャープ株式会社 | 光記録媒体駆動装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5625215A (en) * | 1979-08-06 | 1981-03-11 | Toshiba Corp | Data separating circuit |
| JPS59193567A (ja) * | 1983-04-18 | 1984-11-02 | Seiko Instr & Electronics Ltd | テ−プデ−タの検出回路 |
| JPS60193171A (ja) * | 1984-03-15 | 1985-10-01 | Sony Corp | デイジタル信号の再生回路 |
-
1986
- 1986-02-28 JP JP4576186A patent/JPS62202360A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62202360A (ja) | 1987-09-07 |
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