JPH04263122A - 光ディスク鏡面欠陥検知装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はＲ−ＣＤ（Ｒｅｃｏｒｄ
ａｂｌｅ−Ｃｏｍｐａｃｔ　Ｄｉｓｋ　）等の記録・再
生可能な光ディスクを用いる光学式記録再生装置に係り
、特に、光ディスクの鏡面欠陥を検知する光ディスク鏡
面欠陥検知装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に普及しているＣＤ（Ｃｏｍｐａｃ
ｔ　ｄｉｓｋ）とは別に、ユーザ側において情報を記録
することができる光ディスクとして、Ｒ−ＣＤが知られ
ている。Ｒ−ＣＤの記録面に情報を記録するには、当該
記録面上に形成されたグルーブに記録データに対応する
長さのピットを形成して行う。ピットの形成は発光源と
してのレーザダイオードからのレーザビームをグルーブ
に照射し、グルーブを熱的に溶融することで行われる。 このように情報を記録する際においても、情報を再生す
る場合と同様にトラッキング・エラー検出を行なうこと
によりＲ−ＣＤの記録面における適正なグルーブ位置に
ピットを形成する必要がある。

【０００３】従来、この種の鏡面欠陥検知装置として図
６、図７に示すものがあった。この図６は従来装置のブ
ロック構成図、図７は従来装置の欠陥検知動作タイミン
グチャートを示す。前記各図において従来の鏡面欠陥検
知装置は、光ピックアップ１００から出力されるＲＦ信
号を反転すると共に所定の増幅率で増幅して反転ＲＦ信
号を出力する反転アンプ４と、この反転ＲＦ信号を短時
定数で信号応答を指数的に小さく減衰させて短時定数信
号を出力する第１のボトムホールド５と、前記短時定数
信号を微分する微分回路９と、前記反転ＲＦ信号を長時
定数で信号応答を指数的に大きく減衰させて長時定数信
号を出力する第２のボトムホールド６と、前記長時定数
信号を一定電圧だけ上昇させるＤＣシフト部７と、この
電位上昇された長時定数信号と短時定数信号の微分信号
とを比較して欠陥信号を出力するコンパレータ８とを備
える構成である。

【０００４】次に、前記構成に基づく従来装置の動作に
ついて説明する。まず、Ｒ−ＣＤ１０に記憶された情報
を読出す再生動作については、Ｒ−ＣＤ１０に対して半
導体レーザ（図示を省略）からレーザ光が照射され、こ
のＲ−ＣＤ１０のランド及びグルーブで反射回折された
信号光を光学系１１を介して２分割フォトダイオード１
２に入射し、この２分割フォトダイオード１２で光電変
換した電気信号を演算増幅器１３を介してＲＦ信号とし
て光ピックアップ１００から出力する。このＲＦ信号は
図７（Ａ）に示すように所定振幅の高周波成分の信号で
ある。この高周波成分の出力されない部分ａ１　、ａ２
　は、Ｒ−ＣＤ１０の鏡面領域における反射信号光が検
出できない欠陥部分に相当する。また、同図（Ａ）のＲ
Ｆ信号中における部分ａ３　はＲ−ＣＤ１０の半径方向
にシーク動作をした場合に３つのランド部を横断するこ
とにより生じるものである。

【０００５】このＲＦ信号が反転アンプ４に入力され、
この反転アンプ４から図７（Ｂ）に示す反転ＲＦ信号と
して出力される。前記反転ＲＦ信号が第１及び第２の各
ボトムホールド５、６に各々入力され、この第１のボト
ムホールド５によって短時定数で反転ＲＦ信号を指数的
に小さく減衰させた後、微分回路９によって微分するこ
とにより図７（Ｄ）に示す短時定数信号を生成し、また
前記第２ボトムホールド６は長時定数で反転ＲＦ信号を
指数的に大きく減衰させて図７（Ｃ）に示す長時定数信
号を生成する。この長時定数信号はＤＣシフト部７によ
り短時定数信号に対して所定の直流値αを加算してボト
ムアップが図られる。このボトムアップした長時定数信
号と前記短時定数とをコンパレータ８で比較して、この
比較結果を図７（Ｅ）に示す欠陥信号として出力する。

【０００６】このようにＲ−ＣＤ１０の鏡面領域におけ
る欠陥部分を検知することにより、この欠陥部分におけ
るトラッキング制御信号、フォーカス制御信号が影響を
受けないように鏡面部分の欠陥に対する処理を行なって
いる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】従来の光ディスク鏡面
欠陥検知装置は以上のように構成されていたことから、
再生動作時のように均一なＲＦ信号に基づいて鏡面欠陥
検知に使用される回路をそのまま記録動作に適用すると
、記録するために供給されるパワーが極めて大振幅であ
る記録動作では鏡面部分における欠陥が検知できないと
いう課題を有していた。即ち、記録動作における記録出
力がパワーオン時（記録信号が“Ｈ”レベルの時）では
、Ｒ−ＣＤ１０のランド及びグルーブで反射回折された
信号光に基づく電気信号中に大振幅のＲＦ信号が含まれ
ることとなる。この大振幅のＲＦ信号が反射記録特性等
のばらつきにより不安定であることや、振幅が再生時に
比べて極めて大きいため回路のダイナミックレンジが不
足して正常動作しなくなる等の理由から、欠陥部分を正
確に検知できないという課題を有していた。

【０００８】本発明は前記課題を解消するためになされ
たもので、同一の回路構成で記録動作時及び再生動作時
のいずれもにおいても光ディスクの鏡面部分の欠陥を検
知することができる光ディスク鏡面欠陥検知装置を提案
することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の光ディス
ク鏡面欠陥検知装置においては、記録信号の制御に基づ
いて情報を光学的に記録すると共に、記録された情報を
光学的に再生する光ディスクにおける鏡面領域の欠陥を
、前記光ディスクからの読取ることにより出力されるＲ
Ｆ信号に基づいて検知する光ディスク鏡面欠陥検知装置
において、前記記録信号における光ディスクへのピット
形成がなされない記録休止レベルを検出してサンプリン
グパルスを出力するサンプリングパルス発生回路１と、
前記サンプリングパルスに基づいて前記ＲＦ信号レベル
を保持するサンプルホールド回路２と、前記記録動作と
再生動作とを選択する再生・記録選択信号に基づいて、
記録動作時に前記サンプルホールド回路２で保持された
信号レベルのＲＦ信号を出力すると共に、再生動作時に
前記ＲＦ信号を切替えて出力する信号切換回路３とを備
え、前記信号切替回路からの出力されるＲＦ信号に基づ
いて光ディスクの鏡面領域欠陥を検知するものである。

【００１０】請求項２記載の光ディスク鏡面欠陥検知装
置においては、記録信号の制御に基づいて情報を光学的
に記録すると共に、記録された情報を光学的に再生する
光ディスクにおける鏡面領域の欠陥を、前記光ディスク
から読取ることにより出力されるＲＦ信号に基づいて検
知する光ディスク鏡面欠陥装置において、前記記録信号
における光ディスクへのピット形成がなされない記録休
止レベル期間中においてサンプリングパルスを発生する
サンプリングパルス発生回路と、前記サンプリングパル
スの発生期間中の前記ＲＦ信号を通過させ、トレーディ
ングエッジの発生タイミングに応答して、直前のＲＦ信
号レベルを保持するサンプルホールド回路とを備えるも
のである。

【００１１】

【作用】前記請求項１記載の発明においては、ＲＦ信号
に基づく光ディスクの鏡面領域における欠陥を検知する
前段において、記録動作を制御する記録信号に基づいて
サンプリングパルス発生回路で記録信号の記録休止レベ
ルにおいてサンプリングパルスを生成し、このサンプリ
ングパルスで特定される記録時におけるＲＦ信号をサン
プルホールド回路で保持し、この保持したＲＦ信号に基
づいて欠陥検出を行なうことにより、記録動作時に入力
される不安定な大振幅のＲＦ信号が含まれなくなり、再
生時と同じ回路構成で記録時においても光ディクスの鏡
面領域における欠陥部分を適格に検知する。

【００１２】前記請求項２に記載の発明においては、光
ディスクにピットの形成されない記録休止期間において
サンプリングパルス発生回路がサンプリングパルスを発
生する。サンプルホールド回路は、サンプリングパルス
の発生期間中はＲＦ信号を導通させ、サンプリングパル
スのトレーディングエッジのタイミングで直前のＲＦ信
号を保持する。

【００１３】このようにして光ディスク上にピットが形
成される期間においては、大振幅のＲＦ信号が含まれな
くなると共に、再生時と同じ回路構成で記録時において
も光ディスクの鏡面領域における欠陥部分を適格に検知
する。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図１及び図２に基
づいて説明する。この図１は本実施例装置のブロック構
成図、図２は本実施例の要部の動作タイミングチャート
を示す。前記各図において本実施例に係る光ディスク鏡
面欠陥検知装置は、前記図１記載の従来装置と同様に反
転アンプ４、第１及び第２の各ボトムホールド５、６、
微分回路９、ＣＤシフト部７及びコンパレータ８を備え
、この構成における反転アンプ４と光ピックアップ１０
０との間にサンプリングパルス発生回路１、サンプルホ
ールド回路２及び信号切替回路３を接続して構成される
。

【００１５】前記サンプリングパルス発生回路１は、記
録動作においてＲ−ＣＤ１０のグルーブへのピット形成
を制御し、ピットの形成でＯＮ状態となると共にピット
が形成されない鏡面領域でＯＦＦ状態となる制御信号が
入力され、この制御信号のＯＦＦ状態でサンプリングパ
ルスを発生させる構成である。前記サンプルホールド回
路２は、記録動作において光ピックアップ１００からの
ＲＦ信号が入力され、このＲＦ信号を前記サンプリング
パルスの発生タイミングに応じて保持する構成である。 前記信号切替回路３は、光ピックアック１００から直接
出力されるＲＦ信号と前記サンプルホールド回路２で保
持されたＲＦ信号とを、再生動作と記録動作との選択を
制御する再生・記録選択信号に基づいて選択切替えて前
記反転アンプ４へ出力する構成である。

【００１６】次に、前記構成に基づく本実施例装置の動
作について（１）再生動作と（２）記録動作とに分けて
説明する。 （１）再生動作 まず、再生動作の場合には、再生・記録選択信号により
特定される再生指令に基づいて信号切替回路３が端子Ａ
の再生端子側へ切替えを行なう。この切替えにより光ピ
ックアック１００からのＲＦ信号が直接に信号切替回路
３を介して反転アンプ４へ入力される。この反転アンプ
４へのＲＦ信号が入力された後は前記従来装置と同様な
動作でＲ−ＣＤ１０の鏡面領域における欠陥部分を検知
できることとなる。

【００１７】（２）記録動作 さらに、記録動作の場合には、再生・記録選択信号によ
り特定される記録指令に基づいて信号切替回路３が端子
Ｂの記録端子側へ切替えを行なう。また、記録動作を制
御するための記録信号（図２の（Ａ）を参照）がサンプ
リングパルス発生回路１に入力され、前記記録信号のＯ
ＦＦ状態でサンプリングパルスを図２（Ｂ）のように発
生する。前記記録信号に基づいて光ピックアップ１００
からＲ−ＣＤ１０に対して記録レーザ光が照射され、こ
の記録レーザ光がＲ−ＣＤ１０のランド及びグルーブで
反射回折して信号光として光ピックアップ１００に受光
される。この光ピックアップ１００は前記信号光を光電
変換し、この変換された大振幅のＲＦ信号（図２（Ｃ）
を参照）をサンプリングホード回路２へ出力する。なお
、前記大振幅のＲＦ信号は記録信号に基づいて出力され
る記録レーザ光に対応することから、記録レーザ光で形
成されるピット列と一致する（図２（Ｄ）を参照）。

【００１８】前記サンプルホールド回路２は入力された
大振幅のＲＦ信号のうち約０．４ｍＶの再生パワー相当
レベルを前記サンプリングパルスに基づいて保持する。 この保持されたＲＦ信号は信号切替回路３の端子Ｂを介
して前記反転アンプ４へ出力される。この反転アンプ４
へ出力されるＲＦ信号は記録動作時においても約０．４
ｍＶの再生パワー相当レベルで保持されて出力されるこ
とから、記録出力に基づく大振幅のＲＦ信号が含まれな
くなる。よって、反転アンプ４以降の結果検出動作を不
安定要因を含まない再生パワー相当レベルのＲＦ信号に
基づいてＲ−ＣＤ１０の鏡面領域における欠陥部分を確
実に検出できることとなる。

【００１９】次に本発明の第２発明の一実施例について
説明する。図３は本発明の第２発明の一実施例の構成の
ブロック図である。図において、サンプリングパルス発
生回路１は、記録信号ＯＦＦ期間の長さに対応する長さ
のパルスを発生する。図４はサンプリングパルス発生回
路１の一実施例の構成を示すものであり、記録信号はイ
ンバータ１１で反転されて、反転信号が抵抗Ｒ、コンデ
ンサＣとで定まる時定数で充電される時定数回路に供給
される。時定数回路の出力とインバータ１１の出力信号
とがＡＮＤゲート１０に供給されている。また抵抗Ｒの
両端にはダイオードＤが並列接続されており、入力がＨ
からＬに転じた時にコンデンサＣの蓄電電荷を瞬時に放
電する。

【００２０】図５は図４の回路の操作を示すタイミング
チャートである。記録信号ａはインバータ１１で反転さ
れて反転記録信号に示すようになる。この反転記録信号
ｂが抵抗Ｒに供給されると、パルスがＨに立ち上がった
時点から適当な時定数をもってコンデンサに畜電されて
積分信号ｃのような波形となる。ＡＮＤゲート１０は、
積分信号ｃの波形が所定スレッシュホールドレベルを越
えてＨ状態となると、その出力に同図に示すようなサン
プリングパルスｄを出力する。

【００２１】即ち、サンプリングパルスｄの波形は記録
信号における記録休止期間が始まって、若干の遅延の後
立ち上がり、記録期間が始まるとともに立ち下がるパル
スとなる。サンプルホールド回路２は、サンプリングパ
ルスのＨ期間は、入力信号であるＲＦ信号をそのまま出
力し、サンプリングパルスのＬ期間は、直前のＲＦ信号
を保持する構成となっており、直列抵抗Ｒと、アースさ
れたコンデンサＣ、及びコンデンサＣの入力端の信号を
オンオフするいわゆる前置ホールド回路等からなる。

【００２２】したがって、記録動作中においては、ピッ
トを形成しない記録休止期間におけるＲＦ信号がサンプ
ルホールド回路２から出力される。一方、再生動作中に
おいては、記録休止期間が連続しているのと等価なので
、サンプリングパルスｄは常時Ｈ状態となり、サンプル
ホールド回路２からはＲＦ信号がそのまま出力されるこ
とになる。

【００２３】なお、図３においては、サンプリングパル
ス発生回路１に対して記録再生選択信号が供給されるよ
うになされているが、これは再生動作を選択したときに
は強制的にサンプリングパルスｄをＨ状態となすように
するため、サンプリングパルスｄと記録再生選択信号と
の論理和を図示せぬオアゲートでとり、装置の誤動作を
防止するためである。

【００２４】また、サンプリングパルス発生回路１の構
成は図４の構成に特定されるものではなく、要は記録信
号波形のＬレベル期間において、できるだけ長くＨ期間
が継続するようにサンプリングパルスを形成すれば良い
のである。なお前記実施例においては信号切替回路以降
の欠陥検知部分を反転アンプ、第１、第２の各ボトムホ
ールド、ＤＣシフト部及びコンパレータで行なう構成と
したが、光ピックアップから出力されるＲＦ信号に基づ
いて光ディスクの鏡面領域における欠陥部分を検出する
ものであれば他の欠陥検知部分で構成することもできる
。

【００２５】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明においては、ＲＦ信号に基づく光ディスクの鏡面領
域における欠陥を検知する前段において、記録動作を制
御する記録信号に基づいてサンプリングパルス発生回路
で記録信号の記録休止レベルにおいてサンプリングパル
スを生成し、このサンプリングパルスで特定される記録
時におけるＲＦ信号をサンプルホールド回路で保持し、
この保持したＲＦ信号に基づいて欠陥検出を行なうこと
により、記録動作時に入力される不安定な大振幅のＲＦ
信号が含まれなくなり、再生時と同じ回路構成で記録時
においても光ディクスの鏡面領域における欠陥部分を適
格に検知する効果を有する。

【００２６】また請求項２に記載の発明によれば、記録
休止期間中にサンプリングパルスを発生するサンプリン
グパルス発生回路と、サンプリングパルスの発生期間中
ＲＦ信号をそのまま導通させ、そのトレーディングエッ
ジに対応して直前のＲＦ信号を保持するサンプルホール
ド回路を設けたので、特別のスイッチ等の構成が不要で
、装置の簡素化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を説明するための、ブロック
構成図である。

【図２】図１記載実施例の要部動作タイミングチャート
である。

【図３】他の本発明の一実施例を説明するための、ブロ
ック構成図である。

【図４】図３記載の実施例におけるサンプリングパルス
発生回路の具体例を示す回路図である。

【図５】図３記載の実施例の要部動作タイングチャート
である。

【図６】従来の光ディスク鏡面欠陥検知装置のブロック
構成図である。

【図７】従来の光ディスク鏡面欠陥検知装置のブロック
構成図である。

【符号の説明】

１…サンプリングパルス発生回路 ２…サンプルホールド回路 ３…信号切替回路３ ４…反転アンプ ５…第１のボトムホールド ６…第２のボトムホールド ７…ＤＣシフト部 ８…コンパレータ ９…微分回路 １０…Ｒ−ＣＤ １００…光ピックアップ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　記録信号の制御に基づいて情報を光学
   的に記録すると共に、記録された情報を光学的に再生す
   る光ディスクにおける鏡面領域の欠陥を、前記光ディス
   クから読取ることにより出力されるＲＦ信号に基づいて
   検知する光ディスク鏡面欠陥検知装置において、前記記
   録信号における光ディスクへのピット形成がなされない
   記録休止レベル期間を検出してサンプリングパルスを出
   力するサンプリングパルス発生回路と、前記サンプリン
   グパルスの発生タイミングに応答して前記ＲＦ信号レベ
   ルを次のサンプリングパルスの発生タイミングまで保持
   するサンプルホールド回路と、前記記録動作と再生動作
   とを選択する再生・記録選択信号に基づいて、記録動作
   時に前記サンプリングホールド回路で保持された信号レ
   ベルのＲＦ信号を出力すると共に、再生動作時に前記Ｒ
   Ｆ信号を切替えて出力する信号切換回路とを備え、前記
   信号切替回路から出力されるＲＦ信号に基づいて光ディ
   スクの鏡面領域欠陥を検知することを特徴とする光ディ
   スク鏡面欠陥検知装置。
2. 【請求項２】　　記録信号の制御に基づいて情報を光学
   的に記録すると共に、記録された情報を光学的に再生す
   る光ディスクにおける鏡面領域の欠陥を、前記光ディス
   クから読取ることにより出力されるＲＦ信号に基づいて
   検知する光ディスク鏡面欠陥装置において、前記記録信
   号における光ディスクへのピット形成がなされない記録
   休止レベル期間中においてサンプリングパルスを発生す
   るサンプリングパルス発生回路と、前記サンプリングパ
   ルスの発生期間中の前記ＲＦ信号を通過させ、トレーデ
   ィングエッジの発生タイミングに応答して、直前のＲＦ
   信号レベルを保持するサンプルホールド回路とを備えた
   ことを特徴とする光ディスク鏡面欠陥検出装置。