JPH0560584A - 二重化構成装置自動診断方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】二重化構成装置の障害の症状から故障の疑いが
ある部品の集合を示す被疑部品リストを生成し、症状及
び被疑部品リストからテスト全体の方向付けとなるテス
ト戦略を決定してテストの準備を行う。被疑部品リスト
の中の部品の一つについて注目し部品に規定されたテス
トの中から一つのテストを選択して実行する適切なテス
トを導き出し症状に応じたテストを行う。このテスト結
果を基に被疑部品リストを再計算し、被疑部品の中から
故障部品を判定する。 【効果】事前に予測できない症状が発生しても被疑部品
リストを生成することが可能であるので、テストを実行
することができ、故障部品を判定することが出来る。ま
た、部品ごとにテスト方法を規定しているので、症状ご
とにテストを規定する必要がなくなる結果、テスト規定
量が大幅に減少する。さらに、部品ごとにテストを規定
することにより、システム全体を見渡してテストを規定
する必要性が大幅に減少するので、高い技術力を持たな
い技術者でもテストを規定することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は二重化構成装置の保守運
用における装置故障時の自動診断方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の二重化構成装置の診断装置では、
事前に予測される症状ごとにテスト方法を規定する事に
よって診断を行っていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来の診断方法では、
事前に予測される症状についてはテスト方法が規定され
ているのでテストが可能であるが、事前に予測できない
症状については対処できない。

【０００４】また、症状ごとにテスト方法を記述してい
るので、それぞれの症状ごとにテスト方法を規定しなけ
ればならず、その結果規定量が膨大なものとなる。

【０００５】さらに、症状ごとにテストを規定するた
め、テストを設計する技術者はシステム全体を見渡せる
技術力が必要になり、技術者の育成がネックになる。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の二重化装置自動
診断方法は、二重化構成装置の障害の症状から故障の疑
いがある部品の集合を示す被疑部品リストを生成し、前
記症状及び前記被疑部品リストからテスト全体の方向付
けとなるテスト戦略を決定してテストの準備を行い、前
記被疑部品リストの中の部品の一つについて注目し部品
に規定されたテストの中から一つのテストを選択して実
行する適切なテストを導き出し前記症状に応じたテスト
を行い、このテスト結果を基に前記被疑部品リストを再
計算し、被疑部品の中から故障部品を判定する。

【０００７】

【実施例】一実施例を示す図１を参照すると、この診断
方法では、二重化構成装置の障害の症状からテストを直
接導き出すのではなく、障害の症状から被疑部品リスト
（故障の疑いがある部品の集合）を生成した上で、症状
と被疑部品リストからテスト全体の方向付けとなるテス
ト戦略を決定してテストの準備を行う。被疑部品リスト
の中の部品の一つについて注目し部品に規定されたテス
トの中から一つのテストを選択して実行する適切なテス
トを導き出し障害の症状に応じたテストを行い、その結
果を基に被疑部品リストを再計算する。このような処理
を繰り返し行うことにより、被疑部品の中から故障部品
を判定する。

【０００８】ここで、症状は３つの要素、つまり障害レ
ベル，障害部品及び障害内容からなる。障害レベルは発
生した障害の程度を表すとともに、システムにとっての
障害レベルを表す。また、障害部品とは障害が発生した
部品が明確に判る場合は故障部品を示し、障害が発生し
た部品が明確に判らない場合は障害発生時に行った処理
の入出力値、または入力値及び出力値のいずれかと障害
発生時の装置状態を示す。さらに、障害内容は自律メッ
セージなどから判明する故障部品の壊れ方及び部品（故
障部品）にとっての障害レベルを表す。以上の３つの要
素について、症状ごとにあらかじめ規定しておく。

【０００９】症状から判断される故障の疑いのある部品
の集合を被疑部品リストと呼ぶ。障害が発生した部品が
明確に判る場合、障害の発生した部品が被疑部品とな
る。また、障害が発生した部品が明確に判らない場合、
障害発生時に行った処理の入出力値、または入力値及び
出力値のいずれかと障害発生時の装置状態とから求め
る。この場合、装置が行う処理の開始を入力、処理の終
了を出力とすれば、入力から出力までを通過する部品が
その処理に係わった部品であるとすることができ、これ
らの部品の集合（リスト）を得て被疑部品リストとする
（図２参照）。

【００１０】次に、障害状況と被疑部品リストとからテ
スト戦略を決定するが、テスト戦略はＳＬ全体について
の値であり、ＳＬ中の各部品の部品注目度及びテスト注
目度の計算の方向を決定する。テスト選択及び実行の方
法づけとして次の２つの方向がある。つまり、第１は故
障部品検出であり、テスト時間の短いテスト、テスト的
中率の高いテストを選択する（部品の故障によりサービ
スに大きな影響が出ている場合に選択される。早期に故
障部品の検出を行う必要があるため、サービスへの影響
度よりも早期の故障発見を優先する）。第２は正常部品
検出であり、部品回避のできるテスト、安全性の高いテ
ストを選択する（部品の故障によりサービスが部分的に
低下または停止している場合に選択される。正常に行わ
れているサービスも存在するので、サービスへの影響が
少ないテストを優先的に行う）。このテスト戦略の決定
理論を図３に示す。

【００１１】テスト規定方法については、従来のように
故障パターンに対してテスト方法を規定するのではな
く、部品に対してテスト方法を規定する。二重化構成装
置を構成する部品において可能なテストを分類すると次
の７つに分類される。

【００１２】置換（図４参照） 二重化構成部品の場合で、被疑部品と全く同一の部品が
存在し、かつ処理をその部品に置き換える事が出来る場
合には、処理をその部品に置き換える事により、被疑部
品が正常かどうかをテストする。

【００１３】排除（図５参照） ネットワークを構成するような部品において被疑部品を
使用しなくても処理が可能な場合には、被疑部品を使用
しない構成をとる、つまり排除する事により、被疑部品
が正常かどうかをテストする。

【００１４】切換（図６参照） 被疑部品に二重化装置などの二重化構成装置が接続され
ている場合で現用部品と全く同一の部品が存在し、かつ
処理をその部品に置き換える事が出来る場合には、処理
をその部品に置き換える事により、被疑部品が正常かど
うかをテストする。

【００１５】入力折り返し（図７参照） 被疑部品の入力を折り返すことが出来る部品の場合に
は、折り返すことにより、被疑部品で処理を行わないよ
うにして被疑部品が正常かどうかをテストする。

【００１６】出力折り返し（図８参照） 被疑部品に接続されている部品で入力の折り返しが出来
る場合には、接続されている部品において入力の折り返
しを行うことにより、被疑部品の出力を折り返し被疑部
品の出力が正常かどうかをテストする。

【００１７】直接テスト（図９参照） 被疑部品がテスト機能を内蔵しており外部からの指示に
よってテスト可能な場合には、テスト機能を起動して被
疑部品が正常かどうかをテストする。

【００１８】間接テスト（図１０参照） 被疑部品（被テスト部品）がテスト機能を内蔵していな
い場合でテスト実施部品と組み合わせることによりテス
ト可能な場合には、テスト実施部品のテスト機能を起動
して被疑部品が正常かどうかをテストする。

【００１９】二重化構成装置の各部品ごとに上記の〜
に分類されたテストについて、テストが可能となる部
品の状態とテスト手順とを表１に示すように規定してお
く。

【００２０】

【表１】

【００２１】部品注目度とは被疑部品リストからテスト
を生成及び選択するとき、注目するただ一つの部品を決
定するための尺度であり、部品注目度の高い部品からテ
ストの生成，選択及び実行が行われる。部品注目度を数
値データと仮定すると、値が高いほど注目度が高く、デ
ータの初期値があらかじめ設計知識として与えられ、そ
の後は経験学習で値が加減されるようなデータである。
部品注目度の要素は以下の通りである。

【００２２】ハードウェア機能からの注目度：システム
共通部品であるほど注目度が高い。また、システム共通
部品の故障はシステム全体に影響するので注目度が高
い。

【００２３】ソフトウェア機能からの注目度：サービス
への影響度の高い部品であるほど注目度が高い。また、
システム共通ハードウェア部品でなくともサービスへの
影響が高い部品であるほど注目度が高い。

【００２４】症状からの注目度：症状から故障場所と推
測される部品ほど注目度が高い。

【００２５】経験からの注目度：過去に故障が多く発生
している部品ほど注目度が高い。

【００２６】運用からの注目度：故障発生直前にパッケ
ージ交換などを行った部品ほど注目度が高い。

【００２７】テスト注目度とは部品注目度によって注目
されたただ一つの部品に可能な複数のテストから実行す
る一つのテストを決定するための尺度であり、注目度の
高いテストが実行される。テスト注目度を数値データと
仮定すると、値が高いほど注目度が高く、データの初期
値があらかじめ設計知識として与えられ、この後経験学
習で値が加減されるようなデータである。テスト注目度
は故障部品検出及び正常部品検出のどちらの診断を行う
かによって値が異なる。テスト注目度の要素は以下の通
りである。

【００２８】現行サービスへの影響度：テストを行うこ
とにより現在行っているサービスへの影響がどれぐらい
あるかを示す。

【００２９】テスト中の安全性：テスト中のシステムの
安全性はどれぐらいかを示す。

【００３０】部品回避性：被疑部品を回避できるテスト
であるかどうかを示す。

【００３１】テスト時間：テストに要する時間の長さを
示す。

【００３２】テスト資源：テストに要する資源量を示
す。

【００３３】テスト的中率：経験学習より求まるテスト
の的中率を示す。

【００３４】選択されたテストが実行可能であるかどう
かを判定するためにテスト経路を調べる。図１１におい
て部品Ｂのテストを行うとするとき、テストデータを部
品Ａに入力し部品Ｂを通して部品Ｃから出力が得られる
とすると、テスト経路は部品Ａ〜部品Ｂ〜部品Ｃとな
る。部品Ｂに注目して部品Ｂをテストする場合はテスト
経路に部品Ｂが含まれている必要がある。この場合はテ
スト経路に部品Ｂが含まれているが、部品Ｄに注目して
部品Ｄをテストする場合には、部品の状態によりテスト
経路に部品Ｄが含まれない。そこで、選択されたテスト
が実行して良いかどうかを決めるために、テスト入力と
部品の状態を使用してテスト経路を取り出す。選択して
も良いテストであればテスト経路を得ることが出来るが
（注目した部品が含まれている）、実行してはいけない
テストであればテスト経路を得ることが出来ない（注目
した部品が含まれない）という結果になる。また、被疑
部品リストの再計算として、実行したテストの結果より
正常性が確認された部品は被疑部品リストから削除す
る。

【００３５】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、事
前に予測できない症状が発生しても被疑部品リストを生
成することが可能であるので、テストを実行することが
でき、故障部品を判定することが出来る。

【００３６】また、部品ごとにテスト方法を規定してい
るので、症状ごとにテストを規定する必要がなくなる結
果、テスト規定量が大幅に減少する。

【００３７】さらに、部品ごとにテストを規定すること
により、システム全体を見渡してテストを規定する必要
性が大幅に減少するので、高い技術力を持たない技術者
でもテストを規定することが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の診断手順を示す。

【図２】同実施例における被疑部品リストの考え方を示
す。

【図３】同実施例におけるテスト戦略の決定論理を示
す。

【図４】同実施例におけるテスト規定方法を示す。

【図５】同実施例におけるテスト規定方法を示す。

【図６】同実施例におけるテスト規定方法を示す。

【図７】同実施例におけるテスト規定方法を示す。

【図８】同実施例におけるテスト規定方法を示す。

【図９】同実施例におけるテスト規定方法を示す。

【図１０】同実施例におけるテスト規定方法を示す。

【図１１】同実施例におけるテスト経路を示す。

【符号の説明】

なし

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 二重化構成装置の障害の症状から故障の
   疑いがある部品の集合を示す被疑部品リストを生成し、
   前記症状及び前記被疑部品リストからテスト全体の方向
   付けとなるテスト戦略を決定してテストの準備を行い、
   前記被疑部品リストの中の部品の一つについて注目し部
   品に規定されたテストの中から一つのテストを選択して
   実行する適切なテストを導き出し前記症状に応じたテス
   トを行い、このテスト結果を基に前記被疑部品リストを
   再計算し、被疑部品の中から故障部品を判定することを
   特徴とする二重化構成装置自動診断方法。