JPH0562360A - 回転型記憶装置の欠陥セクタ処理方式 - Google Patents

回転型記憶装置の欠陥セクタ処理方式

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JPH0562360A
JPH0562360A JP25477891A JP25477891A JPH0562360A JP H0562360 A JPH0562360 A JP H0562360A JP 25477891 A JP25477891 A JP 25477891A JP 25477891 A JP25477891 A JP 25477891A JP H0562360 A JPH0562360 A JP H0562360A
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JP
Japan
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sector
defective
pulse
read
circuit
Prior art date
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JP25477891A
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English (en)
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Toshiro Uchimura
敏郎 内村
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 磁気ディスク装置等の回転型記憶装置におい
て、欠陥セクタをスキップする回転型記憶装置の欠陥セ
クタ処理方式に関し、欠陥セクタの処理を高速化し、連
続ブロックの処理において、回転待ちを発生することな
く、欠陥セクタをスキップすることを目的とする。 【構成】 記憶ディスクドライブ2からのセクタパルス
に同期して、該制御部1が、ID部のリードゲート信号
を発生し、該記憶ディスクドライブ2からのID部を識
別し、対象セクタである時に、データ部のリード又はラ
イトゲート信号を発生する回転型記憶装置において、記
憶テーブル11の欠陥セクタ位置とセクタ位置検出部1
2のセクタ位置とを比較し、比較結果により、マスク回
路14により該セクタパルスをマスクして、ゲートパル
ス発生回路15からのID部のリードゲート信号の発生
を禁止して、該欠陥セクタをスキップする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】(目次) 産業上の利用分野 従来の技術(図4) 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段(図1) 作用 実施例 (a) 一実施例の説明(図2乃至図3) (b) 他の実施例の説明 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置等の
回転型記憶装置において、欠陥セクタをスキップする回
転型記憶装置の欠陥セクタ処理方式に関する。近年の磁
気ディスク装置の大容量化の要求に伴い、磁気ディスク
の高密度化が進み、磁気ディスク媒体の微小な欠陥も問
題となり、欠陥セクタの数も増加の傾向にある。
【0003】このため、磁気ディスク面のトラックの欠
陥セクタに対し、交代セクタを設ける交代セクタ方式が
提案されているが、交代セクタ方式は、交代セクタをサ
ーチするのに時間がかかり、連続ブロックの処理に不利
であることから、交代セクタを用いない方法が採用され
ている。
【0004】一方、磁気ディスク装置の転送速度の向上
の要求により、連続ブロックの処理における欠陥セクタ
の処理に手間取ると、回転待ちが生じるため、高速に欠
陥セクタの処理を行う技術が求められている。
【0005】
【従来の技術】図4は従来技術の説明図である。図4に
示すように、磁気ディスク装置は、上位3と接続された
コントローラ1と、磁気ディスクドライブ2とを有し、
コントローラ1が、磁気ディスクドライブ2からのセク
タパルスを受け、ID部のリードゲート信号を発生し、
そのセクタのID部の内容をリードし、ID部の内容を
解析し、目的セクタであることを検出し、データ部のリ
ード又はライトゲート信号を発生して、リード又はライ
トを行う。
【0006】この時、連続ブロックの処理において、欠
陥セクタ(図では2)があると、欠陥セクタをスキップ
するため、欠陥セクタのID部をリードし、そのID部
の内容の解析により、IDコンペアーエラーとなり、デ
ータ部のリード又はライトゲート信号の発生を禁止し、
スリップ処理に移行する。
【0007】スリップ処理では、IDコンペアーエラー
の理由が、リードエラーか欠陥セクタかを解析し、ID
部に欠陥セクタを示す情報があれば、欠陥セクタと判定
し、次のブロックに移行する前に、続きの処理コマンド
を再発行していた。一方、特開昭59−221810号
公報等では、欠陥セクタのID部をリードすることなく
スキップする方法が開示されている。
【0008】この方法は、ID部に書換えを行うに際
し、回転待ちを防止する目的で、全セクタに欠陥セクタ
の位置を格納しておき、ヘッドが目的トラックに到達し
た際に、最初のセクタから欠陥セクタの位置をリード
し、メモリに保持しておき、目的セクタの1つ前のセク
タに到達した時点で、目的セクタがメモリに保持した欠
陥セクタかを判定し、欠陥セクタなら、そのセクタをI
D部をリードすることなく、スキップするものである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年データ
転送速度の向上の要求により、磁気ディスクの回転数が
高くなり、1ブロックの処理に要する時間が短くなって
いる。このため、従来技術では、次の問題があった。 前者の従来技術では、前述のスリップ処理に時間がか
かると、次のブロックに間に合わず、回転待ちを生じ
て、高速転送、書き込みが困難となる。
【0010】後者の従来技術では、元々単一ブロック
の書換えを目的とするため、連続ブロックの処理におい
ては、1つ前のセクタでデータをリード又はライトして
から、次が目的セクタかを識別し、目的セクタなら、メ
モリを参照し、欠陥セクタかを判定し、スキップ処理し
なければならず、欠陥セクタの判定、処理に時間がかか
り、次のブロックに間に合わず、回転待ちを生じて、高
速転送、書き込みが困難となる。
【0011】従って、本発明は、欠陥セクタの処理を高
速化し、連続ブロックの処理において、回転待ちを発生
することなく、欠陥セクタをスキップすることができる
回転型記憶装置の欠陥セクタ処理方式を提供することを
目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理図で
ある。本発明の請求項1は、回転する記憶媒体に対し、
ヘッドをアクセスし、少なくともデータのリードを行う
記憶ディスクドライブ2と、上位3からの指示により、
該記憶ディスクドライブ2を制御する制御部1とを有
し、該記憶ディスクドライブ2からのセクタパルスに同
期して、該制御部1が、ID部のリードゲート信号を発
生し、該記憶ディスクドライブ2からのID部を識別
し、対象セクタである時に、データ部のリード又はライ
トゲート信号を発生する回転型記憶装置において、該制
御部1に、欠陥セクタ位置を記憶した記憶テーブル11
と、該セクタパルスを計数したセクタ位置を保持するセ
クタ位置検出部12と、該セクタパルスのマスク回路1
4と、該マスク回路14からのセクタパルスにより、該
ID部のリードゲート信号を発生するゲートパルス発生
回路15とを設け、該記憶テーブル11の欠陥セクタ位
置と該セクタ位置検出部12のセクタ位置とを比較し、
比較結果により、該マスク回路14により該セクタパル
スをマスクして、該ゲートパルス発生回路15からの該
ID部のリードゲート信号の発生を禁止して、該欠陥セ
クタをスキップすることを特徴とする。
【0013】本発明の請求項2は、請求項1において、
前記制御部1に、前記記憶テーブル11の欠陥セクタ位
置と前記セクタ位置検出部12のセクタ位置とを比較す
る比較回路13を設けたことを特徴とする。
【0014】本発明の請求項3は、請求項1において、
前記制御部1は、前記セクタパルスを計数し、前記セク
タ位置検出部12に格納し、前記記憶テーブル11の欠
陥セクタ位置と前記セクタ位置検出部12のセクタ位置
とを比較する制御回路10を設けたことを特徴とする。
【0015】
【作用】本発明の請求項1では、欠陥セクタ位置を記憶
した記憶テーブル11と、セクタパルスを計数したセク
タ位置を保持するセクタ位置検出部12と、セクタパル
スのマスク回路14と、マスク回路14からのセクタパ
ルスにより、ID部のリードゲート信号を発生するゲー
トパルス発生回路15とを設けているので、記憶テーブ
ル11の欠陥セクタ位置と該セクタ位置検出部12のセ
クタ位置とを比較し、比較結果のみにより、マスク回路
14によりセクタパルスをマスクして、ゲートパルス発
生回路15からのID部のリードゲート信号の発生を禁
止することで、欠陥セクタをスキップできるため、高速
に欠陥セクタを検出ができ、且つマスク回路14とゲー
トパルス発生回路15によりハード的に欠陥セクタのス
キップを行うので、次のブロックに充分間に合い、連続
ブロック処理でも、回転待ちを生じることなく、欠陥セ
クタをスキップして、処理を継続できる。
【0016】本発明の請求項2では、制御部1に、記憶
テーブル11の欠陥セクタ位置とセクタ位置検出部12
のセクタ位置とを比較する比較回路13を設けたので、
制御回路10とは別に、欠陥セクタの検出、スキップを
ハードウェアにより行うことができ、より高速に欠陥セ
クタの検出、スキップを実行できる。
【0017】本発明の請求項3では、制御部1は、セク
タパルスを計数し、セクタ位置検出部12に格納し、記
憶テーブル11の欠陥セクタ位置とセクタ位置検出部1
2のセクタ位置とを比較する制御回路10を設けたの
で、付加するハードウェアを最小にして、高速の欠陥セ
クタの検出、制御が可能となる。
【0018】
【実施例】
(a)一実施例の説明 図2は本発明の一実施例構成図、図3は本発明の一実施
例動作説明図である。図中、図1及び図4で示したもの
と同一のものは、同一の記号で示してあり、10は制御
回路であり、MPUで構成され、上位3とのコマンド、
ステータスのやり取り、データの送受を行うものであ
る。
【0019】記憶テーブル11は、メモリで構成され、
欠陥セクタの物理位置を格納してあり、セクタ位置検出
部12は、セクタパルスカウンタで構成され、磁気ディ
スクドライブ2からのインデックスパルスにより、リセ
ットされ、セクタパルスを計数し、現在セクタの物理位
置を示すものであり、比較回路13は、記憶テーブル1
1の内容と、セクタパルスカウンタ12の内容とを比較
し、一致すると、ローレベルのマスク信号を発生する。
【0020】マスク回路14は、アンドゲートで構成さ
れ、セクタパルスをローレベルのマスク信号により、マ
スクするもの、リード/ライトゲートパルス発生回路1
5は、マスク回路14からのセクタパルスにより、ID
部のリードゲート信号を発生し、制御回路10からのリ
ード/ライト指示により、データ部のリード又はライト
ゲート信号を発生する。
【0021】バス16は、磁気ディスクドライブ2と、
制御回路10と、上位3を接続し、リードデータ、ライ
トデータをやり取りするものである。図3のリード処理
の例について、その動作を説明する。
【0022】図3(A)に示すように、目的トラックに
おいて、物理セクタ番号が図のように、付されており、
物理セクタ番号「3」が欠陥セクタとすると、論理セク
タ番号は、図のように、物理セクタ番号「3」のセクタ
を除いて、順に付される。記憶テーブル11には、欠陥
セクタの物理セクタ番号「3」が格納されている。
【0023】ここで、上位3から、論理セクタ番号で
「2」からnブロックの連続ブロックリード処理が制御
回路10に与えられると、セクタパルスカウンタ12を
インデックスパルスに同期して、リセットし、イネーブ
ルとし、ゲートパルス発生回路15をイネーブルとす
る。
【0024】これにより、セクタパルスカウンタ12
は、セクタパルスを計数し、現在セクタ位置を示し、記
憶テーブル11の内容と、比較回路13で比較される。
比較結果が一致を示さなければ、マスク回路14が開
き、セクタパルスは、ゲートパルス発生回路15に入力
し、ID部のリードゲート信号を出力し、磁気ディスク
ドライブ2は、これにより、当該セクタのID部をリー
ドし、バス16を介し制御回路10に転送する。
【0025】制御回路10は、このID部を解析し、目
的セクタであれば、ゲートパルス発生回路15に、デー
タ部のリードゲート信号を発生するよう指示し、ゲート
パルス発生回路15は、データ部のリードゲート信号を
出力し、磁気ディスクドライブ2は、これにより、当該
セクタのデータ部をリードし、バス16を介し上位3に
転送する。
【0026】一方、比較回路13が、比較一致を検出す
ると、ローレベルのマスク信号をマスク回路14に出力
するため、図3(B)の物理セクタ番号「3」に示すよ
うに、セクタパルスはマスクされ、ゲートパルス発生回
路15に出力されない。
【0027】このため、ID部のリードゲート信号が、
磁気ディスクドライブ2に出力されないため、当該セク
タのID部はリードされず、又、制御回路10も、ID
部が転送されないため、ゲートパルス発生回路15への
指示はなされない。これにより、物理セクタ番号「3」
のセクタは、欠陥セクタとして、スキップされる。
【0028】次の物理セクタ番号「4」のセクタについ
ては、欠陥セクタとして、記憶テーブル11に登録され
ていないので、比較回路13は、比較結果の一致を示さ
ないため、マスク回路14が開き、セクタパルスは、ゲ
ートパルス発生回路15に入力し、ID部のリードゲー
ト信号を出力し、磁気ディスクドライブ2は、これによ
り、当該セクタのID部をリードし、バス16を介し制
御回路10に転送する。
【0029】制御回路10は、このID部を解析し、目
的セクタであれば、ゲートパルス発生回路15に、デー
タ部のリードゲート信号を発生するよう指示し、ゲート
パルス発生回路15は、データ部のリードゲート信号を
出力し、磁気ディスクドライブ2は、これにより、当該
セクタのデータ部をリードし、バス16を介し上位3に
転送する。
【0030】以下、同様にして、連続リード処理が行わ
れる。このようにして、連続ブロックのリード処理にお
いて、制御回路10の負担にならずに、欠陥セクタを検
出し、リードゲート信号の出力を禁止し、欠陥セクタを
スキップするため、高速転送しても、回転待ちが生じる
ことがない。
【0031】(b) 他の実施例の説明 上述の実施例の他に、本発明は、次のような変形が可能
である。 連続ブロックのリード処理で説明したが、連続ブロッ
クのライト処理についても、同様に適用できる。
【0032】セクタパルスカウンタ12、比較回路1
3をハードウェアにより説明したが、これらの動作を制
御回路10のプログラム制御によって行ってもよい。こ
の場合でも、制御回路10は、セクタパルスの計数と、
比較を行えばよく、処理に時間がかからないので、回転
待ちを防止できる。
【0033】1トラックに複数の欠陥セクタがある場
合にも適用でき、複数トラックの欠陥セクタを記憶テー
ブルに格納する場合には、制御回路10が記憶テーブル
の目的トラックの欠陥セクタ位置情報を選択してもよ
い。
【0034】回転型記憶装置を、磁気ディスクドライ
ブで説明したが、光ディスクドライブ、光磁気ディスク
ドライブにも適用できる。以上、本発明を実施例により
説明したが、本発明の主旨の範囲内で種々の変形が可能
であり、これらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次の効果を奏する。 記憶テーブル11の欠陥セクタ位置とセクタ位置検出
部12のセクタ位置とを比較し、比較結果により、マス
ク回路14によりセクタパルスをマスクして、ゲートパ
ルス発生回路15からのID部のリードゲート信号の発
生を禁止して、欠陥セクタをスキップするので、欠陥セ
クタの検出、スキップ動作を高速に行うことができ、連
続ブロック処理しても、回転待ちを生じることがなく、
高速転送、高速書き込みが可能となる。 このためのハードウェアの追加も、少量で済むため、
容易に且つ安価に性能向上が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理図である。
【図2】本発明の一実施例構成図である。
【図3】本発明の一実施例動作説明図である。
【図4】従来技術の説明図である。
【符号の説明】
1 コントローラ(制御部) 2 磁気ディスクドライブ(記憶ディスクドライブ) 3 上位装置 10 制御回路 11 記憶テーブル 12 セクタ位置検出部 13 比較回路 14 マスク回路 15 ゲートパルス発生回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転する記憶媒体に対し、ヘッドをアク
    セスし、少なくともデータのリードを行う記憶ディスク
    ドライブ(2)と、上位(3)からの指示により、該記
    憶ディスクドライブ(2)を制御する制御部(1)とを
    有し、 該記憶ディスクドライブ(2)からのセクタパルスに同
    期して、該制御部(1)が、ID部のリードゲート信号
    を発生し、該記憶ディスクドライブ(2)からのID部
    を識別し、対象セクタである時に、データ部のリード又
    はライトゲート信号を発生する回転型記憶装置におい
    て、 該制御部(1)に、欠陥セクタ位置を記憶した記憶テー
    ブル(11)と、該セクタパルスを計数したセクタ位置
    を保持するセクタ位置検出部(12)と、該セクタパル
    スのマスク回路(14)と、該マスク回路(14)から
    のセクタパルスにより、該ID部のリードゲート信号を
    発生するゲートパルス発生回路(15)とを設け、 該記憶テーブル(11)の欠陥セクタ位置と該セクタ位
    置検出部(12)のセクタ位置とを比較し、比較結果に
    より、該マスク回路(14)により該セクタパルスをマ
    スクして、該ゲートパルス発生回路(15)からの該I
    D部のリードゲート信号の発生を禁止して、該欠陥セク
    タをスキップすることを特徴とする回転型記憶装置の欠
    陥セクタ処理方式。
  2. 【請求項2】 前記制御部(1)に、前記記憶テーブル
    (11)の欠陥セクタ位置と前記セクタ位置検出部(1
    2)のセクタ位置とを比較する比較回路(13)を設け
    たことを特徴とする請求項1の回転型記憶装置の欠陥セ
    クタ処理方式。
  3. 【請求項3】 前記制御部(1)は、前記セクタパルス
    を計数し、前記セクタ位置検出部(12)に格納し、前
    記記憶テーブル(11)の欠陥セクタ位置と前記セクタ
    位置検出部(12)のセクタ位置とを比較する制御回路
    (10)を設けたことを特徴とする請求項1の回転型記
    憶装置の欠陥セクタ処理方式。
JP25477891A 1991-09-05 1991-09-05 回転型記憶装置の欠陥セクタ処理方式 Withdrawn JPH0562360A (ja)

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