JPH0562701B2 - - Google Patents

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JPH0562701B2
JPH0562701B2 JP61008129A JP812986A JPH0562701B2 JP H0562701 B2 JPH0562701 B2 JP H0562701B2 JP 61008129 A JP61008129 A JP 61008129A JP 812986 A JP812986 A JP 812986A JP H0562701 B2 JPH0562701 B2 JP H0562701B2
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JP
Japan
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current
constant current
printed circuit
circuit board
energization time
Prior art date
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JP61008129A
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Hisatomo Ooki
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Hitachi Ltd
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Japan Electronic Control Systems Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明はプリント基板検査装置に関し、特にプ
リント基板の導体ランドの不良を検出するのに利
用されるものの改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a printed circuit board inspection device, and more particularly to an improvement in one used for detecting defects in conductor lands on a printed circuit board.

<従来の技術> 一般に、プリント基板において生じる不良の多
くは、その基板上に形成される導体ランドの断線
或いはランド間の短絡にある。
<Prior Art> Generally, most of the defects that occur in printed circuit boards are due to disconnections in conductor lands formed on the board or short circuits between lands.

そこで、その不良を検査する装置が必要とな
る。
Therefore, a device for inspecting such defects is required.

しかしながら、かかる従来の検査装置では、導
体ランドの導通状態だけしか検査しないため、導
体ランドの一部が導通を保ちつつ大きく欠落して
いるよう潜在的不良個所までもは検出することが
できず、結局のところ上記のような潜在的不良個
所の検査は肉眼による視覚検査等に頼るしかなか
つた。
However, such conventional testing equipment only tests the conductive state of the conductor land, and therefore cannot detect potential defects such as parts of the conductor land that are largely missing while maintaining continuity. In the end, inspection of the above-mentioned potential defective parts had no choice but to rely on visual inspection with the naked eye.

このような問題点を解消するため、従来第4図
に示すようなプリント基板検査装置が案出されて
いる。
In order to solve these problems, a printed circuit board inspection apparatus as shown in FIG. 4 has been devised.

これを説明すると、プリント基板検査装置は、
定電流電源1、パルス発生器2、パワートランジ
スタ3、電流検出用分流抵抗4、比較器5、論理
ゲート(アンド回路)6等によつて構成される。
To explain this, printed circuit board inspection equipment is
It is composed of a constant current power supply 1, a pulse generator 2, a power transistor 3, a current detection shunt resistor 4, a comparator 5, a logic gate (AND circuit) 6, and the like.

ここで、定電流電源1は、検査しようとするプ
リント基板7の導体ランド8の一端にパワートラ
ンジスタ3を介して接続される。パルス発生器2
は、第5図に示すように、2つのタイミングパル
ス信号P1,P2を出力する。パワートランジス
タ3はパルス発生器2からの一方のパルス信号P
1によつて導通制御される。これにより、定電流
電源5による定電流が所定時間だけ導体ランド8
に通電させられるようになつている。
Here, the constant current power supply 1 is connected via a power transistor 3 to one end of a conductive land 8 of a printed circuit board 7 to be inspected. Pulse generator 2
outputs two timing pulse signals P1 and P2, as shown in FIG. The power transistor 3 receives one pulse signal P from the pulse generator 2.
The conduction is controlled by 1. As a result, the constant current from the constant current power supply 5 is applied to the conductor land 8 for a predetermined period of time.
It is now possible to energize.

導体ランド8の他端は分流抵抗4を介して定電
流電源1の電流帰路(接地側)に接続されてい
る。
The other end of the conductor land 8 is connected to the current return path (ground side) of the constant current power supply 1 via the shunt resistor 4.

分流抵抗4には導体ランド8を流れる電流I0
比例する電圧が分圧される。この分圧電圧は比較
器5の一方の比較入力端子(−)に与えられる。
A voltage proportional to the current I 0 flowing through the conductor land 8 is divided into the shunt resistor 4 . This divided voltage is applied to one comparison input terminal (-) of the comparator 5.

比較器5の他方の比較入力端子(+)には所定
の基準電圧Vrが与えられる。比較器5の比較出
力Aは、論理ゲート6を経て出力される。論理ゲ
ート6は、上記パルス発生器2からの他方のパル
ス信号P2によつて、そのゲート動作が制御され
る。ここで、その他方のパルス信号P2は、上記
一方のパルス信号P1が立ち下がる直前に発せら
れるようになつている。これにより、上記比較器
5の比較出力Aは、上記定電流電源1による通電
時間の終了直前に抽出されて出力されるようにな
つている。そして、この抽出された比較出力がプ
リント基板検査装置の判定出力Bとなる。
A predetermined reference voltage Vr is applied to the other comparison input terminal (+) of the comparator 5. A comparison output A of the comparator 5 is outputted via a logic gate 6. The gate operation of the logic gate 6 is controlled by the other pulse signal P2 from the pulse generator 2. Here, the other pulse signal P2 is emitted just before the one pulse signal P1 falls. Thereby, the comparison output A of the comparator 5 is extracted and outputted immediately before the end of the energization time by the constant current power source 1. Then, this extracted comparison output becomes the determination output B of the printed circuit board inspection device.

尚、分流抵抗4と比較器5とで電流検出手段を
構成し、論理ゲート(アンド回路)6によりゲー
ト回路を構成している。
Note that the shunt resistor 4 and the comparator 5 constitute a current detection means, and the logic gate (AND circuit) 6 constitutes a gate circuit.

かかる構成の動作は、まず、検査された導体ラ
ンド8が正常な場合には、第5図Aに示すよう
に、上記パルス信号P2が立ち上がつている間に
上記判定出力Bが立ち上がらずにL(低レベル)
のままでいる。
The operation of this configuration is such that, first, when the inspected conductor land 8 is normal, the judgment output B does not rise while the pulse signal P2 rises, as shown in FIG. 5A. L (low level)
Stay as you are.

ところが、第4図に示すように、検査された導
体ランド8が部分的に欠落して断線し易くなつて
いる潜在的不良個所Xがあると、上記定電流I0
流すことによつて、その不良個所Xが僅に残つて
いる導通部分が溶断される。これにより、その不
良個所Xが明らかな導通不良状態を呈するように
なる。従つて、上記比較器5の比較出力Aを上記
定電流電源1による通電時間の終了直前に抽出す
ることにより、その不良個所を電気的に確実に検
出することができるようになる。
However, as shown in FIG. 4, if there is a potential defective location X where the inspected conductor land 8 is partially missing and is prone to disconnection, by flowing the constant current I0 , The conductive portion where the defective point X remains is fused. As a result, the defective location X exhibits an obvious conduction defect. Therefore, by extracting the comparison output A of the comparator 5 immediately before the end of the energization time from the constant current power source 1, the defective location can be electrically detected reliably.

第5図Bは、その潜在的不良個所Xがあつた場
合の動作状態を示す。即ち、定電流電源1からの
電流I0が通電時間の途中で遮断され、これによ
り、その通電時間の終り近くで上記比較器5の比
較出力AがL(低レベル)からH(高レベル)に変
化する。この変化がパルス信号P2に同期して抽
出され、判定出力Bに現れる。
FIG. 5B shows the operating state when the potentially defective location X occurs. That is, the current I0 from the constant current power source 1 is cut off in the middle of the energization time, and as a result, the comparison output A of the comparator 5 changes from L (low level) to H (high level) near the end of the energization time. Changes to This change is extracted in synchronization with the pulse signal P2 and appears in the determination output B.

以上のようにして、潜在的な不良個所Xを、肉
眼による視覚検査によらずに、電気的に確実に検
出することができる。
In the manner described above, the potential defective location X can be reliably detected electrically without visual inspection with the naked eye.

<発明が解決しようとする問題点> しかしながら、このような従来のプリント基板
検査装置にあつては、定電流電源1による電流及
びパルス発生器2により制御される通電時間が一
定であるため、検査する導体ランド8に対応する
溶断条件(電流×時間)が必ずしも最適値とはな
らず、特に、細線導体に前記溶断条件を合わせる
ようにしているため、太線導体に対しては最適な
溶断条件とはならないので、検出能力に劣り、検
査の信頼性が今一つ欠けていた。又、最適な溶断
条件とはならない結果、被検査品へのストレスが
増大するという欠点もあつた。
<Problems to be Solved by the Invention> However, in such a conventional printed circuit board inspection device, since the current from the constant current power source 1 and the energization time controlled by the pulse generator 2 are constant, the inspection The fusing conditions (current x time) corresponding to the conductor land 8 to which the Therefore, the detection ability was inferior and the reliability of the test was lacking. Furthermore, as a result of not achieving optimal fusing conditions, there was also the drawback that stress on the inspected product increased.

本発明はこのような従来の問題点に鑑みなされ
たもので、導体ランドに対する溶断条件を最適な
ものとして検査の信頼性を向上することを目的と
する。
The present invention was devised in view of these conventional problems, and an object of the present invention is to improve the reliability of inspection by optimizing the fusing conditions for conductor lands.

<問題点を解決するための手段> このため本発明は、潜在的な不良個所をも検査
できるところのプリント基板検査装置において、
第1図に示すように、導体ランドの直流抵抗とイ
ンダクタンスを測定する抵抗・インダクタンス測
定手段と、該測定手段から出力される測定値に基
づいて該抵抗・インダクタンスによつて予め定め
られた前記電流値と通電時間を設定する条件設定
手段と、該条件となるようにプリント基板の導体
ランドに所定の定電流を通電する定電流電源にお
ける電流設定手段と該定電流電源による通電時間
を制御するパルス発生器を制御する制御手段と、
を設けた。
<Means for Solving the Problems> For this reason, the present invention provides a printed circuit board inspection apparatus that can also inspect potential defective locations.
As shown in FIG. 1, there is a resistance/inductance measuring means for measuring the direct current resistance and inductance of a conductor land, and the current is predetermined by the resistance/inductance based on the measured value output from the measuring means. a condition setting means for setting a value and an energization time; a current setting means in a constant current power supply for energizing a predetermined constant current to a conductor land of a printed circuit board so as to meet the conditions; and a pulse for controlling an energization time by the constant current power supply. control means for controlling the generator;
has been established.

<作用> そして、上記構成においては、検査する導体ラ
ンドの直流抵抗とインダクタンスを事前に測定し
て導体ランドの線や太さや長さ等の状況を調べ、
その後、こ状況から予め定められた電流と通電時
間とを知るようにし、この電流と通電時間でもつ
て検査を実行する。従つて、最適な溶断条件で検
査を行え、検査の信頼性を向上できる。
<Function> In the above configuration, the DC resistance and inductance of the conductor land to be inspected are measured in advance, and the condition of the conductor land's wire, thickness, length, etc., is checked.
Thereafter, a predetermined current and energization time are determined from this situation, and an inspection is performed using this current and energization time. Therefore, the inspection can be performed under optimal fusing conditions, and the reliability of the inspection can be improved.

<実施例> 以下、本発明の一実施例を第2図及び第3図に
基づいて説明する。
<Example> Hereinafter, an example of the present invention will be described based on FIGS. 2 and 3.

尚、第2図において、第4図と同一要素のもの
には同一符号を付して説明を簡単にする。
In FIG. 2, the same elements as those in FIG. 4 are given the same reference numerals to simplify the explanation.

第2図において、プリント基板検査装置は、定
電流電源1、パルス発生器2、パワートランジス
タ3、電流検出用分流抵抗4、比較器5、論理ゲ
ート(アンド回路)6が構成要素であるのは、従
来と同様であり、これらの構成要素による作用に
ついては、先に説明した従来装置と同様であるの
でここでは省略する。
In FIG. 2, the printed circuit board inspection device consists of a constant current power supply 1, a pulse generator 2, a power transistor 3, a current detection shunt resistor 4, a comparator 5, and a logic gate (AND circuit) 6. , and the operations of these components are the same as those of the conventional device described above, so a description thereof will be omitted here.

そして、導体ランド8の直流抵抗(R)とインダク
タンス(L)を測定する抵抗・インダクタンス測定手
段としての抵抗・インダクタンス測定器9が設け
られる。この抵抗・インダクタンス測定器9は、
導体ランド8の線の長さや太さ等の情報を電流ベ
クトルで読むものである。コントロールユニツト
10には、前記抵抗・インダクタンス測定器9か
ら出力される測定値に基づいて該抵抗・インダク
タンスによつて予め定められた前記電流値と通電
時間を設定する条件設定手段と、該条件となるよ
うに定電流電源1における電流設定手段11とパ
ルス発生器2を制御する制御手段と、が備えられ
ている。
A resistance/inductance measuring device 9 is provided as a resistance/inductance measuring means for measuring the direct current resistance (R) and inductance (L) of the conductor land 8. This resistance/inductance measuring instrument 9 is
Information such as the length and thickness of the conductor land 8 is read using the current vector. The control unit 10 includes a condition setting means for setting the current value and energization time predetermined by the resistance/inductance based on the measured value output from the resistance/inductance measuring device 9; A current setting means 11 in the constant current power supply 1 and a control means for controlling the pulse generator 2 are provided so that the constant current power supply 1 has a current setting means 11 and a control means for controlling the pulse generator 2.

ここで、検査しようとするプリント基板7の導
体ランド8の一端とパワートランジスタ3とを結
ぶ配線の両端には、夫々スイツチ12及び13が
設けられている。導体ランド8側のスイツチ12
は、該導体ランド8の一端部に接続可能な複数の
接続端子a、b、cを切変接続するものであり、
パワートランジスタ3側のスイツチ13は、該パ
ワートランジスタ3の接続端子dと抵抗・インダ
クタンス測定器9の一方の接続端子eとを切換接
続するものである。導体ランド8の他端部に接続
可能な複数の接続端子f、g、hは夫々分流抵抗
4を介して定電流電源1の電流帰路(接地側)に
接続される。定電流電源1の接地側配線には、ス
イツチ14が設けられている。このスイツチ14
は、定電流電源1の接続端子iと抵抗・インダク
タンス測定器9の他方の接続端子jとを切換接続
するものである。
Here, switches 12 and 13 are provided at both ends of the wiring connecting one end of the conductor land 8 of the printed circuit board 7 to be inspected and the power transistor 3, respectively. Switch 12 on the conductor land 8 side
is for switchingly connecting a plurality of connection terminals a, b, c connectable to one end of the conductor land 8,
The switch 13 on the side of the power transistor 3 switches and connects the connection terminal d of the power transistor 3 and one connection terminal e of the resistance/inductance measuring device 9. A plurality of connection terminals f, g, h connectable to the other end of the conductor land 8 are each connected to a current return path (ground side) of the constant current power supply 1 via a shunt resistor 4. A switch 14 is provided on the ground side wiring of the constant current power supply 1. This switch 14
is used to switch and connect the connection terminal i of the constant current power supply 1 and the other connection terminal j of the resistance/inductance measuring instrument 9.

次に、かかる構成の作用について説明する。 Next, the operation of this configuration will be explained.

まず、検査しようとする導体ランド8の一端部
に接続可能な接続端子a、b、cのいずれかをス
イツチ12によつて切り換える一方、スイツチ1
3を図示の通り抵抗・インダクタンス測定器9の
一方の接続端子eに切り換え、スイツチ14を該
抵抗・インダクタンス測定器9の他方の接続端子
jに切り換える。
First, the switch 12 is used to switch one of the connection terminals a, b, and c that can be connected to one end of the conductor land 8 to be inspected.
3 is switched to one connection terminal e of the resistance/inductance measuring instrument 9 as shown, and the switch 14 is switched to the other connecting terminal j of the resistance/inductance measuring instrument 9.

そして、第3図フローチヤートに示すような作
用により、導体ランドに対する溶断条件が設定さ
れる。
Then, the fusing condition for the conductor land is set by the action shown in the flowchart of FIG.

即ち、S1において、抵抗・インダクタンス測
定器9により、検査しようとする導体ランド8の
抵抗・インダクタンスが測定される。そして、
S2において、S1で測定された抵抗・インダクタ
ンス信号に基づいて、抵抗・インダクタンスとの
関係により定まる電流・通電時間のマツプから該
当する電流・通電時間を読み取り、S3ではこの
電流・通電時間を設定する。S4では、該設定値
となるように定電流電源1における電流設定手段
11とパルス発生器2を制御する。
That is, in S1, the resistance/inductance of the conductor land 8 to be tested is measured by the resistance/inductance measuring device 9. and,
In S2, based on the resistance/inductance signal measured in S1, the corresponding current/energization time is read from the map of current/energization time determined by the relationship with resistance/inductance, and in S3, this current/energization time is set. . In S4, the current setting means 11 in the constant current power supply 1 and the pulse generator 2 are controlled so that the set value is achieved.

その後、スイツチ13をパワートランジスタ3
の接続端子dに切り換えると共に、スイツチ14
を定電流電源1の接続端子iに切り変え、定電流
電源1による定電流を所定時間だけ導体ランド8
に通電させて、従来と同様の検査動作を行うよう
になつている。
After that, switch 13 is connected to power transistor 3.
At the same time, switch 14 is switched to connection terminal d.
is switched to the connection terminal i of the constant current power supply 1, and the constant current from the constant current power supply 1 is applied to the conductor land 8 for a predetermined period of time.
The test operation is performed in the same manner as in the past.

そして、スイツチ12を切り換えて、検査する
導体ランド8を選択し、上記動作を導体ランド8
毎に行うようにする。
Then, switch 12 to select the conductor land 8 to be inspected, and perform the above operation on the conductor land 8.
Do this every time.

かかる構成によれば、検査する導体ランド8の
直流抵抗とインダクタンスを事前に測定して導体
ランド8の線の太さや長さ等の状況を調べ、その
後、この状況から予め定められた電流と通電時間
とを知るようにし、この電流と通電時間でもつて
検査を実行するようにしたから、検査する導体ラ
ンド8に対する溶断条件(電流×時間)を常に最
適値とすることができ、細線導体に対しても、太
線導体に対しても最適な溶断条件となる。
According to this configuration, the direct current resistance and inductance of the conductor land 8 to be inspected are measured in advance to check the conditions such as the thickness and length of the wire of the conductor land 8, and then a predetermined current and energization are determined from this condition. Since the test is performed using this current and current-carrying time, the fusing conditions (current x time) for the conductor land 8 to be inspected can always be set to the optimum value, and for thin wire conductors. However, it is also the optimum fusing condition for thick conductors.

従つて、検出能力を向上でき、検査の信頼性を
向上でき、被検査品へのストレスが増大するとい
う欠点も解消できる。
Therefore, the detection ability can be improved, the reliability of the inspection can be improved, and the disadvantage of increased stress on the product to be inspected can also be eliminated.

<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば、潜在的
な不良個所をも検査できるところのプリント基板
検査装置において、検査する導体ランドの直流抵
抗とインダクタンスを事前に測定して導体ランド
の線の太さや長さ等の状況を調べ、その後、この
状況から予め定められた電流と通電時間とを知る
ようにし、この電流と通電時間でもつて検査を実
行するようにしたから、最適な溶断条件で検査を
行え、検出能力を向上でき、検査の信頼性を向上
でき、被検査品へのストレスが増大するという欠
点も解消できる。
<Effects of the Invention> As explained above, according to the present invention, in a printed circuit board inspection apparatus that can also inspect potential defective parts, the DC resistance and inductance of the conductor land to be inspected are measured in advance and the conductor land is inspected. We investigated the conditions such as the thickness and length of the land wires, then learned the predetermined current and energization time from this situation, and performed the inspection using this current and energization time. The inspection can be performed under suitable fusing conditions, the detection ability can be improved, the reliability of the inspection can be improved, and the drawback of increased stress on the product to be inspected can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係わるプリント基板検査装置
の構成図、第2図は同上装置の一実施例を示す回
路図、第3図は同上装置における溶断条件の設定
に係わる作用を説明するフローチヤート、第4図
はプリント基板検査装置の従来例の回路図、第5
図A,Bは夫々同上装置の動作例を示すタイミン
グチヤートである。 1……定電流電源、2……パルス発生器、3…
…パワートランジスタ、4……電流検出用分流抵
抗、5……比較器、6……論理ゲート(アンド回
路)、7……プリント基板、8……導体ランド、
9……抵抗・インダクタンス設定器、10……コ
ントロールユニツト、11……電流設定手段1
1。
Fig. 1 is a configuration diagram of a printed circuit board inspection device according to the present invention, Fig. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the same device, and Fig. 3 is a flowchart explaining the operation related to setting of fusing conditions in the same device. , Figure 4 is a circuit diagram of a conventional example of a printed circuit board inspection device, and Figure 5 is a circuit diagram of a conventional example of a printed circuit board inspection device.
Figures A and B are timing charts showing an example of the operation of the above device, respectively. 1...constant current power supply, 2...pulse generator, 3...
... Power transistor, 4 ... Current detection shunt resistor, 5 ... Comparator, 6 ... Logic gate (AND circuit), 7 ... Printed circuit board, 8 ... Conductor land,
9...Resistance/inductance setting device, 10...Control unit, 11...Current setting means 1
1.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 プリント基板の導体ランドに所定の定電流を
通電する定電流電源と、該定電流電源による通電
時間を制御するパルス発生器と、前記導体ランド
に流れる電流を検出する電流検出手段と、この電
流検出手段の検出出力を前記定電流電源による通
電時間の終了直前に抽出するゲート回路とを備え
たプリント基板検査装置において、前記導体ラン
ドの直流抵抗とインダクタンスを測定する抵抗・
インダクタンス測定手段と、該測定手段から出力
される測定値に基づいて該抵抗・インダクタンス
によつて予め定められた前記電流値と通電時間を
設定する条件設定手段と、該条件となるように定
電流電源における電流設定手段とパルス発生器を
制御する制御手段と、を設けたことを特徴とする
プリント基板検査装置。
1. A constant current power supply that supplies a predetermined constant current to the conductor lands of the printed circuit board, a pulse generator that controls the energization time by the constant current power supply, a current detection means that detects the current flowing through the conductor lands, and a current detection means that detects the current flowing through the conductor lands. A printed circuit board inspection apparatus comprising: a gate circuit for extracting the detection output of the detection means immediately before the end of the energization time by the constant current power source;
an inductance measuring means; a condition setting means for setting the current value and energization time predetermined by the resistance/inductance based on the measured value output from the measuring means; A printed circuit board inspection device comprising: current setting means in a power source and control means for controlling a pulse generator.
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