JPH0562701B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明はプリント基板検査装置に関し、特にプ
リント基板の導体ランドの不良を検出するのに利
用されるものの改良に関する。

＜従来の技術＞ 一般に、プリント基板において生じる不良の多
くは、その基板上に形成される導体ランドの断線
或いはランド間の短絡にある。

そこで、その不良を検査する装置が必要とな
る。

しかしながら、かかる従来の検査装置では、導
体ランドの導通状態だけしか検査しないため、導
体ランドの一部が導通を保ちつつ大きく欠落して
いるよう潜在的不良個所までもは検出することが
できず、結局のところ上記のような潜在的不良個
所の検査は肉眼による視覚検査等に頼るしかなか
つた。

このような問題点を解消するため、従来第４図
に示すようなプリント基板検査装置が案出されて
いる。

これを説明すると、プリント基板検査装置は、
定電流電源１、パルス発生器２、パワートランジ
スタ３、電流検出用分流抵抗４、比較器５、論理
ゲート（アンド回路）６等によつて構成される。

ここで、定電流電源１は、検査しようとするプ
リント基板７の導体ランド８の一端にパワートラ
ンジスタ３を介して接続される。パルス発生器２
は、第５図に示すように、２つのタイミングパル
ス信号Ｐ１，Ｐ２を出力する。パワートランジス
タ３はパルス発生器２からの一方のパルス信号Ｐ
１によつて導通制御される。これにより、定電流
電源５による定電流が所定時間だけ導体ランド８
に通電させられるようになつている。

導体ランド８の他端は分流抵抗４を介して定電
流電源１の電流帰路（接地側）に接続されてい
る。

分流抵抗４には導体ランド８を流れる電流I₀に
比例する電圧が分圧される。この分圧電圧は比較
器５の一方の比較入力端子（−）に与えられる。

比較器５の他方の比較入力端子（＋）には所定
の基準電圧Vrが与えられる。比較器５の比較出
力Ａは、論理ゲート６を経て出力される。論理ゲ
ート６は、上記パルス発生器２からの他方のパル
ス信号Ｐ２によつて、そのゲート動作が制御され
る。ここで、その他方のパルス信号Ｐ２は、上記
一方のパルス信号Ｐ１が立ち下がる直前に発せら
れるようになつている。これにより、上記比較器
５の比較出力Ａは、上記定電流電源１による通電
時間の終了直前に抽出されて出力されるようにな
つている。そして、この抽出された比較出力がプ
リント基板検査装置の判定出力Ｂとなる。

尚、分流抵抗４と比較器５とで電流検出手段を
構成し、論理ゲート（アンド回路）６によりゲー
ト回路を構成している。

かかる構成の動作は、まず、検査された導体ラ
ンド８が正常な場合には、第５図Ａに示すよう
に、上記パルス信号Ｐ２が立ち上がつている間に
上記判定出力Ｂが立ち上がらずにＬ（低レベル）
のままでいる。

ところが、第４図に示すように、検査された導
体ランド８が部分的に欠落して断線し易くなつて
いる潜在的不良個所Ｘがあると、上記定電流I₀を
流すことによつて、その不良個所Ｘが僅に残つて
いる導通部分が溶断される。これにより、その不
良個所Ｘが明らかな導通不良状態を呈するように
なる。従つて、上記比較器５の比較出力Ａを上記
定電流電源１による通電時間の終了直前に抽出す
ることにより、その不良個所を電気的に確実に検
出することができるようになる。

第５図Ｂは、その潜在的不良個所Ｘがあつた場
合の動作状態を示す。即ち、定電流電源１からの
電流I₀が通電時間の途中で遮断され、これによ
り、その通電時間の終り近くで上記比較器５の比
較出力ＡがＬ（低レベル）からＨ（高レベル）に変
化する。この変化がパルス信号Ｐ２に同期して抽
出され、判定出力Ｂに現れる。

以上のようにして、潜在的な不良個所Ｘを、肉
眼による視覚検査によらずに、電気的に確実に検
出することができる。

＜発明が解決しようとする問題点＞ しかしながら、このような従来のプリント基板
検査装置にあつては、定電流電源１による電流及
びパルス発生器２により制御される通電時間が一
定であるため、検査する導体ランド８に対応する
溶断条件（電流×時間）が必ずしも最適値とはな
らず、特に、細線導体に前記溶断条件を合わせる
ようにしているため、太線導体に対しては最適な
溶断条件とはならないので、検出能力に劣り、検
査の信頼性が今一つ欠けていた。又、最適な溶断
条件とはならない結果、被検査品へのストレスが
増大するという欠点もあつた。

本発明はこのような従来の問題点に鑑みなされ
たもので、導体ランドに対する溶断条件を最適な
ものとして検査の信頼性を向上することを目的と
する。

＜問題点を解決するための手段＞ このため本発明は、潜在的な不良個所をも検査
できるところのプリント基板検査装置において、
第１図に示すように、導体ランドの直流抵抗とイ
ンダクタンスを測定する抵抗・インダクタンス測
定手段と、該測定手段から出力される測定値に基
づいて該抵抗・インダクタンスによつて予め定め
られた前記電流値と通電時間を設定する条件設定
手段と、該条件となるようにプリント基板の導体
ランドに所定の定電流を通電する定電流電源にお
ける電流設定手段と該定電流電源による通電時間
を制御するパルス発生器を制御する制御手段と、
を設けた。

＜作用＞ そして、上記構成においては、検査する導体ラ
ンドの直流抵抗とインダクタンスを事前に測定し
て導体ランドの線や太さや長さ等の状況を調べ、
その後、こ状況から予め定められた電流と通電時
間とを知るようにし、この電流と通電時間でもつ
て検査を実行する。従つて、最適な溶断条件で検
査を行え、検査の信頼性を向上できる。

＜実施例＞ 以下、本発明の一実施例を第２図及び第３図に
基づいて説明する。

尚、第２図において、第４図と同一要素のもの
には同一符号を付して説明を簡単にする。

第２図において、プリント基板検査装置は、定
電流電源１、パルス発生器２、パワートランジス
タ３、電流検出用分流抵抗４、比較器５、論理ゲ
ート（アンド回路）６が構成要素であるのは、従
来と同様であり、これらの構成要素による作用に
ついては、先に説明した従来装置と同様であるの
でここでは省略する。

そして、導体ランド８の直流抵抗(R)とインダク
タンス(L)を測定する抵抗・インダクタンス測定手
段としての抵抗・インダクタンス測定器９が設け
られる。この抵抗・インダクタンス測定器９は、
導体ランド８の線の長さや太さ等の情報を電流ベ
クトルで読むものである。コントロールユニツト
１０には、前記抵抗・インダクタンス測定器９か
ら出力される測定値に基づいて該抵抗・インダク
タンスによつて予め定められた前記電流値と通電
時間を設定する条件設定手段と、該条件となるよ
うに定電流電源１における電流設定手段１１とパ
ルス発生器２を制御する制御手段と、が備えられ
ている。

ここで、検査しようとするプリント基板７の導
体ランド８の一端とパワートランジスタ３とを結
ぶ配線の両端には、夫々スイツチ１２及び１３が
設けられている。導体ランド８側のスイツチ１２
は、該導体ランド８の一端部に接続可能な複数の
接続端子ａ、ｂ、ｃを切変接続するものであり、
パワートランジスタ３側のスイツチ１３は、該パ
ワートランジスタ３の接続端子ｄと抵抗・インダ
クタンス測定器９の一方の接続端子ｅとを切換接
続するものである。導体ランド８の他端部に接続
可能な複数の接続端子ｆ、ｇ、ｈは夫々分流抵抗
４を介して定電流電源１の電流帰路（接地側）に
接続される。定電流電源１の接地側配線には、ス
イツチ１４が設けられている。このスイツチ１４
は、定電流電源１の接続端子ｉと抵抗・インダク
タンス測定器９の他方の接続端子ｊとを切換接続
するものである。

次に、かかる構成の作用について説明する。

まず、検査しようとする導体ランド８の一端部
に接続可能な接続端子ａ、ｂ、ｃのいずれかをス
イツチ１２によつて切り換える一方、スイツチ１
３を図示の通り抵抗・インダクタンス測定器９の
一方の接続端子ｅに切り換え、スイツチ１４を該
抵抗・インダクタンス測定器９の他方の接続端子
ｊに切り換える。

そして、第３図フローチヤートに示すような作
用により、導体ランドに対する溶断条件が設定さ
れる。

即ち、S1において、抵抗・インダクタンス測
定器９により、検査しようとする導体ランド８の
抵抗・インダクタンスが測定される。そして、
S2において、S1で測定された抵抗・インダクタ
ンス信号に基づいて、抵抗・インダクタンスとの
関係により定まる電流・通電時間のマツプから該
当する電流・通電時間を読み取り、S3ではこの
電流・通電時間を設定する。S4では、該設定値
となるように定電流電源１における電流設定手段
１１とパルス発生器２を制御する。

その後、スイツチ１３をパワートランジスタ３
の接続端子ｄに切り換えると共に、スイツチ１４
を定電流電源１の接続端子ｉに切り変え、定電流
電源１による定電流を所定時間だけ導体ランド８
に通電させて、従来と同様の検査動作を行うよう
になつている。

そして、スイツチ１２を切り換えて、検査する
導体ランド８を選択し、上記動作を導体ランド８
毎に行うようにする。

かかる構成によれば、検査する導体ランド８の
直流抵抗とインダクタンスを事前に測定して導体
ランド８の線の太さや長さ等の状況を調べ、その
後、この状況から予め定められた電流と通電時間
とを知るようにし、この電流と通電時間でもつて
検査を実行するようにしたから、検査する導体ラ
ンド８に対する溶断条件（電流×時間）を常に最
適値とすることができ、細線導体に対しても、太
線導体に対しても最適な溶断条件となる。

従つて、検出能力を向上でき、検査の信頼性を
向上でき、被検査品へのストレスが増大するとい
う欠点も解消できる。

＜発明の効果＞ 以上説明したように、本発明によれば、潜在的
な不良個所をも検査できるところのプリント基板
検査装置において、検査する導体ランドの直流抵
抗とインダクタンスを事前に測定して導体ランド
の線の太さや長さ等の状況を調べ、その後、この
状況から予め定められた電流と通電時間とを知る
ようにし、この電流と通電時間でもつて検査を実
行するようにしたから、最適な溶断条件で検査を
行え、検出能力を向上でき、検査の信頼性を向上
でき、被検査品へのストレスが増大するという欠
点も解消できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わるプリント基板検査装置
の構成図、第２図は同上装置の一実施例を示す回
路図、第３図は同上装置における溶断条件の設定
に係わる作用を説明するフローチヤート、第４図
はプリント基板検査装置の従来例の回路図、第５
図Ａ，Ｂは夫々同上装置の動作例を示すタイミン
グチヤートである。 １……定電流電源、２……パルス発生器、３…
…パワートランジスタ、４……電流検出用分流抵
抗、５……比較器、６……論理ゲート（アンド回
路）、７……プリント基板、８……導体ランド、
９……抵抗・インダクタンス設定器、１０……コ
ントロールユニツト、１１……電流設定手段１
１。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ プリント基板の導体ランドに所定の定電流を
   通電する定電流電源と、該定電流電源による通電
   時間を制御するパルス発生器と、前記導体ランド
   に流れる電流を検出する電流検出手段と、この電
   流検出手段の検出出力を前記定電流電源による通
   電時間の終了直前に抽出するゲート回路とを備え
   たプリント基板検査装置において、前記導体ラン
   ドの直流抵抗とインダクタンスを測定する抵抗・
   インダクタンス測定手段と、該測定手段から出力
   される測定値に基づいて該抵抗・インダクタンス
   によつて予め定められた前記電流値と通電時間を
   設定する条件設定手段と、該条件となるように定
   電流電源における電流設定手段とパルス発生器を
   制御する制御手段と、を設けたことを特徴とする
   プリント基板検査装置。