JPH0563748B2 - - Google Patents
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- JPH0563748B2 JPH0563748B2 JP25840087A JP25840087A JPH0563748B2 JP H0563748 B2 JPH0563748 B2 JP H0563748B2 JP 25840087 A JP25840087 A JP 25840087A JP 25840087 A JP25840087 A JP 25840087A JP H0563748 B2 JPH0563748 B2 JP H0563748B2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 82
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 13
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 6
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は特に試験設備の都合により電圧、電流
に制約があり、また供試品のブツシングも定格電
圧で遮断性能が検証できるような遮断器の進み小
電流試験装置に関する。
に制約があり、また供試品のブツシングも定格電
圧で遮断性能が検証できるような遮断器の進み小
電流試験装置に関する。
（従来の技術）
一般に電力用遮断器には、通常の故障時のよう
な大電流の遮断性能の他に、無負荷電線路、電力
ケーブル等の充電電流（数10(A)）〜数1000(A)）に
対する遮断性能も重要視される。
な大電流の遮断性能の他に、無負荷電線路、電力
ケーブル等の充電電流（数10(A)）〜数1000(A)）に
対する遮断性能も重要視される。
JEC−2300（交流遮断器）においても、各定格
電圧に対し検証条件が定められている。また試験
設備容量を上回るような条件になつた場合での合
成試験法についても認められているように、遮断
器の性能検証の中でも重要な項目の一つである。
電圧に対し検証条件が定められている。また試験
設備容量を上回るような条件になつた場合での合
成試験法についても認められているように、遮断
器の性能検証の中でも重要な項目の一つである。
以下第３図および第４図を参照して直接試験法
について、そして、第５図および第６図を参照し
て合成試験法について説明する。
について、そして、第５図および第６図を参照し
て合成試験法について説明する。
第３図は直接試験の進み小電流遮断試験回路の
一例である。試験用電源の短絡発電機２に直列に
供試遮断器１とコンデンサ４を接続する。またコ
ンデンサ４の片端と短絡発電機２の接続点を直接
接地する。
一例である。試験用電源の短絡発電機２に直列に
供試遮断器１とコンデンサ４を接続する。またコ
ンデンサ４の片端と短絡発電機２の接続点を直接
接地する。
この直接試験回路で、供試遮断器１がコンデン
サ４に流れる進み電流iCを遮断する際の電気的現
象を第４図に示す。第４図においてＰ−P′の時点
では供試遮断器１を開極すると電流iCの最初の零
点Ｑ−Q′で遮断され、電源側の電圧eSは電源周波
数に従つて変化するが、コンデンサ４の電圧eCは
電流零の瞬時の電圧、すなわち電圧波高値に相当
する電圧が残留し、供試遮断器１の極間に印加さ
れる電圧ePは1/2サイクル後に電源電圧波高値の
２倍まで上昇する。
サ４に流れる進み電流iCを遮断する際の電気的現
象を第４図に示す。第４図においてＰ−P′の時点
では供試遮断器１を開極すると電流iCの最初の零
点Ｑ−Q′で遮断され、電源側の電圧eSは電源周波
数に従つて変化するが、コンデンサ４の電圧eCは
電流零の瞬時の電圧、すなわち電圧波高値に相当
する電圧が残留し、供試遮断器１の極間に印加さ
れる電圧ePは1/2サイクル後に電源電圧波高値の
２倍まで上昇する。
供試遮断器の定格電圧が高くなり試験設備容量
を上回る場合は、次に述べる合成試験法が適用さ
れている。第５図は、進み小電流遮断の合成試験
回路の一例である。
を上回る場合は、次に述べる合成試験法が適用さ
れている。第５図は、進み小電流遮断の合成試験
回路の一例である。
第５図は供試遮断器１に対して、短絡発電機２
を電源として、電流を補助遮断器３を介して供給
する電流源回路と、この回路と並列に試験用変圧
器５を接続し、コンデンサ４を介して供試遮断器
１に電圧を供給する電圧源回路とからなり、更
に、供試遮断器１の片極側は接地されている。
を電源として、電流を補助遮断器３を介して供給
する電流源回路と、この回路と並列に試験用変圧
器５を接続し、コンデンサ４を介して供試遮断器
１に電圧を供給する電圧源回路とからなり、更
に、供試遮断器１の片極側は接地されている。
この合成試験回路で供試遮断器１には電流源回
路を流れる遅れ電流ilと電圧源回路を流れる進み
電流iCの合成された試験電流iPが流れる。遅れ電
流，進み電流，試験電流の遮断時における電気的
現象を第６図に示す。第６図においてＰ−P′の時
点で供試遮断器１と補助遮断器３をほぼ同時に開
極すると、最初の電流零点Ｑ−Q′において試験
電流iPは供試遮断器１によつて遮断される。この
時遅れ電流ilも補助遮断器３によつて遮断される
ため電流源回路は切り離される。
路を流れる遅れ電流ilと電圧源回路を流れる進み
電流iCの合成された試験電流iPが流れる。遅れ電
流，進み電流，試験電流の遮断時における電気的
現象を第６図に示す。第６図においてＰ−P′の時
点で供試遮断器１と補助遮断器３をほぼ同時に開
極すると、最初の電流零点Ｑ−Q′において試験
電流iPは供試遮断器１によつて遮断される。この
時遅れ電流ilも補助遮断器３によつて遮断される
ため電流源回路は切り離される。
電源側の電圧eSは電源周波数に従つて変化する
が、コンデンサ４の電圧eCは電流零の瞬時の電圧
すなわち電圧波高値に相当する電圧が残留し、eS
とeCとの合成電圧が供試遮断器の極間に印加され
電圧は1/2サイクル後に電源電圧波高値の２倍ま
で上昇する。
が、コンデンサ４の電圧eCは電流零の瞬時の電圧
すなわち電圧波高値に相当する電圧が残留し、eS
とeCとの合成電圧が供試遮断器の極間に印加され
電圧は1/2サイクル後に電源電圧波高値の２倍ま
で上昇する。
この試験では、供試遮断器の片側の端子は接地
されているため対向する端子には全電圧が印加さ
れることになり、電圧的に非常に過酷な条件にあ
る。また、現在の系統の最高電圧（550RV）に
適用されている遮断器の試験を行う場合使用する
ブツシングを用意する事は困難であり、試験実施
が不可能であつた。
されているため対向する端子には全電圧が印加さ
れることになり、電圧的に非常に過酷な条件にあ
る。また、現在の系統の最高電圧（550RV）に
適用されている遮断器の試験を行う場合使用する
ブツシングを用意する事は困難であり、試験実施
が不可能であつた。
（発明が解決しようとする問題点）
上記遮断器の進み小電流遮断の合成試験法で
は、電流遮断後の回復電圧を片側の極から印加す
る事になり、実使用状態に沿つた試験になつてい
なかつた。
は、電流遮断後の回復電圧を片側の極から印加す
る事になり、実使用状態に沿つた試験になつてい
なかつた。
本発明は、遮断器の実使用状態に近い状態での
試験を可能とするような遮断器の進み小電流遮断
試験装置を提供することを目的とする。
試験を可能とするような遮断器の進み小電流遮断
試験装置を提供することを目的とする。
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明では、供試遮
断器に対して、短絡発電機に２台の試験用変圧器
がカスケード接続されるように接続し、その高圧
巻線の接続点を接地し、又高圧巻線の各々の端子
にそれぞれ補助遮断器を接続する。更にその補助
遮断器の反対側を供試遮断器に接続して電流源回
路を構成し、この回路と並列に前記短絡発電機に
別の２台の試験用変圧器がカスケード接続される
ように構成する。後述の変圧器の高圧巻線も接続
点を接地し、他の一方をそれぞれコンデンサの片
側に接続し、更にこのコンデンサの反対側を供試
遮断器と補助遮断器の接続点にそれぞれ接続して
電圧源回路を構成する。供給遮断器の両端子には
定格電圧相当のブツシングを取付けて、電流遮断
後に反対極性の電圧をそれぞれ印加する。
断器に対して、短絡発電機に２台の試験用変圧器
がカスケード接続されるように接続し、その高圧
巻線の接続点を接地し、又高圧巻線の各々の端子
にそれぞれ補助遮断器を接続する。更にその補助
遮断器の反対側を供試遮断器に接続して電流源回
路を構成し、この回路と並列に前記短絡発電機に
別の２台の試験用変圧器がカスケード接続される
ように構成する。後述の変圧器の高圧巻線も接続
点を接地し、他の一方をそれぞれコンデンサの片
側に接続し、更にこのコンデンサの反対側を供試
遮断器と補助遮断器の接続点にそれぞれ接続して
電圧源回路を構成する。供給遮断器の両端子には
定格電圧相当のブツシングを取付けて、電流遮断
後に反対極性の電圧をそれぞれ印加する。
（作用）
上記の如く、構成された試験装置によると、供
試器の片極のみから電圧を印加する必要がなくな
り、供試遮断器の両極にほぼ平等なストレスを加
える事になり、実際の状況により近い試験の実施
が可能となる。
試器の片極のみから電圧を印加する必要がなくな
り、供試遮断器の両極にほぼ平等なストレスを加
える事になり、実際の状況により近い試験の実施
が可能となる。
（実施例）
以下本発明の一実施例を第１図および第２図を
用いて説明する。
用いて説明する。
第１図は本発明の回路の一例を示している。供
試遮断器１に対して短絡発電機２に２台の試験用
変圧器５と６がカスケードに接続されるように構
成し、その高圧巻線の接続点を接地する。
試遮断器１に対して短絡発電機２に２台の試験用
変圧器５と６がカスケードに接続されるように構
成し、その高圧巻線の接続点を接地する。
また、高圧巻線の各々の端子ＣとＤにそれぞて
補助遮断器３の片極をそれぞれを接続し、補助遮
断器３のもう一方の極を供試遮断器１に接続して
電流回路を構成する。この電流源回路と並列に前
記短絡発電機２に別の２台の試験用変圧器７と８
がカスケードになるように接続され、その高圧巻
線の接続点を接地する。
補助遮断器３の片極をそれぞれを接続し、補助遮
断器３のもう一方の極を供試遮断器１に接続して
電流回路を構成する。この電流源回路と並列に前
記短絡発電機２に別の２台の試験用変圧器７と８
がカスケードになるように接続され、その高圧巻
線の接続点を接地する。
この高圧巻線の各々の端子ＥとＦにそれぞれコ
ンデンサ４の片側をそれぞれ接続し、コンデンサ
４のもう一方を供試遮断器１と補助遮断器３の接
続点に接続する電圧源回路を構成する。
ンデンサ４の片側をそれぞれ接続し、コンデンサ
４のもう一方を供試遮断器１と補助遮断器３の接
続点に接続する電圧源回路を構成する。
次に遮断試験の現象について第２図を用いて説
明する。
明する。
先ず供試遮断器１と補助遮断器３を閉状態と
し、短絡発電機２より変圧器５，６と補助遮断器
３を介し、供試遮断器１に遅れ電流ilを流す。こ
の際、電流遮断後に変圧器７および８に発生する
電圧がそれぞれ試験電圧の1/2となるように発電
機電圧をあらかじめ調整しておく。
し、短絡発電機２より変圧器５，６と補助遮断器
３を介し、供試遮断器１に遅れ電流ilを流す。こ
の際、電流遮断後に変圧器７および８に発生する
電圧がそれぞれ試験電圧の1/2となるように発電
機電圧をあらかじめ調整しておく。
次にＰ−P′において供試遮断器１と補助遮断器
３とをほぼ時に開極すると、最初の電流零点Ｑ−
Q′で試験電流iPは遮断され、供試遮断器１の極
間には変圧器７および８によつて発生した電圧が
印加される事になる。この電圧は変圧器７と８か
ら1/2ずつ印加され、その合成したものが定格の
極間回復電圧となる。
３とをほぼ時に開極すると、最初の電流零点Ｑ−
Q′で試験電流iPは遮断され、供試遮断器１の極
間には変圧器７および８によつて発生した電圧が
印加される事になる。この電圧は変圧器７と８か
ら1/2ずつ印加され、その合成したものが定格の
極間回復電圧となる。
即ちＱ−Q′点以後でＡ点には試験電圧の1/2の
波高値が残留し、Ｅ点には試験電圧の1/2の商用
周波数の電圧が印加される。従つて10ms後にＡ
点の電圧はコンデンサ４の残留電圧の２倍の電圧
となる。Ｂ点，Ｆ点にはこれを反対極性の電圧が
印加され、総合的に見るとＡ−Ｂ間にはＱ−
Q′点10ms後に試験電圧の波高値の２倍の電圧が
印加されることとなる。
波高値が残留し、Ｅ点には試験電圧の1/2の商用
周波数の電圧が印加される。従つて10ms後にＡ
点の電圧はコンデンサ４の残留電圧の２倍の電圧
となる。Ｂ点，Ｆ点にはこれを反対極性の電圧が
印加され、総合的に見るとＡ−Ｂ間にはＱ−
Q′点10ms後に試験電圧の波高値の２倍の電圧が
印加されることとなる。
以上述べてきたように本発明の装置によれば、
供試遮断器の両方の極から規定の試験電圧の半分
づつを印加できるので実際の系統で使用されてい
る状態に近い遮断器の進み小電流遮断の合成試験
を実施することができる。
供試遮断器の両方の極から規定の試験電圧の半分
づつを印加できるので実際の系統で使用されてい
る状態に近い遮断器の進み小電流遮断の合成試験
を実施することができる。
第１図は本発明の一実施例を示す回路構成図、
第２は第１図に示す回路構成における試験時の電
圧、電流を流す波形図、第３図は従来の接続試験
による進み電流遮断試験回路を示す構成図、第４
図は従来の接続試験における試験時の電圧、電流
を示す波形図、第５図は従来の合成試験による進
み小電流遮断試験回路を示す構成図、第６図は従
来の合成試験における試験時の電圧、電流を示す
波形図である。 １……供試遮断器、２……短絡発電機、３……
補助遮断器、４……コンデンサ、５，６，７，８
……試験用変圧器。
第２は第１図に示す回路構成における試験時の電
圧、電流を流す波形図、第３図は従来の接続試験
による進み電流遮断試験回路を示す構成図、第４
図は従来の接続試験における試験時の電圧、電流
を示す波形図、第５図は従来の合成試験による進
み小電流遮断試験回路を示す構成図、第６図は従
来の合成試験における試験時の電圧、電流を示す
波形図である。 １……供試遮断器、２……短絡発電機、３……
補助遮断器、４……コンデンサ、５，６，７，８
……試験用変圧器。
Claims (1)
- １ 供試遮断器に対して、試験用電源に２台の試
験用変圧器の低圧巻線をそれぞれ並列に接続し、
前記変圧器の高圧巻線を直列に接続するとともに
その中間を接地するとともに、高圧巻線の各々端
子にそれぞれ補助遮断器を接続し、その反対側を
供試遮断器に接続する電流源回路と、この回路と
並列に前記試験用電源に別の２台の試験用変圧器
の低圧巻線をそれぞれ並列に接続し一方高圧巻線
をカスケード接続しておき、その高圧巻線の各々
端子にそれぞれコンデンサを接続し、その反対側
を供試遮断器と補助遮断器の接続点に接続する電
圧源回路を構成し、供試遮断器の両端子には定格
電圧相当のブツシングを取付けておき、電流遮断
後にそれぞれ反対極性に電圧を供試遮断層の各々
の極に印加してなる遮断器の進み小電流遮断試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62258400A JPH01101479A (ja) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | 遮断器の進み小電流遮断試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62258400A JPH01101479A (ja) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | 遮断器の進み小電流遮断試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01101479A JPH01101479A (ja) | 1989-04-19 |
| JPH0563748B2 true JPH0563748B2 (ja) | 1993-09-13 |
Family
ID=17319710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62258400A Granted JPH01101479A (ja) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | 遮断器の進み小電流遮断試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01101479A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03249580A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-07 | Toshiba Corp | 進み小電流合成試験装置 |
-
1987
- 1987-10-15 JP JP62258400A patent/JPH01101479A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01101479A (ja) | 1989-04-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |